專利名稱：用于承載待測試電子裝置的治具的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種承載待測試電子裝置的治具。
背景技術(shù)：
許多電子裝置，例如手機(jī)、平板電腦、筆記本電腦，在生產(chǎn)過程中需要進(jìn)行多道工序的測試，因此，需要針對不同的測試設(shè)置相應(yīng)的用以承載電子裝置的治具。例如，在電子裝置組裝完成后，需要將電子裝置電連接到一測試裝置，該測試裝置向該電子裝置發(fā)送測試信號以測試電子裝置的軟件和硬件。對于一些特殊的電子裝置，還需要對該電子裝置以不同的位姿進(jìn)行測試，例如，將電子裝置正面朝上放置在治具中進(jìn)行測試以及將電子裝置正面朝下放置在治具中進(jìn)行測試，由于需要兩次裝夾，增加了電子裝置的外觀被劃傷的幾率。

實(shí)用新型內(nèi)容有鑒于此，本實(shí)用新型提供一種承載待測試電子裝置的治具，在需要以正面位姿和反面位姿測試電子裝置時(shí)，本實(shí)用新型的治具僅需要裝夾一次。一種用于承載待測試電子裝置的治具，包括托盤，該托盤設(shè)置有收容腔，該收容腔用于容納該待測試電子裝置，還包括一插頭組件、一導(dǎo)電接觸組件和蓋板；該托盤的末端設(shè)置有一容置腔；該插頭組件滑動(dòng)地連接于該托盤，該插頭組件包括一插頭，該插頭用于與該待測試電子裝置的一插槽相適配；該導(dǎo)電接觸組件位于該容置腔中，該導(dǎo)電接觸組件包括多個(gè)導(dǎo)電片，每個(gè)導(dǎo)電片與該插頭的一導(dǎo)電端子相連接；該蓋板與該容置腔的底部相對，該蓋板及該容置腔的底部均設(shè)置有與所述多個(gè)導(dǎo)電片對應(yīng)的通孔，從而允許一測試裝置的探針穿過蓋板的通孔或者該容置腔的底部的通孔而與所述多個(gè)導(dǎo)電片相接觸，從而將該待測試電子裝置電連接到該測試裝置，使得該待測試電子裝置能夠接收到測試裝置的測試信號。使用本實(shí)用新型的治具，在需要以正面位姿和反面位姿測試電子裝置時(shí)，本實(shí)用新型的治具僅需要裝夾一次，降低了電子裝置的外觀被劃傷的幾率。

圖1為本實(shí)用新型的治具承載待測試電子裝置的立體圖。圖2為本實(shí)用新型的治具的立體圖，其示意出一夾持件由圖1所示的鎖緊位置移動(dòng)至一解鎖位置。圖3為本實(shí)用新型的治具的分解圖。圖4為本實(shí)用新型的治具的插頭組件和導(dǎo)電接觸組件的分解圖。圖5為本實(shí)用新型的治具的插頭組件和導(dǎo)電接觸組件的另一角度的分解圖。主要元件符號說明
權(quán)利要求1.一種用于承載待測試電子裝置的治具，包括托盤，該托盤設(shè)置有收容腔，該收容腔用于容納該待測試電子裝置，其特征在于，還包括一插頭組件、一導(dǎo)電接觸組件和蓋板； 該托盤的末端設(shè)置有一容置腔； 該插頭組件滑動(dòng)地連接于該托盤，該插頭組件包括一插頭，該插頭用于與該待測試電子裝置的一插槽相適配； 該導(dǎo)電接觸組件位于該容置腔中，該導(dǎo)電接觸組件包括多個(gè)導(dǎo)電片，每個(gè)導(dǎo)電片與該插頭的一導(dǎo)電端子相連接； 該蓋板與該容置腔的底部相對，該蓋板及該容置腔的底部均設(shè)置有與所述多個(gè)導(dǎo)電片對應(yīng)的通孔，從而允許一測試裝置的探針穿過蓋板的通孔或者該容置腔的底部的通孔而與所述多個(gè)導(dǎo)電片相接觸，從而將該待測試電子裝置電連接到該測試裝置，使得該待測試電子裝置能夠接收到測試裝置的測試信號。
2.如權(quán)利要求1所述的用于承載待測試電子裝置的治具，其特征在于，該蓋板與該托盤一體成型。
3.如權(quán)利要求1所述的用于承載待測試電子裝置的治具，其特征在于，該蓋板與該托盤分別單獨(dú)成型，該蓋板通過緊固件固定在該托盤。
4.如權(quán)利要求1所述的用于承載待測試電子裝置的治具，其特征在于，該插頭組件包括插頭承載部，該導(dǎo)電接觸組件包括導(dǎo)電片承載部，該多個(gè)導(dǎo)電片固定在該導(dǎo)電片承載部上，該插頭承載部和該導(dǎo)電片承載部通過一體成型方式成型。
5.如權(quán)利要求4所述的用于承載待測試電子裝置的治具，其特征在于，該導(dǎo)電片承載部設(shè)置多個(gè)卡槽，該多個(gè)導(dǎo)電片分別收容在該多個(gè)卡槽中。
6.如權(quán)利要求5所述的用于承載待測試電子裝置的治具，其特征在于，每個(gè)導(dǎo)電片包括相互平行的頂部和底部以及連接于頂部的一端和底部的一端的隔離部，每個(gè)卡槽中設(shè)置有卡塊，該頂部、底部和隔離部的內(nèi)表面分別與卡塊的頂部、底部及端部相抵觸，該頂部與該蓋板的一通孔對齊，該底部與該容置腔的底部的一通孔對齊。
專利摘要本實(shí)用新型提供一種用于承載待測試電子裝置的治具，包括托盤，該托盤設(shè)置有收容腔，收容腔用于容納該待測試電子裝置，還包括一插頭組件、一導(dǎo)電接觸組件和蓋板；托盤的末端設(shè)置有一容置腔；該插頭組件滑動(dòng)地連接于該托盤，該插頭組件包括一插頭，該插頭用于與該待測試電子裝置的一插槽相適配；導(dǎo)電接觸組件位于該容置腔中，該導(dǎo)電接觸組件包括多個(gè)導(dǎo)電片，每個(gè)導(dǎo)電片與該插頭的一導(dǎo)電端子相連接；該蓋板與該容置腔的底部相對，該蓋板及該容置腔的底部均設(shè)置有與所述多個(gè)導(dǎo)電片對應(yīng)的通孔，從而允許一測試裝置的探針穿過蓋板的通孔或者該容置腔的底部的通孔而與所述多個(gè)導(dǎo)電片相接觸。使用本實(shí)用新型的治具能降低電子裝置被劃傷的幾率。
文檔編號G01R1/04GK202975055SQ201220585340
公開日2013年6月5日 申請日期2012年11月8日 優(yōu)先權(quán)日2012年11月8日
發(fā)明者呂理清, 向健華 申請人:富泰華工業(yè)(深圳)有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司