一種操作具有電容變送器的絕對壓力或相對壓力傳感器的方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及一種操作壓力傳感器的方法，所述壓力傳感器包括測量膜片，至少一個對置體和具有在測量膜片上的電極和空間位置固定的對電極之間的兩個壓力相關(guān)電容的電容變送器，其中測量膜片以壓力密閉的方式將體積分為兩個體積部，其中第二體積部封閉在測量膜片和對置體間的測量腔內(nèi)，其中測量膜片的偏移取決于壓力測量變量p，其為體積部內(nèi)的體積部內(nèi)的第一壓力p1和第二壓力p2之間的差，其中壓力測量變量p由兩個電容產(chǎn)生，其中，對于完好無損的壓力傳感器，第二電容為第一電容以及在給定情況下的溫度的預(yù)定函數(shù)，其中方法具有如下步驟：捕捉兩個電容的值對；檢測值對是否在容限范圍內(nèi)符合預(yù)定函數(shù)；并且如果在太長的時間內(nèi)情況不符合，則確定傳感器的變化或損壞。
【專利說明】一種操作具有電容變送器的絕對壓力或相對壓力傳感器的方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種操作具有電容變送器的絕對或相對壓力傳感器的方法。
[0002]這樣的壓力傳感器包括測量膜片，或者隔膜，至少一個平臺以及具有至少第一壓力相關(guān)電容和第二壓力相關(guān)電容的電容變送器，
[0003]其中該測量膜片壓力密閉地將體積分為第一體積部和第二體積部，其中第二體積部封閉在測量膜片和平臺之間的測量腔內(nèi)，
[0004]其中測量膜片的偏移取決于壓力測量變量P，其為第一體積部內(nèi)的第一壓力P1與測量腔內(nèi)的第二體積部內(nèi)的第二壓力P2之間的差，
[0005]其中在每種情況下測量測量膜片上的電極和具有基本上與壓力不相關(guān)位置的對電極之間的第一電容和第二電容，
[0006]其中作為第一電容和第二電容的函數(shù)確定各個壓力測量變量P的當(dāng)前值。
【背景技術(shù)】
[0007]壓力測量變量P和兩個電容之間的準(zhǔn)確關(guān)系特別依賴于電極關(guān)于測量膜片的位置以及測量膜片的彎曲特性。如果采用結(jié)構(gòu)方式固定邊界條件，作為電容的當(dāng)前測量值，以及在一定情況下的其他擾動變量，例如溫度的函數(shù)，確定壓力測量變量P。然而，這假定了會影響傳遞函數(shù)的壓力傳感器的結(jié)構(gòu)相關(guān)特性是足夠穩(wěn)定的，并且特別是該壓力傳感器至少處于足夠的熱平衡，從而使得特性不會偏離平衡狀態(tài)太多。
[0008]公開文本EP2189774A1公開了一種快速溫度變化的補償方法，該方法依賴于如下特征，包括:針對被測電容Cp的測量值(這里指定為Cm)，參考電容(；的測量值與參考電容Cr的期望值比較，所述參考電容(；的期望值由被測電容Cp的測量值產(chǎn)生，并且其中當(dāng)參考電容的測量值處于期望值附近的容限范圍之外時，會檢測到溫度跳變，并且其中對于壓力測量值，確定修正函數(shù)，該修正函數(shù)具體應(yīng)該修正溫度跳變對壓力測量值的影響。在所述公開文本中，教導(dǎo)了將傳遞函數(shù)的變化解釋為溫度跳變的結(jié)果，并且相應(yīng)的在評估中基于模型對電容進(jìn)行補償。盡管該方法具有其優(yōu)點，如果傳遞函數(shù)變化具有其他原因，例如，測量單元內(nèi)的永久改變，特別是對測量單元的損壞，該方法做出錯誤判斷。因此該方法具有測量單元內(nèi)的上述變化沒有被檢測到的危險，并且實際上結(jié)果是人們會認(rèn)為做出了正確的壓力測量值，而實際上，其結(jié)果是，最終的測量值是完全錯誤的。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0009]因此，本發(fā)明的目的在于提供一種對該情況的補救措施。
[0010]通過獨立權(quán)利要求1所限定的方法實現(xiàn)根據(jù)本發(fā)明的目的。
[0011]本發(fā)明提供了一種操作壓力傳感器的方法，
[0012]其中，壓力傳感器包括測量膜片，至少一個平臺以及具有至少第一壓力相關(guān)電容和第二壓力相關(guān)電容的電容變送器，[0013]其中該測量膜片壓力密閉地將體積分為第一體積部和第二體積部，其中第二體積部封閉在測量膜片和平臺之間的測量腔內(nèi)，
[0014]其中測量膜片的偏移取決于壓力測量變量P，其為第一體積部內(nèi)第一壓力P1與測量腔內(nèi)的第二體積部內(nèi)第二壓力P2之間的差，
[0015]其中在每種情況下測量測量膜片上的電極和具有基本上與壓力不相關(guān)位置的對電極之間的第一電容和第二電容，
[0016]其中作為第一電容和第二電容的函數(shù)確定各個壓力測量變量P的當(dāng)前值，并且
[0017]其中，對于完好無損的處于熱平衡的壓力傳感器，，第二電容表示為第一電容和在給定情況下，溫度的預(yù)定函數(shù)，
[0018]其中方法具有如下步驟:
[0019]監(jiān)控第一電容和第二電容的記錄值對是否實際在預(yù)定容限范圍內(nèi)符合預(yù)定函數(shù)的關(guān)系，并且
[0020]當(dāng)在比時間極限值持續(xù)更長的時間段中不符合時，確定傳感器的變化和/或損壞。
[0021]在本發(fā)明的進(jìn)一步發(fā)展中，時間極限值為預(yù)定極限值，特別是時間常數(shù)或者該時間常數(shù)的倍數(shù)，其描述了溫度跳變后到達(dá)壓力傳感器的平衡狀態(tài)。
[0022]該倍數(shù)可以是大于I的任意有理數(shù)，特別是整數(shù)。
[0023]在本發(fā)明的進(jìn)一步發(fā)展中，時間極限值是第一電容和第二電容的值從函數(shù)關(guān)系的偏離的函數(shù)。
[0024]在本發(fā)明的進(jìn)一步發(fā)展中，完好無損的壓力傳感器具有第一完好無損的操作狀態(tài)和第二完好無損的操作狀態(tài)，其中，對于處于第一操作狀態(tài)的熱平衡中的完好無損的壓力傳感器，第二電容表示為第一電容，以及在給定情況下，溫度的第一預(yù)定函數(shù)，其中對于處于第二操作狀態(tài)的熱平衡中的完好無損的壓力傳感器，第二電容表示為第一電容，以及給定情況下，溫度的第二預(yù)定函數(shù)，
[0025]其中所述方法包括:
[0026]記錄第一電容和第二電容的值對，
[0027]測試第一電容和第二電容的記錄值對是否實際上在預(yù)定容限范圍內(nèi)符合預(yù)定函數(shù)之一的關(guān)系，并且
[0028]當(dāng)在比時間極限值持續(xù)更長的時間段中不符合時，確定傳感器的變化和/或損壞。
[0029]在本發(fā)明的進(jìn)一步發(fā)展中，壓力傳感器從第一完好無損操作狀態(tài)不可逆地轉(zhuǎn)換為第二操作狀態(tài)。
[0030]預(yù)定函數(shù)相應(yīng)地也可以特別為多個函數(shù)中的選定函數(shù)，每一個函數(shù)都對應(yīng)于多個確定操作狀態(tài)中的一個。
[0031]在這種情況下，首先檢查該傳感器是否處于第一操作狀態(tài)。如果該傳感器不處于第一操作狀態(tài)，就應(yīng)當(dāng)檢查傳感器是否處于第二操作狀態(tài)。然后如果在比時間極限值持續(xù)更長的時間段中傳感器不處于第二操作狀態(tài)，確定傳感器的損壞。然而當(dāng)一旦檢測到傳感器處于第二操作狀態(tài)時，此后就可以省略檢查傳感器是否處于第一狀態(tài)。
[0032]在本發(fā)明的進(jìn)一步發(fā)展中，電容變送器包括差動電容器，所述差動電容器具有至少一個其第一電容具有第一傳遞函數(shù)的第一電容器，和其第二電容具有第二傳遞函數(shù)的第二電容器，其中傳遞函數(shù)優(yōu)選在各自的壓力相關(guān)度上存在差別。在這種情況下，特別期望的是當(dāng)壓力測量變量具有零值時，兩個電容相等；在這種情況下，通?？紤]利用電容C2歸一化的電容差C1-C2，用于確定壓力測量變量，即P=P((C1-C2)ZiC2)。
[0033]在本發(fā)明的進(jìn)一步發(fā)展中，差動電容器包括圓盤形測量電極和電容相等的環(huán)形參考電極，所述環(huán)形參考電極環(huán)繞測量電極，其中測量電極和參考電極特別布置在面向測量膜片的平臺表面上，其中測量膜片包括圓盤形膜片電極，所述圓盤形膜片電極優(yōu)選至少延伸到環(huán)形參考電極的外部邊緣之外。相應(yīng)地，如下表示壓力測量變量P:
[0034]p=p ((Cp-Cr) /Cr) I(I),
[0035]其中Cp和(；分別指的是測量電極和膜片電極之間的電容和參考電極和膜片電極之間的電容。
[0036]在本發(fā)明的進(jìn)一步發(fā)展中，傳感器包括陶瓷圓盤形測量膜片，以及陶瓷圓板形平臺，其中測量膜片與平臺沿著周邊接縫壓力密閉地連接，從而形成測量腔。
[0037]在本發(fā)明的進(jìn)一步發(fā)展中，壓力傳感器布置在具有密封殼體開口的金屬殼體內(nèi)，通過該密封殼體開口測量膜片與介質(zhì)壓力可接觸，其中殼體具有環(huán)形密封面，所述環(huán)形密封面環(huán)繞殼體開口，其 中密封環(huán)夾持在測量膜片和密封面之間，并且其中利用夾持裝置，壓力傳感器支撐在平臺的背向測量膜片的后側(cè)上，從而固定抵靠密封環(huán)夾持的壓力傳感器。該密封環(huán)通常包括彈性體，其中當(dāng)暴露在高溫中時，密封環(huán)可以不可逆地改變其彈性特性。這就會基于最終夾持力的減小導(dǎo)致關(guān)于測量準(zhǔn)確度的問題。這在歐洲專利申請EP1518097中加以描述。當(dāng)夾持裝置沒有按照參考的歐洲專利中所公開的方式設(shè)計和定尺寸時，較小的夾持力會等同的引起軸向壓縮或者拉伸測量膜片的彎曲力矩減小。然而對測量膜片的縮或拉伸會影響測量膜片的有效硬度，其中這些影響的改變會影響測量操作過程中的系統(tǒng)測量誤差。
[0038]對測量膜片的壓縮或拉伸特別會引起不同的測量膜片的形狀彎曲線，從而引起測量膜片從給定壓力P存在時的靜止位置的偏移z (r，P)/z (0，P)。由于電容變化與彎曲線之間的函數(shù)關(guān)系，可以檢測到該彎曲線變化后的形狀，特別是當(dāng)確定電容的電極軸向位置足夠地可區(qū)分時，例如諸如針對較早描述的具有相等電容的中心圓盤形電極和環(huán)繞的環(huán)形電極的差動電容器的布置的情況，就是這種情況。
[0039]分別，可以例如通過實驗和/或通過對不同的老化階段和密封環(huán)的類型，或?qū)τ诰哂性撁芊猸h(huán)的壓力傳感器類型的不同夾持狀態(tài)進(jìn)行模擬，確定壓力和電容P(Cp，Cr，T)和cr(cp,T),i^cp(cr,T)之間的關(guān)系。
[0040]為了實施本發(fā)明的方法，壓力傳感器與操作和處理電路連接，其特別包括微處理器，其基于Cr (Cp),或Cp (cr)或者(cp, T),或Cp (cr, T),確定壓力傳感器的狀態(tài)。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0041]現(xiàn)在將基于附圖中所示的實施例的示例對本發(fā)明進(jìn)行解釋，各附圖表示如下:
[0042]圖1:穿過電容壓力傳感器的縱剖面；
[0043]圖2:邊緣夾持測量膜片⑴和自由測量膜片(Λ )的理想彎曲線；
[0044]圖3:對于具有邊緣夾持測量膜片⑴和自由測量膜片(Λ)的差動電容器，作為測量膜片偏移的函數(shù)的傳遞函數(shù)(Cp-C;)/(；曲線；并且
[0045]圖4:對于邊緣夾持測量膜片在參考溫度(+)的情況下以及增加了 100K的溫度
(O)的情況下的彎曲線的函數(shù)q(Cp)以及對于自由測量膜片在室溫(Λ)的情況下的彎曲線的函數(shù)CjCp)。
【具體實施方式】
[0046]圖1中所示壓力傳感器I包括圓盤形陶瓷測量膜片2，其與足夠硬的圓板形陶瓷平臺3沿著周邊接縫4壓力密閉地接合，從而形成平臺3和測量膜片2之間的測量腔5。測量膜片和平臺可以特別包括剛玉。接縫可以特別包括活性硬焊料，或者黃銅，例如，Zr-N1-Ti活性硬焊料，或者黃銅，或者可以包括玻璃。 [0047]測量膜片在其面對平臺的一側(cè)上包括全表面膜片電極7，其例如包括金屬層，特別是鉭層，其中電極的直徑為2R，其中R為測量膜片的可偏移區(qū)域的半徑，與接縫的內(nèi)徑相對應(yīng)。在面對測量膜片的平臺表面上布置中心圓盤形測量電極8，其與環(huán)形參考電極9接觸，環(huán)形參考電極9相對于在測量膜片2的靜止位置的膜片電極7具有基本上相等的電容。在每種情況下，參考電極9與測量電極8和接縫4的間距例如合計達(dá)到0.1R。參考電極9和測量電極8穿過平臺經(jīng)由金屬線纜引線10，11電接觸。膜片電極7例如通過接縫與電路接地相連。
[0048]圖2中所示曲線示出了在測量膜片在其中心處偏移達(dá)靜止間距Cltl的一半，并且實際上對于邊緣夾持測量膜片⑴以及對于自由測量膜片(Λ)的情況下，作為半徑的函數(shù)的測量膜片和平臺的平面之間的間隔。曲線是示意性的，并不與實際曲線準(zhǔn)確對應(yīng)，實際曲線可以通過例如FEM模擬結(jié)合實驗而獲得。實際上，這里獲知準(zhǔn)確曲線不是必要的，曲線僅僅指示作為例如夾持狀態(tài)的邊界條件的函數(shù)，測量膜片的偏移特征可以極大地改變。邊緣夾持測量膜片的形狀向自由測量膜片的形狀的轉(zhuǎn)變可以由例如測量膜片和接縫之間的聯(lián)接失效引起。
[0049]在圖3中示出了針對具有測量膜片與接縫之間的完好無損聯(lián)接(+)以及在該聯(lián)接失效之后(△)的圖1中的壓力傳感器的差動電容器，作為測量膜片的偏移的函數(shù)的由不同的彎曲線引起的傳遞函數(shù)(Cp-C;)/C；。盡管該傳遞函數(shù)清楚地示出了彼此的偏離，并且從而導(dǎo)致測量誤差，然而僅僅基于傳遞函數(shù)曲線是無法識別該誤差的。
[0050]然而，對圖4中所示的傳遞函數(shù)Cr(Cp)的考慮能夠清楚明確的區(qū)分傳感器的各個狀態(tài)。針對高達(dá)一半平衡距離的測量膜片的偏移，在參考溫度(+)以及從參考溫度增加100K的溫度(O)的情況下的邊緣夾持測量膜片的函數(shù)Cr(Cp)幾乎完全相同。因此，對于完好無損的測量單元，在恒定條件下，至多期望僅在相對較窄容限范圍內(nèi)的函數(shù)q (Cp)的變化。假設(shè)彎曲線形式為[l-(r/R)2]2，確定這里所示的曲線。對于具體的壓力傳感器，在壓力傳感器的溫度使用范圍上的實際曲線為cjcp)，*cp((g應(yīng)當(dāng)實驗地確定，從而，一方面能夠確定函數(shù)，并且另一方面取得合理的容限范圍。相對而言，與接縫和測量膜片之間的聯(lián)接失效后的狀態(tài)相對應(yīng)的并且在參考溫度的情況下在這里表示的自由測量膜片(△)的函數(shù)cjcp)示出了明顯不同的曲線，其對于完好無損的傳感器的函數(shù)而言應(yīng)當(dāng)置于所有合理的容限帶之外。
[0051]這就是本發(fā)明方法的由來，其中檢查q(Cp)的測量值是否符合完好無損的壓力傳感器的期望函數(shù)。在壓力傳感器熱平衡的情況下，如果不符合，就會檢測到壓力傳感器的變化。這就指示傳感器的完好無損狀態(tài)和損壞之間的轉(zhuǎn)變。
[0052]對于位于函數(shù)q(Cp)或q(cp，T)的容限范圍之外的電容的當(dāng)前值對的建立可以相對簡單地以足夠的確定性加以完成。
[0053]相對而言，當(dāng)基于電容的值對，完成不同的壓力傳感器的限定的狀態(tài)之間的區(qū)分時，借助于基于大量的電容值的值對的統(tǒng)計分析識別壓力傳感器的狀態(tài)是合理的。對此，例如，在建立了從先前的有效函數(shù)q(Cp)的值對的偏離之后，可以在Cp的足夠大的數(shù)值范圍上記錄大量的值對(^，Cp，從而此后基于統(tǒng)計分析，例如回歸方法來檢測數(shù)值對符合哪個函數(shù)。如果不可能與壓力傳感器的完好無`損狀態(tài)相對應(yīng)的函數(shù)發(fā)生關(guān)聯(lián)，就檢測到了缺陷。
【權(quán)利要求】
1.一種操作壓力傳感器的方法， 其中，所述壓力傳感器包括測量膜片，至少一個平臺以及具有至少第一壓力相關(guān)電容和第二壓力相關(guān)電容的電容變送器， 其中所述測量膜片壓力密閉地將體積分為第一體積部和第二體積部，其中所述第二體積部封閉在所述測量膜片和所述平臺之間的測量腔內(nèi)， 其中所述測量膜片的偏移取決于壓力測量變量P，其為所述第一體積部內(nèi)的第一壓力P1與所述測量腔內(nèi)的所述第二體積部內(nèi)的第二壓力P2之間的差， 其中在每種情況下，測量在所述測量膜片上的電極和具有基本上與壓力不相關(guān)位置的對電極之間的第一電容和第二電容， 其中作為所述第一電容和所述第二電容的函數(shù)確定所述壓力測量變量P的各自的當(dāng)前值， 其中，對于處于熱平衡的完好無損的壓力傳感器，所述第二電容表示為所述第一電容和在給定情況下的溫度的預(yù)定函數(shù)， 其中所述方法具有如下步驟: 記錄所述第一電容和所述第二電容的值對， 測試所述第一電容和所述第二電容的記錄值對是否實際在預(yù)定容限范圍內(nèi)符合所述預(yù)定函數(shù)的關(guān)系，并且 當(dāng)在比時間極限值持續(xù)更長的時間段中不符合時，確定所述傳感器的變化和/或損壞。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中所述時間極限值為預(yù)定極限值，特別是時間常數(shù)，或者所述時間常數(shù)的倍數(shù)，其描述了所述壓力傳感器在溫度跳變后達(dá)到平衡狀態(tài)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中所述時間極限值為所述第一電容和所述第二電容的值從所述函數(shù)關(guān)系的偏離的函數(shù)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其中所述時間常數(shù)為所述偏離的單調(diào)遞減函數(shù)。
5.根據(jù)前述任意一個權(quán)利要求所述的方法，其中完好無損的傳感器具有第一完好無損操作狀態(tài)和至少一個第二完好無損操作狀態(tài)， 其中，對于處于熱平衡的所述第一操作狀態(tài)中的完好無損的壓力傳感器，所述第二電容可表示為所述第一電容以及給定情況下的溫度的第一預(yù)定函數(shù)， 其中，對于處于熱平衡的所述第二操作狀態(tài)中的完好無損的壓力傳感器，所述第二電容可表示為所述第一電容以及給定情況下的溫度的第二預(yù)定函數(shù)， 其中所述方法包括: 測試所述第一電容和所述第二電容的記錄值是否實際上在預(yù)定容限范圍內(nèi)的符合所述預(yù)定函數(shù)之一的關(guān)系，并且 如果符合，基于傳遞函數(shù)確定所述壓力測量變量，所述傳遞函數(shù)與所述操作狀態(tài)相關(guān)，所述操作狀態(tài)與預(yù)定函數(shù)相對應(yīng)，第一和第二電容的記錄值滿足所述預(yù)定函數(shù)關(guān)系，并且如果在比時間極限值持續(xù)更長的時間段中不符合，確定所述傳感器的損壞。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其中所述壓力傳感器不可逆地從所述第一完好無損操作狀態(tài)轉(zhuǎn)換到所述第二完好無損操作狀態(tài)。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其中所述方法包括如下步驟:檢查所述傳感器是否處于所述第一操作狀態(tài)，并且當(dāng)所述傳感器不處于所述第一操作狀態(tài)時， 檢查所述傳感器是否處于所述第二操作狀態(tài)； 并且如果在比時間極限值持續(xù)更長的時間段中所述傳感器不處于所述第二操作狀態(tài)， 確定所述傳感器已經(jīng)被損壞。
8.根據(jù)前述任意一個權(quán)利要求所述的方法，其中所述電容變送器包括差動電容器，所述差動電容器至少包括其第一電容具有第一傳遞函數(shù)的第一電容器，以及其第二電容具有第二傳遞函數(shù)的第二電容器，其中所述傳遞函數(shù)在各自的壓力相關(guān)度上不同。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法，其中當(dāng)所述壓力測量變量具有零值時，兩個電容相等。
10.根據(jù)權(quán)利要求8或9所述的方法，其中所述差動電容器包括圓盤形測量電極和環(huán)形參考電極，特別是電容相等的環(huán)形參考電極，所述環(huán)形參考電極環(huán)繞所述測量電極，其中所述測量電極和所述參考電極特別布置在面向所述測量膜片的平臺面上，其中所述測量膜片具有圓盤形膜片電極，其優(yōu)選至少延伸到所述環(huán)形參考電極的外邊緣。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的方法，其中所述壓力測量變量P表示為:
P=P ((Cp-Cr) /Cr) I, 其中Cp和(；分別表示所述測量電極和所述膜片電極和所述參考電極和所述膜片電極之間的電容。
12.根據(jù)前述任意一個權(quán)利要求所述的方法，其中所述傳感器包括陶瓷圓盤形測量膜片和陶瓷圓板形平臺，并且其中所述測量膜片沿著周邊接縫與所述平臺壓力密閉地連接，從而形成所述測量腔壓力。
13.根據(jù)前述任意一個權(quán)利要求所述的方法，其中所述壓力傳感器布置在具有密封殼體開口的金屬殼體內(nèi)，通過所述密封殼體開口所述測量膜片與介質(zhì)壓力可接觸，其中所述殼體具有環(huán)形密封面 ，其環(huán)繞所述殼體開口，其中密封環(huán)夾持在所述測量膜片和所述密封面之間，并且其中利用夾持裝置，所述壓力傳感器支撐在所述平臺的背向的所述測量膜片的后側(cè)上，從而固定抵靠所述密封環(huán)夾持的所述壓力傳感器。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的方法，其中所述密封環(huán)包括彈性體，其中當(dāng)暴露在超過材料相關(guān)極限值的溫度中時，所述密封環(huán)不可逆地改變其彈性特性，從而作用在所述測量膜片和所述平臺上的夾持力會改變，從而改變了電容之間的關(guān)系， 其中基于電容值對cp，(^，確定哪個函數(shù)q(Cp)適于描述電容之間的當(dāng)前關(guān)系。
15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的方法，其中基于所確定的適當(dāng)?shù)暮瘮?shù)q(cp)，選擇一個函數(shù)P(cp, cr, T)來確定所述壓力測量變量。
【文檔編號】G01L27/00GK103748447SQ201280033166
【公開日】2014年4月23日 申請日期:2012年6月1日 優(yōu)先權(quán)日:2011年7月1日
【發(fā)明者】托馬斯·尤林, 艾爾瑪·沃斯尼察, 伊戈爾·格特曼 申請人:恩德萊斯和豪瑟爾兩合公司