本公開涉及紅外輻射熱計成像和熱敏成像技術(shù)領(lǐng)域。更具體地說，本公開涉及一種用于校正基于所謂阻性成像輻射熱計陣列對紅外輻射成像或者熱敏成像（根據(jù)收到的輻射熱能測量場景的溫度）的紅外探測設(shè)備或者探測器的校準(zhǔn)漂移的方法。

背景技術(shù)：
在成像和紅外熱敏成像中，傳統(tǒng)上采用接近室溫工作的所謂“非制冷”探測器，該術(shù)語例如適用于－40°C與＋90°C之間的溫度范圍。這種探測器通常可以利用珀耳帖致冷器（“TEC”）在其焦面進(jìn)行溫度調(diào)節(jié)。然而，更一般地說，焦面的溫度不可變（“無TEC”）。這種設(shè)備利用了適當(dāng)材料的物理量在約300k左右的溫度的變化。在最常見的熱輻射探測器中，該物理量是阻抗性的。這種探測設(shè)備的基元探測器通常涉及：■用于吸收紅外輻射和用于將其轉(zhuǎn)換為熱的裝置；■用于熱隔離該探測器，從而使它能夠在紅外輻射的作用下加熱的裝置；■在熱輻射探測器環(huán)境下采用阻抗元件的溫度測量裝置；■以及用于讀取溫度測量裝置提供的電信號的裝置。這種用于紅外成像的探測器類型傳統(tǒng)上以基元探測器或者輻射熱計的二維陣列的方式制造，所述陣列的每個基元探測器由通過批量制造的支承基底上的支承臂懸置的膜片形成。這種基元探測器陣列通常被稱為成像“網(wǎng)膜”。用于順序?qū)ぶ坊綔y器并用于形成與每個輻射熱計相關(guān)的電信號以及之后可能以或多或少復(fù)雜的方式對所述信號進(jìn)行處理的電子裝置也設(shè)置在通常由硅制成的電路上。直接連接到輻射熱計的通用電子系統(tǒng)被稱為“讀出集成電路（ROIC）”。為了通過這種探測器獲得場景圖像，通過適用的光學(xué)器件將該場景圖像投影到基元探測器陣列，該陣列布置于光學(xué)器件的焦面上。通過讀取電路對每個基元探測器或者每行這種探測器施加額定電激勵，以獲得用于形成每個所述基元探測器達(dá)到的溫度的圖像的電信號。集成了探測器的應(yīng)用系統(tǒng)利用直接取決于每個基元探測器的阻抗的電信號形成所觀場景的熱圖像。傳統(tǒng)上，這種系統(tǒng)傳統(tǒng)上被稱為“照相機(jī)”?，F(xiàn)在，一般地認(rèn)為，對于正常使用探測器的曝光條件，當(dāng)前用于制造成像輻射熱計的輻射熱材料，諸如例如非晶硅（a-Si）、硅鍺合金（a-SixGe1-x）或者氧化釩（VOx）的阻抗或多或少隨時間的推移發(fā)生漂移。此外，更重要的是，當(dāng)探測器被非常強(qiáng)的紅外光源例如太陽或者強(qiáng)輻射光源（投影儀等）瞬間輻照時，也可以觀察到漂移。在這種情況下，優(yōu)選地使用術(shù)語“殘余”，因為“漂移”不涉及探測器的所有基元點，而僅涉及通過光學(xué)器件的熱源的圖像的相應(yīng)區(qū)域，這樣在產(chǎn)生了該標(biāo)記的信源消失后形成殘余“圖像”。在這種情況下，通常稱為“鬼像”（或者“曬傷”），其隨著時間的推移而或快或慢地消失，因為該高輻射涉及的像點的靈敏材料已經(jīng)被臨時調(diào)節(jié)，然后，以可變速度返回其輻射之前的狀態(tài)。這種贗象反過來影響圖像質(zhì)量，并且大多數(shù)在局部使探測器校準(zhǔn)失真，即，使輸出信號與所觀場景的溫度比失真。根據(jù)本發(fā)明，對于下面稱為“基準(zhǔn)條件”的給定環(huán)境和工作條件，輻射熱計的通用術(shù)語“漂移”特征化了諸如例如輻射熱計上的入射輻照、它的環(huán)境溫度（內(nèi)部照相機(jī)溫度）、以及讀出電信號，輻射熱計的電特性隨著時間的推移已經(jīng)從其初始基準(zhǔn)值漂移，在這種條件下，特別是在特定工廠交貨采購操作中，探測器投入使用之前進(jìn)行的所謂校準(zhǔn)中，可以觀察到這種漂移。根據(jù)本發(fā)明，在校準(zhǔn)操作時獲得的信號與在探測器的使用壽命內(nèi)它之后在任何后續(xù)時間被布置于完全相同條件下獲得的信號之間觀察到的差別被稱為“漂移”，它是由于與通常使用的測溫材料的相對自然不穩(wěn)定性相關(guān)的所有探測器輻射熱計的靈敏度特性的通常空間一致的慢演進(jìn)所導(dǎo)致的變化，也可以是空間分布的非?？熳兓ǜ鶕?jù)變化的呈現(xiàn)以及變化的后續(xù)弛豫）和較長時間觀察強(qiáng)輻射源而導(dǎo)致的隨時間推移的可變變化。為了適當(dāng)?shù)亟榻B下面的內(nèi)容，詳細(xì)說明現(xiàn)有技術(shù)的最通用校準(zhǔn)處理。一般地說，這種校準(zhǔn)處理包括精心選擇陣列網(wǎng)膜的偏移和增益的二維校正參數(shù)（通常所稱的“表”），之后，在探測器工作期間使用該表以校正輻射熱計特性離差。通過測量和存儲當(dāng)面對均勻溫度的第一場景（例如，對第一溫度T1采取的基準(zhǔn)黑體）時獲得的所有輸出信號來獲得該偏移表。輸出信號（或者連續(xù)電平）被稱為NCT1，并且輻射熱計陣列的坐標(biāo)(i,j)的輻射熱計的特定信號被稱為NCT1(i，j)。因此，偏移表僅收集表示該校準(zhǔn)條件下的輸出信號的分布（離差現(xiàn)象）的所有值NCT1(i，j)。然后，將探測器布置在均勻溫度的不同的第二場景的，例如，對第二溫度T2取的第二基準(zhǔn)黑體的前面，并且獲取和存儲新表NCT2(i,j)。然后，由表NCT1(i，j)、NCT2(i，j)以及這些表的相應(yīng)代數(shù)平均值和計算下面的關(guān)系式定義的基準(zhǔn)增益表Gref(i，j)：在本文件的其余地方，符號表示該表的代數(shù)平均值，其中V是與網(wǎng)膜相同維數(shù)的標(biāo)量值的“表”。表Gref(i，j)表示所有網(wǎng)膜輻射熱計的響應(yīng)或者響應(yīng)性的相對分布（離差現(xiàn)象）。通過校準(zhǔn)獲得的這種偏移和增益表被存儲在照相機(jī)中并使用，并且在其投入使用后，由與照相機(jī)集成在一起的計算單元利用它對每個圖像幀的每個原始信號S(i，j)進(jìn)行傳統(tǒng)“兩點校正”，以根據(jù)下面的關(guān)系式獲得校正信號Scorr(i，j)：因此，每個原始信號S(i，j)均相對于根據(jù)偏移和增益校正的成像器的平均值具有各偏差。通常，照相機(jī)設(shè)置快門、該快門布置于光學(xué)元件與靈敏焦面之間，用于在快門溫度下形成均勻熱場景的等同像。當(dāng)考慮到輸出信號Scorr(i，j)特別是對于沒有溫度調(diào)節(jié)的“無TEC”探測器因為例如焦面的溫度偏移或者溫度離差，或者因為輻射熱計的小的個別或總體偏移而不再足夠精確時，快門被激活，并且偏移表NCT1被更新，例如被對應(yīng)于關(guān)閉快門的原始輸出信號的新表NCshut替換。因此，傳統(tǒng)上利用快門以簡單、精確方式形成滿意偏移表。然而，根據(jù)本發(fā)明，可以不利用快門或例如通過使圖像散焦來使場景輻射均勻的裝置就在環(huán)境溫度下實現(xiàn)自然地實質(zhì)均勻的場景觀察。此后，為了簡化說明，可以描述為表NCshut“對應(yīng)于快門”，而這并不意味存在機(jī)械快門。然后，利用新偏移表再一次有效校正再打開快門后獲得的圖像。通常認(rèn)為不需要更新增益表，因為在整個探測器的使用壽命內(nèi)，與平均值相比，導(dǎo)致相對響應(yīng)離差的物理現(xiàn)象實際上未發(fā)生變化。事實上，偏置電壓輻射熱計的響應(yīng)Resp（即，在恒壓的作用下并且在對流過輻射熱計的電流沒有其它外部限制的情況下）通常可以被表示為如下：其中：■Rac是輻射熱計的阻抗；■A是輻射熱計用于吸收輻射的面積；■Rth是輻射熱計膜片和置于其上懸置所述膜片的基底之間的熱阻；■ε是膜片的有效光耦合（吸收）系數(shù)；■TCR是輻射熱計的阻抗根據(jù)溫度的變化系數(shù)；■Φ是輻射熱計上的入射輻射能流；以及■θscene是場景溫度。因此，該響應(yīng)部分地由結(jié)構(gòu)和設(shè)計參數(shù)，例如面積A、熱阻Rth、系數(shù)ε，以及配備有探測器的光學(xué)系統(tǒng)的、在最后一項Φ(θscene)中出現(xiàn)的各種參數(shù)確定?，F(xiàn)在，可以發(fā)現(xiàn)，可以與用于形成原始信號S(i,j)的讀取電路的參數(shù)相加的該第一組參數(shù)的值，基本上不隨著時間推移發(fā)生變化，因此，在整個探測器使用壽命內(nèi)它基本上是常數(shù)。然而，另一組參數(shù)以與其測溫材料相關(guān)的字符的形式包括在輻射熱計響應(yīng)中，即，其阻抗Rac（通過其阻抗率ρ）和該阻抗基于如下關(guān)系定義的溫度TCR的相對變化系數(shù)：其中T是輻射熱計膜片的溫度。如上所述，這些材料參數(shù)可能發(fā)生顯著漂移。特別是，常用輻射熱計材料（實質(zhì)上是氧化釩和非晶硅）的阻抗Rac可能隨著探測器使用壽命內(nèi)本征地改變幾個百分點。該阻抗還可能在強(qiáng)紅外輻射和/或者長期紅外輻射導(dǎo)致的特高加熱的影響下變化，這對于圖像質(zhì)量更有害，因為這種干擾通常僅涉及網(wǎng)膜的一部分。因此，在圖像上形成與場景無關(guān)的“贗象”反差斑，在校正了唯一偏移后，即，在更新了“一點”校正后，所述斑消失，但是測溫校準(zhǔn)發(fā)生失真，因為已經(jīng)被調(diào)節(jié)的網(wǎng)膜部分的初始增益表不再準(zhǔn)確。與希望獲得的圖像測量或者熱測量的精度相比，這種校準(zhǔn)變化或者漂移可能非常大。因此，如果在探測器的使用壽命內(nèi)要求固定圖像質(zhì)量，則要求定期再校準(zhǔn)“兩點”校正中使用的增益表。因此，例如，文獻(xiàn)FR2936052提供了用于校正這些漂移的方法。對于裝備了快門和針對基準(zhǔn)溫度調(diào)節(jié)焦面的溫度的珀耳帖致冷器的探測器，該文獻(xiàn)教導(dǎo)由于輻射熱計阻抗的時間或者空間變化所導(dǎo)致的響應(yīng)性漂移的校正。實現(xiàn)原理基于包括其自身遭受所研究漂移的基準(zhǔn)阻抗以及用于測量該基準(zhǔn)阻抗相對于其初始值的漂移的裝置的設(shè)備。在每次因為輻射熱計響應(yīng)性的漂移而認(rèn)為需要更新增益表時，激活這些裝置。校正包括：當(dāng)探測器處在“工作中”時，獲取對應(yīng)于快門的原始信號，由這些信號推導(dǎo)該基準(zhǔn)阻抗相對于其初始值的相對變化，以及然后將增益表的增益乘以與所述相對變化成正比的因數(shù)。探測器處于“工作中”指例如，在用戶可以使用照相機(jī)時，利用不使用工廠的建造者應(yīng)用的校準(zhǔn)方法，特別是不利用黑體的過程，來進(jìn)行校正。在基準(zhǔn)阻抗是輻射熱計本身的情況下，整體地執(zhí)行校正（對整個網(wǎng)膜唯一并有效）或者單獨地執(zhí)行校正（適用于每個靈敏點）。然后，這樣更新的增益表應(yīng)用于校正例如原始信號的數(shù)值。因此，對因為響應(yīng)性漂移引起的錯誤獲得實質(zhì)性校正。該方法有效抑制大多數(shù)校準(zhǔn)差，并且對于單獨實施的情況，還抑制因為強(qiáng)局部輻射產(chǎn)生的大多數(shù)漂移。然而，可以看到，并未在照相機(jī)的所有工作條件下完美校正因為強(qiáng)局部輻射引起的“殘余”型空間響應(yīng)干擾。事實上，當(dāng)快門在校準(zhǔn)時的溫度接近之后觀察的場景的平均溫度時，由更新偏移和增益表獲得的“兩點”校正圖像令人滿意。然而，當(dāng)照相機(jī)溫度并由此導(dǎo)致快門溫度遠(yuǎn)離場景的平均溫度時，“兩點”校正之后，特別是在常常被過度校正的熱對比度低的圖像上存在先前受擾區(qū)的非常明顯的鬼像，因此，導(dǎo)致校正之后的圖像上的局部對比度反而降低。圖1是由基于實現(xiàn)文獻(xiàn)FR2936052的教導(dǎo)的現(xiàn)有技術(shù)的非晶硅輻射熱計探測器獲得的熱圖像并且示出了過度校正現(xiàn)象。圖1的圖像是在，用當(dāng)照相機(jī)，進(jìn)而快門在60°C的平均溫度下對偏移表進(jìn)行校正后，并在用現(xiàn)有技術(shù)的“兩點”校正之后獲得的。所觀場景具有30°C的平均溫度。該圖像的灰度級對較高溫度賦予光影，圖像根據(jù)場景溫度的一般動態(tài)處于大約4°C的量級。暗斑是在網(wǎng)膜的幾個點處根據(jù)各種曝光時間，由于在獲取圖1的圖像之前在所使用的探測器的圖區(qū)內(nèi)存在太陽而導(dǎo)致的在兩點校正之前存在的“鬼像”。當(dāng)未校正時，在非常輕的對比度下出現(xiàn)這種斑，但校正圖像上在暗對比度下出現(xiàn)這種斑意味著這些斑被過度校正。成像場的該例子還說明了熱敏成像中現(xiàn)有技術(shù)的局限性。事實上，從位于干擾區(qū)內(nèi)的點提取的場景溫度估計值相對于相鄰未干擾點提供的正確測量值失真。如上所述，利用在工廠對探測器進(jìn)行的再校準(zhǔn)，通過在兩個基準(zhǔn)溫度T1和T2對兩個黑體重復(fù)曝光處理來確定新增益表，可以校正這種成像和校準(zhǔn)缺陷。然而，除了不可能對在使用中的系統(tǒng)執(zhí)行這樣復(fù)雜的操作，并且在校準(zhǔn)中應(yīng)當(dāng)在相同熱條件下更換照相機(jī)，這將在過量輻射之后在馳豫期內(nèi)被重復(fù)再現(xiàn)。實際上，在不長時間停止使用照相機(jī)的情況下，不能對該解決方案有所期望。文獻(xiàn)US7030378提供了一種基于在工廠初始校準(zhǔn)之后在照相機(jī)本身的兩個不同工作溫度獲得的輻射熱計的阻抗的兩個比較測量值的“場”方法。除了要求顯著溫度變化以提供可用結(jié)果，當(dāng)快門的溫度與場景的溫度非常不同時，該方法不能提供對校準(zhǔn)精度不夠高的問題的解決方案。因此，顯然需要一種能夠基本上去除殘余校準(zhǔn)誤差，并且更具體地說，去除根據(jù)現(xiàn)有技術(shù)進(jìn)行校正之后始終可以看到的連續(xù)強(qiáng)熱輻射過度曝光周期的成像和熱敏成像中的有害贗象的方法。還需要有一種用于校正漂移和所述贗象的協(xié)議，該協(xié)議不要求使用要求探測器很長時間不投入使用的特定條件。還需要提供一種可以應(yīng)用于投入使用的設(shè)置了現(xiàn)有技術(shù)的標(biāo)準(zhǔn)讀取電路的照相機(jī)的用于校正漂移或者所述贗象的協(xié)議，并且無論探測器的熱形式，即，具有調(diào)節(jié)焦面溫度或非調(diào)節(jié)類型的（“無TEC”）如何，該協(xié)議都有效。

技術(shù)實現(xiàn)要素：
因此，本發(fā)明的目的在于提供一種用于校正輻射熱計探測器的輸出信號、能夠在探測器的整個使用壽命基本上保持初始校準(zhǔn)精度、在過度輻射的情況下，盡管探測器使用的輻射熱計材料存在固有的時間和/或者空間漂移，并且根據(jù)室溫在照相機(jī)的所有工作條件下，沒有殘余鬼像（成像贗象）的方法。為此，本發(fā)明的目的在于一種用于校正增益表的方法，在懸置于輻射熱計探測器的基底上方的阻抗性輻射熱計網(wǎng)膜的阻抗性輻射熱計的響應(yīng)離差的校正中使用該增益表，所述校正應(yīng)用于由所述輻射熱計提供的原始讀取信號，并且該增益表的每個增益與網(wǎng)膜的輻射熱計相關(guān)聯(lián)。根據(jù)本發(fā)明，該方法包括：從對應(yīng)于基本上溫度均勻的場景的網(wǎng)膜獲取讀取信號；根據(jù)如下關(guān)系式，計算用于校正根據(jù)所獲取的讀取信號的增益表的表g：以及根據(jù)如下關(guān)系式校正增益表：其中：(i,j)表示網(wǎng)膜和表中的輻射熱計的坐標(biāo)；Gref和Gshut分別是校正之前的增益表和被校正的增益表；Rac_shut(i，j)是獲取讀取信號時坐標(biāo)為(i,j)的輻射熱計的阻抗值；Rac_ref(i,j)是坐標(biāo)為(i,j)的輻射熱計在先前時間的阻抗值；TCRshut(i，j)是坐標(biāo)為(i,j)的輻射熱計在獲取讀取信號時的溫度變化系數(shù)值；TCRref(i,j)是坐標(biāo)為(i,j)的輻射熱計在先前時間的溫度變化系數(shù)值；以及N是用于歸一化增益表Gshut的標(biāo)量因數(shù)。有利的是，因數(shù)N等于分子N(i,j)＝g(i,j).Gref(i,j)的所有項元的代數(shù)平均值，在這種情況下：本發(fā)明的目的還在于包括用于執(zhí)行上述方法的裝置的輻射熱計探測器。根據(jù)本發(fā)明實施例，阻抗性輻射熱計的輻射熱計材料是非晶硅或者硅鍺合金，值Rac_ref(i,j)是輻射熱計針對平均溫度Tref的阻抗值，以及根據(jù)如下關(guān)系式計算項：其中：Tshut是輻射熱計在獲取信號時的平均溫度；K是取決于阻抗性輻射熱計的預(yù)定系數(shù)；Ea_ref是輻射熱計激活能的預(yù)定值；ln是自然對數(shù)；以及Rac_ref(i,j)@Tshut是在溫度Tshut時坐標(biāo)為(i,j)的輻射熱計的阻抗在先前時間的值。換句話說，本發(fā)明人發(fā)現(xiàn)至少在輻射熱計材料由非晶硅或者硅鍺合金制成的情況下的激活能的值與其阻抗之間存在關(guān)系。已知輻射熱計材料的固有特性的漂移導(dǎo)致阻抗發(fā)生變化，因此，可以估計系數(shù)TCR的相應(yīng)變化，因此可以再校準(zhǔn)增益表而無需執(zhí)行根據(jù)基準(zhǔn)黑體的經(jīng)驗校準(zhǔn)的傳統(tǒng)的整個實現(xiàn)過程。因此，有利的是，本發(fā)明采用所述關(guān)系。應(yīng)當(dāng)明白，根據(jù)在讀取電路的輸出端可用的信號、計算功率、或者照相機(jī)中搭載的計算單元的存儲空間、所使用的模擬電路的類型，有許多使用數(shù)學(xué)關(guān)系的方式。因此，本發(fā)明在確定增益表的過程中直接或者間接使用該關(guān)系。特別是，在通常不直接測量這些量，而是根據(jù)在網(wǎng)膜輸出端可用的信號和探測器的各種工作參數(shù)，諸如例如與所使用的偏振類型相關(guān)的或者與用于“讀取”網(wǎng)膜輻射熱計的體系結(jié)構(gòu)的類型相關(guān)的參數(shù)，來估計這些量的條件下，本發(fā)明涉及對各種量的估計。此外，應(yīng)當(dāng)注意，本發(fā)明涉及溫度。正如下面更清楚地描述的，各種關(guān)系涉及或者直接由實際輻射熱計的溫度特性導(dǎo)出。因此，從理論上說，溫度是輻射熱計的溫度。輻射熱計的溫度通常通過測量其阻抗被測量。然而，不能描述要被校正的輻射熱計特性漂移的影響。在本文中，需要利用其它裝置估計該溫度。例如，可以靠近每個輻射熱計設(shè)置溫度探針，也可以設(shè)置一個或者幾個溫度探針，以在一個或者幾個點測量基底溫度。事實上，輻射熱計膜片與支承它們的基底是熱關(guān)聯(lián)的，因此，輻射熱計膜片與其達(dá)成平衡，即，處于接近基底的溫度的平均溫度。在此，在例如從幾秒到幾分的時標(biāo)上，利用“平均溫度”表示有效溫度。已知在通過諸如下面描述的逐行掃描模式偏置來形成信號的最常見情況下，在每幀發(fā)生一次的自加熱焦耳效應(yīng)的作用下，輻射熱計的膜片的瞬間溫度（通常在幾微秒的量級）在讀取電脈沖當(dāng)中能夠具有幾度的快速變化。穩(wěn)定狀態(tài)下（幾幀之后）因為讀取的自加熱階段與兩幀間向基底溫度的熱馳豫階段之間的平衡導(dǎo)致考慮到通常比基底的溫度高幾度的平均溫度。在平均溫度與瞬間溫度相等的連續(xù)極化情況下，也出現(xiàn)該差別。至少只要不調(diào)節(jié)讀取激勵，該平均溫度差就基本上是固定的。特別是，在上面的討論中，這一差別出現(xiàn)在所謂“先前”狀態(tài)和被稱為信號“獲取”狀態(tài)中，因此，根據(jù)本發(fā)明，在一般情況下，無需為了獲得非常精細(xì)的校正而獲知該誤差。如果需要例如改進(jìn)該校正，則在實現(xiàn)根據(jù)本發(fā)明的方法的過程中，可以以量Tref和Tshut的方式，估計和積分該差值。正是由于這一原理，輻射熱計的溫度取決于入射輻射，即，取決于所觀場景的溫度，因此，該場景溫度對限定輻射熱計平均溫度有影響。然而，該影響遠(yuǎn)小于支承基底的影響，通常約小100倍的量級。因此，至少在所謂“先前”時間和信號“獲取”時間對應(yīng)于其溫度不太遠(yuǎn)離輻射熱計溫度，例如，小于20°C的場景的情況下，根據(jù)本發(fā)明的校正質(zhì)量不存在顯著失真。通常當(dāng)照相機(jī)裝備了快門時滿足該條件，因為照相機(jī)的內(nèi)部通?；旧鲜歉魺岬?。“大體上”例如意味著基底本身可能具有比照相機(jī)的包括快門的其它部分高的平均溫度，如果出現(xiàn)這種情況，則是因為基地工作時特有的熱耗散。在滿意地實現(xiàn)本發(fā)明的情況下，可以忽略這樣小的差值。對于較大的溫差，可以觀察到質(zhì)量較低但是仍能夠減小上述鬼像的校正。因此，有利的是，輻射熱計溫度由在本發(fā)明中作為滿意估計值的基底溫度近似。因此，從輻射熱計的觀點出發(fā)，可以將在一點上測量的基底溫度看作其溫度的滿意近似。下面，為了清楚簡要起見，不特別區(qū)別輻射熱計溫度和該基底的一點的溫度，在本文中明確說明了所使用的溫度的性質(zhì)。此外，根據(jù)該領(lǐng)域的使用說明，基底溫度還可以被指定為“焦面溫度”，因為基底位于裝備了輻射熱計探測器的光學(xué)系統(tǒng)的焦面，或者可以被指定為“探測器溫度”。然而，在不可忽略的空間溫度梯度、永久變量或者瞬態(tài)變量出現(xiàn)于支承靈敏網(wǎng)膜的基底部分上的情況下，有利的是，在基底的多個點具有幾個溫度探針，以獲得靠近每個輻射熱計的基底溫度的估計值。在探針空間分布基于其密度比輻射熱計陣列的密度低得多的規(guī)則網(wǎng)絡(luò)的情況下，利用由最靠近給定輻射熱計的探針發(fā)出的信號，例如以簡單方式直接提供該估計值。該網(wǎng)絡(luò)例如具有方形網(wǎng)格或者六角網(wǎng)格，并且至少在支承靈敏網(wǎng)膜的基底的一部分上延伸。作為更進(jìn)一步改進(jìn)的變型，如果需要，利用探針網(wǎng)絡(luò)點之間的內(nèi)插模型獲得該估計值。為了限制獲得局部基底溫度的足夠精確估計值所需探針的數(shù)量，并且有利的是避免了將探針插入排列于靈敏網(wǎng)膜區(qū)域內(nèi)的規(guī)則讀取電路所占據(jù)的區(qū)域，例如在靈敏網(wǎng)膜外圍的各點處排列多個探針，每個探針對基底溫度進(jìn)行局部測量。傳統(tǒng)上，溫度信號被輸出到輸出端，例如并且通常，在數(shù)字化和積分之后轉(zhuǎn)為視頻數(shù)據(jù)流。然后，利用集成到根據(jù)本發(fā)明的校正算法的探測器的熱模型，獲得每個輻射熱計附近的基底的空間溫度分布的估計值。在不脫離本發(fā)明的精神的情況下，如果本技術(shù)領(lǐng)域內(nèi)的技術(shù)人員能夠建立的先前特定排列或者其變型之一可以實現(xiàn)，則在根據(jù)本發(fā)明求得的表達(dá)式中出現(xiàn)的量Tref和Tshut將被列表量Tref(i，j)和Tshut(i，j)代替。根據(jù)現(xiàn)有技術(shù)，應(yīng)用增益表意圖基本上消除網(wǎng)膜的每個輻射熱計元的、所有網(wǎng)膜元的響應(yīng)的平均值附近的原始響應(yīng)離差Resp的影響。因此，通常認(rèn)為增益表“被歸一化”，即，按照慣例使其平均值等于1。如果該應(yīng)用需要（例如，熱敏成像的情況），則如上解釋的被校準(zhǔn)的平均響應(yīng)使場景溫度對應(yīng)于校正信號。然后，利用下面的關(guān)系式，工作中的照相機(jī)對網(wǎng)膜的每個輻射熱計提供的校正信號Scorr被變換為測溫信號θscene(i,j)或者要提供的任何其它感興趣信號：通常，對于其焦面不是調(diào)溫的現(xiàn)有技術(shù)系統(tǒng)，通常需要在工廠測量并存儲處于照相機(jī)的或者更簡單地說是焦面（TPF）的幾個特性溫度的一系列平均響應(yīng)換句話說，常見的是按照經(jīng)驗根據(jù)焦面TPF的溫度建立響應(yīng)的曲線，該曲線意圖在工作中通過例如內(nèi)插提供處于任何照相機(jī)溫度時的相關(guān)平均響應(yīng)值。在形成該工廠經(jīng)驗校準(zhǔn)曲線時包括了因為Rac和TCR隨照相機(jī)溫度的變化導(dǎo)致的響應(yīng)變化?？梢栽谶@些相同溫度對增益表進(jìn)行同樣處理，以存儲一系列意在在工作中進(jìn)行后續(xù)內(nèi)插的表Gref，以作為根據(jù)本發(fā)明的對更精確的表Gref(TPF)進(jìn)行校正的基礎(chǔ)。然而，至少對于基于非晶硅或者基于非晶硅鍺合金的探測器，有利的是，可以發(fā)現(xiàn)不需要獲取幾個增益表。相反，可以發(fā)現(xiàn)，無論后續(xù)工作溫度是多少，在校準(zhǔn)的初始階段在溫度Tref獲得的增益表基本上都保持相關(guān)，而與未涉及本發(fā)明要解決的問題。然而，仍然至少對于含有非晶硅或者非晶硅鍺合金的探測器，有利的是，可以發(fā)現(xiàn)，至少對于使用現(xiàn)場的中心周圍的有限溫度偏離或者其最可能值的情況，不需要獲取該曲線。如果通過乘以被校正的增益表的標(biāo)量歸一化因數(shù)在平均響應(yīng)的運算中執(zhí)行后續(xù)校正，則獲取處于唯一溫度Tref下的平均響應(yīng)值就足夠了。如果如上所述在校準(zhǔn)期間不再需要獲取幾個增益表，則這樣顯著簡化了初始校準(zhǔn)協(xié)議，由此降低了運算的成本。因此，在該特定熱敏成像情況下，無需根據(jù)溫度測量其變化的校準(zhǔn)變化的直接知識是有利的。事實上，標(biāo)量N可以直接用作平均響應(yīng)的相關(guān)校正，即，在關(guān)系式（3）的水平上實現(xiàn)。文獻(xiàn)FR2936052未使用僅含有相對響應(yīng)離差的歸一化增益表G(i，j)，而使用由網(wǎng)膜的每個基元產(chǎn)生的信號與場景溫度變化直接相關(guān)的響應(yīng)（或者靈敏性S）的較大的表。因此，在先文獻(xiàn)的量S(j，j)對應(yīng)于本說明書的量因此，在本說明書中，離差空間校正出現(xiàn)于增益表G(i，j)中，并且如果使用，則根據(jù)通用響應(yīng)校正Respshut＝Rspref·N，校準(zhǔn)校正（響應(yīng)/靈敏性）出現(xiàn)于歸一化因數(shù)N中。因數(shù)N支持校正輻射熱計網(wǎng)膜的特性的普遍漂移和/或者非調(diào)系統(tǒng)的平均溫度漂移。本發(fā)明人發(fā)現(xiàn)，如圖1所示，如果在最后校準(zhǔn)增益表時網(wǎng)膜的溫度并由此快門的溫度與后續(xù)觀察的場景的溫度非常不同，則根據(jù)文獻(xiàn)FR2936052描述的技術(shù)進(jìn)行校正之后的殘余校準(zhǔn)誤差直接與在先前被強(qiáng)輻射的區(qū)域相關(guān)聯(lián)地形成清晰的局部失真。因此，對超出對所述文獻(xiàn)提供的增益表進(jìn)行的簡單“第一階”校正的校準(zhǔn)誤差進(jìn)行校正是有用的。關(guān)系式（1）表示響應(yīng)對所采用的輻射熱計材料的雙重依賴性性，即，一方面，依賴于阻抗Rac，而另一方面，依賴于溫度變化系數(shù)TCR。文獻(xiàn)FR2936052的技術(shù)校正響應(yīng)對阻抗Rac的依賴性?；诒景l(fā)明的原理還考慮到響應(yīng)對系數(shù)TCR的依賴性而在“第二階”校正網(wǎng)膜的整體漂移或者局部漂移。因此，本發(fā)明還包括對先前獲取的增益表Gref(i,j)進(jìn)行第二階校正，以根據(jù)如下關(guān)系式獲得校正增益表Gshut(i,j)：其中：Gshut(i,j)是對探測器的當(dāng)前溫度Tshut確定的新增益表；Rac_shut(i,j)是確定新增益表Gshut(i,j)時以及在此時的溫度Tshut下的輻射熱計阻抗值；Rac_ref(i，j)是在確定增益表Gref時和在此時的溫度Tref下的輻射熱計阻抗值；以及TCRref(i,j)是在確定增益表Gref時和在此時的溫度Tref下的溫度變化系數(shù)的值；TCRshut(i,j)是在獲取新增益表Gshut(i,j)時和在此時的溫度Tshut下的溫度變化系數(shù)的值；以及N是有利的是等于所有分子項元的平均值的歸一化因數(shù)。然而，利用關(guān)系式（4）校正該增益表并不簡單。事實上，這假定具有當(dāng)快門被關(guān)閉時用于測量處于溫度Tshut的阻抗Rac的裝置。該運算可以被認(rèn)為是可行的，但是這意味著要配置該讀取電路并且為該目的而形成這樣的電路。該運算還要求獲取關(guān)閉快門時溫度為Tshut時的系數(shù)TCR。系數(shù)TCR是溫度強(qiáng)相關(guān)的，在運算中直接獲取其值要求例如并且通常利用珀耳帖致冷器（或者“TEC”，“熱電致冷器”）使照相機(jī)的焦面并因此使網(wǎng)膜具有兩個不同的溫度。然后，從在關(guān)閉快門的情況下在這兩個溫度獲取的兩個阻抗測量值中提取每個輻射熱計的TCR值。除了越來越多的市售探測器沒有珀耳帖致冷器而導(dǎo)致這可能造成麻煩的缺陷，該運算需要非常耗時，因為要求“第二階”校正，在該運算級要非常準(zhǔn)確以獲得要求的精度。因此，本發(fā)明提供了一種對網(wǎng)膜的整體或者局部漂移進(jìn)行第二階校正的方法，該方法對非調(diào)溫探測器也有效，并且該方法不要求測量在相同溫度下進(jìn)行，當(dāng)然，本發(fā)明還可以非常好地應(yīng)用于這種情況。更具體地說，本發(fā)明提供用于確定當(dāng)前探測器溫度的增益表，并且使得在所使用的分析模型中消除對系數(shù)TCR的引用。本發(fā)明基于先前獲取的增益表，并且即使當(dāng)在另一個溫度，包括與當(dāng)前探測器溫度差距非常大的溫度，獲取該增益表時也同樣如此。正如下面詳細(xì)描述的，該工作的前提是出乎意料地?zé)o損于輻射熱計漂移第二階校正的質(zhì)量。然后，在用于形成輻射熱計阻抗的輻射熱計材料是半導(dǎo)體的通常情況下，與例如非晶硅和非晶硅鍺合金相同，輻射熱計的阻抗Rac具有根據(jù)阿倫尼烏斯(Arrhenius)等式的公知溫度特性。其中：Ea(i，j)是輻射熱計的輻射熱計材料的阻抗的激活能；Rac0(i，j)是這種材料的“無限”溫度的漸近阻抗參數(shù)；k是波爾茲曼常數(shù)；以及T是輻射熱計的輻射熱計材料的溫度。該關(guān)系式使得根據(jù)如下關(guān)系式表示系數(shù)：其中q是電子的電荷，需要時以電子伏表示Ea。然后，本發(fā)明人發(fā)現(xiàn)，至少對于非晶硅材料（a-Si）和非晶硅鍺合金（a-SixGe1-x），激活能Ea取決于特別研究的材料的各種固有特性，并且如果這些特性不發(fā)生變化，即，如果材料不漂移，則在探測器的整個工作條件范圍內(nèi)，激活能Ea具有基本上固定的溫度。因此，通過組合關(guān)系式（4）和（6），關(guān)系式（4）可以根據(jù)如下關(guān)系式變型：其中Earef(i,j)和Eashut(i,j)分別是輻射熱計在確定表Gref(i,j)時的和確定新表Gshut(i,j)時的激活能。因此，根據(jù)關(guān)系式（7），與第二階校正相關(guān)的有用信息現(xiàn)在包含在激活能Ea內(nèi)。然后，申請人發(fā)現(xiàn)，當(dāng)輻射熱計材料的阻抗因為溫度變化之外的原因變化時，Ea基本上可逆并且可重復(fù)地跟隨輻射熱計材料的阻抗變化。因此，對于材料的給定溫度，利用其阻抗Rac的變化，可以估計輻射熱計的激活能Ea的變化。更具體地說，當(dāng)因為漂移而調(diào)整在溫度Tinit時初始阻抗為Rac_init(i，j)的同一個輻射熱計，并且獲取該同一個溫度Tinit的新阻抗值Rac_final(i,j)時，請注意Rac_final(i，j)，已發(fā)現(xiàn)在輻射熱計在漂移之前和漂移之后的相應(yīng)激活能Eainit(i,j)和Eafinal(i，j)基本上符合下面的關(guān)系式：或者作為變型：其中K是預(yù)定因數(shù)。對于形成網(wǎng)膜所使用的材料，通過有意對校準(zhǔn)設(shè)備的一個或者多個輻射熱計應(yīng)用各種大小的漂移，通過測量與這些各種漂移狀態(tài)相關(guān)聯(lián)的阻抗和激活能，以及通過利用關(guān)系式（8）或者（9）的通用線性化方法從這些測量值中提取系數(shù)K，來例如根據(jù)實驗校準(zhǔn)因數(shù)K的值。在關(guān)系式（9）中，給出在Tinit時的阻抗比，該值可以被任意設(shè)置為Tfinal，關(guān)鍵點是將相同溫度的阻抗進(jìn)行比較。下面，用于建立增益表校正公式使用的通用溫度對應(yīng)于最終溫度Tfinal。對于申請人通常使用的各種非晶硅，約為0.055eV因數(shù)K的值通常相關(guān)。對于其它材料，在這一量級上的其它值可以更好地適用。正如關(guān)系式（8）和（9）中所示出的，關(guān)于所使用的靈敏材料的特定特性或者/和對于探測器工作溫度的極大偏離的情況，根據(jù)靈敏元的溫度表示參數(shù)K的可能變化是有用的。因此，根據(jù)焦面TPF的溫度而預(yù)先實驗校準(zhǔn)靈敏材料的行為K(TPF)能夠例如利用多項式表達(dá)式改進(jìn)關(guān)系式（8）和（9）中校正參數(shù)K的值，其因此被表示為K(TPF)。然而，在使用非晶硅或者非晶硅鍺合金的大多數(shù)情況下，這種改進(jìn)是多余的，并且使用固定參數(shù)K就足夠了。應(yīng)當(dāng)注意，關(guān)系式（8）和（9）無法在阻抗Rac的值與系數(shù)TCR的值或者激活能Ea的值之間建立預(yù)定通用關(guān)聯(lián)。換句話說，關(guān)系式（8）和（9）無法重寫關(guān)系式（5）表示的阿倫尼烏斯等式。事實上，漸近阻抗Rac0和激活能Ea沒有固定值或者預(yù)定值，并且取決于輻射熱計材料的特定瞬態(tài)。因此，例如，當(dāng)對被認(rèn)為相同，即，由根據(jù)固定方法獲得的靈敏材料形成，或者甚至從單一實驗序列中采樣的并且具有基本上相同阻抗的輻射熱計的激活能進(jìn)行測量時，可以觀察到約百分之幾的與計量誤差無關(guān)的離差結(jié)果。當(dāng)經(jīng)過強(qiáng)輻射后，其阻抗已經(jīng)被調(diào)整然而被認(rèn)為相同的一系列輻射熱計設(shè)備的激活能進(jìn)行測量時，會出現(xiàn)同樣的情況。此外，本發(fā)明人發(fā)現(xiàn)，在激活能Ea與阻抗Rac之間實現(xiàn)的唯一實驗關(guān)系式（8）和（9）至少在申請人觀察的與輻射熱計漂移相關(guān)聯(lián)的Rac的變化范圍內(nèi)保持有效，以提供作為本發(fā)明的目的第二階增益校正，在照相機(jī)投入使用時，在通常遇到的最極端情況下，輻射熱計的阻抗Rac的值約有10％量級的變化范圍。通過組合關(guān)系式（5）、（7）和（9），可以根據(jù)如下關(guān)系式重寫關(guān)系式（7）：其中：比值α(i,j)和β(i,j)被分別稱為輻射熱計承受的漂移的第一階和第二階校正因數(shù)。因此，獲得焦面溫度變化和輻射熱計的整體或者局部漂移的校正增益表。因此，如果知道增益表和初始阻抗值和激活能值，則可以在任何時間在探測器的任何溫度確定新增益表，因此，在第二階考慮到例如因為過強(qiáng)照明導(dǎo)致的輻射熱計漂移。附圖說明通過閱讀下面僅作為例子提供的描述，可以更好地理解本發(fā)明，其中相同的參考編號指相同的元件，附圖中：圖1是在快門和場景的溫度相差約30°C的情況下，利用事先有意在各點暴露在陽光輻射下的輻射熱計紅外探測器獲得并且根據(jù)現(xiàn)有技術(shù)的一階校正校正的場景的熱像；圖2是實現(xiàn)根據(jù)本發(fā)明的方法的探測器的簡化全視圖；圖3是包括在圖2所示探測器中的輻射熱計陣列和讀取電路的簡化圖；圖4是根據(jù)本發(fā)明第一實施例的方法的流程圖；圖5是根據(jù)本發(fā)明第二實施例的方法的流程圖；以及圖6是在相同工作條件下獲得的，但是根據(jù)本發(fā)明的方法校正過的與圖1中的場景相同場景的圖像。具體實施例現(xiàn)在描述本發(fā)明實施例，該本發(fā)明實施例應(yīng)用于因為所包括的電子電路而施加特定信號S(i，k)或者NC(i，j)的特定輻射熱計探測器。然而，在此聲明，與這些電路關(guān)聯(lián)使用的特定參數(shù)和特定量不受限制，并且僅是本發(fā)明的特定應(yīng)用。圖2示意地示出根據(jù)本發(fā)明的輻射熱計探測器的原理圖。該探測器沒有調(diào)節(jié)溫度，因此，其焦面的溫度可以自由改變，并且它探測在紅外觀察的場景的輻射。該探測器包括基元熱探測器或者輻射熱計的陣列10，每個基元熱探測器或者輻射熱計包括通過支承極化熱絕緣壁懸置于基底上的輻射熱計膜片。讀取電路20和至少一個溫度探針30也形成于基底上，并且懸置輻射熱計膜片一起形成陣列網(wǎng)膜，該陣列網(wǎng)膜排列于光學(xué)器件40的焦面上。可驅(qū)動快門50也設(shè)置于光學(xué)器件40與輻射熱計陣列10之間的光路上。讀取電路20提供表示光學(xué)器件40形成的所觀場景的熱圖像的數(shù)字視頻流，而溫度探針30提供表示所測溫度并且與視頻流相關(guān)的數(shù)字信號。電路20的輸出信號被電路60采樣-阻塞并復(fù)用，這在現(xiàn)有技術(shù)中眾所周知。讀取電路20的輸出數(shù)據(jù)形成“原始”數(shù)據(jù)，即，并未針對校正輻射熱計缺陷進(jìn)行模擬或者數(shù)字處理。電路20傳送的視頻流的圖像的像素對應(yīng)于源自輻射熱計的原始值S(i，j)或者NC(i，j)（面對均勻場景）。圖3是輻射熱計陣列10和讀取電路20的更詳細(xì)視圖。該組件包括：二維陣列10，該二維陣列10包括n行和m列的基元輻射熱計成像點101，或者像素，每個基元輻射熱計成像點101或者“像素”包括阻性成像輻射熱計1011，其中n和m是大于或者等于1的整數(shù)；一行共模補(bǔ)償電路201，每個通用補(bǔ)償電路201與一列陣列10相關(guān)；一行積分器202，每個積分器202與一列陣列10相關(guān)；以及電路203，用于陣列10的測定和逐行尋址。眾所周知，當(dāng)形成讀取所需的各種電子元件時，成像輻射熱計1011通常由通過在基底上支承臂而懸置的膜片形成。膜片的輻射熱計材料是非晶硅（a-Si）或者非晶硅和鍺的合金（a-SixGe1-x）。每個積分電路202包括：運算放大器2021，該運算放大器2021具有其被設(shè)置為預(yù)定恒壓VBUS的非倒相端子（＋）；預(yù)定電容Cint的電容器2022，該電容器2022連接在放大器2021的倒相端子（－）與其輸出端之間；以及復(fù)位開關(guān)2023，該復(fù)位開關(guān)2023與電容器2022并聯(lián)并且可以被測定電路203產(chǎn)生的信號“Reset”驅(qū)動。陣列10的每個基元點101還包括：讀出開關(guān)1012，該讀出開關(guān)1012可以被信號“Select”驅(qū)動并且連接到相關(guān)電路202的運算放大器2021的倒相端子（－）；以及第一注入式NMOS晶體管1013，該第一注入式NMOS晶體管1013具有連接到輻射熱計1011的端子的源極并且具有連接到讀出開關(guān)1012的另一個端子的漏極。輻射熱計1011的另一個端子連接到恒電位VDET，例如，探測器地線。用于補(bǔ)償共模電流的每個電路201包括阻性補(bǔ)償輻射熱計2011，該阻性補(bǔ)償輻射熱計2011由與成像輻射熱計1011相同、阻抗為Rav、本質(zhì)上對場景發(fā)出的輻射不敏感的材料制成，例如，因為它對基底的熱阻低，并且任選地或者作為一種變型，設(shè)置有不透明屏幕2012。補(bǔ)償輻射熱計2011在其一個端子連接到預(yù)定電壓VSK，而在其另一個端子連接到電路201的第二PMOS注入晶體管2013的源極，該第二PMOS注入晶體管2013的柵極由電壓GSK驅(qū)動，以在輻射熱計2011的兩端施加電壓Vav。優(yōu)選地，補(bǔ)償電路201還包括阻抗測量開關(guān)2014，該阻抗測量開關(guān)2014可以由測定電路203利用信號“Der2”驅(qū)動，并且被布置在注入晶體管2013的漏極與相關(guān)集成電路202的運算放大器2021的倒相輸入端（－）之間。下面將根據(jù)本發(fā)明實施例進(jìn)一步詳細(xì)描述該開關(guān)的功能。當(dāng)然，對像素101和電路201的偏置可以被倒相以轉(zhuǎn)換MOS晶體管的類型。補(bǔ)償電路201和與補(bǔ)償電路關(guān)聯(lián)的陣列10的像素101連接到與運算放大器2021的倒相輸入端“－”相連的電流求和點C，該求和點的電位保持基準(zhǔn)電位，該基準(zhǔn)電位在補(bǔ)償電壓范圍內(nèi)等于電位VBUS。通常，陣列10的同一行上的所有輻射熱計1011被偏置并且被同時“讀出”，并且通過順序行尋址，整個陣列10被逐行掃描，補(bǔ)償電路201對同一列上的所有像素101共用。在成像陣列10的讀取周期，為了確定它所探測的場景的溫度，補(bǔ)償電路201的阻抗測量開關(guān)2014處于其導(dǎo)通狀態(tài)，而在電容器2022的在先復(fù)位周期處于導(dǎo)通狀態(tài)的每個集成電路202的復(fù)位開關(guān)2023被測定電路203斷開。然后，后者使開關(guān)1012導(dǎo)通以選擇被讀取的行上的像素101。然后，通過成像輻射熱計1011的電流iac與通過相關(guān)補(bǔ)償輻射熱計1012的電流iav之差被相應(yīng)電路202的電容器2022積分。當(dāng)從讀出開關(guān)1012導(dǎo)通開始?xì)v時預(yù)定積分時間段Tint時，則測定電路203使它們斷開。然后，積分電路202的輸出電壓Vout由表達(dá)式提供：在第一階，即，當(dāng)認(rèn)為在積分時間段Tint電流iac和iav為恒定時，關(guān)系式（12）等同地寫為：被讀取的行的電壓Vout被送到電路60以便采樣-阻塞并復(fù)用。在在此所示的例子中，與成像輻射熱計1011相關(guān)的原始輸出信號NC是電壓Vout的采樣值。為了清楚起見并避免增加解釋，下面在代數(shù)關(guān)系式中將使用模擬值，但是應(yīng)當(dāng)明白，實際上使用模數(shù)轉(zhuǎn)換器（ADC）提供的數(shù)字值。根據(jù)這種簡化，Vout=S或者Vout=NC。溫度探針30產(chǎn)生的基底的溫度信號也根據(jù)公知技術(shù)插入到位于復(fù)用器60的輸出端的數(shù)據(jù)流中。這種輻射熱計探測器結(jié)構(gòu)是傳統(tǒng)的，并且下面不做進(jìn)一步解釋。更多信息請參考例如文獻(xiàn)“Uncooledamorphoussiliconenhancementfor25μmpixelpitchachievement”byE.Mottinetal,InfraredTechnologyandApplicationXXVIII,SPIE,vol.4820。再參考圖2，根據(jù)本發(fā)明的探測器還包括連接到讀取電路20的輸出端的快速計算電路70，諸如例如DSP（“數(shù)字信號處理器”）。計算電路70對讀取電路20的輸出流的每幅圖像應(yīng)用“兩點”偏移和增益校正，以利用探測器的存儲單元80的偏移表801和增益表802對陣列10的輻射熱計1011的偏移離差和增益離差進(jìn)行校正。計算電路90接收該校正圖像流，然后，根據(jù)計算電路70的輸出端的校正信號、保存在存儲單元80內(nèi)的探測器10對場景溫度的響應(yīng)Resp809、以及增益表802，計算電路90確定入射到每個成像輻射熱計1011的紅外輻射IR的溫度θscene（或者如果該應(yīng)用不是嚴(yán)格的熱敏成像，則是與θscene相關(guān)的感興趣輸出量）。為了更新偏移表801和增益表802，還設(shè)置了計算單元100，該計算單元100連接到快門50、讀取電路20以及存儲單元80。關(guān)于其運算，計算單元100包括內(nèi)部時鐘1001和用于存儲其中間計算值的存儲器1002。單元100還能夠接收來自探測器的用戶的更新命令1003。當(dāng)然，應(yīng)當(dāng)明白，可以在一個或者幾個微處理器中使用單元70、80、90、100，已著重說明了所實現(xiàn)的功能而非可以在說明性例子中使用的硬件。第一實施例現(xiàn)在將結(jié)合圖4的流程圖描述由剛描述過的探測器實現(xiàn)的根據(jù)第一實施例的方法。更一般地說，該第一實施例可以應(yīng)用于執(zhí)行估計成像輻射熱計1011的阻抗值或者表示其的任何量值的任何類型的探測器。顯然，確定新增益表不取決于讀取電路的特定參數(shù)。該方法從第一工廠校準(zhǔn)階段200開始，該第一工廠校準(zhǔn)階段200目的在于獲得用于根據(jù)關(guān)系式（10）順序確定新增益表的初始數(shù)據(jù)。更具體地說，校準(zhǔn)階段200從在2001獲取網(wǎng)膜10的輻射熱計的原始信號的兩個表開始，當(dāng)照相機(jī)布置于對均勻溫度T1和T2所采取的兩個黑體之前時，這兩個表被優(yōu)選地分別指定為NCT1(i，j)和NCT2(i,j)。眾所周知，表NCT1(i，j)和NCT2(i,j)優(yōu)選地由幾個連續(xù)獲取的幀的平均值形成，通常至少由10個連續(xù)幀形成，以過濾因為獲取噪聲產(chǎn)生的或者探測器固有的離差。在2002，獲取的表之一，例如表NCT1(i，j)被作為初始偏移表801存儲在存儲器80中。還用于“兩點”校正的表NCT1(i,j)的代數(shù)平均值也存儲于存儲空間801中。表NCT1(i，j)及其平均值還作為原始基準(zhǔn)信號表NCrcf(i,j)和基準(zhǔn)平均表存儲于存儲器80的空間803內(nèi)。同樣，仍然在2002，根據(jù)關(guān)系式計算初始增益或者增益的“基準(zhǔn)”表，并且將它作為初始增益表存儲于存儲器80的空間802內(nèi)。表Gref(i，j)還作為基準(zhǔn)增益表存儲于存儲器80的空間804內(nèi)。該校準(zhǔn)操作時的基底溫度還作為基準(zhǔn)溫度Tref存儲于存儲器80的空間805內(nèi)。根據(jù)借助幾個溫度探針獲得該量的估計值的更復(fù)雜形式，建立基準(zhǔn)溫度Tref的列表形式Tref(i，j)，并且將它存儲于空間805內(nèi)。在2003，眾所周知，根據(jù)讀取電路20的參數(shù)，例如利用文獻(xiàn)FR2936052中結(jié)合所述文獻(xiàn)的圖5的實施例描述的實現(xiàn)、通過將照相機(jī)布置于溫度T1的黑體的前面，計算成像輻射熱計1011的阻抗Rac_ref(i,j)的值，并且將相應(yīng)的阻抗表存儲于存儲器80的空間806內(nèi)。特別是，補(bǔ)償電路201的阻抗測量開關(guān)2014被測定電路203切換到其斷開狀態(tài)，并且逐行讀取輻射熱計陣列10。在積分周期結(jié)束時，下面的關(guān)系式給出積分器202的輸出端的與坐標(biāo)(i,j)處的輻射熱計相關(guān)的電壓Vout：其中Ti′nt是在測量成像輻射熱計1011的漂移時為了避免使電容器2022飽和而選擇的縮短積分時間段，而iac(i,j)(t)是流過成像探測器的瞬時電流。然后，計算單元100根據(jù)電壓Vout確定成像輻射熱計1011的阻抗Rac_ref(i,j)，例如，假定在積分周期內(nèi)該阻抗基本上是固定的，在這種情況下，然后，容易利用該線性關(guān)系和電路的公知參數(shù)以及所施加的激勵表示Rac_ref(i,j)。甚至在沒有開關(guān)2014的情況下，例如，通過連續(xù)應(yīng)用兩個不同電壓VFID，感應(yīng)兩個不同偏置電壓Vac，或者再一次通過施加兩個不同積分時間Tint，可以應(yīng)用測量Rac_ref(i,j)的其它實施例。然后，在獲得的量Vout與阻抗Rac_ref(i,j)之間，獲得一階線性關(guān)系，從中提取阻抗測量值Rac_ref(i,j)或者至少一個基本上成正比的量，下面將做進(jìn)一步詳細(xì)描述。在2004，根據(jù)優(yōu)選變型例，事先根據(jù)一般經(jīng)驗以眾所周知方式獲得的網(wǎng)膜10的輻射熱計1010的平均激活能存儲于存儲器80的空間807內(nèi)。假定輻射熱計1011的基準(zhǔn)激活能Earef(i,j)均等于平均能例如，對于由各種特定非晶硅形成的輻射熱計材料，根據(jù)另一種變型，例如，通過在通常差幾攝氏度的兩個均勻焦點溫度測量阻抗Rac，以眾所周知的方式獲取每個成像輻射熱計的激活能Rac_ref，并且基準(zhǔn)激活能表存儲于存儲器80的空間807內(nèi)。在幾個溫度探針可用的情況下，該在先激活能測量值均更準(zhǔn)確，因為在網(wǎng)膜的任何點測量或者模擬了施加在Rac的兩個測量值之間的溫度差。在2006，關(guān)系式（8）和（9）的系數(shù)K存儲于存儲器80的空間808內(nèi)。例如，對于由非晶硅形成的各種特定輻射熱計材料，在約30°C的大溫度范圍內(nèi)，K=0.055eV。例如，通過在在此討論的運算序列之前，提取將激活能Ea與在其局部被強(qiáng)光照調(diào)整的像素的部件上測量的阻抗的對數(shù)聯(lián)系在一起的實驗點的斜率，獲得系數(shù)K，因此，其形成阻抗Rac(i，j)的靈敏材料被或多或少調(diào)整。作為一種可能互補(bǔ)，對系數(shù)K的值的提取可以延伸到感興趣溫度的整個范圍內(nèi)，以根據(jù)焦面的溫度獲得行為曲線K(TPF)。然后，可以以分析方式，例如，多項式的方式表示這種經(jīng)驗特性關(guān)系。在這種情況下，實現(xiàn)本發(fā)明所需的各種系數(shù)也可以存儲于空間808內(nèi)。然而，本發(fā)明人觀察到，甚至當(dāng)探測器溫度的變化大時并且/或者所研究的輻射熱計對于阻抗例如漂移＋/-10％（在恒溫下），參數(shù)K(TPF)對于校正質(zhì)量并不起決定性作用，實際上，這是極端情況。應(yīng)當(dāng)明白，對參數(shù)和K(TPF)提供的值僅是例子。應(yīng)當(dāng)將用作輻射熱計1011的溫度計的特定材料的相關(guān)值指定為這些參數(shù)。最后，在2007，在采用溫度為T1和T2的兩個黑體前面測量探測器對基準(zhǔn)溫度Tref的平均響應(yīng)并且將它存儲于存儲器80的空間809內(nèi)。更具體地說，根據(jù)如下關(guān)系式計算平均如上所述，在照相機(jī)的整個工作溫度范圍內(nèi)校準(zhǔn)響應(yīng)，這樣建立并且存儲曲線的幾個點，除了在2003獲取的特定點，Tref是阻抗表Rac_ref。如上所述，至少對于含有非晶硅或者硅鍺合金的輻射熱計，如果優(yōu)選地利用校正標(biāo)度N歸一化實現(xiàn)本發(fā)明獲得的增益表，則可以省略該步驟。然后，該方法進(jìn)入第二階段300，在探測器工作時，執(zhí)行第二階段300。第二階段300包括啟動探測器的步驟3001，步驟3001打開快門50并且啟動用于獲取所觀場景的視頻流的處理3002。處理3002包括在30021由讀取電路20獲取原始信號表S(i，j)，之后，在30022，計算電路70根據(jù)下面的關(guān)系式對表S(i,j)進(jìn)行“兩點”校正。其中G802(i,j)、NC801(i,j)和分別是存儲在存儲器80的空間802內(nèi)的增益表和存儲于存儲器80的空間801內(nèi)的偏移表及其平均值。處理3002進(jìn)入20023，由計算電路90根據(jù)關(guān)系式基于計算電路70求得的校正信號表Scorr(i,j)計算測溫圖像（或者更一般地說是“感興趣”圖像）。最后，步驟30023返回步驟30021，用于獲取并且處理新原始信號表。在執(zhí)行獲取視頻流的處理3002的同時，通過啟動步驟3001來啟動處理3003，在處理3003，更新由計算單元100實現(xiàn)的偏移表801、增益表802以及平均響應(yīng)809。更新處理3003包括第一步驟30031，在第一步驟30031，檢驗更新數(shù)據(jù)的條件是否出現(xiàn)。例如，計算單元100檢驗用戶是否發(fā)出了執(zhí)行這種更新的命令，以及/或者從最后更新開始經(jīng)歷的時間周期是否大于預(yù)定閾值時長，以及/或者溫度傳感器30傳送的基底溫度與最后更新時的基底溫度之差是否大于預(yù)定閾值。該計算單元還可以執(zhí)行處理算法以確定網(wǎng)膜10是否已經(jīng)承受強(qiáng)照射，意在調(diào)整被過度曝光的輻射熱計的固有特性并因此調(diào)整其可能的漂移。如果利用幾個探針提供的信號，根據(jù)該量的估計的更復(fù)雜形式，對于每個輻射熱計對基底溫度制表，則相對于溫度出現(xiàn)更新條件可以考慮這些信號中的幾個、或者這些信號一起的組合或者這些信號與其它參數(shù)的組合，其中這些參數(shù)被認(rèn)為在所關(guān)注的考慮焦面的整體或局部溫度變化的情形下是有用或者相關(guān)的。如果更新條件之一被滿足，則處理3003進(jìn)入30032，在30032，關(guān)閉快門50。如果照相機(jī)不包括快門，則該系統(tǒng)（和/或者用戶）僅在有效場景均勻條件滿足后，進(jìn)入步驟300032，或者激活用于盡可能均勻化網(wǎng)膜上感測的圖像的任何系統(tǒng)。然后，在30033，將原始信號表NCshut(i，j)存儲于單元100的存儲器1002內(nèi)，該表優(yōu)選地由例如10個的幾個連續(xù)幀形成。在獲取表NCshut(i，j)和表NCshut(i,j)的代數(shù)平均值時，傳感器30傳送的基底溫度Tshut也存儲于單元100的存儲器1002內(nèi)。在30034，該處理執(zhí)行由單元100以結(jié)合步驟2003描述的通過關(guān)閉快門50執(zhí)行的方式相同的方式，根據(jù)文獻(xiàn)FR2936052提供的例子的方法按照讀取電路20的參數(shù)計算阻抗值Rac_shut(i，j)。同樣，仍然在30034，由存儲在存儲器80內(nèi)的阻抗值Rac_ref(i，j)、激活能Earef和溫度Tref以及存儲在單元100內(nèi)的溫度Tshut的函數(shù)估計阻抗值Rac_ref(i，j)@Tshut。例如，利用關(guān)系式（11）直接以這種形式，也可以以其數(shù)字化的或者線性化的形式執(zhí)行該估計。應(yīng)當(dāng)理解Tref和Tshut也可以被制表。阻抗值Rac_ref(i,j)@Tshut和Rac_shut(i,j)存儲于單元100的存儲器1002的相應(yīng)表中。然后，在30035，單元100計算并且存儲第一階校正因數(shù)同樣，例如，直接以這種形式利用關(guān)系式（10）的關(guān)系β(i,j)，或者有利的是，特別是對于更快的計算速度，通過根據(jù)如下表達(dá)式實現(xiàn)在第一階線性化的該關(guān)系的形式，單元100計算并且存儲第二階校正因數(shù)β(i,j)：然后，在30036，單元100計算新增益表。根據(jù)下面的關(guān)系式計算新增益表：其中歸一化標(biāo)量N是所有分子的項的平均值，因此，如上所述，有利的是，需要為校正平均響應(yīng)存儲分子的項。仍然，在30036，任選地，單元100根據(jù)關(guān)系式計算新平均響應(yīng)最后，在更新存儲器80的數(shù)據(jù)的情況下，在30037，更新3003結(jié)束，即：存儲在存儲空間801內(nèi)的偏移表及其平均值的當(dāng)前值分別被其新值表和代數(shù)平均值代替；任選地，存儲在存儲空間809內(nèi)的平均響應(yīng)值被新計算的平均響應(yīng)代替；將用于更新啟動檢驗30031的數(shù)據(jù)，特別是溫度Tshut和更新時間的時間戳數(shù)據(jù)Hshut存儲在例如存儲器80內(nèi)；打開快門50；以及返回檢驗步驟30031以搜索是否出現(xiàn)更新啟動條件。當(dāng)然，如果在基底的各點使用多個溫度探針，則在出現(xiàn)這些參數(shù)的任何地方，通常都使用參數(shù)Tref和Tshut的列表形式，如上所述。如上所述，本發(fā)明的第一實施例應(yīng)用于能夠確定輻射熱計阻抗值的探測器。這種確定可以是根據(jù)讀取電路輸出端或者由任何其它裝置傳送的原始信號執(zhí)行的計算。特別是，描述了一種探測器，該探測器包括能夠測量僅與成像輻射熱計1011相關(guān)的電壓Vout的補(bǔ)償電路201中的開關(guān)2014。也可以是其它阻抗測量體系結(jié)構(gòu)。作為變型，不是縮短積分時間，而是增大電容器2022的電容Cint的值，以使它們在探測器正常工作時所用的持續(xù)時間Tint的積分期間不飽和。例如，每個積分器202包括兩個電容器，第一電容器由測定電路203在讀取成像陣列10時選擇，而第二電容器在對成像輻射熱計1011的阻抗進(jìn)行測量時選擇。作為變型，文獻(xiàn)FR2936052結(jié)合圖1和2描述的、測量成像輻射熱計的阻抗與已知基準(zhǔn)電阻阻抗的差值的體系結(jié)構(gòu)被用于測量成像輻射熱計1011的阻抗。然而，應(yīng)當(dāng)指出，不需要估計用于實現(xiàn)第一實施例的實際阻抗Rac_shut(i,j)。事實上，當(dāng)引入先前關(guān)系式的比值“Rac”的標(biāo)度在空間上一致時，增益表不變化。如果該協(xié)議的結(jié)果與阻抗Rac的比值至少是近似的，并且如果對所有網(wǎng)膜輻射熱計空間上再現(xiàn)該協(xié)議，則利用任何阻抗測量協(xié)議提供期望結(jié)果。例如，根據(jù)文獻(xiàn)FR2936052的教導(dǎo)，利用例如包括用于斷開補(bǔ)償支路的開關(guān)2014和/或者基準(zhǔn)阻抗的特定電路，或者如上所述再利用諸如使用兩個偏置電壓或者兩個不同積分時間的特定協(xié)議，來滿足這種條件。然而，盡管是優(yōu)選的，結(jié)合圖3特別地描述的探測器仍是第一實施例的特定應(yīng)用。應(yīng)當(dāng)理解，第一實施例還應(yīng)用于具有不同偏置的電路，例如，電流偏置電路或者不同的共模補(bǔ)償電路的探測器。當(dāng)然，第一實施例還應(yīng)用于溫度調(diào)節(jié)探測器，在這種情況下，測量基底溫度是任選的，溫度調(diào)節(jié)的目的是使溫度Tshut與溫度Tref相同。然后，相應(yīng)地簡化先前關(guān)系式，并且特別是先前關(guān)系式不包括溫度比，并且不需要估計被定義為等于值Rac_ref(i，j)的值Rac_ref(i,j)@Tshut。第二實施例本發(fā)明還應(yīng)用于不包括用于確定輻射熱計阻抗值的軟件和/或者硬件裝置的探測器，這樣使得本發(fā)明應(yīng)用于現(xiàn)有技術(shù)的探測器，而無需修改實際探測器，或使本發(fā)明應(yīng)用于例如用于驅(qū)動或者格式化原始信號的關(guān)聯(lián)硬件和軟件?，F(xiàn)在結(jié)合圖5的時序圖描述本發(fā)明的第二實施例，并且在與圖2和3的探測器相同的探測器的應(yīng)用中，其差別是它通常不包括阻抗測量開關(guān)2014，或者其差別是它通常不包括使得能夠在工作中獲得輻射熱計1011的各阻抗值的估計值的硬件和/或者軟件裝置。與前面討論的第一模式相比，第二實施例的問題在于未在工作中進(jìn)行直接的、例如基本上成比例的阻抗測量或者間接的、大體呈線性的阻抗測量。事實上，對于每個成像輻射熱計1011，這種測量使得能夠?qū)赡軞w因于真實漂移的，即，Ea的變化與其相關(guān)的阻抗變化量進(jìn)行直接量化。在前面描述的第一實施例中，因此，照相機(jī)的未使激活能產(chǎn)生顯著變化的溫度變化的后果是與特定輻射熱計1011的固有阻抗變化同，該固有阻抗變化對應(yīng)于可以由關(guān)系式（8）或者（9）計算的激活能變化?，F(xiàn)在，如果沒有可直接用于估計每個阻抗的量，則需要對網(wǎng)膜10的每個輻射熱計1011形成被相關(guān)地應(yīng)用了第二階校正的量。首先，應(yīng)當(dāng)注意，基底溫度的當(dāng)前時間Tshut與基底溫度的后續(xù)時間Tref之間的項ΔNC(i，j)＝NCshut(i，j)-NCref(i，j)的值部分地取決于輻射熱計1011的漂移，并且因此，它包括與之相關(guān)的信息。因此，第二實施例從項ΔNC(i,j)中提取與輻射熱計1011的固有漂移相關(guān)而不含溫度變化的大多數(shù)分量。參考關(guān)系式（13），項ΔNC(i,j)可以根據(jù)下面的關(guān)系式在第一階寫為：其中Rav_shut(j)和Rav_ref(j)分別是獲取新電信號NCshut(i,j)時和獲取讀取信號NCref(i,j)的先前時間與網(wǎng)膜10的第j列相關(guān)的補(bǔ)償輻射熱計2011的阻抗值。與被遮擋和/或者對于基底的兩個不同溫度Tshut和Tref對基底具有非常低熱阻的補(bǔ)償輻射熱計2011相關(guān)的差值可以被看作均勻的，并且可以被看作在第一階等于同一個值Δav。事實上，另一方面，補(bǔ)償輻射熱計2011基本上不承受漂移，因此，基本上保持其初始固有狀態(tài)，并且另一方面，如上所述，本發(fā)明人發(fā)現(xiàn)，至少對于非晶硅或者非晶硅與鍺合金型的材料，在相同狀態(tài)下，在輻射熱計之間激活能離差可以被忽略。如果需要利用與靠近每個補(bǔ)償輻射熱計的溫度變化相關(guān)的量來校正與每列相同的項元相關(guān)的每個差值，則使用幾個溫度探針提供必要信息。為了簡單的目的，這種情況的更復(fù)雜推導(dǎo)未被展開，但是可以進(jìn)行。因此，關(guān)系式（22）被簡化為：然后，為了隔離與輻射熱計漂移相關(guān)的項ΔNC(i,j)，第二實施例基于，將該項與和在獲取NCshut(i,j)時和在溫度Tshut時不漂移的成像輻射熱計1011相關(guān)的平均值進(jìn)行比較，即，根據(jù)如下關(guān)系式產(chǎn)生差值：根據(jù)第一變型，可以觀察到，通常情況下僅成像輻射熱計1011的一小部分涉及要校正的漂移現(xiàn)象。通常，對于大規(guī)格輻射熱計，這是在有限時間（例如，幾分鐘）觀看太陽后，因為在最壞的情況下，總數(shù)百分之幾的輻射熱計1011受到漂移的影響。在這種情況下，可以觀察到因此在關(guān)系式（20）中假定根據(jù)第二變型，實現(xiàn)識別有漂移的輻射熱計，并因此識別無漂移的輻射熱計，該第二變型更精確估計例如，當(dāng)探測器受到重復(fù)輻射，或者承受掃描或者涉及網(wǎng)膜的不可忽略相關(guān)表面的強(qiáng)光場時，該第二實施例是有用的。例如，執(zhí)行空間選擇，該空間選擇由與更新該表時受到顯著修改的增益表的表元相關(guān)的成像輻射熱計1011的軟件管理。因此，對于進(jìn)行中的更新，識別真實存在漂移的輻射熱計1011。然后，通過計算無漂移的輻射熱計的原始信號的平均值，計算值因此，獲得量的非常精確估計值，并由此獲得將要應(yīng)用的第二階校正的非常精確估計值。換言之，其在此應(yīng)用了選擇性的空間掩模。此外，通過分析，根據(jù)如下關(guān)系式，寫出量其中在獲取讀取信號NCshut(i，j)時，以及在獲取在所有網(wǎng)膜輻射熱計中被認(rèn)為沒有經(jīng)歷漂移的輻射熱計的，即，在所述一般情況下，輻射熱計總數(shù)中的大多數(shù)輻射熱計的讀取信號NCref(i，j)的先前時間，和分別是阻抗Rac_ref(i,j)和Rac_shut(i,j)的值。然后，通過組合關(guān)系式（20）和（22），在第一階獲得：現(xiàn)在，根據(jù)一般情況，特別是因為這些值對應(yīng)于輻射熱計未經(jīng)歷漂移時的出廠阻抗，所以降低阻抗Rac_ref(i,j)的離差。因此，可以忽視項在沒有該第二項的情況下，重新組織等式（22）產(chǎn)生下面的關(guān)系式：對其阻抗沒有漂移的輻射熱計估計則得到：關(guān)系式（23）的比表示未受漂移影響的輻射熱計1011的阻抗（由分子的平均項表示）與發(fā)生漂移的輻射熱計的阻抗（由分母表表示）之間的相對變化。因此，利用關(guān)系式（24）可以表示因數(shù)α(i，j)：通過將關(guān)系式（23）代入前面的關(guān)系式中，獲得：通過根據(jù)如下表達(dá)式組合關(guān)系式（10）、（23）和（24），獲得因數(shù)β(i，j)：此外，由于本發(fā)明人觀察到，在一般情況下，分母的對數(shù)幅角的第二項遠(yuǎn)小于1，所以根據(jù)如下關(guān)系式，關(guān)系式（26）可以在第一階重寫為：因此，可以根據(jù)如下關(guān)系式重寫關(guān)系式（10）：Gshut(i,j)＝Gref(i,j).α(i,j).β(i,j)/N其中是增益表Gshut的表達(dá)式的分子的所有項的平均。根據(jù)下面的表達(dá)式獲得用于簡化所實現(xiàn)的計算的歸一化增益表的良好近似：在這種情況下利用非常好地近似平均響應(yīng)校正因數(shù)，平均響應(yīng)校正因數(shù)有助于有利地基于單一工廠獲取保持熱敏成像校準(zhǔn)。此外，如果不應(yīng)用識別有漂移還是無漂移的要素的處理，運算項D(i，j)中出現(xiàn)的項通常由平均值正確近似。因此，關(guān)系式（28）和（29）仍使用初始增益表，在“第一階”（項α）利用阻抗變化以及根據(jù)本發(fā)明在“第二階”利用TCR變化（項β）按照離差來校正該初始增益表。最后，正如第一實施例，利用在計算校正增益表的序列結(jié)束時可用的歸一化因數(shù)N，可以獲得平均響應(yīng)變化。最后，應(yīng)當(dāng)理解，在前面的表達(dá)式中，如果需要，可以根據(jù)Tshut表示參數(shù)K，并且如果這被認(rèn)為對校正精度有用，則可以對溫度Tref和Tshut制表。然而，與通常在各種溫度，利用在工廠獲取的一系列初始平均響應(yīng)，可以實現(xiàn)熱敏成像校準(zhǔn)。在這種情況下，不需要形成歸一化因數(shù)N或者其分量或者將該歸一化因數(shù)N或者其分量保存在存儲器中。應(yīng)當(dāng)注意，在讀取關(guān)系式（28）或者（29）時，根據(jù)該第二實施例，處于已知溫度Tref的阻抗的平均值的估計值應(yīng)當(dāng)可用。此外，未根據(jù)該第二模式，校正網(wǎng)膜材料固有的長期一般漂移。然而，與因為強(qiáng)光照明而空間受限的漂移相比，這種自然長期漂移通常可以忽略，并且這種自然長期漂移既對圖像質(zhì)量沒有影響，又由于激活和補(bǔ)償輻射熱計實質(zhì)上漂移相同的相對量并且一致，從而在第一階對因圖3所示的補(bǔ)償體系結(jié)構(gòu)所致的信號NC沒有影響。因此，根據(jù)該第二實施例實現(xiàn)本發(fā)明具有相當(dāng)好的優(yōu)點。現(xiàn)在，將結(jié)合圖5進(jìn)一步詳細(xì)描述第二實施例的實施例。第二實施例從工廠校準(zhǔn)步驟400開始，工廠校準(zhǔn)步驟400包括上面描述的步驟2001至2007。應(yīng)當(dāng)注意，關(guān)于成像輻射熱計1011的阻抗值Rac_ref(i，j)，可以在工廠設(shè)置如下的所需裝置：在步驟2003獲得在步驟2002存儲于空間805內(nèi)的溫度Tref下，存儲于空間806內(nèi)的各輻射熱計1011的平均值的估計值的裝置，以及確保其離差被有效限制以驗證先前建立校正的滿意應(yīng)用的裝置。在基于黑體的現(xiàn)有技術(shù)校準(zhǔn)階段，滿足這樣的條件。然而，應(yīng)當(dāng)注意，在探測器工作時，不能測量或者估計成像輻射熱計1011的阻抗值。校準(zhǔn)階段還包括用于將讀取電路20的參數(shù)，即，積分時間段的值Tint、積分電容2022的值Cint、以及成像輻射熱計1011的偏置電壓值Vac，存儲于例如存儲器80的附加存儲空間內(nèi)的步驟4008。然后，該方法進(jìn)入第二階段500，在探測器工作時，執(zhí)行第二階段500。該第二階段500包括先前描述的步驟3001和處理3002以及對增益表803和偏移表801以及平均響應(yīng)809進(jìn)行更新5003的處理。更新處理5003包括上面描述的對快門閉合30032進(jìn)行檢驗30031并且獲取原始信號表30033的步驟。更新處理5003進(jìn)入步驟50034，在步驟50034確定表ΔNC(i,j)＝NCshut(i,j)-NCref(i,j)及其代數(shù)平均值仍然在50034，計算表并且正如上面在步驟30034所述利用關(guān)系式（11）估計平均阻抗值所有這些數(shù)據(jù)存儲于單元100的存儲器1002內(nèi)的相應(yīng)表中。作為一種更精確變型，利用在空間確定未漂移的阻抗的分處理來增強(qiáng)該處理。該分處理例如使用之前在先前增益表更新迭代中建立的最新增益表的表項的比較，如上所述。然后，計算這些特定阻抗的ΔNC(i,j)值的平均值代替然后，在50035，單元100計算并且存儲第一階校正因數(shù)α(i,j)和第二階校正因數(shù)β(i,j)。任選地，如果執(zhí)行利用根據(jù)關(guān)系式（29）近似的歸一化表進(jìn)行的“兩點”校正，則單元100還產(chǎn)生平均值和然后，在50036，單元100計算新增益表。根據(jù)第一變型，利用根據(jù)關(guān)系式（28）計算的“精確歸一化”增益表來執(zhí)行該“兩點”校正，并且單元100根據(jù)該關(guān)系式計算新增益表。根據(jù)第二變型，利用根據(jù)關(guān)系式（29）近似歸一化的增益表，執(zhí)行“兩點”校正，并且電路100根據(jù)該關(guān)系式計算新增益表。仍然在50036，任選地，單元100根據(jù)關(guān)系式計算新平均響應(yīng)然后，該方法進(jìn)入步驟30037，在步驟30037，更新先前描述的存儲器80的數(shù)據(jù)。為了簡化表達(dá)式，僅使用在基底的一點測量的一個溫度。如果在基底的各點使用多個溫度探針，則在出現(xiàn)這些參數(shù)的任何地方，通常都使用參數(shù)Tref和Tshut的列表形式。同樣，根據(jù)使用這些焦面溫度信號中的一個、幾個或者它們一起的組合或者它們與其它參數(shù)的組合，定義依賴于焦面溫度的增益表更新條件。在先前描述的第一和第二實施例中，為了清楚起見，作為連續(xù)基元計算步驟來公開新增益表的計算。當(dāng)然，可以在單一步驟計算新增益表，或者可以各基元步驟組織為單一步驟。同樣，這些實施例具有的優(yōu)點是，能夠利用單一增益表進(jìn)行“兩點”校正，并且這適用于探測器的整個溫度工作范圍。如果應(yīng)用要求，則與上面描述的相同，可以類似地使用并且更新幾個增益表。描述了偏移表也被更新的實施例。由于增益表更新需要獲取對應(yīng)于快門的原始信號表，所以有利的是，也可以獲取該表來實現(xiàn)偏移表。然而，應(yīng)當(dāng)理解，盡管是優(yōu)選的，但這樣更新偏移表是任選的。同樣，通過簡單替換來更新偏移表僅是其中一種可能?？梢詧?zhí)行其它方式更新偏移表。描述了當(dāng)快門被關(guān)閉時利用快門形成基本上輻射均勻的場景的實施例。利用快門不僅可以獨立于探測器環(huán)境獲得這種場景，而且能夠從輻射熱計的觀點出發(fā)獲得其溫度接近輻射熱計的溫度和基底的溫度的場景。作為先前描述實施例的每個實施例的變型，不使用快門，并且用于執(zhí)行增益表校正的讀取信號是對應(yīng)于探測器獲得的場景的讀取信號。然而，該場景基本上是均勻的，或者在焦面級，例如通過使圖像散焦以及優(yōu)選地在相當(dāng)于焦面溫度量級的溫度使場景均勻，相當(dāng)于該溫度與焦面溫度相差少于20°C。圖6是在與結(jié)合圖1描述的工作條件相同的工作條件下根據(jù)第二實施例由輻射熱計探測器獲得的熱圖像。可以看出，因為現(xiàn)有技術(shù)的無效校正產(chǎn)生的暗斑現(xiàn)在被良好校正。上述內(nèi)容使得本發(fā)明具有許多優(yōu)點，其中：有效校正輻射熱計因為其特性的固有變化，特別是在強(qiáng)照射后產(chǎn)生的漂移，并且這無需采用要求返回工廠的校準(zhǔn)過程；可以將同一個增益表用于探測器的整個工作溫度范圍；無論探測器是否是溫度調(diào)節(jié)，均有效校準(zhǔn)輻射熱計的整體漂移（同時影響所有像素）或者局部漂移（所謂殘余圖像）；甚至在對單一基準(zhǔn)焦面溫度進(jìn)行簡化工廠校準(zhǔn)的情況下，仍能夠利用校正增益表的歸一化因數(shù)N校正測溫響應(yīng)校準(zhǔn)；能夠執(zhí)行局部漂移校正，包括對不估計阻抗值的探測器執(zhí)行局部漂移校正。因此，通過根據(jù)本發(fā)明的方法更新校正處理，該方法應(yīng)用于已經(jīng)在使用的這種類型的探測器；此外，根據(jù)本發(fā)明，自然知道因為固有輻射熱計特性的整體或者局部漂移以及因為焦面溫度的變化（漂移）（對于其焦面沒有溫度調(diào)節(jié)的照相機(jī)）而分別對平均響應(yīng)變化產(chǎn)生的各種影響。因此，有利的是，可以獨立利用這些影響例如來提供對照相機(jī)用戶特別有用的信息，以啟動系統(tǒng)使用壽命的存儲處理（記錄）、啟動也屬于本發(fā)明范圍外的自動工作協(xié)議、執(zhí)行本發(fā)明的范圍外的驗證特定數(shù)據(jù)處理。因此，可以產(chǎn)生與日期、重現(xiàn)、強(qiáng)度、密度以及強(qiáng)輻射事件的空間分布相關(guān)的統(tǒng)計數(shù)據(jù)。還應(yīng)當(dāng)注意，關(guān)系式(8)和(9)可能是許多其它應(yīng)用的目標(biāo)，因而其能夠根據(jù)阻抗性輻射熱計的阻抗變化推導(dǎo)輻射熱計的激活能變化。例如，它們可以例如用于數(shù)字模擬器中，用于根據(jù)實驗數(shù)據(jù)對輻射熱計激活能的變化建模。這些關(guān)系式也可能是診斷設(shè)備確定給定溫度的輻射熱計的性能的目標(biāo)。事實上，如果對于給定溫度知道輻射熱計的初始電阻抗和激活能，并且通過測量該相同溫度的輻射熱計的當(dāng)前阻抗，通過利用關(guān)系式（8）和（9）計算當(dāng)前激活能并且將激活能的計算值與其初始值進(jìn)行比較，可以僅探測輻射熱計是否已經(jīng)因為例如強(qiáng)輻射發(fā)生強(qiáng)漂移。因此，例如為了在源自該網(wǎng)膜的幀中進(jìn)行特定的開窗口處理，可以探測網(wǎng)膜中發(fā)生漂移的輻射熱計。因此，有利的是，在文獻(xiàn)WO2010/037944描述的殘余現(xiàn)象校正設(shè)備中實現(xiàn)這種對已經(jīng)漂移的輻射熱計的探測，以確定要應(yīng)用校正的網(wǎng)膜或者窗口的區(qū)域。