專利名稱：一種間隙的測量方法及裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及測量技術(shù)領(lǐng)域，更具體地說，涉及一種間隙的測量方法及裝置。
背景技術(shù)：
當(dāng)兩個部件沒有充分接觸時，這兩個部件之間存在的空隙稱為間隙，這兩個部件可以是相對固定的，也可以是可相對移動的。在一些情況下，對間隙大小的測試是必不可少的。例如:當(dāng)鈔票通過驗鈔機(jī)機(jī)架和磁頭的間隙時，驗鈔機(jī)通過檢測鈔票通過其磁頭時的鈔票磁信號，來對鈔票的真?zhèn)芜M(jìn)行識別。鈔票通過驗鈔機(jī)時，要求鈔票平直地貼住磁頭，驗鈔機(jī)才能獲得正確的鈔票磁信號。如果驗鈔機(jī)供鈔票通過的間隙過大或是過小，都會影響到磁頭對通過鈔票的鈔票磁信號的采集，從而影響到對鈔票真?zhèn)蔚淖R別。現(xiàn)有的測量間隙的方法，主要有兩種:一種是利用傳統(tǒng)的測量工具進(jìn)行測量，如游標(biāo)卡尺，測量間隙時，游標(biāo)卡尺直接卡在兩個物體上進(jìn)行間隙測量，該種測量方法，只能對游標(biāo)卡尺能直接卡到的地方的間隙進(jìn)行測量，即被測量的間隙必須處于可見的人工可操作的地方。另一種是利用光投影的測量方法進(jìn)行測量，以照相機(jī)為例，通過照相機(jī)拍照，可將帶間隙的物體轉(zhuǎn)換成電子圖像，然后通過軟件抓取間隙邊界，直接測量出兩邊界的距離。該種測量方法，需要被測量的間隙處于光線能投射到的地方。因此，上述兩種測量方法都無法對隱蔽間隙即處于不可見、光線不能投射到的地方進(jìn)行測量。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此，本發(fā)明提供一種間隙的測量方法及裝置，以實現(xiàn)對隱蔽間隙的測量。一種間隙的測量方法，用于對可相對移動的第一部件和第二部件之間的間隙進(jìn)行測量；所述方法中應(yīng)用有壓電薄膜傳感器，所述方法包括:對所述第一部件從其初始位置進(jìn)行移動，使其遠(yuǎn)離所述第二部件；將所述壓電薄膜傳感器放置在所述第一部件和所述第二部件之間，移動所述第一部件至所述初始位置，使所述壓電薄膜傳感器受到擠壓；獲取所述壓電薄膜傳感器因擠壓產(chǎn)生的導(dǎo)電量，依據(jù)所述導(dǎo)電量獲得所述第一部件和所述第二部件之間間隙的大小，完成對該間隙的測量。優(yōu)選的，所述步驟獲取所述壓電薄膜傳感器因擠壓產(chǎn)生的導(dǎo)電量，依據(jù)所述導(dǎo)電量獲得所述第一部件和所述第二部件之間間隙的大小，完成對該間隙的測量，具體為:應(yīng)用與所述壓電薄膜傳感器相連接的處理器，獲取所述壓電薄膜傳感器因擠壓產(chǎn)生的導(dǎo)電量，依據(jù)所述導(dǎo)電量獲得所述第一部件和所述第二部件之間間隙的大小，完成對該間隙的測量。優(yōu)選的，還包括:將所述間隙的大小顯示在與所述處理器相連接的顯示屏上。一種間隙的測量裝置，用于對可相對移動的第一部件和第二部件之間的間隙進(jìn)行測量；所述裝置包括:移動單元，用于對所述第一部件從其初始位置進(jìn)行移動，使其遠(yuǎn)離所述第二部件；擠壓單元，用于將所述壓電薄膜傳感器放置在所述第一部件和所述第二部件之間，移動所述第一部件至所述初始位置，使所述壓電薄膜傳感器受到擠壓；獲取單元，用于獲取所述壓電薄膜傳感器因擠壓產(chǎn)生的導(dǎo)電量，依據(jù)所述導(dǎo)電量獲得所述第一部件和所述第二部件之間間隙的大小，完成對該間隙的測量。優(yōu)選的，所述獲取單元，具體設(shè)置為:應(yīng)用與所述壓電薄膜傳感器相連接的處理器，獲取所述壓電薄膜傳感器因擠壓產(chǎn)生的導(dǎo)電量，依據(jù)所述導(dǎo)電量獲得所述第一部件和所述第二部件之間間隙的大小，完成對該間隙的測量。優(yōu)選的，還包括:顯示單元，用于將所述間隙的大小顯示在與所述處理器相連接的顯示屏上。從上述的技術(shù)方案可以看出，本發(fā)明提供了一種間隙的測量方法及裝置，通過將壓電薄膜傳感器放置在需要進(jìn)行間隙測量的第一部件和第二部件之間，使壓電薄膜傳感器因第一部件和第二部件的擠壓產(chǎn)生導(dǎo)電量，依據(jù)該導(dǎo)電量獲得第一部件和第二部件之間間隙的大小。本發(fā)明通過采用將第一部件和第二部件間隙的大小轉(zhuǎn)化為壓電薄膜傳感器的導(dǎo)電量，由該導(dǎo)電量獲得第一部件和第二部件間隙的大小的方法，使得對間隙大小的測量不再局限于可見、光線能投射到的地方，有效解決了對隱蔽間隙的測量。


為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。圖1為本發(fā)明實施例提供的一種間隙的測量方法；圖2為本發(fā)明實施例提供的一種壓電薄膜傳感器測量系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；圖3為本發(fā)明實施例提供的另一種間隙的測量方法；圖4為本發(fā)明實施例提供的一種需要對間隙進(jìn)行測量的裝置的正視圖；圖5為本發(fā)明實施例提供的一種需要對間隙進(jìn)行測量的裝置的側(cè)視圖；圖6為本發(fā)明實施例提供的一種需要對間隙進(jìn)行測量的裝置翻開后的側(cè)視圖；圖7為本發(fā)明實施例提供的一種需要對間隙進(jìn)行測量調(diào)節(jié)的裝置的間隙測量調(diào)節(jié)示意圖；圖8為本發(fā)明實施例提供的另一種需要對間隙進(jìn)行測量調(diào)節(jié)的裝置的間隙測量調(diào)節(jié)示意圖；圖9為本發(fā)明實施例提供的一種間隙的測量裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；圖10為本發(fā)明實施例提供的另一種間隙的測量裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施方式
下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本發(fā)明中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。如圖1所示，本發(fā)明實施例提供的一種間隙的測量方法，用于對可相對移動的第一部件和第二部件之間的間隙進(jìn)行測量；所述方法中應(yīng)用有壓電薄膜傳感器，所述方法包括:S11、對所述第一部件從其初始位置進(jìn)行移動，使其遠(yuǎn)離所述第二部件；可以理解的是，第一部件相對于第二部件的移動，可以是第一部件相對于第二部件移動一定的角度，或是，第一部件相對于第二部件位移動一定的距離。其中，還可以是將第二部件從其初始位置進(jìn)行移動，使其遠(yuǎn)離第一部件，或是，同時移動第一部件和第二部件，使其相互遠(yuǎn)離。S12、將所述壓電薄膜傳感器放置在所述第一部件和所述第二部件之間，移動所述第一部件至所述初始位置，使所述壓電薄膜傳感器受到擠壓；其中，壓電薄膜傳感器是利用壓電薄膜受力后產(chǎn)生壓電效應(yīng)制成的傳感器，當(dāng)壓電薄膜受到某一方向的外力作用而發(fā)生形變(包括彎曲和伸縮形變)時，由于內(nèi)部電荷的極化現(xiàn)象，壓電薄膜上下電極表面之間會產(chǎn)生一個導(dǎo)電量(電荷或電壓)，且該導(dǎo)電量同發(fā)生的形變(包括彎曲和伸縮形變)成比例?？梢岳斫獾氖牵瑸槭顾鰤弘姳∧鞲衅骺梢苑胖迷谒龅谝徊考退龅诙考g，所述壓電薄膜傳感器的厚度應(yīng)該比所述第一部件和所述第二部件之間間隙的最大值小；同樣，為使所述壓電薄膜傳感器可以受到所述第一部件和所述第二部件的擠壓，以便對其間隙的大小進(jìn)行測量，所述壓電薄膜傳感器的厚度應(yīng)該大于所述第一部件和所述第二部件之間間隙的最小值。S13、獲取所述壓電薄膜傳感器因擠壓產(chǎn)生的導(dǎo)電量，依據(jù)所述導(dǎo)電量獲得所述第一部件和所述第二部件之間間隙的大小，完成對該間隙的測量。 其中，壓電薄膜傳感器在對第一部件和第二部件之間的間隙進(jìn)行測量前，該壓電薄膜傳感器還需要用標(biāo)準(zhǔn)間隙校驗標(biāo)準(zhǔn)值，即在標(biāo)準(zhǔn)間隙下，該壓電薄膜傳感器對應(yīng)的導(dǎo)電量，以便依據(jù)壓電薄膜傳感器的導(dǎo)電量，獲得第一部件和第二部件之間間隙的大小。本發(fā)明提供的一種間隙的測量方法，通過將壓電薄膜傳感器放置在需要進(jìn)行間隙測量的第一部件和第二部件之間，使壓電薄膜傳感器因第一部件和第二部件的擠壓產(chǎn)生導(dǎo)電量，然后依據(jù)該導(dǎo)電量獲得第一部件和第二部件之間間隙的大小。本發(fā)明通過將第一部件和第二部件間隙的大小轉(zhuǎn)化為壓電薄膜傳感器的導(dǎo)電量，然后通過該導(dǎo)電量獲得間隙的大小，使得對間隙大小的測量不再局限于可見、光線能投射到的地方，有效解決了對隱蔽間隙的測量。本發(fā)明提供的間隙測量方法中，應(yīng)用的壓電薄膜傳感器設(shè)置于一種壓電薄膜傳感器系統(tǒng)中，該壓電薄膜傳感器測量系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖如圖2所示，所述壓電薄膜傳感器測量系統(tǒng)包括:壓電薄膜傳感器21和數(shù)據(jù)處理裝置22，壓電薄膜傳感器21和數(shù)據(jù)處理裝置22通過導(dǎo)線23相連接；其中，數(shù)據(jù)處理裝置22內(nèi)設(shè)置有相連接的處理器24和顯示屏25。
具體的，處理器24可以對電薄膜傳感器21的導(dǎo)電量進(jìn)行監(jiān)測，將導(dǎo)電量轉(zhuǎn)化成間隙大小的值，并將間隙的大小顯示在顯示屏25上。因此，步驟S13具體為:應(yīng)用與壓電薄膜傳感器21相連接的處理器24，獲取所述壓電薄膜傳感器21因擠壓產(chǎn)生的導(dǎo)電量，依據(jù)所述導(dǎo)電量獲得所述第一部件和所述第二部件之間間隙的大小，完成對該間隙的測量。如圖3所示，本發(fā)明實施例提供的另一種間隙的測量方法，步驟13還包括:S131、將所述間隙的大小顯示在與所述處理器24相連接的顯示屏25上?？梢岳斫獾氖牵?dāng)?shù)谝徊考虻诙考显O(shè)置有調(diào)節(jié)其間隙大小的調(diào)節(jié)部件時，壓電薄膜傳感器21放置在第一部件和第二部件之間且受到擠壓后，可以通過調(diào)節(jié)該調(diào)節(jié)部件以及顯示屏25上顯示的間隙的大小，將第一部件和第二部件之間間隙的大小調(diào)節(jié)在標(biāo)準(zhǔn)值誤差允許范圍內(nèi)。調(diào)節(jié)完成后，即可對第一部件進(jìn)行移動，使其遠(yuǎn)離第二部件，直到第一部件和第二部件之間的間隙足以取出壓電薄膜傳感器21，取出壓電薄膜傳感器21后，將第一部件移回到間隙調(diào)節(jié)后的初始位置，完成對該間隙的調(diào)節(jié)。為更清楚的說明對間隙的測量過程，如圖4和圖5所示，本發(fā)明實施例提供的一種需要對間隙進(jìn)行測量的裝置的正視圖和側(cè)視圖，所述裝置包括:壓輪支架110、壓輪組件111、右調(diào)節(jié)塊112、磁頭113和左調(diào)節(jié)塊114 ；壓輪支架110設(shè)置在壓輪組件111的外側(cè)且與壓輪組件111的兩側(cè)連接，壓輪支架110的右側(cè)設(shè)置有右調(diào)節(jié)塊112，壓輪支架110的左側(cè)設(shè)置有左調(diào)節(jié)塊114，壓輪支架110上還設(shè)置有旋轉(zhuǎn)點S，如圖6所示，壓輪支架110連同壓輪組件111可以沿著旋轉(zhuǎn)點S相對于磁頭113向上翻開一定的角度，其中，壓輪組件111和磁頭113之間的間隙即為測量間隙cl。如圖7所示，本發(fā)明實施例提供的一種需要對間隙進(jìn)行測量調(diào)節(jié)的裝置的間隙測量調(diào)節(jié)示意圖，本實施例中使用的壓電薄膜傳感器測量系統(tǒng)如圖2中所示，測量前，壓電薄膜傳感器21已用標(biāo)準(zhǔn)間隙校驗標(biāo)準(zhǔn)值。具體的，將壓輪支架110沿著旋轉(zhuǎn)點S相對于磁頭113向上翻開一定的角度，以便將壓電薄膜傳感器21放置在測量間隙d內(nèi)(可以放置在磁頭113上)，先將壓電薄膜傳感器21放置于壓輪組件111右邊的壓輪對應(yīng)的磁頭113上，然后將壓輪支架110沿著旋轉(zhuǎn)點S旋轉(zhuǎn)回初始位置，調(diào)節(jié)右調(diào)節(jié)塊112以對測量間隙d進(jìn)行調(diào)節(jié)，直到顯示屏25上顯示出的標(biāo)準(zhǔn)值在誤差允許范圍內(nèi)，固定右調(diào)節(jié)塊112。將壓輪支架110沿著旋轉(zhuǎn)點S相對于磁頭113向上翻開一定的角度，以可以壓電薄膜傳感器21放置在測量間隙d內(nèi)為宜，取出壓電薄膜傳感器21，放置于壓輪組件111左邊的壓輪對應(yīng)的磁頭113上，然后將壓輪支架110沿著旋轉(zhuǎn)點S旋轉(zhuǎn)回初始位置，調(diào)節(jié)左調(diào)節(jié)塊114以對測量間隙d進(jìn)行調(diào)節(jié)，直到顯示屏25上顯示出的標(biāo)準(zhǔn)值在誤差允許范圍內(nèi)，固定左調(diào)節(jié)塊114。將壓輪支架110沿著旋轉(zhuǎn)點S相對于磁頭113向上翻開一定的角度，取出壓電薄膜傳感器21，然后將壓輪支架110沿著旋轉(zhuǎn)點S旋轉(zhuǎn)回初始位置，完成對測量間隙d的測量調(diào)節(jié)。
為了簡化測量步驟，壓電薄膜傳感器系統(tǒng)可以采用兩個或兩個以上的壓電薄膜傳感器。如圖8所示，本發(fā)明實施例提供的另一種需要對間隙進(jìn)行測量調(diào)節(jié)的裝置的間隙測量調(diào)節(jié)示意圖，本實施例使用的壓電薄膜傳感器測量系統(tǒng)中，除比有圖2中多一個壓電薄膜傳感器21外，其它裝置及連接關(guān)系均相同。兩個壓電薄膜傳感器21相同，且測量前，均已用標(biāo)準(zhǔn)間隙校驗標(biāo)準(zhǔn)值。具體的，將壓輪支架110沿著旋轉(zhuǎn)點S相對于磁頭113向上翻開一定的角度，以便將兩個壓電薄膜傳感器21放置在測量間隙d內(nèi)(可以放置在磁頭113上)，先將其中一個壓電薄膜傳感器21放置于壓輪組件111右邊的壓輪對應(yīng)的磁頭113上，同時，將另一個壓電薄膜傳感器21放置于壓輪組件111左邊的壓輪對應(yīng)的磁頭113上，然后將壓輪支架110沿著旋轉(zhuǎn)點S旋轉(zhuǎn)回初始位置，然后分別調(diào)節(jié)右調(diào)節(jié)塊112和左調(diào)節(jié)塊114，直到顯示屏25上顯示出兩個測量數(shù)值均在誤差允許范圍內(nèi)，固定右調(diào)節(jié)塊112和左調(diào)節(jié)塊114。將壓輪支架110沿著旋轉(zhuǎn)點S相對于磁頭113向上翻開一定的角度，取出兩個壓電薄膜傳感器21，然后將壓輪支架110沿著旋轉(zhuǎn)點S旋轉(zhuǎn)回初始位置，完成對測量間隙d的測量調(diào)節(jié)。與上述方法實施例相對應(yīng)，本發(fā)明還提供了一種間隙的測量裝置，如圖9所示，本發(fā)明實施例提供的一種間隙的測量裝置，用于對可相對移動的第一部件和第二部件之間的間隙進(jìn)行測量；所述裝置包括:移動單元90，用于對所述第一部件從其初始位置進(jìn)行移動，使其遠(yuǎn)離所述第二部件；可以理解的是，第一部件相對于第二部件的移動，可以是第一部件相對于第二部件移動一定的角度，或是，第一部件相對于第二部件位移動一定的距離。其中，還可以是將第二部件從其初始位置進(jìn)行移動，使其遠(yuǎn)離第一部件，或是，同時移動第一部件和第二部件，使其相互遠(yuǎn)離。擠壓單元91，用于將壓電薄膜傳感器21放置在所述第一部件和所述第二部件之間，移動所述第一部件至所述初始位置，使壓電薄膜傳感器21受到擠壓；其中，壓電薄膜傳感器21是利用壓電薄膜受力后產(chǎn)生壓電效應(yīng)制成的傳感器，當(dāng)壓電薄膜受到某一方向的外力作用而發(fā)生形變(包括彎曲和伸縮形變)時，由于內(nèi)部電荷的極化現(xiàn)象，壓電薄膜上下電極表面之間會產(chǎn)生一個導(dǎo)電量(電荷或電壓)，且該導(dǎo)電量同發(fā)生的形變(包括彎曲和伸縮形變)成比例。可以理解的是，為使21壓電薄膜傳感器可以放置在所述第一部件和所述第二部件之間，壓電薄膜傳感器21的厚度應(yīng)該比所述第一部件和所述第二部件之間間隙的最大值?。煌瑯?，為使壓電薄膜傳感器21可以受到所述第一部件和所述第二部件的擠壓，以便對其間隙的大小進(jìn)行測量，壓電薄膜傳感器21的厚度應(yīng)該大于所述第一部件和所述第二部件之間間隙的最小值。獲取單元92，用于獲取壓電薄膜傳感器21因擠壓產(chǎn)生的導(dǎo)電量，依據(jù)所述導(dǎo)電量獲得所述第一部件和所述第二部件之間間隙的大小，完成對該間隙的測量。其中，壓電薄膜傳感器21在對第一部件和第二部件之間的間隙進(jìn)行測量前，壓電薄膜傳感器21還需要用標(biāo)準(zhǔn)間隙校驗標(biāo)準(zhǔn)值，即在標(biāo)準(zhǔn)間隙下，壓電薄膜傳感器21對應(yīng)的導(dǎo)電量，以便依據(jù)壓電薄膜傳感器21的導(dǎo)電量，獲得第一部件和第二部件之間間隙的大小。本發(fā)明提供的一種間隙的測量裝置，通過將壓電薄膜傳感器21放置在需要進(jìn)行間隙測量的第一部件和第二部件之間，使壓電薄膜傳感器21因第一部件和第二部件的擠壓產(chǎn)生導(dǎo)電量，然后依據(jù)該導(dǎo)電量獲得第一部件和第二部件之間間隙的大小。本發(fā)明通過將第一部件和第二部件間隙的大小轉(zhuǎn)化為壓電薄膜傳感器21的導(dǎo)電量，然后通過該導(dǎo)電量獲得間隙的大小，使得對間隙大小的測量不再局限于可見、光線能投射到的地方，有效解決了對隱蔽間隙的測量。其中，間隙測量裝置中應(yīng)用有壓電薄膜傳感器測量系統(tǒng)，壓電薄膜傳感器測量系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖具體同圖2，因為處理器24可以對電薄膜傳感器21的導(dǎo)電量進(jìn)行監(jiān)測，將導(dǎo)電量轉(zhuǎn)化成間隙大小的值，并將間隙的大小顯示在顯示屏25上，因此，獲取單元92，具體設(shè)置為:應(yīng)用與壓電薄膜傳感器21相連接的處理器24，獲取壓電薄膜傳感器21因擠壓產(chǎn)生的導(dǎo)電量，依據(jù)所述導(dǎo)電量獲得所述第一部件和所述第二部件之間間隙的大小，完成對該間隙的測量。在圖9所述實施例的基礎(chǔ)上，如圖10所示，本發(fā)明實施例提供的另一種間隙的測
量裝置，還包括:顯示單元93，用于將所述間隙的大小顯示在與處理器24相連接的顯示屏25上?？梢岳斫獾氖牵?dāng)?shù)谝徊考虻诙考显O(shè)置有調(diào)節(jié)其間隙大小的調(diào)節(jié)部件時，壓電薄膜傳感器21放置在第一部件和第二部件之間且受到擠壓后，可以通過調(diào)節(jié)該調(diào)節(jié)部件以及顯示屏25上顯示的間隙的大小，將第一部件和第二部件之間間隙的大小調(diào)節(jié)在標(biāo)準(zhǔn)值誤差允許范圍內(nèi)。調(diào)節(jié)完成后，即可對第一部件進(jìn)行移動，使其遠(yuǎn)離第二部件，直到第一部件和第二部件之間的間隙足以取出壓電薄膜傳感器21，取出壓電薄膜傳感器21后，將第一部件移回到間隙調(diào)節(jié)后的初始位置，完成對該間隙的調(diào)節(jié)。其中，本發(fā)明提供的間隙的測量裝置對間隙的具體測量過程，可以同圖4、圖5、圖6和圖7所述的實施例，此處不再贅述。本發(fā)明提供的間隙的測量裝置，所采用的壓電薄膜傳感器系統(tǒng)也可以采用兩個或兩個以上的壓電薄膜傳感器。本說明書中各個實施例采用遞進(jìn)的方式描述，每個實施例重點說明的都是與其他實施例的不同之處，各個實施例之間相同相似部分互相參見即可。對所公開的實施例的上述說明，使本領(lǐng)域?qū)I(yè)技術(shù)人員能夠?qū)崿F(xiàn)或使用本發(fā)明。對這些實施例的多種修改對本領(lǐng)域的專業(yè)技術(shù)人員來說將是顯而易見的，本文中所定義的一般原理可以在不脫離本發(fā)明的精神或范圍的情況下，在其它實施例中實現(xiàn)。因此，本發(fā)明將不會被限制于本文所示的這些實施例，而是要符合與本文所公開的原理和新穎特點相一致的最寬的范圍。
權(quán)利要求
1.一種間隙的測量方法，其特征在于，用于對可相對移動的第一部件和第二部件之間的間隙進(jìn)行測量；所述方法中應(yīng)用有壓電薄膜傳感器，所述方法包括: 對所述第一部件從其初始位置進(jìn)行移動，使其遠(yuǎn)離所述第二部件； 將所述壓電薄膜傳感器放置在所述第一部件和所述第二部件之間，移動所述第一部件至所述初始位置，使所述壓電薄膜傳感器受到擠壓； 獲取所述壓電薄膜傳感器因擠壓產(chǎn)生的導(dǎo)電量，依據(jù)所述導(dǎo)電量獲得所述第一部件和所述第二部件之間間隙的大小，完成對該間隙的測量。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述步驟獲取所述壓電薄膜傳感器因擠壓產(chǎn)生的導(dǎo)電量，依據(jù)所述導(dǎo)電量獲得所述第一部件和所述第二部件之間間隙的大小，完成對該間隙的測量，具體為: 應(yīng)用與所述壓電薄膜傳感器相連接的處理器，獲取所述壓電薄膜傳感器因擠壓產(chǎn)生的導(dǎo)電量，依據(jù)所述導(dǎo)電量獲得所述第一部件和所述第二部件之間間隙的大小，完成對該間隙的測量。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，還包括: 將所述間隙的大小顯示在與所述處理器相連接的顯示屏上。
4.一種間隙的測量裝置，其特征在于，用于對可相對移動的第一部件和第二部件之間的間隙進(jìn)行測量；所述裝置包括: 移動單元，用于對所述第一部件從其初始位置進(jìn)行移動，使其遠(yuǎn)離所述第二部件； 擠壓單元，用于將所述壓電薄膜傳感器放置在所述第一部件和所述第二部件之間，移動所述第一部件至所述初始位置，使所述壓電薄膜傳感器受到擠壓； 獲取單元，用于獲取所述壓電薄膜傳感器因擠壓產(chǎn)生的導(dǎo)電量，依據(jù)所述導(dǎo)電量獲得所述第一部件和所述第二部件之間間隙的大小，完成對該間隙的測量。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的裝置，其特征在于，所述獲取單元，具體設(shè)置為: 應(yīng)用與所述壓電薄膜傳感器相連接的處理器，獲取所述壓電薄膜傳感器因擠壓產(chǎn)生的導(dǎo)電量，依據(jù)所述導(dǎo)電量獲得所述第一部件和所述第二部件之間間隙的大小，完成對該間隙的測量。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的裝置，其特征在于，還包括:顯示單元，用于將所述間隙的大小顯示在與所述處理器相連接的顯示屏上。
全文摘要
本發(fā)明提供了一種間隙的測量方法及裝置，通過將壓電薄膜傳感器放置在需要進(jìn)行間隙測量的第一部件和第二部件之間，使壓電薄膜傳感器因第一部件和第二部件的擠壓產(chǎn)生導(dǎo)電量，依據(jù)該導(dǎo)電量獲得第一部件和第二部件之間間隙的大小。本發(fā)明通過采用將第一部件和第二部件間隙的大小轉(zhuǎn)化為壓電薄膜傳感器的導(dǎo)電量，由該導(dǎo)電量獲得第一部件和第二部件間隙的大小的方法，使得對間隙大小的測量不再局限于可見、光線能投射到的地方，有效解決了對隱蔽間隙的測量。
文檔編號G01B7/14GK103196359SQ20131011628
公開日2013年7月10日 申請日期2013年4月3日 優(yōu)先權(quán)日2013年4月3日
發(fā)明者孫志強(qiáng), 賴中武, 鐘曉偉 申請人:廣州廣電運(yùn)通金融電子股份有限公司