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      發(fā)光二極管光源陣列模擬系統(tǒng)及模擬方法

      文檔序號(hào):6170786閱讀:189來源:國(guó)知局
      發(fā)光二極管光源陣列模擬系統(tǒng)及模擬方法
      【專利摘要】一種發(fā)光二極管光源陣列模擬方法,包括以下步驟:利用圖像攝取裝置攝取單顆發(fā)光二極管光源的光場(chǎng)分布圖像;量測(cè)上述光場(chǎng)分布圖像中各個(gè)坐標(biāo)點(diǎn)所對(duì)應(yīng)的光強(qiáng)度數(shù)據(jù);將多個(gè)發(fā)光二極管光源按間距排列成發(fā)光二極管光源陣列;根據(jù)單顆發(fā)光二極管光源的光場(chǎng)分布圖像以及發(fā)光二極管光源之間的間距逐點(diǎn)計(jì)算發(fā)光二極管光源陣列在各個(gè)坐標(biāo)點(diǎn)上的光強(qiáng)積分值;以及根據(jù)發(fā)光二極管光源陣列在各個(gè)坐標(biāo)點(diǎn)上的光強(qiáng)積分值模擬出發(fā)光二極管光源陣列的光場(chǎng)分布圖像。本發(fā)明還提供了一種發(fā)光二極管光源陣列模擬系統(tǒng)。
      【專利說明】發(fā)光二極管光源陣列模擬系統(tǒng)及模擬方法

      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001] 本發(fā)明涉及一種光學(xué)模擬系統(tǒng),特別涉及一種發(fā)光二極管光源陣列模擬系統(tǒng)及相 應(yīng)的模擬方法。

      【背景技術(shù)】
      [0002] 發(fā)光二極管(Light Emitting Diode, LED)是一種可將電流轉(zhuǎn)換成特定波長(zhǎng)范圍 的光的半導(dǎo)體元件。發(fā)光二極管以其亮度高、工作電壓低、功耗小、易與集成電路匹配、驅(qū)動(dòng) 簡(jiǎn)單、壽命長(zhǎng)等優(yōu)點(diǎn),從而可作為光源而廣泛應(yīng)用于照明領(lǐng)域。
      [0003] 發(fā)光二極管的一種典型的應(yīng)用是排列成陣列形狀而形成一個(gè)面光源。然而,在制 作上述發(fā)光二極管陣列的時(shí)候,若要獲得所需的光強(qiáng)分布情況,通常需要對(duì)發(fā)光二極管之 間的間距進(jìn)行多次的調(diào)整,然后通過光檢測(cè)裝置檢測(cè)各個(gè)間距的發(fā)光二極管陣列的光強(qiáng)分 布情況。上述過程無疑相當(dāng)費(fèi)時(shí)費(fèi)力,且提高了制作成本。


      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0004] 有鑒于此,有必要提供一種成本較低的發(fā)光二極管光源陣列模擬系統(tǒng)及模擬方 法。
      [0005] -種發(fā)光二極管光源陣列模擬方法,包括: 步驟1 :利用圖像攝取裝置攝取單顆發(fā)光二極管光源的光場(chǎng)分布圖像; 步驟2 :量測(cè)上述光場(chǎng)分布圖像中各個(gè)坐標(biāo)點(diǎn)所對(duì)應(yīng)的光強(qiáng)度數(shù)據(jù); 步驟3 :將多個(gè)發(fā)光二極管光源按間距排列成發(fā)光二極管光源陣列; 步驟4 :根據(jù)單顆發(fā)光二極管光源的光場(chǎng)分布圖像以及發(fā)光二極管光源之間的間距逐 點(diǎn)計(jì)算發(fā)光二極管光源陣列在各個(gè)坐標(biāo)點(diǎn)上的光強(qiáng)積分值;以及 步驟5 :根據(jù)發(fā)光二極管光源陣列在各個(gè)坐標(biāo)點(diǎn)上的光強(qiáng)積分值模擬出發(fā)光二極管光 源陣列的光場(chǎng)分布圖像。
      [0006] -種發(fā)光二極管光源陣列模擬系統(tǒng),包括: 圖像攝取裝置,用于攝取單顆發(fā)光二極管光源的光場(chǎng)分布圖像; 量測(cè)裝置,量測(cè)上述光場(chǎng)分布圖像中各個(gè)坐標(biāo)點(diǎn)所對(duì)應(yīng)的光強(qiáng)度數(shù)據(jù); 間距調(diào)整裝置,將多個(gè)發(fā)光二極管光源按間距排列成發(fā)光二極管光源陣列; 計(jì)算裝置,根據(jù)單顆發(fā)光二極管光源的光場(chǎng)分布圖像以及發(fā)光二極管光源之間的間距 逐點(diǎn)計(jì)算發(fā)光二極管光源陣列在各個(gè)坐標(biāo)點(diǎn)上的光強(qiáng)積分值;以及 圖像模擬裝置,根據(jù)發(fā)光二極管光源陣列在各個(gè)坐標(biāo)點(diǎn)上的光強(qiáng)積分值模擬出發(fā)光二 極管光源陣列的光場(chǎng)分布圖像。
      [0007] 本發(fā)明的發(fā)光二極管光源陣列模擬系統(tǒng)及模擬方法中,通過檢測(cè)單顆發(fā)光二極管 光源的光強(qiáng)分布情況,在確定了發(fā)光二極管光源之間的間距之后,即可逐點(diǎn)計(jì)算發(fā)光二極 管光源陣列的各個(gè)坐標(biāo)點(diǎn)上的光強(qiáng)積分值。上述過程可避免發(fā)光二極管光源陣列在制作 過程中,每變更一次間距即要重新通過光檢測(cè)系統(tǒng)獲取發(fā)光二極管光源陣列的光強(qiáng)分布圖 像,從而節(jié)省了成本。

      【專利附圖】

      【附圖說明】
      [0008] 圖1為本發(fā)明的發(fā)光二極管光源陣列模擬系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖。
      [0009] 圖2為圖1中的發(fā)光二極管光源陣列的排布情況。
      [0010] 圖3為本發(fā)明的發(fā)光二極管光源陣列模擬方法的步驟示意圖。
      [0011] 主要元件符號(hào)說明

      【權(quán)利要求】
      1. 一種發(fā)光二極管光源陣列模擬方法,包括: 步驟1 :攝取單顆發(fā)光二極管光源的光場(chǎng)分布圖像; 步驟2 :量測(cè)上述光場(chǎng)分布圖像中各個(gè)坐標(biāo)點(diǎn)所對(duì)應(yīng)的光強(qiáng)度數(shù)據(jù); 步驟3 :將多個(gè)發(fā)光二極管光源按間距排列成發(fā)光二極管光源陣列; 步驟4 :根據(jù)單顆發(fā)光二極管光源的光場(chǎng)分布圖像以及發(fā)光二極管光源之間的間距逐 點(diǎn)計(jì)算發(fā)光二極管光源陣列在各個(gè)坐標(biāo)點(diǎn)上的光強(qiáng)積分值;以及 步驟5 :根據(jù)發(fā)光二極管光源陣列在各個(gè)坐標(biāo)點(diǎn)上的光強(qiáng)積分值模擬出發(fā)光二極管光 源陣列的光場(chǎng)分布圖像。
      2. 如權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管光源陣列模擬方法,其特征在于,在步驟2中,進(jìn)一 步量測(cè)單顆發(fā)光二極管光源的光場(chǎng)分布圖像中各個(gè)坐標(biāo)點(diǎn)所對(duì)應(yīng)的R、G、B三色光陣列值, 然后在步驟4中逐點(diǎn)計(jì)算發(fā)光二極管光源陣列在各個(gè)坐標(biāo)點(diǎn)上的R、G、B三色光積分值,最 后在步驟5中根據(jù)各個(gè)坐標(biāo)點(diǎn)上的R、G、B三色光積分值得出發(fā)光二極管光源陣列的CIE頻 譜圖像。
      3. 如權(quán)利要求2所述的發(fā)光二極管光源陣列模擬方法,其特征在于,在量測(cè)單顆發(fā)光 二極管光源的光場(chǎng)分布圖像中各個(gè)坐標(biāo)點(diǎn)所對(duì)應(yīng)的R、G、B三色光陣列值時(shí),在圖像攝取裝 置與發(fā)光二極管光源之間分別設(shè)置紅光濾光片、綠光綠光片以及藍(lán)光濾光片,然后根據(jù)在 紅光濾光片、綠光綠光片以及藍(lán)光濾光片下攝取的單顆發(fā)光二極管光源的光場(chǎng)分布圖像得 出各個(gè)坐標(biāo)點(diǎn)所對(duì)應(yīng)的R、G、B三色光陣列值。
      4. 如權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管光源陣列模擬方法,其特征在于,所述步驟1利用圖 像攝取裝置攝取單顆發(fā)光二極管光源的光場(chǎng)分布圖像。
      5. 如權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管光源陣列模擬方法,其特征在于,還包括步驟6 :提 供一個(gè)期望的發(fā)光二極管光源陣列的光場(chǎng)分布圖像,將步驟5所模擬出的光場(chǎng)分布圖像與 期望的發(fā)光二極管光源陣列的光場(chǎng)分布圖像相比較,若兩者不相同,調(diào)整發(fā)光二極管光源 之間的間距直至模擬出的光場(chǎng)分布圖像與期望的發(fā)光二極管光源陣列的光場(chǎng)分布圖像相 同或者接近。
      6. -種發(fā)光二極管光源陣列模擬系統(tǒng),包括: 圖像攝取裝置,攝取單顆發(fā)光二極管光源的光場(chǎng)分布圖像; 量測(cè)裝置,量測(cè)上述光場(chǎng)分布圖像中各個(gè)坐標(biāo)點(diǎn)所對(duì)應(yīng)的光強(qiáng)度數(shù)據(jù); 間距調(diào)整裝置,將多個(gè)發(fā)光二極管光源按間距排列成發(fā)光二極管光源陣列; 計(jì)算裝置,根據(jù)單顆發(fā)光二極管光源的光場(chǎng)分布圖像以及發(fā)光二極管光源之間的間距 逐點(diǎn)計(jì)算發(fā)光二極管光源陣列在各個(gè)坐標(biāo)點(diǎn)上的光強(qiáng)積分值;以及 圖像模擬裝置,根據(jù)發(fā)光二極管光源陣列在各個(gè)坐標(biāo)點(diǎn)上的光強(qiáng)積分值模擬出發(fā)光二 極管光源陣列的光場(chǎng)分布圖像。
      7. 如權(quán)利要求6所述的發(fā)光二極管光源陣列模擬系統(tǒng),其特征在于,所述量測(cè)裝置進(jìn) 一步量測(cè)單顆發(fā)光二極管光源的光場(chǎng)分布圖像中各個(gè)坐標(biāo)點(diǎn)所對(duì)應(yīng)的R、G、B三色光陣列 值,然后計(jì)算裝置逐點(diǎn)計(jì)算發(fā)光二極管光源陣列在各個(gè)坐標(biāo)點(diǎn)上的R、G、B三色光積分值, 最后圖像模擬裝置根據(jù)各個(gè)坐標(biāo)點(diǎn)上的R、G、B三色光積分值得出發(fā)光二極管光源陣列的 CIE頻譜圖像。
      8. 如權(quán)利要求7所述的發(fā)光二極管光源陣列模擬系統(tǒng),其特征在于,圖像攝取裝置與 發(fā)光二極管光源之間分別設(shè)置紅光濾光片、綠光綠光片以及藍(lán)光濾光片,所述量測(cè)裝置根 據(jù)在紅光濾光片、綠光綠光片以及藍(lán)光濾光片下攝取的單顆發(fā)光二極管光源的光場(chǎng)分布圖 像得出各個(gè)坐標(biāo)點(diǎn)所對(duì)應(yīng)的R、G、B三色光陣列值。
      9. 如權(quán)利要求6所述的發(fā)光二極管光源陣列模擬系統(tǒng),其特征在于,所述圖像攝取裝 置為電荷耦合影像傳 感器。
      10. 如權(quán)利要求6所述的發(fā)光二極管光源陣列模擬系統(tǒng),其特征在于,還期望的發(fā)光二 極管光源陣列的光場(chǎng)分布圖像以及比較裝置,所述比較裝置將期望的發(fā)光二極管光源陣列 的光場(chǎng)分布圖像與圖像模擬裝置所模擬出的光場(chǎng)分布圖像相比較,若兩者不相同,利用間 距調(diào)整裝置調(diào)整發(fā)光二極管光源之間的間距直至模擬出的光場(chǎng)分布圖像與期望的發(fā)光二 極管光源陣列的光場(chǎng)分布圖像相同或者接近。
      【文檔編號(hào)】G01M11/02GK104236854SQ201310236050
      【公開日】2014年12月24日 申請(qǐng)日期:2013年6月17日 優(yōu)先權(quán)日:2013年6月17日
      【發(fā)明者】黃哲瑄 申請(qǐng)人:展晶科技(深圳)有限公司, 榮創(chuàng)能源科技股份有限公司
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