內(nèi)建快速自動(dòng)測試電路的發(fā)光二極管裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及一種內(nèi)建快速自動(dòng)測試電路的發(fā)光二極管裝置,其包括一數(shù)據(jù)移位及閂鎖單元用以接收一序列數(shù)據(jù)信號(hào);一控制單元用以接收該序列數(shù)據(jù)信號(hào),依據(jù)該序列數(shù)據(jù)信號(hào)檢測是否有正常數(shù)據(jù)傳輸,且當(dāng)無數(shù)據(jù)傳輸時(shí),將一多工控制信號(hào)致能;至少一多工單元連接至該控制單元與該數(shù)據(jù)移位及閂鎖單元,依據(jù)該控制單元輸出的該多工控制信號(hào),以選擇該數(shù)據(jù)移位及閂鎖單元或該控制單元為該至少一多工單元的輸出;以及一發(fā)光二極管驅(qū)動(dòng)單元連接至該至少一發(fā)光二極管單元及該至少一多工單元,依據(jù)該至少一多工單元的輸出信號(hào),以驅(qū)動(dòng)該至少一發(fā)光二極管單元。
【專利說明】內(nèi)建快速自動(dòng)測試電路的發(fā)光二極管裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及發(fā)光二極管的測試【技術(shù)領(lǐng)域】,尤其涉及一種內(nèi)建快速自動(dòng)測試電路的發(fā)光二極管裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]美國無線電公司(Rad1Corporat1n of America, RCA)的魯賓布朗石泰(RubinBraunstein)于1955年首次發(fā)現(xiàn)了砷化鎵(GaAs)及其他半導(dǎo)體合金的紅外放射作用。而通用電氣公司(General Electric Company, GE)的尼克何倫亞克(Nick Holonyak Jr.)貝丨J于1962年開發(fā)出第一種實(shí)際應(yīng)用的可見光發(fā)光二極管(LED)。
[0003]隨著LED技術(shù)的不斷開發(fā),LED的輝度或是使用壽命已大幅的改進(jìn),其已經(jīng)逐步在取代傳統(tǒng)照明元件。用LED背光取代手持裝置原有冷陰極燈管(CCFL)背光,不僅電路設(shè)計(jì)更簡潔容易,且有較高的外力抗受性。用LED背光取代液晶顯示器原有的冷陰極燈管(CCFL)背光,不僅更環(huán)保而且顯示更逼真亮麗。另外,用LED照明取代白光燈、鹵素?zé)舻日彰鳎粌H更光亮省電,使用期限也較長,且點(diǎn)亮速度更快,用于煞車燈時(shí)也能減少后車追撞率。除了在照明的應(yīng)用外,大部分的電子產(chǎn)品也都采用LED作為指示燈,例如主機(jī)板、顯示卡和網(wǎng)路卡也都有LED指示燈,用來指示電路板的工作狀態(tài)。
[0004]圖1為一現(xiàn)有發(fā)光二極管(LED)的測試的示意圖。其在一發(fā)光二極管封裝100中分別具有紅色、藍(lán)色、綠色的發(fā)光二極管(LED)。一測試機(jī)臺(tái)(圖中未示出)分別控制開關(guān)101、102、103,當(dāng)開關(guān)101關(guān)閉時(shí),使得紅色發(fā)光二極管一端接地,另一端接高電壓(Vdd),由此點(diǎn)亮該紅色發(fā)光二極管。一分光譜儀器(圖中未示出)則用于檢測該紅色、藍(lán)色、綠色的發(fā)光二極管(LED)發(fā)出的光的飽和度在光譜上的是否滿足所需的要求,由此以對發(fā)光二極管(LED)進(jìn)行檢測。
[0005]圖2為一現(xiàn)有發(fā)光二極管(LED)封裝200的示意圖。此種發(fā)光二極管(LED)封裝200具有一控制及驅(qū)動(dòng)電路210,其依據(jù)序列輸入端DI所輸入的數(shù)據(jù),分別驅(qū)動(dòng)紅色、藍(lán)色、綠色的發(fā)光二極管(LED)。對圖2的發(fā)光二極管(LED)封裝200進(jìn)行測試時(shí),由于現(xiàn)有測試機(jī)臺(tái)僅提供V+(相對于Vdd)、V-(相對于Gnd)兩信號(hào),故需另接一電路板220,并由電路板220上的一微處理器221經(jīng)過一串行外圍設(shè)備接口總線(Serial Peripheral InterfaceBus, SPI),將測試圖形(test pattern)經(jīng)由DI接腳輸入至該控制及驅(qū)動(dòng)電路210。
[0006]圖3為圖2的4支接腳的雙列直插封裝(Dual in package4, DIP4)的封裝示意圖。圖4為圖2的4支接腳的表面組裝技術(shù)(Surface Mount Technology6, SMT6)封裝的示意圖。但DIP4及SMT6的封裝在目前的發(fā)光二極管測試機(jī)臺(tái)并無法通過輸入腳位DI來控制并進(jìn)而驅(qū)動(dòng)紅色、藍(lán)色、綠色的發(fā)光二極管(LED)以確保封裝的品質(zhì),因此就需要利用外部的微處理器221來搭配測試,但這對龐大的LED數(shù)量而言,其測試的速度太慢。也即,圖3中DIP4封裝的LED裝置及圖4中SMT6封裝的LED裝置的測試都是采用半人工方式,半人工測試的缺點(diǎn)是測試的速度太慢,而導(dǎo)致產(chǎn)出太慢。因此,現(xiàn)有發(fā)光二極管測試仍有改善的空間。
【發(fā)明內(nèi)容】
[0007]本發(fā)明的目的主要在于提供一種內(nèi)建快速自動(dòng)測試電路的發(fā)光二極管裝置,該裝置可節(jié)省發(fā)光二極管裝置的大量測試時(shí)間,有效地增加測試效率,并可用在現(xiàn)有的發(fā)光二極管測試機(jī)臺(tái)。
[0008]依據(jù)本發(fā)明的一特色,本發(fā)明提出一種內(nèi)建快速自動(dòng)測試電路的發(fā)光二極管裝置,其包含至少一發(fā)光二極管單元、一數(shù)據(jù)移位及R鎖單元、一控制單元、至少一多工單元、及一發(fā)光二極管驅(qū)動(dòng)單元。該數(shù)據(jù)移位及閂鎖單元用以接收一序列數(shù)據(jù)信號(hào)。該控制單元用以接收該序列數(shù)據(jù)信號(hào),依據(jù)該序列數(shù)據(jù)信號(hào)檢測是否有正常數(shù)據(jù)傳輸,且當(dāng)無數(shù)據(jù)傳輸時(shí),將一多工控制信號(hào)致能。該至少一多工單元連接至該控制單元與該數(shù)據(jù)移位及閂鎖單元,依據(jù)該控制單元輸出的該多工控制信號(hào),以選擇該數(shù)據(jù)移位及閂鎖單元或該控制單元為該至少一多工單元的輸出。該發(fā)光二極管驅(qū)動(dòng)單元,連接至該至少一發(fā)光二極管單元及該至少一多工單元,依據(jù)該至少一多工單元的輸出信號(hào),以驅(qū)動(dòng)該至少一發(fā)光二極管單
J Li ο
[0009]優(yōu)選地,所述序列數(shù)據(jù)信號(hào)為一第一位準(zhǔn)(I),且在超過一第一預(yù)設(shè)時(shí)間時(shí),該控制單元判定無正常數(shù)據(jù)傳輸。
[0010]優(yōu)選地,所述序列數(shù)據(jù)信號(hào)為一第二位準(zhǔn)(O),且在超過一第二預(yù)設(shè)時(shí)間時(shí),該控制單元判定無正常數(shù)據(jù)傳輸。
[0011]優(yōu)選地,所述序列數(shù)據(jù)信號(hào)非一第一位準(zhǔn)(I)或非一第二位準(zhǔn)(O)時(shí),該控制單元判定無正常數(shù)據(jù)傳輸。
[0012]優(yōu)選地,所述控制單元還包含:一計(jì)時(shí)單元,其接收該序列數(shù)據(jù)信號(hào),依據(jù)該序列數(shù)據(jù)信號(hào)而產(chǎn)生一第一致能信號(hào);一位準(zhǔn)檢測單元,其接收該序列數(shù)據(jù)信號(hào),依據(jù)該序列數(shù)據(jù)信號(hào)而產(chǎn)生一第二致能信號(hào);一或門,其連接至該計(jì)時(shí)單元及該位準(zhǔn)檢測單元,依據(jù)該第一致能信號(hào)及該第二致能信號(hào),產(chǎn)生該多工控制信號(hào);以及一測試圖形產(chǎn)生單元,其連接至該或門及該至少一多工單元,當(dāng)該多工控制信號(hào)致能時(shí),輸出測試圖形至該至少一多工單
J Li ο
[0013]優(yōu)選地,所述發(fā)光二極管驅(qū)動(dòng)單元使用脈沖寬度調(diào)制以驅(qū)動(dòng)該至少一發(fā)光二極管單元,以使該至少一發(fā)光二極管單元產(chǎn)生灰階。
[0014]優(yōu)選地,所述至少一發(fā)光二極管單元為下列其中之一:紅色發(fā)光二極管、藍(lán)色發(fā)光二極管、及綠色發(fā)光二極管。
[0015]本發(fā)明的有益效果在于:該內(nèi)建快速自動(dòng)測試電路的發(fā)光二極管裝置可節(jié)省發(fā)光二極管裝置的大量測試時(shí)間,有效地增加測試效率,并可用在現(xiàn)有的發(fā)光二極管測試機(jī)臺(tái)。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0016]圖1為一現(xiàn)有發(fā)光二極管的測試的示意圖。
[0017]圖2為一現(xiàn)有發(fā)光二極管封裝的示意圖。
[0018]圖3為圖2的4支接腳的雙列直插封裝的封裝示意圖。
[0019]圖4為圖2的4支接腳的表面組裝技術(shù)封裝的示意圖。
[0020]圖5為本發(fā)明一種內(nèi)建快速自動(dòng)測試電路的發(fā)光二極管裝置的示意圖。
[0021]主要部件符號(hào)說明:
[0022]100發(fā)光二極管封裝
[0023]101、102、103 開關(guān)
[0024]200發(fā)光二極管封裝
[0025]210控制及驅(qū)動(dòng)電路
[0026]220 電路板
[0027]221微處理器
[0028]500內(nèi)建快速自動(dòng)測試電路的發(fā)光二極管裝置
[0029]510至少一發(fā)光二極管單元
[0030]520數(shù)據(jù)移位及閂鎖單元
[0031]530控制單元
[0032]540 至少一多工單元
[0033]550發(fā)光二極管驅(qū)動(dòng)單元
[0034]531 計(jì)時(shí)單元
[0035]533位準(zhǔn)檢測單元
[0036]535 或門
[0037]537測試圖形產(chǎn)生單元
[0038]510、511、512、513 發(fā)光二極管單元
[0039]540、541、542、543 多工單元。
【具體實(shí)施方式】
[0040]圖5為本發(fā)明一種內(nèi)建快速自動(dòng)測試電路的發(fā)光二極管裝置500的示意圖,其包含至少一發(fā)光二極管單元510、一數(shù)據(jù)移位及閂鎖單元520、一控制單元530、至少一多工單元540及一發(fā)光二極管驅(qū)動(dòng)單元550。
[0041]至少一發(fā)光二極管單元510較佳包括一紅色發(fā)光二極管(LED) 511、一藍(lán)色發(fā)光二極管512、及一綠色發(fā)光二極管513。
[0042]該數(shù)據(jù)移位及閂鎖單元520用以接收一序列數(shù)據(jù)信號(hào),其可經(jīng)由一接腳DI以接收該序列數(shù)據(jù)信號(hào)。該數(shù)據(jù)移位及閂鎖單元520可對該序列數(shù)據(jù)信號(hào)進(jìn)行移位及閂鎖操作,而將該序列數(shù)據(jù)信號(hào)經(jīng)由一接腳DO輸出至下一級的發(fā)光二極管裝置500。
[0043]該控制單元530接收該序列數(shù)據(jù)信號(hào),依據(jù)該序列數(shù)據(jù)信號(hào)檢測是否有數(shù)據(jù)傳輸,且當(dāng)無數(shù)據(jù)傳輸時(shí),將一多工控制信號(hào)(Test_en)致能。
[0044]本發(fā)明主要為當(dāng)該發(fā)光二極管裝置500非正常工作時(shí)進(jìn)行自動(dòng)測試,因此該序列數(shù)據(jù)信號(hào)為一第一位準(zhǔn)(I),且在超過一第一正常預(yù)設(shè)時(shí)間(timel)時(shí),該控制單元530判定無數(shù)據(jù)傳輸。當(dāng)有正常時(shí)間內(nèi)做數(shù)據(jù)傳輸時(shí),不可進(jìn)行測試,而無正常數(shù)據(jù)傳輸時(shí),該控制單元530則將該多工控制信號(hào)(Test_en)致能,經(jīng)由該至少一多工單元540將測試圖形(test pattern)輸出至該發(fā)光二極管驅(qū)動(dòng)單元550,而對該至少一發(fā)光二極管單元510進(jìn)行測試。
[0045]當(dāng)沒有正常傳輸數(shù)據(jù)至該發(fā)光二極管裝置500時(shí),該序列數(shù)據(jù)信號(hào)亦可為一第二位準(zhǔn)(O),因此當(dāng)該序列數(shù)據(jù)信號(hào)為一第二位準(zhǔn)(O),且在超過一第二預(yù)設(shè)時(shí)間(time2)時(shí),該控制單元判定無正常數(shù)據(jù)傳輸。此為該發(fā)光二極管裝置500非正常工作時(shí)的另一判斷條件。
[0046]當(dāng)沒有正常傳輸數(shù)據(jù)至該發(fā)光二極管裝置500時(shí),該序列數(shù)據(jù)信號(hào)的位準(zhǔn)亦可維持在非一第一位準(zhǔn)(I)或非一第二位準(zhǔn)(O),也即該序列數(shù)據(jù)信號(hào)的位準(zhǔn)亦可維持在非正常應(yīng)用的規(guī)格,因此當(dāng)該序列數(shù)據(jù)信號(hào)非一第一位準(zhǔn)(I)或非一第二位準(zhǔn)(O)時(shí),該控制單元530判定無正常數(shù)據(jù)傳輸。
[0047]該至少一多工單元540連接至該控制單元530與該數(shù)據(jù)移位及閂鎖單元520,依據(jù)該控制單元530輸出的該多工控制信號(hào)(Test_en),以選擇該數(shù)據(jù)移位及閂鎖單元520或該控制單元530為該至少一多工單元540的輸出。由于該至少一發(fā)光二極管單元510較佳包含紅色發(fā)光二極管511、藍(lán)色發(fā)光二極管512、及綠色發(fā)光二極管513,該至少一多工單元540對應(yīng)于該至少一發(fā)光二極管單元510,因此,該至少一多工單元540較佳包含三個(gè)多工單元(541、542、543),以分別對應(yīng)紅色發(fā)光二極管511、藍(lán)色發(fā)光二極管512、及綠色發(fā)光二極管513。
[0048]該發(fā)光二極管驅(qū)動(dòng)單元550連接至該至少一發(fā)光二極管單元510及該至少一多工單元540,依據(jù)該至少一多工單元540的輸出信號(hào),以驅(qū)動(dòng)該至少一發(fā)光二極管單元510。也SP,當(dāng)該多工控制信號(hào)(Test_en)被致能(=1)時(shí),該至少一多工單元540輸出該控制單元530所產(chǎn)生的測試圖形(test pattern),由此以進(jìn)行測試。當(dāng)該多工控制信號(hào)(Test_en)沒被致能(=0)時(shí),該至少一多工單元540輸出該數(shù)據(jù)移位及閂鎖單元520所閂鎖的數(shù)據(jù),以進(jìn)行正常顯示。
[0049]如圖5所示,該控制單元530還包含一計(jì)時(shí)單元531、一位準(zhǔn)檢測單元533、一或門535及一測試圖形(test pattern)產(chǎn)生單元537。
[0050]該計(jì)時(shí)單元531接收該序列數(shù)據(jù)信號(hào),以依據(jù)該序列數(shù)據(jù)信號(hào)產(chǎn)生一第一致能信號(hào)(enl)。該序列數(shù)據(jù)信號(hào)為該第一位準(zhǔn)(I),且在超過該第一預(yù)設(shè)時(shí)間(timel)時(shí),該計(jì)時(shí)單元531產(chǎn)生一第一致能信號(hào)(enl),或是當(dāng)該序列數(shù)據(jù)信號(hào)為該第二位準(zhǔn)(O),且在超過該第二預(yù)設(shè)時(shí)間(time2)時(shí),該計(jì)時(shí)單元531產(chǎn)生一第一致能信號(hào)(enl)。
[0051]該位準(zhǔn)檢測單元533接收該序列數(shù)據(jù)信號(hào),以依據(jù)該序列數(shù)據(jù)信號(hào)產(chǎn)生一第二致能信號(hào)(en2)。也即,當(dāng)該序列數(shù)據(jù)信號(hào)的位準(zhǔn)維持在非正常應(yīng)用的規(guī)格時(shí),表示該發(fā)光二極管裝置500為非工作狀態(tài),該位準(zhǔn)檢測單元533產(chǎn)生該第二致能信號(hào)(en2)。
[0052]該或門535連接至該計(jì)時(shí)單元531及該位準(zhǔn)檢測單元533,依據(jù)該第一致能信號(hào)(enl)及該第二致能信號(hào)(en2),產(chǎn)生該多工控制信號(hào)(Test_en)。也即,Test_en〈=enl或^ Test—en〈_en2ο
[0053]該測試圖形(test pattern)產(chǎn)生單元537連接至該或門535及該至少一多工單元540,當(dāng)該多工控制信號(hào)(Test_en)致能(=1)時(shí),輸出測試圖形至該至少一多工單元540。
[0054]該發(fā)光二極管驅(qū)動(dòng)單元550使用脈沖寬度調(diào)制(Pulse Width Modulat1n, PWM)以驅(qū)動(dòng)該至少一發(fā)光二極管單元510,以使該至少一發(fā)光二極管單元產(chǎn)生灰階。
[0055]由上述說明可知,本發(fā)明技術(shù)通過內(nèi)建的該測試圖形產(chǎn)生單元537,以在發(fā)光二極管裝置500沒有正常工作時(shí)輸出測試圖形(test pattern),從而對發(fā)光二極管裝置500進(jìn)行測試。由此,無須由外部的微處理器經(jīng)過一串行外圍設(shè)備接口總線(SPI)來輸入測試圖形(test pattern) 0由于經(jīng)由串行外圍設(shè)備接口總線(SPI)輸入數(shù)據(jù)其速度相當(dāng)緩慢,故本發(fā)明技術(shù)可節(jié)省發(fā)光二極管裝置500的大量測試時(shí)間,有效地增加測試效率,且可使用在現(xiàn)有的發(fā)光二極管測試機(jī)臺(tái)。
[0056]上述實(shí)施例僅為了方便說明而舉例而已,本發(fā)明所主張的權(quán)利范圍自應(yīng)以申請專利范圍所述為準(zhǔn),而非僅限于上述實(shí)施例。
【權(quán)利要求】
1.一種內(nèi)建快速自動(dòng)測試電路的發(fā)光二極管裝置,其包含: 至少一發(fā)光二極管單元; 一數(shù)據(jù)移位及閂鎖單元,其用以接收一序列數(shù)據(jù)信號(hào); 一控制單元,其用以接收該序列數(shù)據(jù)信號(hào),依據(jù)該序列數(shù)據(jù)信號(hào)檢測是否有正常數(shù)據(jù)傳輸,且當(dāng)無正常數(shù)據(jù)傳輸時(shí),將一多工控制信號(hào)致能; 至少一多工單元,其連接至該控制單元與該數(shù)據(jù)移位及R鎖單元,依據(jù)該控制單元輸出的該多工控制信號(hào),以選擇該數(shù)據(jù)移位及閂鎖單元或該控制單元為該至少一多工單元的輸出;以及 一發(fā)光二極管驅(qū)動(dòng)單元,其連接至該至少一發(fā)光二極管單元及該至少一多工單元,依據(jù)該至少一多工單元的輸出信號(hào),以驅(qū)動(dòng)該至少一發(fā)光二極管單元。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的內(nèi)建快速自動(dòng)測試電路的發(fā)光二極管裝置,其中,所述序列數(shù)據(jù)信號(hào)為一第一位準(zhǔn)1,且在超過一第一預(yù)設(shè)時(shí)間時(shí),該控制單元判定無正常數(shù)據(jù)傳輸。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的內(nèi)建快速自動(dòng)測試電路的發(fā)光二極管裝置,其中,所述序列數(shù)據(jù)信號(hào)為一第二位準(zhǔn)O,且在超過一第二預(yù)設(shè)時(shí)間時(shí),該控制單元判定無正常數(shù)據(jù)傳輸。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的內(nèi)建快速自動(dòng)測試電路的發(fā)光二極管裝置,其中,所述序列數(shù)據(jù)信號(hào)非一第一位準(zhǔn)I或非一第二位準(zhǔn)O時(shí),該控制單元判定無正常數(shù)據(jù)傳輸。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的內(nèi)建快速自動(dòng)測試電路的發(fā)光二極管裝置,其中,所述控制單元還包含: 一計(jì)時(shí)單元,其接收該序列數(shù)據(jù)信號(hào),依據(jù)該序列數(shù)據(jù)信號(hào)而產(chǎn)生一第一致能信號(hào); 一位準(zhǔn)檢測單元,其接收該序列數(shù)據(jù)信號(hào),依據(jù)該序列數(shù)據(jù)信號(hào)而產(chǎn)生一第二致能信號(hào); 一或門,其連接至該計(jì)時(shí)單元及該位準(zhǔn)檢測單元,依據(jù)該第一致能信號(hào)及該第二致能信號(hào),產(chǎn)生該多工控制信號(hào);以及 一測試圖形產(chǎn)生單元,其連接至該或門及該至少一多工單元,當(dāng)該多工控制信號(hào)致能時(shí),輸出測試圖形至該至少一多工單元。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的內(nèi)建快速自動(dòng)測試電路的發(fā)光二極管裝置,其中,所述發(fā)光二極管驅(qū)動(dòng)單元使用脈沖寬度調(diào)制以驅(qū)動(dòng)該至少一發(fā)光二極管單元,以使該至少一發(fā)光二極管單元產(chǎn)生灰階。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的內(nèi)建快速自動(dòng)測試電路的發(fā)光二極管裝置,其中,所述至少一發(fā)光二極管單元為下列其中之一:紅色發(fā)光二極管、藍(lán)色發(fā)光二極管、及綠色發(fā)光二極管。
【文檔編號(hào)】G01R31/26GK104345257SQ201310317183
【公開日】2015年2月11日 申請日期:2013年7月25日 優(yōu)先權(quán)日:2013年7月25日
【發(fā)明者】張譽(yù)鐘 申請人:凌通科技股份有限公司