基于差影法的遙控器按鍵缺陷檢測方法
【專利摘要】一種基于差影法的遙控器按鍵缺陷檢測方法，包括如下步驟：步驟1：制作遙控器標(biāo)準(zhǔn)模板；步驟2：對(duì)待檢測樣品的圖像做預(yù)處理；步驟3：對(duì)標(biāo)準(zhǔn)模板和待檢測樣品的圖像粗配準(zhǔn)，得到粗配準(zhǔn)區(qū)域；步驟4：對(duì)標(biāo)準(zhǔn)模板圖像進(jìn)行區(qū)域標(biāo)記，進(jìn)行二次細(xì)配準(zhǔn)；步驟5：對(duì)標(biāo)準(zhǔn)模板和待檢測樣品二次細(xì)配準(zhǔn)后的標(biāo)記區(qū)域分別進(jìn)行二值化，并作差影計(jì)算；步驟6：判斷待檢測樣品是否合格，如果待檢測樣品有缺陷，定位缺陷位置，如果待檢測樣品沒有缺陷，判斷為合格樣品，完成檢測。本發(fā)明的檢測方法能有效地分割按鍵檢測出缺陷樣品，準(zhǔn)確定位缺陷位置。
【專利說明】基于差影法的遙控器按鍵缺陷檢測方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及圖像處理【技術(shù)領(lǐng)域】，特別是一種基于差影法的遙控器按鍵缺陷檢測方法。
【背景技術(shù)】
[0002]遙控器與我們的生活息息相關(guān)，在遙控器的實(shí)際生產(chǎn)中，按鍵上的字符是通過絲網(wǎng)印刷，人工檢測缺陷的。在絲網(wǎng)印刷過程中，會(huì)出現(xiàn)字符顏色印刷錯(cuò)誤，字符內(nèi)容印錯(cuò)，部分字符模糊不清，漏印，有污跡等印刷缺陷，而且大多數(shù)情況下，會(huì)批量出現(xiàn)這種錯(cuò)誤，對(duì)于保證產(chǎn)品質(zhì)量是非常不利的。盡管人眼識(shí)別率很高，但是人有疲倦期，而且多人檢測，也難以統(tǒng)一檢測標(biāo)準(zhǔn)。這些都不利于保證產(chǎn)品的合格率。
[0003]近年來，圖像處理在智能交通，人臉識(shí)別等方面的成功應(yīng)用，也為遙控器字符的智能檢測提供了可能。已有研究針對(duì)遙控器成品的缺陷檢測，但其缺點(diǎn)顯而易見，當(dāng)發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品不合格的時(shí)候，已經(jīng)完成了切割和組裝等工序，這樣就造成了資源的嚴(yán)重浪費(fèi)。本專利基于差影法的遙控器按鍵檢測方法，以正常樣品為模板，通過兩次配準(zhǔn)和差影法，實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品的檢測，并對(duì)缺陷位置進(jìn)行標(biāo)記。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明的主要目的在于提出一種基于差影法的遙控器按鍵檢測方法，以標(biāo)準(zhǔn)樣品的圖像作為模板，實(shí)現(xiàn)對(duì)遙控器按鍵缺陷的檢測。該方法能有效地分割按鍵檢測出缺陷樣品，準(zhǔn)確定位缺陷位置。
[0005]本發(fā)明提供一種基于差影法的遙控器按鍵缺陷檢測方法，包括如下步驟:
[0006]步驟1:制作遙控器標(biāo)準(zhǔn)模板；
[0007]步驟2:對(duì)待檢測樣品的圖像做預(yù)處理；
[0008]步驟3:對(duì)標(biāo)準(zhǔn)模板和待檢測樣品的圖像粗配準(zhǔn)，得到粗配準(zhǔn)區(qū)域；
[0009]步驟4:對(duì)標(biāo)準(zhǔn)模板圖像進(jìn)行區(qū)域標(biāo)記，進(jìn)行二次細(xì)配準(zhǔn)；
[0010]步驟5:對(duì)標(biāo)準(zhǔn)模板和待檢測樣品二次細(xì)配準(zhǔn)后的標(biāo)記區(qū)域分別進(jìn)行二值化，并作差影計(jì)算；
[0011]步驟6:判斷待檢測樣品是否合格，如果待檢測樣品有缺陷，定位缺陷位置，如果待檢測樣品沒有缺陷，判斷為合格樣品，完成檢測。
[0012]從上述技術(shù)方案可以看出，本發(fā)明具有以下技術(shù)效果:
[0013]1、本發(fā)明提供的基于差影法的遙控器按鍵缺陷檢測方法，能準(zhǔn)確定位缺陷位置。
[0014]2、本發(fā)明提供的基于差影法的遙控器按鍵缺陷檢測方法，對(duì)于分批印刷的字符，對(duì)字符間距有一定的容錯(cuò)性。
[0015]3、本發(fā)明提供的基于差影法的遙控器按鍵缺陷檢測方法，采用差影法進(jìn)行缺陷檢測，輔以相關(guān)系數(shù)匹配法，檢測方法簡單，計(jì)算速度快?！緦＠綀D】

【附圖說明】
[0016]為進(jìn)一步說明本發(fā)明的技術(shù)內(nèi)容，以下結(jié)合附圖及實(shí)施案例對(duì)本發(fā)明詳細(xì)說明如后，其中:
[0017]圖1是本發(fā)明提供的一種基于差影法的遙控器按鍵缺陷檢測方法標(biāo)準(zhǔn)流程圖。
[0018]圖2是本發(fā)明提供的進(jìn)行二次配準(zhǔn)的流程圖。
[0019]圖3是本發(fā)明實(shí)施案例中的實(shí)驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)模板；
[0020]圖4是本發(fā)明實(shí)施案例中的實(shí)驗(yàn)樣品，為待檢測的遙控器按鍵圖片；
[0021]圖5是本發(fā)明實(shí)施案例中對(duì)比度增強(qiáng)后的待檢測樣品的圖片；
[0022]圖6是本發(fā)明實(shí)施案例中是粗配準(zhǔn)的結(jié)果，配準(zhǔn)區(qū)域用白色方框標(biāo)示；
[0023]圖7是本發(fā)明實(shí)施案例中對(duì)模板進(jìn)行區(qū)域標(biāo)記的結(jié)果；
[0024]圖8是本發(fā)明實(shí)施案例中依照粗匹配位置對(duì)待檢測樣品進(jìn)行區(qū)域標(biāo)記的結(jié)果；
[0025]圖9是本發(fā)明實(shí)施案例中對(duì)待檢測樣品進(jìn)行二次配準(zhǔn)后的區(qū)域標(biāo)記結(jié)果；
[0026]圖10是本發(fā)明實(shí)施案例中差影結(jié)果圖；
[0027]圖11是本發(fā)明實(shí)施案例中按照閾值處理后的差影結(jié)果圖；
[0028]圖12是本發(fā)明實(shí)施案例中缺陷檢測的結(jié)果，缺陷位置用白色方框標(biāo)不。 【具體實(shí)施方式】
[0029]如圖1及圖2所示，本發(fā)明提供一種基于差影法的遙控器按鍵缺陷檢測方法，包括如下步驟:
[0030]步驟1:制作遙控器標(biāo)準(zhǔn)模板(步驟101)，所述的制作遙控器標(biāo)準(zhǔn)模板，是取多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)遙控器圖片，進(jìn)行灰度值的平均化，并且對(duì)不規(guī)則的邊緣進(jìn)行裁剪，來制作標(biāo)準(zhǔn)模板；
[0031]步驟2:對(duì)待檢測樣品的圖像做預(yù)處理(步驟102)，所述對(duì)待檢測樣品的圖像做預(yù)處理是采用直方圖均衡化，對(duì)圖像中像素個(gè)數(shù)多的灰度級(jí)進(jìn)行展寬，而對(duì)像素個(gè)數(shù)少的灰度級(jí)進(jìn)行縮減；如果圖像經(jīng)過直方圖均衡化以后還達(dá)不到要求，還需進(jìn)行其他預(yù)處理步驟，如針對(duì)光線不均勻可以采用頂帽變換；
[0032]步驟3:對(duì)標(biāo)準(zhǔn)模板和待檢測樣品的圖像粗配準(zhǔn)，得到粗配準(zhǔn)區(qū)域，(步驟103)，所述對(duì)標(biāo)準(zhǔn)模板和待檢測樣品的圖像粗配準(zhǔn)，得到粗配準(zhǔn)區(qū)域，是從待檢測樣品中取出與標(biāo)準(zhǔn)模板大小一致的子圖，求子圖與標(biāo)準(zhǔn)模板的相關(guān)系數(shù)來確定粗配準(zhǔn)的位置。相關(guān)系數(shù)的公式如下所示:
【權(quán)利要求】
1.一種基于差影法的遙控器按鍵缺陷檢測方法，包括如下步驟: 步驟1:制作遙控器標(biāo)準(zhǔn)模板； 步驟2:對(duì)待檢測樣品的圖像做預(yù)處理； 步驟3:對(duì)標(biāo)準(zhǔn)模板和待檢測樣品的圖像粗配準(zhǔn)，得到粗配準(zhǔn)區(qū)域； 步驟4:對(duì)標(biāo)準(zhǔn)模板圖像進(jìn)行區(qū)域標(biāo)記，進(jìn)行二次細(xì)配準(zhǔn)； 步驟5:對(duì)標(biāo)準(zhǔn)模板和待檢測樣品二次細(xì)配準(zhǔn)后的標(biāo)記區(qū)域分別進(jìn)行二值化，并作差影計(jì)算； 步驟6:判斷待檢測樣品是否合格，如果待檢測樣品有缺陷，定位缺陷位置，如果待檢測樣品沒有缺陷，判斷為合格樣品，完成檢測。
2.如權(quán)利要求1所述的基于差影法的遙控器按鍵缺陷檢測方法，其中步驟I中的制作遙控器標(biāo)準(zhǔn)模板，是取多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)遙控器圖片，進(jìn)行灰度值的平均化，并且對(duì)不規(guī)則的邊緣進(jìn)行裁剪，來制作標(biāo)準(zhǔn)模板。
3.如權(quán)利要求1所述的基于差影法的遙控器按鍵缺陷檢測方法，其中對(duì)待檢測樣品的圖像做預(yù)處理是采用直方圖均衡化，對(duì)圖像中像素個(gè)數(shù)多的灰度級(jí)進(jìn)行展寬，而對(duì)像素個(gè)數(shù)少的灰度級(jí)進(jìn)行縮減。
4.如權(quán)利要求1所述的基于差影法的遙控器按鍵缺陷檢測方法，其中對(duì)標(biāo)準(zhǔn)模板和待檢測樣品的圖像粗配準(zhǔn)，得到粗配準(zhǔn)區(qū)域，是從待檢測樣品的圖像中取出與標(biāo)準(zhǔn)模板大小一致的子圖，求子圖與標(biāo)準(zhǔn)模板的相關(guān)系數(shù)來確定粗配準(zhǔn)的位置；相關(guān)系數(shù)的公式如下所示:
5.如權(quán)利要求1所述的基于差影法的遙控器按鍵缺陷檢測方法，其中標(biāo)準(zhǔn)模板圖像進(jìn)行區(qū)域標(biāo)記，進(jìn)行二次細(xì)配準(zhǔn)，具體實(shí)施步驟為: 步驟Ia:在標(biāo)準(zhǔn)模板圖像中，對(duì)于需要檢測的按鍵，進(jìn)行標(biāo)記；對(duì)于每一個(gè)按鍵上不同的絲網(wǎng)印刷的字符，分別進(jìn)行標(biāo)記； 步驟2a:在粗配準(zhǔn)得到的粗配準(zhǔn)區(qū)域中，按照標(biāo)準(zhǔn)模板的標(biāo)記位置，進(jìn)行相同的標(biāo)記； 步驟3a:對(duì)待檢測樣品圖像的每個(gè)標(biāo)記區(qū)域，按照規(guī)定的松弛度，進(jìn)行平移和旋轉(zhuǎn)，得出與相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)模板標(biāo)記塊差值最小的位置，即二次細(xì)配準(zhǔn)的結(jié)果。
6.如權(quán)利要求1所述的基于差影法的遙控器按鍵缺陷檢測方法，其中對(duì)標(biāo)準(zhǔn)模板和待檢測樣品配準(zhǔn)后的標(biāo)記區(qū)域分別進(jìn)行二值化，并作差影計(jì)算，是按照最大類間方差法，求出每一標(biāo)記區(qū)域的二值化閾值，并進(jìn)行二值化；在相同的標(biāo)記區(qū)域，對(duì)標(biāo)準(zhǔn)模板和待檢測樣品的二值化結(jié)果進(jìn)行異或，得到差影結(jié)果。
7.如權(quán)利要求1所述的基于差影法的遙控器按鍵缺陷檢測方法，其中判斷待檢測樣品是否合格，判斷的方法是如果差影結(jié)果中差異面積在閾值內(nèi)，則待檢測樣品視為合格，如果差影結(jié)果中差異面積大于閾值，則待檢測樣品有缺陷，定位缺陷位置。
【文檔編號(hào)】G01N21/956GK103439348SQ201310357352
【公開日】2013年12月11日 申請(qǐng)日期:2013年8月16日 優(yōu)先權(quán)日:2013年8月16日
【發(fā)明者】張敏, 魯華祥, 來疆亮, 邊昳, 龔國良, 徐露露 申請(qǐng)人:中國科學(xué)院半導(dǎo)體研究所