本發(fā)明涉及熱電材料的測量領域，尤其涉及一種變溫樣品臺以及安裝有變溫樣品臺的雙模式熱電性能測量裝置的熱電性能測量方法。

背景技術：
熱電材料的性能優(yōu)劣可由熱電優(yōu)值系數(shù)ZT(Thermoelectricfigureofmerit)來評判，其表征公式為：ZT＝S2T/ρκ。其中，S為熱電勢(或稱Seebeck系數(shù))，T為絕對溫度，ρ為電阻率，k為熱導率。在熱電性能的測量實踐中，熱電勢S和電阻率ρ常常被作為描述材料的熱電性能好壞的兩個首要物理量。對于熱電勢S測量通常采用兩方式：(1)穩(wěn)態(tài)模式，是指對樣品的一端加熱，使得樣品的兩端形成穩(wěn)定的溫差ΔT，測量溫差ΔT對應的樣品的兩端熱電電壓ΔU，再通過溫差ΔT和熱電電壓ΔU計算樣品的熱電勢。(2)非穩(wěn)態(tài)模式，是指對樣品的一端加熱的過程中，需要同步實時的記錄溫差ΔT和熱電電壓ΔU的變化，再通過溫差ΔT和熱電電壓ΔU計算樣品的熱電勢。由于穩(wěn)態(tài)模式需要待溫差ΔT穩(wěn)定為設定值后測量，故原則上講，準穩(wěn)態(tài)模式的測量時間較短，適合熱電材料的大量篩選；穩(wěn)態(tài)模式測量準確率較高，但在測量過程需要維持溫差ΔT的穩(wěn)定，測量難度較大。中國專利文獻公告號CN202837214U公開了一種熱電材料測試樣品座及其熱電性能測量裝置，該樣品座包括溫差加熱器、基座、樣品條、兩個第一壓塊和兩個第二壓塊，基座上鋪設有絕緣墊片，兩個第一壓塊間隔安裝在絕緣墊片上，并且兩個第二壓塊分別位置相對地疊壓在兩個第一壓塊上，其中，樣品條懸置并且兩端分別固定在兩個第二壓塊與兩個第一壓塊之間。由此可知，該專利的樣品座僅設有溫差加熱器，而僅通過溫差加熱器雖然可以將樣品條的溫差穩(wěn)定在某一固定的值，但是樣品的平均溫度卻不能被準確地維持在某一設定值，因而無法實現(xiàn)穩(wěn)態(tài)模式下熱電勢的測量。

技術實現(xiàn)要素：
本發(fā)明所要解決的技術問題在于提出一種變溫樣品臺，適用于穩(wěn)態(tài)模式和準穩(wěn)態(tài)模式兩種模式下熱電勢的檢測。本發(fā)明還要解決的技術問題在于提出一種熱電性能測量方法，能提高溫度控制的可靠性、以及溫度檢測和熱電電壓檢測的準確性。為達此目的，本發(fā)明采用以下技術方案：本發(fā)明提供的一種變溫樣品臺，包括樣品座、樣品桿、以及設于所述樣品座與所述樣品桿之間的連接件，所述樣品座包括主加熱器、兩個溫差加熱器、用于固定所述主加熱器的主加熱器壓塊、以及用于固定所述溫差加熱器的溫差加熱器壓塊。進一步的，所述樣品座還包括基座、絕緣墊板、樣品墊塊、以及樣品壓塊，所述樣品墊塊通過第一緊固件固定于所述基座上，所述絕緣墊板位于所述樣品墊塊與所述基座之間，所述樣品壓塊通過位于所述樣品壓塊兩端的第二緊固件與所述樣品墊塊固定連接。進一步的，所述溫差加熱器壓塊通過位于所述溫差加熱器壓塊兩端的第三緊固件將所述溫差加熱器固定于所述樣品壓塊上，所述溫差加熱器壓塊、溫差加熱器、所述樣品壓塊以及所述第三緊固件構成溫差加熱模塊，所述溫差加熱模塊通過位于所述樣品壓塊兩端的第二緊固件與所述樣品墊塊固定連接；所述主加熱器壓塊通過位于所述主加熱器壓塊兩端的第四緊固件將所述主加熱器固定于所述基座上。進一步的，所述連接件包括樣品座固定板、通過第五緊固件與所述樣品座固定板固定連接的樣品桿固定座。進一步的，所述基座的一側邊固定于所述樣品座固定板上。進一步的，所述樣品桿的末端與所述樣品桿固定座固定連接，所述樣品桿的末端為盲端。進一步的，所述第一緊固件由螺釘、彈簧墊片、絕緣墊片以及絕緣套管組成。進一步的，所述絕緣墊板上設有第一通孔，所述基座上設有第二通孔，所述第二通孔的位置與所述第一通孔的位置對應，所述第一通孔和所述第二通孔均用于容納所述絕緣套管。本發(fā)明還提供了一種安裝有變溫樣品臺的雙模式熱電性能測量裝置的熱電性能測量方法，按如下步驟實施：S0：將樣品條固定于所述變溫樣品臺上；S1：將所述變溫樣品臺置于所述雙模式熱電性能測量裝置中的真空室中；S2：所述雙模式熱電性能檢測裝置在穩(wěn)態(tài)模式或第一準穩(wěn)態(tài)模式或第二準穩(wěn)態(tài)模式下對樣品條的熱電勢進行測量；S3：檢測結束。優(yōu)選為，所述雙模式熱電性能檢測裝置處于穩(wěn)態(tài)模式，所述S2步驟中的熱電勢的檢測方法包括如下步驟：S211：所述雙模式熱電性能測量裝置中的第一PID控制器開啟所述主加熱器，調控所述樣品條的平均溫度直至平均溫度值穩(wěn)定于設定值Tave,S；所述雙模式熱電性能測量裝置中的第二PID控制器開啟所述樣品條一端的溫差加熱器，調控所述樣品條兩端的溫差直至溫差值穩(wěn)定于設定值ΔTS；S212：當所述樣品條的平均溫度和溫差穩(wěn)定于設定值Tave,S和ΔTS時，所述雙模式熱電性能測量裝置中的電壓表測量所述樣品條兩端的熱電電壓ΔUS；S213：在保持設定值Tave,S不變的情況下，所述PID控制器連續(xù)改變設定值ΔTS的大小，得到ΔTS-ΔUS數(shù)據(jù)表；S214:所述雙模式熱電性能測量裝置中的計算機對ΔTS-ΔUS數(shù)據(jù)表中數(shù)據(jù)進行線性擬合，依據(jù)擬合直線的斜率求出所述樣品條的熱電勢。優(yōu)選為，所述雙模式熱電性能檢測裝置處于第一準穩(wěn)態(tài)模式，所述S2步驟中的熱電勢的檢測方法包括如下步驟：S221：所述雙模式熱電性能測量裝置中的第一PID控制器開啟所述主加熱器將所述樣品條的平均溫度控制在設定值Tave,S；S222：所述雙模式熱電性能測量裝置中的計算機開啟所述樣品條一端的第一溫差加熱器，所述樣品條的溫差逐漸變大，所述計算機連續(xù)記錄升溫段所述樣品條兩端的溫差檢測值ΔT1和熱電電壓檢測值ΔU1，直至溫差檢測值ΔT1等于溫差設定值ΔTU；S223：當溫差檢測值ΔT1等于溫差設定值ΔTU后，所述計算機停止所述第一溫差加熱器，所述樣品條的溫差逐漸變小，所述計算機連續(xù)記錄降溫段所述樣品條兩端的溫差檢測值ΔT1和熱電電壓檢測值ΔU1，直至溫差檢測值ΔT1等于溫差設定值ΔTD，得到ΔT1-ΔU1數(shù)據(jù)表；S224：當溫差檢測值ΔT1等于溫差設定值ΔTD后，所述計算機開啟所述樣品條另一端的第二溫差加熱器，所述樣品條的溫差逐漸變大，所述計算機連續(xù)記錄升溫段所述樣品條兩端的溫差檢測值ΔT2和熱電電壓檢測值ΔU2，直至溫差檢測值ΔT2等于溫差設定值ΔTU；S225：當溫差檢測值ΔT2等于溫差設定值ΔTU后，所述計算機停止所述第二溫差加熱器，所述樣品條的溫差逐漸變小，所述計算機連續(xù)記錄降溫段所述樣品條兩端的溫差檢測值ΔT2和熱電電壓檢測值ΔU2，直至溫差檢測值ΔT2等于溫差設定值ΔTD，得到ΔT2-ΔU2數(shù)據(jù)表；S226:所述計算機對所述ΔT1-ΔU1數(shù)據(jù)表和ΔT2-ΔU2數(shù)據(jù)表中數(shù)據(jù)進行擬合，依據(jù)擬合直線的斜率的平均值求出所述樣品條的熱電勢。S222步驟和S224步驟中第一溫差加熱器和第二溫差加熱器開啟順序可以交換。優(yōu)選為，所述雙模式熱電性能檢測裝置處于第二準穩(wěn)態(tài)模式；所述S2步驟中包括如下步驟：將第一準穩(wěn)態(tài)模式中的S221步驟所涉及的方法替換為所述雙模式熱電性能測量裝置中的第一PID控制器開啟所述主加熱器將所述基座或所述樣品桿固定座的溫度控制在設定值TH,此時，所述樣品條的溫度被穩(wěn)定在溫度值Tave,A；所述S2步驟中的其余步驟與第一準穩(wěn)態(tài)模式中的步驟相同。優(yōu)選為，在S2的前一步驟中，可測量所述樣品條的電阻率；所述樣品條的電阻率的測量方法包括如下步驟：S131：所述雙模式熱電性能測量裝置中的電流源表提供所述樣品條的檢測電流I；S132：所述雙模式熱電性能測量裝置中的電壓計測量所述樣品條的檢測電壓U；S133：所述雙模式熱電性能測量裝置中的計算機根據(jù)所述檢測電流I、檢測電壓U和所述樣品條的尺寸參數(shù)計算所述樣品條的電阻率。本發(fā)明的有益效果為：(1)變溫樣品臺中設置有主加熱器，使得安裝有變溫樣品臺的雙模式熱電性能測量裝置具有穩(wěn)態(tài)模式下的熱電勢測量功能。(2)作為熱端的主加熱器和作為冷端的樣品桿可以從不同的方向獨立的對被測樣品加熱或冷卻，使得被測樣品的平均溫度和樣品兩端的溫差能夠同時穩(wěn)定在設定值，使得變溫樣品臺適用于穩(wěn)態(tài)模式下的熱電勢測量。(3)安裝有變溫樣品臺的雙模式熱電性能測量裝置同時具有穩(wěn)態(tài)模式下檢測熱電勢、準穩(wěn)態(tài)模式下檢測熱電勢以及檢測電阻率三種功能。(4)穩(wěn)態(tài)模式檢測熱電勢的過程中均采用雙路PID控制方法，能提高溫度控制的可靠性、以及溫度檢測和熱電電壓檢測的準確性。附圖說明圖1是本發(fā)明具體實施方式提供的變溫樣品臺的上部結構示意圖；圖2是本發(fā)明具體實施方式提供的變溫樣品臺的下部結構示意圖；圖3是本發(fā)明具體實施方式提供的雙模式熱電性能檢測裝置處于穩(wěn)態(tài)模式的結構圖；圖4是本發(fā)明具體實施方式提供的雙模式熱電性能檢測裝置處于第一準穩(wěn)態(tài)模式的結構示意圖；圖5是本發(fā)明具體實施方式提供的雙模式熱電性能檢測裝置處于第二準穩(wěn)態(tài)模式的結構示意圖；圖6是本發(fā)明具體實施方式提供的測量樣品條的電阻率的電路圖；圖7是本發(fā)明具體實施方式提供的雙模式熱電性能檢測裝置處于穩(wěn)態(tài)模式和第一準穩(wěn)態(tài)模式的電路圖；圖8是本發(fā)明具體實施方式提供的雙模式熱電性能檢測裝置處于第二準穩(wěn)態(tài)模式的電路圖；圖9是本發(fā)明具體實施方式提供的雙模式熱電性能檢測裝置測量樣品條電阻率的電路圖；圖10是本發(fā)明具體實施方式提供的雙模式熱電性能檢測裝置的結構示意圖；圖11是本發(fā)明具體實施方式提供的穩(wěn)態(tài)模式下某次測量中樣品條兩端溫度(a)、溫差ΔT(b)、熱電電壓ΔU(c)隨時間的變化圖；圖12是本發(fā)明具體實施方式提供的穩(wěn)態(tài)模式下某次測量中熱電電壓ΔUS和溫差ΔTS的線性關系圖；圖13是本發(fā)明具體實施方式提供的穩(wěn)態(tài)模式下雙模式熱電性能檢測裝置的熱電勢的測量值與熱電勢依據(jù)文獻的計算值的比較圖；圖14是本發(fā)明具體實施方式提供的第一準穩(wěn)態(tài)模式下某次測量中樣品條兩端溫度(a)、溫差ΔT(b)、熱電電壓ΔU(c)隨時間的變化圖；圖15是本發(fā)明具體實施方式提供的第一準穩(wěn)態(tài)模式下某次測量中熱電電壓ΔU和溫差ΔT的線性關系圖；圖16是本發(fā)明具體實施方式提供的第一準穩(wěn)態(tài)模式下雙模式熱電性能檢測裝置的熱電勢的測量值與熱電勢依據(jù)文獻的計算值的比較圖。圖中：2、樣品桿；3、基座；4、絕緣墊板；5、樣品墊塊；6、樣品壓塊；7、溫差加熱器壓塊；8、主加熱器壓塊；9、樣品條；101、第一溫差加熱器；102、第二溫差加熱器；11、主加熱器；12、樣品座固定板；13、樣品桿固定座；14、第一緊固件；141、絕緣墊片；142、絕緣套管；15、第二緊固件；16、第三緊固件；17、第一通孔；18、第二通孔；19、第四緊固件；20、第五緊固件；231、第一溫度計；232、第二溫度計；25、第三電壓表；26、主加熱器電源；27、第三溫度計表頭；28、第一PID控制器；291、第一溫差加熱器電源；292、第二溫差加熱器電源；301、第一溫度計表頭；302、第二溫度計表頭；31、第二PID控制器；32、第三溫度計；33、電流源表；35、電壓計；361、第一熱電偶；362、第二熱電偶；37銅臂；38、康銅臂；39、銅導線；40、溫控儀；41、熱電偶參考端；421、第一電壓表；422、第二電壓表；43、計算機；44、第三熱電偶；45、熱電偶導線；46、鉑電阻溫度計；47、真空室；48、熱電偶接頭；49、電氣接頭；50、分子泵；51、機械泵；52、真空計；53、真空計表頭；54、液氮罐；55、液氮傳輸管。具體實施方式下面結合附圖并通過具體實施方式來進一步說明本發(fā)明的技術方案。在本發(fā)明中，在未作相反說明的情況下，使用的方位詞如“上、下、頂、底”通常是針對附圖所示的方向而言的或者是針對豎直、垂直或重力方向上而言的各部件相互位置關系描述用詞。實施例一圖1和圖2所示，分別是本實施例中提供的變溫樣品臺的上部結構示意圖和下部結構示意圖。本實施例中提供的一種變溫樣品臺，包括樣品座、樣品桿2、以及設于所述樣品座與所述樣品桿2之間的連接件。所述樣品座包括基座3、絕緣墊板4及樣品墊塊5。所述樣品墊塊5共有兩個，兩個所述樣品墊塊5平行設置，中間具有一定間隔，呈對稱分布，且每個所述樣品墊塊5通過二個第一緊固件14與所述基座3固定連接。所述絕緣墊板4位于所述樣品墊塊5與所述基座3之間，所述絕緣墊板4上設有四個第一通孔17，所述基座3上設有四個第二通孔18，四個所述第二通孔18的位置與四個所述第一通孔17的位置一一對應。所述絕緣墊板4由較高導熱率且耐高溫能力強的無機材料制成，本實施例中優(yōu)選為由氮化硼等陶瓷材料制成。所述第一通孔17和所述第二通孔18均用于容納所述第一緊固件14，所述第一緊固件14由螺釘、彈簧墊片、絕緣墊片141以及絕緣套管142組成。本實施例中優(yōu)選為所述螺釘和所述彈簧墊片由不銹鋼材料制成，所述絕緣墊片141和所述絕緣套管142由陶瓷材料制成。所述絕緣墊片141和所述絕緣套管142使得所述樣品墊塊5與所述基座3的電絕緣。所述樣品座還包括兩個溫差加熱模塊，所述溫差加熱模塊包括溫差加熱器、溫差加熱器壓塊7、樣品壓塊6和第三緊固件16，所述溫差加熱器包括第一溫差加熱器101和第二溫差加熱器102，所述第一溫差加熱器101和所述第二溫差加熱器102均通過兩端具有第三緊固件16的所述溫差加熱器壓塊7固定于各自對應的所述樣品壓塊6上，本實施例中優(yōu)選第三緊固件16為不銹鋼螺釘。所述第一溫差加熱器101和所述第二溫差加熱器102用于在所述樣品條9的兩端形成溫度差或溫度梯度。本實施例中優(yōu)選為所述第一溫差加熱器101和所述第二溫差加熱器102均為陶瓷加熱片。此外，一個所述溫差加熱器壓塊、一個所述溫差加熱器、一個所述樣品壓塊以及所述第三緊固件16可構成一個溫差加熱模塊，所述溫差加熱模塊通過位于上述樣品壓塊兩端的第二緊固件15與上述樣品墊塊固定連接。所述樣品座還包括兩個樣品壓塊6，每個所述樣品壓塊6均與各自對應的所述樣品墊塊5固定連接，本實施例中優(yōu)選為每個所述樣品壓塊6通過位于所述樣品壓塊6兩端的第二緊固件15與一個所述樣品墊塊5固定連接，本實施例中優(yōu)選第二緊固件15為不銹鋼螺釘。所述樣品壓塊6和所述樣品墊塊5用于夾緊樣品條9，所述樣品條9的端部應位于所述樣品壓塊6的底面中部和所述樣品墊塊5的頂面中部。所述樣品條9的兩端應盡可能與位于所述樣品條9的兩端所述樣品壓塊6和所述樣品墊塊5具有相同的熱接觸，從而保證樣品條9兩端的熱平衡或傳熱速度的一致。所述樣品座還包括主加熱器11和主加熱器壓塊8，所述主加熱器壓塊8位于四個第二通孔18的幾何中心位置，所述主加熱器壓塊8通過位于所述主加熱器壓塊8兩端的第四緊固件19將所述主加熱器11固定于所述基座3上。本實施例中優(yōu)選為所述主加熱器11為陶瓷加熱片。此外，本實施例中優(yōu)選為所述樣品壓塊6和所述樣品墊塊5由紫銅加工而成，以便于對樣品條9進行熱量傳遞。所述溫差加熱器壓塊7和所述主加熱器壓塊8由高強度金屬制成，避免使用過程中的機械變形。所述連接件包括樣品座固定板12和通過四個第五緊固件20與所述樣品座固定板12固定連接的樣品桿固定座13，所述基座3的一側邊固定于所述樣品座固定板12上，所述樣品桿2的末端與所述樣品桿固定座13固定連接，所述末端為盲端，可以從真空室47的外部通入液氮對盲端進行冷卻，經(jīng)過熱量傳遞后，對樣品條9進行冷卻，故可認為盲端為樣品座的冷端。本實施例中優(yōu)選第五緊固件20為不銹鋼螺釘。實施例二如圖10所示，是本實施例中提供的雙模式熱電性能檢測裝置的結構示意圖。本實施例中提供的一種安裝有變溫樣品臺的雙模式熱電性能測量裝置，包括變溫樣品臺、電壓測量儀表、電流源表、溫度測量儀表、真空設備、液氮加注設備、計算機43、PID控制器以及電阻測量儀表等。所述真空設備包括真空室47、與所述真空室47相連的真空獲取裝置以及用于檢測所述真空室47真空度的真空測量裝置。所述真空獲取裝置包括分子泵50、與所述分子泵50相連的機械泵51。所述真空測量裝置包括設于所述真空室47上的真空計52、與所述真空計52相連的真空計表頭53。所述液氮加注設備包括液氮罐54、將所述液氮罐54與所述變溫樣品臺中的樣品桿2相連的液氮傳輸管55。所述溫度測量儀表包括溫度計、與所述溫度計相連的溫度計表頭，所述溫度計表頭包括第一溫度計表頭301、第二溫度計表頭302以及第三溫度計表頭27，所述溫度計包括第一溫度計231、第二溫度計232及第三溫度計32，第一溫度計231和第二溫度計232分別與樣品條9的第一端及第二端相連，用于獲取樣品條9檢測處的溫度值，第三溫度計32與基座3或者樣品桿2相連，用于獲取基座3或者樣品桿2檢測處的溫度值。所述溫度計可以為熱電偶，本實施例中優(yōu)選T型熱電偶，T型熱電偶由銅臂37和康銅臂38組成，熱電電壓信號從所述銅臂37端取出，所述第一溫度計表頭301和第二溫度計表頭302可以分別被第一電壓表421和第二電壓表422所代替。所述PID控制器包括第一PID控制器28和第二PID控制器31，所述第一PID控制器28用于控制主加熱器電源26，所述第二PID控制器31用于控制溫差加熱器電源。所述第一PID控制器28、第三溫度計表頭27及主加熱器電源26可由一臺溫控儀40代替，所述第二PID控制器31可由帶有PID控制程序的計算機43所代替。如圖3所示，是本實施例中提供的雙模式熱電性能檢測裝置處于穩(wěn)態(tài)模式的結構圖。所述樣品條9被安裝于所述樣品墊塊5與所述樣品壓塊6之間，所述穩(wěn)態(tài)模式測量過程中的溫度控制由第一溫度控制回路和第二溫度控制回路承擔。所述第一溫度控制回路包括主加熱器11、與所述主加熱器11相連的主加熱器電源26、第一溫度計231和第二溫度計232中的一個溫度計、與上述溫度計相連的第三溫度計表頭27、以及所述第一PID控制器28。從圖中可以看出，所述第一PID控制器28獲取樣品條9溫度的反饋信號，控制與所述第一PID控制器28相連的主加熱器電源26調整主加熱器11的功率，從而維持樣品條9平均溫度的穩(wěn)定。所述第二溫度控制回路包括第一溫差加熱器101和第二溫差加熱器102中的一個溫差加熱器、與第一溫差加熱器101對應第一溫差加熱器電源291或與第二溫差加熱器102對應第二溫差加熱器電源292、第一溫度計231和第二溫度計232、與第一溫度計231對應的第一溫度計表頭301和與第二溫度計232對應的第二溫度計表頭302、以及所述第二PID控制器31。從圖中可以看出，所述第二PID控制器31獲取樣品條9兩端溫差的反饋信號，控制與所述第二PID控制器31相連的溫差加熱器電源調整溫差加熱器的功率，從而維持樣品條9兩端溫差的穩(wěn)定。如圖4所示，是本實施例中提供的雙模式熱電性能檢測裝置處于第一準穩(wěn)態(tài)模式的結構圖。所述樣品條9被安裝于所述樣品墊塊5與所述樣品壓塊6之間，第一準穩(wěn)態(tài)模式下的熱電勢測量過程中的溫度控制由第一溫度控制回路承擔。所述第一溫度控制回路包括主加熱器11、與所述主加熱器11相連的主加熱器電源26、第一溫度計231和第二溫度計232中的一個溫度計、與上述溫度計相連的第三溫度計表頭27、以及所述第一PID控制器28。從圖中可以看出，所述第一PID控制器28獲取樣品條9溫度的反饋信號，控制與所述第一PID控制器28相連的主加熱器電源26調整主加熱器11的功率，從而維持樣品條9平均溫度的穩(wěn)定。與穩(wěn)態(tài)模式的不同之處在于，兩個所述溫差加熱器不由所述第二溫度控制回路控制，而是通過計算機43或者其他控制設備控制其通斷。如圖5所示，是實施例中提供的雙模式熱電性能檢測裝置處于第二準穩(wěn)態(tài)模式的結構圖。所述樣品條9被安裝于所述樣品墊塊5與所述樣品壓塊6之間，所述穩(wěn)態(tài)模式測量過程中的溫度控制由第一溫度控制回路承擔。與第一準穩(wěn)態(tài)模式的不同之處在于，第二準穩(wěn)態(tài)模式的第一溫度控制回路中的溫度計的采樣點與第一準穩(wěn)態(tài)模式的第一溫度控制回路中的溫度計的采樣點不同。第一準穩(wěn)態(tài)模式的第一溫度控制回路中的溫度計的采樣點與穩(wěn)態(tài)模式的對應采樣點保持一致，均是對樣品條9進行采樣，而第二準穩(wěn)態(tài)模式的第一溫度控制回路中的溫度計的采樣點為基座3或者樣品桿固定座13。實際測量過程中采用第三溫度計32進行溫度的采樣。如圖6所示，是本實施例中提供的測量樣品條的電阻率的電路圖。所述樣品條9被安裝于所述樣品墊塊5與所述樣品壓塊6之間，所述電阻測量儀表包括電流源表33及電壓計35，所述電流源表33和電壓計35通過四端法測量樣品條9的電阻。如圖10所示，用于樣品測溫的所述熱電偶通過熱電偶線及熱電偶接頭48連接到真空室47外，再與一個所述熱電偶參考端41相連，所述熱電偶參考端41為一個放置于真空室47外的恒溫銅塊。所述恒溫銅塊的寸尺優(yōu)選為:105mm×65mm×20mm。所述熱電偶通過銀膠分別固定于所述樣品條9的兩端，所述熱電偶通過熱電偶引出線及銅線與第一電壓表421、第二電壓表422、第三電壓表25以及溫控儀40相連。所述熱電偶引出線與所述銅線的連接點與所述恒溫銅塊熱接觸，但是電絕緣。所述第一電壓表421和所述第二電壓表422分別用于讀取第一熱電偶361和第二熱電偶362的測溫電壓信號；所述第三電壓表25用于讀取熱電電壓信號，上述熱電電壓信號從兩組T型熱電偶的銅臂端取出。所述恒溫銅塊的溫度T0由一個鉑電阻溫度計46實時測量，所述計算機43根據(jù)所述恒溫銅塊的溫度T0對熱電偶的測溫電壓信號進行冷端補償，從而得到樣品條9兩端的溫度。即所述恒溫銅塊的溫度T0作為參考溫度，也就是室溫。實施例三一種安裝有變溫樣品臺的雙模式熱電性能測量裝置的熱電性能測量方法，按如下步驟實施：S0步驟：將樣品條9固定于所述變溫樣品臺上。S1步驟：將所述變溫樣品臺置于所述雙模式熱電性能測量裝置的真空室47中。S2步驟：所述雙模式熱電性能檢測裝置在穩(wěn)態(tài)模式或第一準穩(wěn)態(tài)模式或第二準穩(wěn)態(tài)模式下對樣品條9的熱電勢進行測量。S3步驟：檢測結束。如圖7所示，是實施例中提供的雙模式熱電性能檢測裝置處于穩(wěn)態(tài)模式的電路圖。所述雙模式熱電性能檢測裝置處于穩(wěn)態(tài)模式，所述S2步驟中的熱電勢的檢測方法包括如下步驟：S211步驟：所述雙模式熱電性能測量裝置中的所述第一PID控制器28開啟所述主加熱器11，調控所述樣品條9的平均溫度直至平均溫度值穩(wěn)定于設定值Tave,S。所述雙模式熱電性能測量裝置中的所述第二PID控制器31開啟所述樣品條9一端的溫差加熱器，調控所述樣品條9兩端的溫差直至溫差值穩(wěn)定于設定值ΔTS。S212步驟：當所述樣品條9的平均溫度和溫差同時穩(wěn)定于設定值Tave,S和ΔTS時，所述雙模式熱電性能測量裝置中的電壓表測量所述樣品條9兩端的熱電電壓ΔUS；S213步驟：在保持設定值Tave,S不變的情況下，所述PID控制器連續(xù)改變設定值ΔTS的大小，得到ΔTS-ΔUS數(shù)據(jù)表。S214步驟:所述雙模式熱電性能測量裝置中的計算機43對ΔTS-ΔUS數(shù)據(jù)表中數(shù)據(jù)進行線性擬合，依據(jù)擬合直線的斜率求出所述樣品條9的熱電勢。S211步驟中，為了同時將樣品條9的平均溫度控制在設定值Tave,S和將樣品條9兩端的溫差控制在設定值ΔTS，關鍵是讓所述冷端和所述主加熱器11能夠同時并且獨立地作用于基座3及樣品條9上，故本發(fā)明中的主加熱器11被安置基座3的下表面，并且相對于樣品墊塊5對稱設置，保證了主加熱器11對基座3及樣品條9加熱的均勻性。另外，樣品桿2固定座13與樣品座固定板12連為一體，使得作為冷端的樣品桿2和作為熱端的主加熱器11可以從兩個不同的方向，分別獨立地加熱和冷卻基座3及樣品。因此，所述變溫樣品臺的上述結構特性是能夠滿足同時將樣品條9的平均溫度控制在設定值Tave,S和將樣品條9兩端的溫差控制在設定值ΔTS這一先決條件的。S211步驟和S212步驟中，可以僅開啟樣品條9一端的溫差加熱器進行熱電勢的測量，也可以交替地開啟樣品條9兩端的溫差加熱器進行熱電勢的測量，獲取兩組ΔTS-ΔUS數(shù)據(jù)，然后對兩組ΔTS-ΔUS數(shù)據(jù)進行整合，得到樣品條9的熱電勢。由于所述第一PID控制器28、第三溫度計表頭27及主加熱器電源26可由一臺溫控儀40代替，所述第二PID控制器31可由帶PID控制程序的計算機43代替。故本實施例中優(yōu)選方式為，第一溫度控制回路包括主加熱器11、第一熱電偶361和第二熱電偶362中的一個，溫控儀40。所述第二溫度控制回路包括溫差加熱器、與所述溫差加熱器對應的溫差加熱器電源、第一熱電偶361和第二熱電偶362、以及帶有PID控制程序的計算機43。采用所述第一溫度控制回路和所述第二溫度控制回路測量熱電勢的控制過程如下：所述第一溫度控制回路中的所述溫控儀40開啟所述主加熱器11調控所述樣品條9的平均溫度直至平均溫度值穩(wěn)定于設定值Tave,S；與此同時，第二溫度控制回路中的帶有PID控制程序的計算機43開啟所述樣品條9一端的溫差加熱器，調控所述樣品條9兩端的溫差直至溫差值穩(wěn)定于設定值ΔTS，最終樣品的平均溫度和樣品兩端的溫差將被穩(wěn)定在各自的設定值Tave,S和ΔTS。如圖7所示，是實施例中提供的雙模式熱電性能檢測裝置處于第一準穩(wěn)態(tài)模式的電路圖。所述雙模式熱電性能檢測裝置處于第一準穩(wěn)態(tài)模式，所述S2步驟中的熱電勢的檢測方法包括如下步驟：S221步驟：所述雙模式熱電性能測量裝置中的第一PID控制器28開啟所述主加熱器11將所述樣品條9的平均溫度控制在設定值Tave,S。S222步驟：所述雙模式熱電性能測量裝置中的計算機43開啟所述樣品條9一端的第一溫差加熱器101，所述樣品條9的溫差逐漸變大，所述計算機43連續(xù)記錄升溫段所述樣品條9兩端的溫差檢測值ΔT1和熱電電壓檢測值ΔU1，直至溫差檢測值ΔT1等于溫差設定值ΔTU，所述升溫段被標記為H1。S223步驟：當溫差檢測值ΔT1等于溫差設定值ΔTU后，所述計算機43停止所述第一溫差加熱器101，所述樣品條9的溫差逐漸變小，所述計算機43連續(xù)記錄降溫段所述樣品條9兩端的溫差檢測值ΔT1和熱電電壓檢測值ΔU1，直至溫差檢測值ΔT1等于溫差設定值ΔTD，得到ΔT1-ΔU1數(shù)據(jù)表，所述降溫段被標記為C1。S224步驟：當溫差檢測值ΔT1等于溫差設定值ΔTD后，所述計算機43開啟所述樣品條9另一端的第二溫差加熱器，所述樣品條9的溫差逐漸變大，所述計算機43連續(xù)記錄升溫段所述樣品條9兩端的溫差檢測值ΔT2和熱電電壓檢測值ΔU2，直至溫差檢測值ΔT2等于溫差設定值ΔTU，所述升溫段被標記為H2。S225步驟：當溫差檢測值ΔT2等于溫差設定值ΔTU后，所述計算機43停止所述第二溫差加熱器102，所述樣品條9的溫差逐漸變小，所述計算機43連續(xù)記錄降溫段所述樣品條9兩端的溫差檢測值ΔT2和熱電電壓檢測值ΔU2，直至溫差檢測值ΔT2等于溫差設定值ΔTD，得到ΔT2-ΔU2數(shù)據(jù)表,所述降溫段被標記為C2。S226步驟:所述計算機43對所述ΔT1-ΔU1數(shù)據(jù)表和ΔT2-ΔU2數(shù)據(jù)表中數(shù)據(jù)進行擬合，依據(jù)擬合直線的斜率的平均值求出所述樣品條9的熱電勢。S222步驟和S224步驟中第一溫差加熱器101和第二溫差加熱器102開啟順序可以交換。故本實施例中優(yōu)選方式為，所述第一溫度控制回路包括主加熱器11、第一熱電偶361和第二熱電偶362中的一個，溫控儀40，所述計算機43用于控制所有的測量過程和數(shù)據(jù)讀取過程。采用所述第一溫度控制回路測量熱電勢的控制過程如下：所述第一溫度控制回路中的溫控儀40開啟所述主加熱器11將所述樣品條9的平均溫度控制在設定值Tave,S。如圖8所示，是本實施例中提供的雙模式熱電性能檢測裝置處于第二準穩(wěn)態(tài)模式的電路圖。所述雙模式熱電性能檢測裝置處于第二準穩(wěn)態(tài)模式；所述S2步驟中包括如下步驟：將S221步驟所涉及的方法替換為所述雙模式熱電性能測量裝置中的第一PID控制器28開啟所述主加熱器11將所述基座3或所述樣品桿2固定座13的溫度控制在設定值TH,此時，所述樣品條9的溫度被穩(wěn)定在溫度值Tave,A，此時檢測基座3或樣品桿2溫度的溫度計為第三熱電偶44。所述S2步驟中的其余步驟與第一準穩(wěn)態(tài)模式中的步驟相同。如圖9所示，是本實施例中提供的雙模式熱電性能檢測裝置測量樣品條電阻率的電路圖。在S2的前一步驟中，可測量所述樣品條9的電阻率。所述樣品條9的電阻率的測量方法包括如下步驟：S131：所述雙模式熱電性能測量裝置中的電流源表33輸出所述樣品條9的檢測電流I。S132：所述雙模式熱電性能測量裝置中的電壓計35測量所述樣品條9的檢測電壓U。S133：所述雙模式熱電性能測量裝置中的計算機43根據(jù)所述檢測電流I、檢測電壓U和所述樣品條9的尺寸參數(shù)計算所述樣品條9的電阻率。熱電勢的測量原理如下：以圖7和圖8為例，當?shù)谝粺犭娕?61和第二熱電偶362為T型熱電偶時，電壓表25測到的熱電電壓ΔU可以被表示為：其中S(T)和SCu(T)分別是樣品條9和上述熱電偶銅臂端導線的熱電勢，T1和T2分別是熱電偶測量得到的樣品條9兩端的溫度。當ΔT/Tave足夠小的時候，公式(1)可以近似為：ΔU(T2,T1)≈-(S(Tave)-SCu(Tave))ΔT(2)其中ΔT＝T2-T1，Tave＝(T1+T2)/2對(2)式移項，上述于是樣品條9的熱電勢的表達式寫成：S(Tave)＝-ΔU(T2，T1)/ΔT+SCu(Tave)(3)從公式(3)可以看出，當樣品條9兩端存在一個很小的溫差ΔT時，通過電壓表測量ΔU(T2,T1)，就可以得到樣品條9在溫度為Tave時的表觀熱電勢S表觀＝-ΔU/ΔT,扣除導線的貢獻SCu后，就得到了樣品條9的熱電勢S。根據(jù)公式(3)，對穩(wěn)態(tài)模式下獲得的數(shù)據(jù)進行處理的方法如下：根據(jù)ΔTS-ΔUS數(shù)據(jù)表作圖，獲得一條線性關系曲線，其斜率為ΔUS/ΔTS，扣除導線的貢獻SCu后，最后得到樣品條9的熱電勢S。根據(jù)公式(3)，對第一準穩(wěn)態(tài)模式和第二準穩(wěn)態(tài)下獲得的數(shù)據(jù)進行處理的方法如下：首先，將升溫段H1、H2和降溫段C1、C2的數(shù)據(jù)分別合并，即將ΔT1-ΔU1數(shù)據(jù)表和ΔT2-ΔU2數(shù)據(jù)表中的數(shù)據(jù)整理合并。然后，對合并后的數(shù)據(jù)作圖，得到ΔT-ΔU線性關系圖，經(jīng)過線性擬和，得到兩個斜率(ΔU/ΔT)，扣除導線的貢獻SCu后，從而得到升溫段(H1和H2)的樣品條9熱電勢和降溫段(C1和C2)的樣品條9熱電勢。最后，將升溫段的樣品條9熱電勢和降溫段的樣品條9熱電勢兩者的平均值作為樣品的熱電勢的最終測量值。電阻率的測量原理如下：當樣品條9的平均溫度被穩(wěn)定在一個設定值，如穩(wěn)態(tài)模式和第一準穩(wěn)態(tài)模式時的Tave,S或第二準穩(wěn)態(tài)模式時的Tave,A之后，在測量熱電勢之前，利用四端法測量樣品條9電阻，電流I通過導線從樣品條9的兩端流入和流出，從熱電電壓接線端取出由于樣品條9的電阻所造成的電壓降ΔV。先根據(jù)歐姆定率計算出兩個熱偶之間樣品的電阻R，再根據(jù)電阻率ρ計算公式和樣品條9的尺寸參數(shù)計算電阻率ρ。電阻率ρ計算公式如下：其中，A為樣品的橫截面積，L為樣品條9上兩個熱電偶固定點之間的距離。1、穩(wěn)態(tài)模式下測量熱電勢隨溫度的變化情況。如圖11所示，是本實施例中提供的穩(wěn)態(tài)模式下某次測量中樣品條兩端溫度(a)、溫差ΔT(b)、熱電電壓ΔU(c)隨時間的變化圖。如圖12所示，是本實施例中提供的穩(wěn)態(tài)模式下某次測量中熱電電壓ΔUS和溫差ΔTS的線性關系圖。如圖13所示，是本實施例中提供的穩(wěn)態(tài)模式下雙模式熱電性能檢測裝置的熱電勢的測量值與熱電勢依據(jù)文獻的計算值的比較圖。雙模式熱電性能測量裝置的實際組裝及測量過程：熱電偶為T型熱電偶，所述樣品條9為厚度為0.25mm的康銅合金片，上述康銅合金可以用來制作T型熱電偶的負極。(1)先采用不銹鋼螺釘、不銹鋼彈簧墊片、環(huán)狀陶瓷絕緣墊片141、陶瓷絕緣套管142將基座3、樣品墊塊5以及絕緣墊板4組裝起來；再采用兩端穿有螺釘?shù)闹骷訜崞鲏簤K8將主加熱器11固定于基座3的下表面。主加熱器11為一個尺寸參數(shù)為10mm×10mm×1.7mm的陶瓷加熱器。(2)通過螺釘將樣品座固定板12和樣品桿固定座13固定為一體。(3)通過帶有螺釘?shù)膬蓚€溫差加熱器壓塊7將第一溫差加熱器101和第二溫差加熱器102分別固定于兩個樣品壓塊6上，且第一溫差加熱器101和第二溫差加熱器102分別位于各自樣品壓塊6的頂面中部，從而構成兩個溫差加熱模塊。使用導線將第一溫差加熱器101、第二溫差加熱器102、主加熱器11與樣品桿2上的電氣接頭49的真空部分相連。(4)通過銀膠將第一熱電偶361和第二熱電偶362固定于樣品條9的兩端。(5)將樣品條9的兩端置于兩個樣品墊塊5上，再通過兩個溫差加熱模塊的帶有螺釘?shù)臉悠穳簤K6將樣品條9的兩端固定。(6)使用T型熱電偶線將第一熱電偶361和第二熱電偶362與樣品桿2上的T型熱電偶的熱電偶接頭48的真空部分相連。(7)將樣品桿2、真空計52安裝于真空室47上，真空計52與真空計52表頭53相連。真空室47外，電氣接頭49通過導線與第一溫差加熱器電源291、第二溫差加熱器電源292以及溫控儀40相連；熱電偶導線45通過熱電偶參考端41以及銅導線39與第一電壓表421、第二電壓表422、第三電壓表25以及溫控儀40相連。(8)開啟機械泵51及分子泵50，使得真空室47的真空度達到1×10-5托。(9)通過液氮傳輸管55將液氮罐54中的液氮灌入樣品桿2，使得待測樣品或樣品條9的溫度冷卻至200K左右。(10)開啟計算機43控制程序，雙模式熱電性能測量裝置的測量模式設為穩(wěn)態(tài)模式，確定測量起始溫度點、溫度間隔等參數(shù)。在測量過程中，啟動單個溫差加熱器。程序開始運行后，利用第一溫度控制回路將樣品條9的平均溫度控制在設定值Tave,S，同時利用第二溫度控制回路將樣品條9兩端的溫差控制在設定值ΔTS，當樣品條9平均溫度和樣品條9兩端的溫差都同時穩(wěn)定在各自的設定值后，記錄樣品條9兩端的熱電電壓ΔUS。在保持樣品條9的平均溫度Tave,S不變的情況下，改變ΔTS的數(shù)值為1K、2K和3K，最終得到包含三個數(shù)組的ΔTS-ΔUS數(shù)據(jù)表。圖11表示某個實際控溫和測量過程中樣品條9兩端的溫度、溫差、熱電電壓隨時間變化的情形。(11)重復步驟10直至完成所有設定溫度點的測量，計算機43控制程序結束。(12)為了獲得樣品條9在溫度為Tave,S時的熱電勢，依據(jù)ΔTS-ΔUS數(shù)據(jù)表作圖。具體數(shù)據(jù)處理時，從圖11中獲得ΔUS和ΔTS的相對應數(shù)據(jù)值，對ΔUS和ΔTS的相對應數(shù)據(jù)值作圖，得到一條線性關系曲線，參見圖12。經(jīng)過最小二乘法線性擬和，可以得到上述線性關系曲線的斜率ΔUS/ΔTS，將斜率代入樣品條9的熱電勢計算公式(3)中，便可求出樣品條9的熱電勢。公式(3)中銅導線的熱電勢由以下計算公式(5)得到：公式(5)引自A.T.Burkov,in:D.M.Rowe(Eds)Thermoelectricshandbook:Macrotonano,CRCPress,BocaRaton,2006,chapter22，Eq.(22.6)。圖13顯示了測量到的康銅熱電勢隨溫度變化的情況,并將其與文獻值進行了比較，文獻值由下式計算得到：SCon(T)＝SCu(T)-SCu/Con(T)(6)其中，SCu/Con(T)表示T型熱電偶的熱電勢，它是根據(jù)R.E.Bentley所著HandbookofTemperatureMeasurement(Volume3)：TheoryandPracticeofThermoelectricThermometry(Springer-Verlag,Singapore,1998)一書中第27頁表2-2中所提供的離散數(shù)據(jù)經(jīng)擬合得到的，擬合結果為：SCu/Con(T)＝4.37184+0.1676T-1.84371×10-4T2+1.2244×10-7T3-4.47618×10-11T4其中，73.15K＜T＜673.15K,擬合的最大殘差小于0.15μV/K。(7)圖13顯示了在190K—475K溫度范圍內，利用本發(fā)明所描述的雙模式熱電性能測量裝置得到的測量結果與文獻值之間的對比關系圖。2、第一準穩(wěn)態(tài)模式下測量熱電勢隨溫度的變化情況。如圖14所示，是本實施例中提供的第一準穩(wěn)態(tài)模式下某次測量中樣品條兩端溫度(a)、溫差ΔT(b)、熱電電壓ΔU(c)隨時間的變化圖。如圖15所示，是本實施例中提供的第一準穩(wěn)態(tài)模式下某次測量中熱電電壓ΔU和溫差ΔT的線性關系圖。如圖16所示，是實施例中提供的第一準穩(wěn)態(tài)模式下雙模式熱電性能檢測裝置的熱電勢的測量值與熱電勢依據(jù)文獻的計算值的比較圖。熱電偶為T型熱電偶，所述樣品條9為厚度為0.25mm的康銅合金片，上述康銅合金可以用來制作T型熱電偶的負極。(1)先采用不銹鋼螺釘、不銹鋼彈簧墊片、環(huán)狀陶瓷絕緣墊片141、陶瓷絕緣套管142將基座3、樣品墊塊5以及絕緣墊板4組裝起來；再采用兩端穿有螺釘?shù)闹骷訜崞鲏簤K8將主加熱器11固定于基座3的下表面。主加熱器(11)為一個尺寸參數(shù)為10mm×10mm×1.7mm的陶瓷加熱器。(2)通過螺釘將樣品座固定板12和樣品桿固定座13固定為一體。(3)通過帶有螺釘?shù)膬蓚€溫差加熱器壓塊7將第一溫差加熱器101和第二溫差加熱器102分別固定于兩個樣品壓塊6上，且第一溫差加熱器101和第二溫差加熱器102分別位于各自樣品壓塊6的頂面中部，從而構成兩個溫差加熱模塊。使用導線將第一溫差加熱器101、第二溫差加熱器102、主加熱器11與樣品桿2上的電氣接頭49的真空部分相連。(4)通過銀膠將第一熱電偶361和第二熱電偶362固定于樣品條9的兩端。(5)將樣品條9的兩端置于兩個樣品墊塊5上，再通過兩個溫差加熱模塊的帶有螺釘?shù)臉悠穳簤K6將樣品條9的兩端固定。(6)使用T型熱電偶導線將第一熱電偶361和第二熱電偶362與樣品桿2上的T型熱電偶的熱電偶接頭48的真空部分相連。(7)將樣品桿2、真空計52安裝于真空室47上，真空計52與真空計表頭53相連。真空室47外，電氣接頭49通過導線與第一溫差加熱器電源291、第二溫差加熱器電源292以及溫控儀40相連；熱電偶導線45通過熱電偶參考端41以及銅導線39與第一電壓表421、第二電壓表422、第三電壓表25以及溫控儀40相連。(8)開啟機械泵51及分子泵50，使得真空室47的真空度達到1×10-5托。(9)通過液氮傳輸管55將液氮罐54中的液氮灌入樣品桿2，使得待測樣品或樣品條9的溫度冷卻至200K左右。(10)開啟計算機43控制程序，雙模式熱電性能測量裝置的測量模式設為第一準穩(wěn)態(tài)模式，確定測量起始溫度點，溫度間隔等參數(shù)。測量開始后，首先，利用第一溫度控制回路將樣品的平均溫度控制在Tave,S。然后，開啟樣品條9一端的第一溫差加熱器101(或者第二溫差加熱器102)，計算機43記錄樣品條9兩端的升溫段溫度T1和T2、溫差ΔT1和熱電電壓ΔU1隨時間的變化，該升溫段被標記為H1。當溫差檢測值ΔT1等于溫差設定值ΔTU后，ΔTU通常為3K-4K，關閉加熱器，繼續(xù)記錄ΔT1和ΔU1在降溫段隨時間的變化，該降溫段被標記為C1。直到溫差檢測值ΔT1等于溫差設定值ΔTD后，開啟樣品條9另一端的第二溫差加熱器102(或者第一溫差加熱器101)，計算機43記錄樣品條9兩端的升溫段溫度T1和T2、溫差ΔT2和熱電電壓ΔU2隨時間的變化，該升溫段被標記為H2。當溫差檢測值ΔT2等于溫差設定值ΔTU后，ΔTU通常為3K-4K，關閉加熱器，繼續(xù)記錄ΔT2和ΔU2在降溫段隨時間的變化，該降溫段被標記為C2。圖14表示某次實際測量過程中樣品條9兩端的溫度、溫差ΔT、熱電電壓ΔU隨時間變化的情形。所述計算機43按照步驟10的方式完成所有設定溫度點的測量，結束程序。具體數(shù)據(jù)處理時，為了獲得樣品條9在溫度為Tave,S時的熱電勢，以圖14中所示的數(shù)據(jù)為例，將升溫段(H1和H2段)和降溫段(C1和C2段)的數(shù)據(jù)合并起來，根據(jù)合并后升溫段和降溫段的數(shù)據(jù)作圖，得到線性關系曲線，經(jīng)過最小二乘法線性擬和，得到斜率ΔU/ΔT。本次數(shù)據(jù)處理中，從升溫段和降溫段數(shù)據(jù)獲得的斜率分別為40.4μV/K和39.2μV/K，如圖15所示。擬合的調整決定系數(shù)(Adjusteddeterminationcoefficient)都為0.9997。依據(jù)上述兩個斜率，以及公式(3)和(5)可以從升溫段和降溫段數(shù)據(jù)中導出樣品的熱電勢，升溫段和降溫段熱電勢的平均值作為樣品條9熱電勢的最終測量值。圖16表示利用本發(fā)明所描述的雙模式熱電性能測量裝置得到的測量結果與文獻值之間的對比關系圖。本發(fā)明是通過優(yōu)選實施例進行描述的，本領域技術人員知悉，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍的情況下，可以對這些特征和實施例進行各種改變或等效替換。本發(fā)明不受此處所公開的具體實施例的限制，其他落入本申請的權利要求內的實施例都屬于本發(fā)明保護的范圍。