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      芯片式微陀螺的減振測試裝置制造方法

      文檔序號:6174789閱讀:306來源:國知局
      芯片式微陀螺的減振測試裝置制造方法
      【專利摘要】本發(fā)明公開了一種芯片式微陀螺的減振測試裝置,包括膠盒、膠蓋、減振膠、質(zhì)量塊和基板,其中膠盒通過其底部設(shè)置的安裝孔固定于振動臺上,膠盒腔體內(nèi)壁設(shè)有環(huán)繞內(nèi)壁的第一凸臺,質(zhì)量塊外壁中間位置設(shè)有環(huán)繞外壁的第二凸臺,減振膠上設(shè)有與第二凸臺相配合的裝配凹槽,質(zhì)量塊和減振膠裝配后置于膠盒腔體內(nèi)的第一凸臺上,膠蓋中間開孔且與膠盒配套設(shè)置,質(zhì)量塊從膠蓋中間孔中穿過,膠蓋內(nèi)表面沿開孔邊沿設(shè)有第三凸臺且第三凸臺壓置于減振膠上,質(zhì)量塊的頂部固定設(shè)置基板,基板的上表面設(shè)有兩個第四凸塊用于固定芯片式微陀螺。本發(fā)明芯片式微陀螺的減振測試裝置結(jié)構(gòu)簡單、安裝方便、頻率可調(diào),能夠滿足批量生產(chǎn)。
      【專利說明】芯片式微陀螺的減振測試裝置
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本發(fā)明涉及振動測試【技術(shù)領(lǐng)域】,特別是一種芯片式微陀螺的減振測試裝置。
      【背景技術(shù)】
      [0002]芯片式微陀螺是典型的MEMS慣性傳感器,其傳感器結(jié)構(gòu)利用微電子加工工藝制備,測控電路采用ASIC制備,結(jié)構(gòu)芯片和電路芯片封裝在同一個管殼內(nèi),具有體積小、重量輕、價格便宜、能大批量生產(chǎn)等優(yōu)點,在軍民兩方面都具有廣泛的應(yīng)用前景。在民用方面,主要用于汽車工業(yè)、工業(yè)監(jiān)控及消費類產(chǎn)品和機器人技術(shù),如氣囊、防抱死系統(tǒng)、偏航速率傳感器、翻滾速率傳感器、圖象穩(wěn)定及玩具等等;在軍用領(lǐng)域,主要用于靈巧炸彈、智能炮彈、戰(zhàn)術(shù)導(dǎo)彈、新概念武器和微型飛機的自主導(dǎo)航制導(dǎo)系統(tǒng)等。
      [0003]芯片式微陀螺的工作環(huán)境往往比較惡劣,受到振動、沖擊、溫度等作用。無論是陀螺單獨使用還是與加速度計組成微慣性測量系統(tǒng),都需要進行減振設(shè)計。因此,芯片式微陀螺在研制和生產(chǎn)過程中需要進行振動試驗,評估減振后的芯片式微陀螺在振動環(huán)境中的性能。目前芯片式微陀螺的減振測試機構(gòu)安裝復(fù)雜、操作繁瑣、不易加工,且減振系統(tǒng)諧振頻率不易調(diào)節(jié),不能滿足批量生產(chǎn)和微陀螺實時應(yīng)用的要求。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0004]本發(fā)明的目的在于提供一種結(jié)構(gòu)簡單、安裝方便、頻率可調(diào)的芯片式微陀螺的減振測試裝置。
      [0005]實現(xiàn)本發(fā)明目的的技術(shù)解決方案為:一種芯片式微陀螺減振測試裝置,包括膠盒、膠蓋、減振膠、質(zhì)量塊和基板,其中膠盒通過其底部設(shè)置的安裝孔固定于振動臺上,膠盒腔體內(nèi)壁設(shè)有環(huán)繞內(nèi)壁的第一凸臺,質(zhì)量塊外壁中間位置設(shè)有環(huán)繞外壁的第二凸臺,減振膠上設(shè)有與第二凸臺相配合的裝配凹槽,質(zhì)量塊和減振膠裝配后置于膠盒腔體內(nèi)的第一凸臺上,膠蓋中間開孔且與膠盒配套設(shè)置,質(zhì)量塊從膠蓋中間孔中穿過,膠蓋內(nèi)表面沿開孔邊沿設(shè)有第三凸臺且第三凸臺壓置于減振膠上,質(zhì)量塊的頂部固定設(shè)置基板,基板的上表面設(shè)有兩個第四凸塊用于固定芯片式微陀螺。
      [0006]本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比,其顯著優(yōu)點為:(1)芯片式微陀螺減振測試裝置結(jié)構(gòu)簡單,易于加工和裝配;(2)質(zhì)量塊可選擇不同的材料,獲得不同的質(zhì)量特性,因此減振測試裝置的諧振頻率易調(diào)節(jié);(3)減振膠材料為橡膠彈性阻尼材料,結(jié)構(gòu)形式簡單,易于制備;
      (4)芯片式微陀螺安裝到減振測試裝置簡單、方便,滿足批量生產(chǎn)要求;(5)改變基板尺寸或基板上螺紋孔位置,可安裝不同尺寸的芯片式微陀螺,減振測試裝置的兼容性好。
      【專利附圖】

      【附圖說明】
      [0007]圖1是本發(fā)明芯片式微陀螺的減振測試裝置的總體結(jié)構(gòu)剖視圖。
      [0008]圖2是本發(fā)明裝置中膠盒的俯視圖。
      [0009]圖3是本發(fā)明裝置中膠蓋的結(jié)構(gòu)示意圖,其中(a)為俯視圖,(b)為剖視圖。[0010]圖4是本發(fā)明裝置中減振膠的結(jié)構(gòu)示意圖,其中(a)為環(huán)形減振膠的俯視圖,(b)為L型減振膠的俯視圖,(c)為減振膠的剖視圖。
      [0011]圖5是本發(fā)明裝置中質(zhì)量塊的結(jié)構(gòu)示意圖,其中(a)為主視圖,(b)為俯視圖。
      [0012]圖6是本發(fā)明裝置中基板的結(jié)構(gòu)示意圖,其中(a)為俯視圖,(b)為左視圖。
      【具體實施方式】
      [0013]下面結(jié)合附圖及具體實施例對本發(fā)明作進一步詳細說明。
      [0014]結(jié)合圖1,本發(fā)明芯片式微陀螺的減振測試裝置,用來進行芯片式微陀螺的減振測試,該裝置包括膠盒1、膠蓋2、減振膠3、質(zhì)量塊4和基板5,其中膠盒I通過其底部設(shè)置的安裝孔12固定于振動臺上,膠盒I腔體內(nèi)壁設(shè)有環(huán)繞內(nèi)壁的第一凸臺11,質(zhì)量塊4外壁中間位置設(shè)有環(huán)繞外壁的第二凸臺41,減振膠3上設(shè)有與第二凸臺41相配合的裝配凹槽,質(zhì)量塊4和減振膠3裝配后置于膠盒I腔體內(nèi)的第一凸臺11上,膠蓋2中間開孔且與膠盒I配套設(shè)置,質(zhì)量塊4從膠蓋2中間孔中穿過,膠蓋2內(nèi)表面沿開孔邊沿設(shè)有第三凸臺21且第三凸臺21壓置于減振膠3上,質(zhì)量塊4的頂部固定設(shè)置基板5,基板5的上表面設(shè)有兩個第四凸塊51用于固定芯片式微陀螺。
      [0015]結(jié)合圖2~3,膠盒I為頂部開口的長方體,腔體壁上有四個螺紋孔,用于連接膠盒I和膠蓋2,膠蓋2通過螺釘固定于膠盒I頂部的開口上。膠盒I底面有三個安裝孔12,用于將減振測試裝置固定在振動臺上。膠蓋2為中間開孔的矩形平板,孔的尺寸大于質(zhì)量塊4的尺寸,膠蓋2內(nèi)表面的第三凸臺21壓置于減振膠3上,達到固定減振膠3和質(zhì)量塊4的目的。
      [0016]結(jié)合圖4,減振膠3為環(huán)形結(jié)構(gòu)環(huán)繞質(zhì)量塊4中第二凸臺41 一周,或者為L型結(jié)構(gòu)設(shè)置于質(zhì)量塊4中第二凸臺41`的四個拐角。
      [0017]結(jié)合圖5,質(zhì)量塊4為柱體結(jié)構(gòu),質(zhì)量塊4的上表面有螺紋孔,基板5通過螺釘固定在質(zhì)量塊4的頂部;質(zhì)量塊4可選用不同密度的材料加工,如鋁、鐵或銅,則減振測試裝置的諧振頻率易于調(diào)節(jié)。減振膠3直接安裝在質(zhì)量塊4上的凸臺41,或采用粘接劑將減振膠3粘接在質(zhì)量塊4上的凸臺41,減振膠3的材料為橡膠彈性阻尼,具有良好的彈性和阻尼特性。
      [0018]結(jié)合圖6,基板5上的通孔螺釘連接在質(zhì)量塊4上,基板5上表面的兩個第四凸塊51關(guān)于基板5的上表面中心平行對稱,并且每個第四凸臺51上設(shè)有兩個螺紋孔,用于安裝芯片式微陀螺。改變基板5尺寸或基板5上螺紋孔位置,可安裝不同尺寸的芯片式微陀螺,減振測試裝置的兼容性好。
      [0019]本發(fā)明的芯片式微陀螺減振測試裝置用于芯片式微陀螺減振試驗,減振膠具有阻尼特性和剛度特性,設(shè)減振膠的阻尼系數(shù)為Cis。,剛度系數(shù)為kis。,質(zhì)量塊和基板的總質(zhì)量為miso,芯片式微陀螺的質(zhì)量為1?,則芯片式微陀螺減振測試裝置的諧振頻率fis。為:
      [0020]Ziso =^- J liw -
      2h +mG
      [0021 ] 減振測試裝置對振動的衰減系數(shù)T為:
      【權(quán)利要求】
      1.一種芯片式微陀螺的減振測試裝置,其特征在于:包括膠盒(I)、膠蓋(2)、減振膠(3)、質(zhì)量塊(4)和基板(5),其中膠盒I通過其底部設(shè)置的安裝孔(12)固定于振動臺上,膠盒(I)腔體內(nèi)壁設(shè)有環(huán)繞內(nèi)壁的第一凸臺(11),質(zhì)量塊(4)外壁中間位置設(shè)有環(huán)繞外壁的第二凸臺(41),減振膠(3)上設(shè)有與第二凸臺(41)相配合的裝配凹槽,質(zhì)量塊(4)和減振膠(3)裝配后置于膠盒(I)腔體內(nèi)的第一凸臺(11)上,膠蓋(2)中間開孔且與膠盒(I)配套設(shè)置,質(zhì)量塊(4)從膠蓋(2)中間孔中穿過,膠蓋(2)內(nèi)表面沿開孔邊沿設(shè)有第三凸臺(21)且第三凸臺(21)壓置于減振膠(3)上,質(zhì)量塊(4)的頂部固定設(shè)置基板(5),基板(5)的上表面設(shè)有兩個第四凸塊(51)用于固定芯片式微陀螺。
      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片式微陀螺的減振測試裝置,其特征在于:所述膠盒(I)為頂部開口的長方體,膠蓋(2)通過螺釘固定于膠盒(I)頂部的開口上。
      3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片式微陀螺的減振測試裝置,其特征在于:所述基板(5)通過螺釘固定在質(zhì)量塊(4)的頂部。
      4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片式微陀螺的減振測試裝置,其特征在于:所述基板(5)上表面的兩個第四凸塊(51)關(guān)于基板(5)的上表面中心平行對稱,并且每個第四凸臺(51)上設(shè)有兩個螺紋孔,用于安裝芯片式微陀螺。
      5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片式微陀螺的減振測試裝置,其特征在于:減振膠(3)直接安裝在質(zhì)量塊(4 )上的凸臺(41),或采用粘接劑將減振膠(3 )粘接在質(zhì)量塊(4 )上的凸臺(41)。
      6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片式微陀螺的減振測試裝置,其特征在于:質(zhì)量塊(4)的材料為招、鐵或銅。
      7.根據(jù)權(quán)利要求2所述的芯片式微陀螺的減振測試裝置,其特征在于:所述減振膠(3)為環(huán)形結(jié)構(gòu)環(huán)繞質(zhì)量塊(4)中第二凸臺(41) 一周,或者為L型結(jié)構(gòu)設(shè)置于質(zhì)量塊(4)中第二凸臺(41)的四個拐角。
      【文檔編號】G01C25/00GK103499353SQ201310397454
      【公開日】2014年1月8日 申請日期:2013年9月4日 優(yōu)先權(quán)日:2013年9月4日
      【發(fā)明者】施芹, 裘安萍, 夏國明, 蘇巖, 丁衡高 申請人:南京理工大學(xué)
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