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      一種光纖復(fù)合低壓電纜的瞬時(shí)溫升與傳輸損耗測(cè)試系統(tǒng)的制作方法

      文檔序號(hào):6176817閱讀:149來源:國(guó)知局
      一種光纖復(fù)合低壓電纜的瞬時(shí)溫升與傳輸損耗測(cè)試系統(tǒng)的制作方法
      【專利摘要】本發(fā)明是一種光纖復(fù)合低壓電纜的瞬時(shí)溫升與傳輸損耗測(cè)試系統(tǒng)。本測(cè)試系統(tǒng)包括溫度測(cè)試模塊和光纖單元損耗監(jiān)測(cè)模塊,在光纖復(fù)合低壓電纜(9)相關(guān)的測(cè)試點(diǎn)設(shè)置熱電偶,溫度測(cè)試模塊利用多點(diǎn)熱電偶配合數(shù)字毫伏表(7)監(jiān)測(cè)熱電偶位置的溫度信息;光纖單元損耗檢測(cè)模塊利用函數(shù)信號(hào)發(fā)生器(1)、激光源(2)、2×2光纖耦合器(3)以及光功率計(jì)(4)對(duì)光纖復(fù)合低壓電纜(9)中的光纖單元(11)傳輸損耗進(jìn)行監(jiān)測(cè),最后在處理顯示終端(5)對(duì)采集到的溫度及損耗數(shù)據(jù)進(jìn)行處理顯示。本測(cè)試系統(tǒng)的有優(yōu)點(diǎn)是能夠快速、準(zhǔn)確的監(jiān)測(cè)光纖復(fù)合低壓電纜在異常工作狀態(tài)導(dǎo)致瞬時(shí)溫升時(shí)線纜內(nèi)部各觀測(cè)點(diǎn)溫度變化情況以及光纖單元傳輸損耗。
      【專利說明】一種光纖復(fù)合低壓電纜的瞬時(shí)溫升與傳輸損耗測(cè)試系統(tǒng)
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本發(fā)明屬于光纖復(fù)合低壓電纜領(lǐng)域,具體涉及一種光纖復(fù)合低壓電纜異常工作狀態(tài)時(shí)瞬時(shí)溫度與光單兀傳輸損耗的測(cè)試系統(tǒng)。
      【背景技術(shù)】
      [0002]光纖復(fù)合低壓電纜是一種將光纖單元復(fù)合在低壓電力電纜的內(nèi)部,具有電力傳輸和光通信傳輸能力的電纜,可用于額定電壓0.6/lkV及其以下電力系統(tǒng)中,同時(shí)解決光纖信息通信的問題。光纖復(fù)合低壓電纜融合了光纖通信與電力傳輸?shù)墓δ?,相比單一功能傳輸纜線而言,其具有高可靠性數(shù)據(jù)傳輸、價(jià)格低、連接方便等特點(diǎn),優(yōu)點(diǎn)有外徑小、重量輕、占用空間小。相對(duì)于其他類型的特種光纜,光纖復(fù)合電力電纜在未來家庭智能化、辦公自動(dòng)化、數(shù)字化變電站、工控網(wǎng)絡(luò)化的數(shù)據(jù)傳輸中具有更重要的地位。
      [0003]我國(guó)經(jīng)過多年的發(fā)展,利用光纖復(fù)合地線、光纖復(fù)合架空相線、全介質(zhì)自承式光纜等特種光纜已建成世界上最大的、先進(jìn)可靠的電力專用光纖通信網(wǎng)絡(luò),其應(yīng)用水平處于國(guó)際先進(jìn)。在我國(guó),光纖復(fù)合低壓電纜尚處于起步階段,雖然國(guó)內(nèi)已有廠家研制出數(shù)種光纖復(fù)合低壓電纜產(chǎn)品,但是國(guó)家還沒有出臺(tái)相關(guān)的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)還處于草案階段,對(duì)其電氣、機(jī)械、物理和光學(xué)性能要求和測(cè)試沒有一套成熟穩(wěn)定的測(cè)試方法,特別是當(dāng)光纖復(fù)合低壓電纜異常工作狀態(tài)導(dǎo)致瞬時(shí)溫升時(shí),沒有一種快速、準(zhǔn)確的系統(tǒng)對(duì)其溫度變化和光纖單元傳輸損耗變化進(jìn)行測(cè)試。
      [0004]因此,本發(fā)明的創(chuàng)新之處在于提供了一種測(cè)試系統(tǒng)對(duì)光纖復(fù)合低壓電纜在異常工作狀態(tài)導(dǎo)致瞬時(shí)溫升時(shí)對(duì)其溫度和光纖單元傳輸損耗變化進(jìn)行測(cè)試。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0005]技術(shù)問題:本發(fā)明的目的在于提出一種光纖復(fù)合低壓電纜的瞬時(shí)溫升與傳輸損耗測(cè)試系統(tǒng),對(duì)光纖復(fù)合低壓電纜在異常工作狀態(tài)導(dǎo)致瞬時(shí)溫升時(shí)對(duì)其溫度和光纖單元傳輸損耗變化進(jìn)行測(cè)試。
      [0006]技術(shù)方案:本發(fā)明的一種光纖復(fù)合低壓電纜的瞬時(shí)溫升與傳輸損耗測(cè)試系統(tǒng),包括溫度測(cè)試模塊和光纖單元損耗監(jiān)測(cè)模塊,在光纖復(fù)合低壓電纜選定的測(cè)試點(diǎn)設(shè)置第一熱電偶、第二熱電偶;溫度測(cè)試模塊中,數(shù)字毫伏表采集第一熱電偶和第二熱電偶監(jiān)測(cè)熱電偶位置的溫度信息,再將該溫度信息送給處理顯示終端;
      [0007]光纖單元損耗檢測(cè)模塊中,函數(shù)信號(hào)發(fā)生器、激光源、2X2光纖耦合器以及光功率計(jì)串聯(lián)連接,將2X2光纖耦合器對(duì)光纖復(fù)合低壓電纜中的光纖單元傳輸損耗進(jìn)行監(jiān)測(cè),再將該傳輸損耗數(shù)據(jù)送給處理顯示終端;最后在處理顯示終端對(duì)采集到的溫度信息及傳輸損耗數(shù)據(jù)進(jìn)行處理顯示。
      [0008]所述的溫度測(cè)試模塊中,第一熱電偶、第二熱電偶分別貼于光纖復(fù)合低壓電纜中的電力纜線和光纖單元上,并將第一熱電偶、第二熱電偶分別與數(shù)字毫伏表的信號(hào)輸入端連接,數(shù)字毫伏表的信號(hào)輸出端連接處理顯示終端,通過處理顯示終端對(duì)采集到的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理并輸出溫度信息。
      [0009]光纖單元損耗檢測(cè)模塊中,通過函數(shù)信號(hào)發(fā)生器對(duì)激光源進(jìn)行調(diào)制,將輸出光連接到2 X 2光纖耦合器的第一個(gè)端口,2 X 2光纖耦合器的第四個(gè)端口連接到待測(cè)光纖復(fù)合低壓電纜的光纖單元的一端,光纖單元的另一端接回到2 X 2光纖耦合器的第二端口,2 X 2光纖耦合器的第三端口連接到光功率計(jì)對(duì)輸出的光信號(hào)功率進(jìn)行檢測(cè),光功率計(jì)的輸出端連接到處理顯示終端,由處理顯示終端處理數(shù)據(jù)并顯示光功率損耗的變化。其中,定義光從2 X 2光纖耦合器第四個(gè)端口到光纖單元再到第二個(gè)端口為一個(gè)光路環(huán)。
      [0010]所述的函數(shù)信號(hào)發(fā)生器對(duì)激光源進(jìn)行調(diào)制是指函數(shù)信號(hào)發(fā)生器發(fā)出脈寬
      【權(quán)利要求】
      1.一種光纖復(fù)合低壓電纜的瞬時(shí)溫升與傳輸損耗測(cè)試系統(tǒng),其特征在于:該測(cè)試系統(tǒng)包括溫度測(cè)試模塊和光纖單元損耗監(jiān)測(cè)模塊,在光纖復(fù)合低壓電纜(9)選定的測(cè)試點(diǎn)設(shè)置第一熱電偶(6)、第二熱電偶(8);溫度測(cè)試模塊中,數(shù)字毫伏表(7)采集第一熱電偶(6)和第二熱電偶(8)監(jiān)測(cè)熱電偶位置的溫度信息,再將該溫度信息送給處理顯示終端(5); 光纖單元損耗檢測(cè)模塊中,函數(shù)信號(hào)發(fā)生器(I)、激光源(2)、2X2光纖耦合器(3)以及光功率計(jì)(4)串聯(lián)連接,將2X2光纖耦合器(3)對(duì)光纖復(fù)合低壓電纜(9)中的光纖單元(11)傳輸損耗進(jìn)行監(jiān)測(cè),再將該傳輸損耗數(shù)據(jù)送給處理顯示終端(5);最后在處理顯示終端(5 )對(duì)采集到的溫度信息及傳輸損耗數(shù)據(jù)進(jìn)行處理顯示。
      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種光纖復(fù)合低壓電纜的瞬時(shí)溫升與傳輸損耗測(cè)試系統(tǒng),其特征在于所述的溫度測(cè)試模塊中,第一熱電偶(6)、第二熱電偶(8)分別貼于光纖復(fù)合低壓電纜(9)中的電力纜線(10)和光纖單元(11)上,并將第一熱電偶(6)、第二熱電偶(8)分別與數(shù)字毫伏表(7)的信號(hào)輸入端連接,數(shù)字毫伏表(7)的信號(hào)輸出端連接處理顯示終端(5),通過處理顯示終端(5)對(duì)采集到的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理并輸出溫度信息。
      3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種光纖復(fù)合低壓電纜的瞬時(shí)溫升與傳輸損耗測(cè)試系統(tǒng),其特征在于光纖單元損耗檢測(cè)模塊中,通過函數(shù)信號(hào)發(fā)生器(I)對(duì)激光源(2)進(jìn)行調(diào)制,將輸出光連接到2X2光纖耦合器(3)的第一個(gè)端口(3-1),2X2光纖耦合器(3)的第四個(gè)端口(3-4)連接到待測(cè)光纖復(fù)合低壓電纜(9)的光纖單元(11)的一端,光纖單元(11)的另一端接回到2X2光纖耦合器(3)的第二端口(3-2),2X2光纖耦合器(3)的第三端口(3_3)連接到光功率計(jì)(4)對(duì)輸出的光信號(hào)功率進(jìn)行檢測(cè),光功率計(jì)(4)的輸出端連接到處理顯示終端(5),由處理顯示終端(5)處理數(shù)據(jù)并顯示光功率損耗的變化。其中,定義光從2X2光纖耦合器(3)第四個(gè)端口(3-4)到光纖單元(11)再到第二個(gè)端口(3-2)為一個(gè)光路環(huán)。
      4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種光纖復(fù)合低壓電纜的瞬時(shí)溫升與傳輸損耗測(cè)試系統(tǒng),其特征在于所述的函數(shù)信號(hào)發(fā)生器(I)對(duì)激光源(2)進(jìn)行調(diào)制是指函數(shù)信號(hào)發(fā)生器(I)發(fā)出脈寬的方波信號(hào)對(duì)激光源(2)進(jìn)行調(diào)制,其中:L為光纖單元中光纖的長(zhǎng)度,C為真空中的光速,N為調(diào)制光通過定義的光路環(huán)的環(huán)數(shù)。
      5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種光纖復(fù)合低壓電纜的瞬時(shí)溫升與傳輸損耗測(cè)試系統(tǒng),其特征在于:光功率計(jì)(4)測(cè)得光功率PN(t)為: P"、\^Ut)~aL)Kn N>2 { (JPiK rj-C(L)K ri N = I 其中:PN(t)是光功率計(jì)測(cè)到的通過N圈時(shí)的光功率,Pt奶為第N-1圈時(shí)2X2光纖耦合器的第四個(gè)端口(3-4)的輸出光功率,Pi是激光源的輸出功率,K為2X2光纖耦合器(3)的分光比,rI為2X2光纖稱合器(3)的稱合系數(shù),α為所要測(cè)試的傳輸損耗系數(shù),L為光纖單元中光纖的長(zhǎng)度,N為調(diào)制光通過定義的光路環(huán)的環(huán)數(shù),K為2X2光纖耦合器的分光比。
      【文檔編號(hào)】G01R31/00GK103529318SQ201310430415
      【公開日】2014年1月22日 申請(qǐng)日期:2013年9月18日 優(yōu)先權(quán)日:2013年9月18日
      【發(fā)明者】涂興華, 李軍博, 徐寧, 錢晨, 馬正北, 張莉 申請(qǐng)人:南京郵電大學(xué)
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