一種磁控形狀記憶合金性能的測試裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及一種磁控形狀記憶合金性能的測試裝置。其技術(shù)方案是：底座(8)前后對稱固定的前支撐架(9)和后支撐架(21)上設(shè)置有鐵芯(14)，鐵芯(14)前部的上平面設(shè)置有連接板(17)，連接板(17)的上平面固定有加載架(2)。鐵芯(14)的左側(cè)纏繞有左線圈(6)，鐵芯(14)的右側(cè)纏繞有右線圈(15)。調(diào)節(jié)手柄(1)的下端旋出加載架(2)上部的中心螺孔，在上頂桿(18)的環(huán)狀凸臺和調(diào)節(jié)手柄(1)的彈簧擋片(3)間裝有彈簧(19)。底座(8)裝有力傳感器(10)，力傳感器(10)上裝有下頂桿(11)，下頂桿(11)與上頂桿(18)間裝有磁控形狀記憶合金(13)。連接板(17)的中心孔一側(cè)裝有位移傳感器(4)，鐵芯間隙的側(cè)面固定有霍爾傳感器(12)。本裝置具有結(jié)構(gòu)簡單緊湊和測量精度高的特點。
【專利說明】一種磁控形狀記憶合金性能的測試裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明屬于磁控記憶合金【技術(shù)領(lǐng)域】。具體涉及一種磁控形狀記憶合金性能的測試
>J-U ρ?α裝直。
【背景技術(shù)】
[0002]磁控形狀記憶合金材料(MSMA)具有變化速度快、可控位移大和具有記憶功能等特點。相關(guān)資料顯示，MSMA材料在磁場中的應變能夠達到10%以上，這是其他高頻材料執(zhí)行器材料的100倍以上，這種材料能夠在不同的方向發(fā)生形變，可以沿著軸向發(fā)生形變，可以沿著軸向產(chǎn)生扭曲變形，可以沿著徑向發(fā)生彎曲變形，其高性能受到不少學者的青睞。
[0003]目前，磁控形狀記憶合金材料(MSMA)的研究主要是如何建立磁控形狀記憶合金的磁滯非線性模型，通過建立的模型設(shè)計驅(qū)動器。要建立磁控記憶合金的磁滯非線性模型有時需要大量的實驗數(shù)據(jù)，來確定模型參數(shù)。由于對實驗數(shù)據(jù)的質(zhì)量要求比較高，對測試磁控形狀記憶合金的裝置提出更高的要求。但目前尚無這樣具有滿足精度要求的測試磁控形狀記憶合金性能的裝置。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明的目的是提供一種結(jié)構(gòu)簡單緊湊和測試精度高的磁控形狀記憶合金性能的測試裝置。
[0005]為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用的技術(shù)方案是:所述裝置的底座前后對稱地固定有前支撐架和后支撐架，前支撐架和后支撐架上設(shè)置有鐵芯，鐵芯前部的上平面設(shè)置有連接板。前左夾板和前右夾板的上端對應地壓在連接板左端和右端，前左夾板和前右夾板的下端對應地固定在如支撐架的左端和右端；后左夾板和后右夾板的上端對應地壓在鐵芯的后左角和后右角的上平面，后左夾板和后右夾板的下端對應地固定在后支撐架的左端和右端。連接板的上平面固定有加載架；鐵芯的左側(cè)纏繞有左線圈，鐵芯的右側(cè)纏繞有右線圈。
[0006]加載架的上部中心位置處設(shè)有螺孔，調(diào)節(jié)手柄的下端旋出螺孔，靠近調(diào)節(jié)手柄的下端處裝有彈簧擋片，連接板的中心孔活動地裝有上頂桿，上頂桿的上部設(shè)有環(huán)狀凸臺，在上頂桿的環(huán)狀凸臺和調(diào)節(jié)手柄的彈簧擋片間裝有彈簧。底座裝有力傳感器，力傳感器上裝有下頂桿，下頂桿的上端穿出前支撐架的中心孔，下頂桿與上頂桿間裝有磁控形狀記憶合金。力傳感器、下頂桿、磁控形狀記憶合金、上頂桿和調(diào)節(jié)手柄的中心線位于同一鉛垂線。
[0007]連接板的中心孔孔口旁裝有位移傳感器，在鐵芯間隙的左側(cè)面或右側(cè)面的中間位置處固定有霍爾傳感器。在底座上固定有隔磁罩，本裝置除底座外的其余零部件均位于隔磁罩內(nèi)，加載架的上部穿出隔磁罩。
[0008]所述隔磁罩的材質(zhì)為隔磁材料；底座、前支撐架、后支撐架、下頂桿、前左夾板、前右夾板、后左夾板、后右夾板、連接板、上頂桿和加載架的材質(zhì)為非導磁材料。
[0009]所述的前左夾板、前右夾板、后左夾板和后右夾板的形狀相同，上端為倒“L”型，下端為“L”型。[0010]由于采用所述技術(shù)方案，本發(fā)明具有如下積極效果:
本發(fā)明通過左線圈給磁控形狀記憶合金施加一定的預加磁場，以便在與右線圈所產(chǎn)生的磁場疊加后能夠產(chǎn)生較好的應變，通過調(diào)節(jié)手柄給磁控形狀記憶合金施加載荷力，通過力傳感器測量力的大?。煌ㄟ^霍爾傳感器測量穿過磁控記憶合金的磁場大??；通過位移傳感器測量上頂桿的位移，從而獲得磁控記憶合金在磁場作用下的伸長量；故本裝置能夠同時測量磁場、位移和力的大小。
[0011]本發(fā)明通過調(diào)節(jié)手柄調(diào)節(jié)加載力的大小，調(diào)節(jié)方便；在給磁控形狀記憶合金施加磁場后，霍爾傳感器位于磁場中部，能夠準確測量通過磁場的大?。晃灰苽鞲衅髂軌蚓_測得磁控記憶合金的微小位移，隔磁罩防止外界磁場干擾，因此測量精度高，從而在分析磁場、位移和力的二者之間的關(guān)系時更加精確。如左夾板和如右夾板使得連接板和鐵芯如端牢牢固定，后左夾板和后右夾板使得鐵芯后端牢牢固定，結(jié)構(gòu)緊湊，同時避免了線圈通電后引起的震動。
[0012]因此，本裝置具有結(jié)構(gòu)簡單緊湊和測試測量精度高的特點。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0013]圖1為本發(fā)明的一種結(jié)構(gòu)示意圖；
圖2是圖1的A-A向結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實施方式】
[0014]下面結(jié)合圖和具體 實施方式對本發(fā)明做進一步的描述，并非對其保護范圍的限制。
[0015]實施例1
一種磁控形狀記憶合金性能的測試裝置。所述裝置如圖1和圖2所示，底座8的前后對稱地固定有前支撐架9和后支撐架21，前支撐架9和后支撐架21上設(shè)置有鐵芯14，鐵芯14前部的上平面設(shè)置有連接板17。前左夾板5和前右夾板16的上端對應地壓在連接板17左端和右端，前左夾板5和前右夾板16的下端對應地固定在前支撐架9的左端和右端；后左夾板22和后右夾板20的上端對應地壓在鐵芯14的后左角和后右角的上平面，后左夾板22和后右夾板20的下端對應地固定在后支撐架21的左端和右端。連接板17的上平面固定有加載架2 ;鐵芯14的左側(cè)纏繞有左線圈6，鐵芯14的右側(cè)纏繞有右線圈15。
[0016]加載架2的上部中心位置處設(shè)有螺孔，調(diào)節(jié)手柄I的下端旋出螺孔，靠近調(diào)節(jié)手柄I的下端處裝有彈簧擋片3，連接板17的中心孔活動地裝有上頂桿18，上頂桿18的上部設(shè)有環(huán)狀凸臺，在上頂桿18的環(huán)狀凸臺和調(diào)節(jié)手柄I的彈簧擋片3間裝有彈簧19。底座8裝有力傳感器10，力傳感器10上裝有下頂桿11，下頂桿11的上端穿出前支撐架9的中心孔，下頂桿11與上頂桿18間裝有磁控形狀記憶合金13。力傳感器10、下頂桿11、磁控形狀記憶合金13、上頂桿18和調(diào)節(jié)手柄I的中心線位于同一鉛垂線。
[0017]連接板17的中心孔一側(cè)裝有位移傳感器4，在鐵芯間隙的左側(cè)面或右側(cè)面的中間位置處固定有霍爾傳感器12。在底座8上固定有隔磁罩7，本裝置除底座8外的其余零部件均位于隔磁罩7內(nèi)，加載架2的上部穿出隔磁罩7。
[0018]所述隔磁罩7的材質(zhì)為隔磁材料；底座8、前支撐架9、后支撐架21、下頂桿11、前左夾板5、前右夾板16、后左夾板22、后右夾板20、連接板17、上頂桿18和加載架2的材質(zhì)為非導磁材料。
[0019]所述的前左夾板5、前右夾板16、后左夾板22和后右夾板20的形狀相同，上端為倒“L”型，下端為“L”型。
[0020]本【具體實施方式】具有如下積極效果:
本【具體實施方式】通過左線圈6給磁控形狀記憶合金13施加一定的預加磁場，以便在與右線圈15所產(chǎn)生的磁場疊加后能夠產(chǎn)生較好的應變，通過調(diào)節(jié)手柄I給磁控形狀記憶合金13施加載荷力，通過力傳感器10測量力的大??；通過霍爾傳感器12測量穿過磁控記憶合金13的磁場大??；通過位移傳感器4測量上頂桿18的位移，從而獲得磁控記憶合金13在磁場作用下的伸長量；故本裝置能夠同時測量磁場、位移、力的大小。
[0021]本【具體實施方式】通過調(diào)節(jié)手柄I調(diào)節(jié)加載力的大小，調(diào)節(jié)方便；在給磁控形狀記憶合金13施加磁場后，霍爾傳感器12位于磁場中部，能夠準確測量通過磁場的大?。晃灰苽鞲衅髂軌蚓_測得磁控記憶合金13的微小位移，隔磁罩7防止外界磁場干擾，因此測量精度聞，從而在分析磁場、位移和力的二者之間的關(guān)系時更加精確。如左夾板5和如右夾板16使得連接板17和鐵芯14前端牢牢固定，后左夾板22和后右夾板20使得鐵芯14后端牢牢固定，結(jié)構(gòu)緊湊，同時避免了線圈通電后引起的震動。
[0022]因此，本裝置具有結(jié)構(gòu)簡單緊湊和測試測量精度高的特點。
【權(quán)利要求】
1.一種磁控形狀記憶合金性能的測試裝置，其特征在于在所述裝置的底座⑶前后對稱地固定有前支撐架(9)和后支撐架(21)，前支撐架(9)和后支撐架(21)上設(shè)置有鐵芯(14)，鐵芯(14)前部的上平面設(shè)置有連接板(17);前左夾板(5)和前右夾板(16)的上端對應地壓在連接板(17)左端和右端，前左夾板(5)和前右夾板(16)的下端對應地固定在ill支撐架(9)的左端和右端；后左夾板(22)和后右夾板(20)的上端對應地壓在鐵芯(14)的后左角和后右角的上平面，后左夾板(22)和后右夾板(20)的下端對應地固定在后支撐架(21)的左端和右端；連接板(17)的上平面固定有加載架(2);鐵芯(14)的左側(cè)纏繞有左線圈(6)，鐵芯(14)的右側(cè)纏繞有右線圈(15)； 加載架(2)的上部中心位置處設(shè)有螺孔，調(diào)節(jié)手柄(I)的下端旋出螺孔，靠近調(diào)節(jié)手柄(I)的下端處裝有彈簧擋片(3)，連接板(17)的中心孔活動地裝有上頂桿(18)，上頂桿(18)的上部設(shè)有環(huán)狀凸臺，在上頂桿(18)的環(huán)狀凸臺和調(diào)節(jié)手柄(I)的彈簧擋片(3)間裝有彈簧(19);底座⑶裝有力傳感器(10)，力傳感器(10)上裝有下頂桿(11)，下頂桿(11)的上端穿出前支撐架(9)的中心孔，下頂桿(11)與上頂桿(18)間裝有磁控形狀記憶合金(13);力傳感器(10)、下頂桿(11)、磁控形狀記憶合金(13)、上頂桿(18)和調(diào)節(jié)手柄(I)的中心線位于同一鉛垂線； 連接板(17)的中心孔孔口旁裝有位移傳感器(4)，在鐵芯間隙的左側(cè)面或右側(cè)面的中間位置處固定有霍爾傳感器(12);在底座(8)上固定有隔磁罩(7)，本裝置除底座(8)外的其余零部件均位于隔磁罩(7)內(nèi)，加載架(2)的上部穿出隔磁罩(7)。
2.根據(jù)權(quán)利I所述的磁控形狀記憶合金性能的測試裝置，其特征在于所述隔磁罩(7)的材質(zhì)為隔磁材料；底座(8)、前支撐架(9)、后支撐架(21)、下頂桿(11)、前左夾板(5)、前右夾板(16)、后左夾板(22)、后右夾板(20)、連接板(17)、上頂桿(18)和加載架(2)的材質(zhì)為非導磁材料。
3.根據(jù)權(quán)利I或2所述的磁控形狀記憶合金性能的測試裝置，其特征在于所述的前左夾板(5)、前右夾板(16)、后左夾板(22)和后右夾板(20)的形狀相同，上端為倒“L”型，下端為“L”型。
【文檔編號】G01D21/02GK103557887SQ201310528270
【公開日】2014年2月5日 申請日期:2013年10月31日 優(yōu)先權(quán)日:2013年10月31日
【發(fā)明者】涂福泉, 李賀, 劉小雙, 陳奎生, 曾良才, 傅連東, 許仁波, 歐陽惠, 周浩, 王琦琳 申請人:武漢科技大學