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      一種霍爾開(kāi)關(guān)測(cè)試設(shè)備的制作方法

      文檔序號(hào):6185725閱讀:302來(lái)源:國(guó)知局
      一種霍爾開(kāi)關(guān)測(cè)試設(shè)備的制作方法
      【專(zhuān)利摘要】本發(fā)明公開(kāi)了一種霍爾開(kāi)關(guān)測(cè)試設(shè)備,包括用于連接在待測(cè)霍爾開(kāi)關(guān)輸出引腳上的測(cè)試顯示電路以及用于對(duì)待測(cè)霍爾開(kāi)關(guān)感應(yīng)測(cè)試的測(cè)試電路,測(cè)試電路包括電磁鐵及電磁鐵線圈的兩出線端之間連接的測(cè)試電源,電磁鐵與測(cè)試電源之間設(shè)有一個(gè)用于切換測(cè)試電路電流流向的切換開(kāi)關(guān)。該測(cè)試設(shè)備可對(duì)未知類(lèi)型的霍爾開(kāi)關(guān)進(jìn)行類(lèi)型判斷,看其是否為單極性霍爾開(kāi)關(guān)或全極性霍爾開(kāi)關(guān),也能對(duì)已知類(lèi)型的單極性霍爾開(kāi)關(guān)或全極性霍爾開(kāi)關(guān)進(jìn)行功能檢測(cè),操作簡(jiǎn)單準(zhǔn)確,檢測(cè)快速、高效,在開(kāi)關(guān)的扳動(dòng)過(guò)程中,通過(guò)測(cè)試顯示電路的狀態(tài)即可對(duì)霍爾開(kāi)關(guān)進(jìn)行檢測(cè)和判斷,結(jié)果判斷直觀、準(zhǔn)確率高。
      【專(zhuān)利說(shuō)明】一種霍爾開(kāi)關(guān)測(cè)試設(shè)備

      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本發(fā)明屬于電子檢測(cè)裝置【技術(shù)領(lǐng)域】,涉及一種霍爾開(kāi)關(guān)測(cè)試設(shè)備。

      【背景技術(shù)】
      [0002]霍爾開(kāi)關(guān)是一種有源磁電轉(zhuǎn)換器件,它是在霍爾效應(yīng)的基礎(chǔ)上,利用集成封裝和組裝工藝制作而成,它可以方便地把磁輸入信號(hào)轉(zhuǎn)換成實(shí)際應(yīng)用中的電信號(hào),同時(shí)又具備工業(yè)場(chǎng)合實(shí)際應(yīng)用易操作和可靠性高的要求?;魻栭_(kāi)關(guān)能夠感應(yīng)磁通量的變化,當(dāng)磁通量達(dá)到一定量值時(shí),霍爾開(kāi)關(guān)導(dǎo)通,輸出低電平,當(dāng)磁通量低于某閾值時(shí),霍爾開(kāi)關(guān)關(guān)斷,輸出高阻態(tài)?;魻栭_(kāi)關(guān)可分為單極性霍爾開(kāi)關(guān)(數(shù)字輸出)、雙極性霍爾開(kāi)關(guān)(數(shù)字輸出)、全極性霍爾開(kāi)關(guān)(數(shù)字輸出)、線性霍爾開(kāi)關(guān)(模擬輸出)和微功耗型霍爾開(kāi)關(guān)等。傳統(tǒng)的霍爾開(kāi)關(guān)檢測(cè)操作麻煩,誤差大,檢測(cè)效率低。


      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0003]本發(fā)明的目的是提供一種霍爾開(kāi)關(guān)測(cè)試設(shè)備,以解決傳統(tǒng)的測(cè)試方法測(cè)試霍爾開(kāi)關(guān)操作麻煩,誤差大,檢測(cè)效率低的問(wèn)題。
      [0004]為了實(shí)現(xiàn)以上目的,本發(fā)明所采用的技術(shù)方案是:一種霍爾開(kāi)關(guān)測(cè)試設(shè)備,包括用于連接在待測(cè)霍爾開(kāi)關(guān)輸出引腳上的測(cè)試顯示電路以及用于對(duì)待測(cè)霍爾開(kāi)關(guān)感應(yīng)測(cè)試的測(cè)試電路,所述測(cè)試電路包括電磁鐵及電磁鐵線圈的兩出線端之間連接的測(cè)試電源,所述電磁鐵與測(cè)試電源之間設(shè)有一個(gè)用于切換測(cè)試電路電流流向的切換開(kāi)關(guān)。
      [0005]該測(cè)試設(shè)備還包括用于連接在待測(cè)霍爾開(kāi)關(guān)供電引腳與接地引腳之間的供電電路。
      [0006]所述切換開(kāi)關(guān)為一個(gè)雙刀雙擲開(kāi)關(guān)。
      [0007]所述測(cè)試電路上還串接有一個(gè)電位計(jì)。
      [0008]所述供電電路上串接有一個(gè)供電電源和一個(gè)供電開(kāi)關(guān)。
      [0009]所述供電電路上還串接有一個(gè)保險(xiǎn)器。
      [0010]所述測(cè)試顯示電路上串接有一個(gè)測(cè)試指示燈。
      [0011 ] 所述測(cè)試顯示電路由供電電路供電。
      [0012]所述測(cè)試顯示電路上還串接有一個(gè)電阻器。
      [0013]該測(cè)試設(shè)備還包括分別用于與待測(cè)霍爾開(kāi)關(guān)的供電引腳、接地引腳、輸出引腳對(duì)應(yīng)連接的三個(gè)測(cè)試用接線柱。
      [0014]本發(fā)明的霍爾開(kāi)關(guān)測(cè)試設(shè)備包括用于連接在待測(cè)霍爾開(kāi)關(guān)供電引腳與接地引腳之間的供電電路、用于連接在待測(cè)霍爾開(kāi)關(guān)輸出引腳上的測(cè)試顯示電路以及用于對(duì)待測(cè)霍爾開(kāi)關(guān)感應(yīng)測(cè)試的測(cè)試電路,利用測(cè)試電路可對(duì)未知類(lèi)型的霍爾開(kāi)關(guān)進(jìn)行類(lèi)型判斷,看其是否為單極性霍爾開(kāi)關(guān)或全極性霍爾開(kāi)關(guān),也能對(duì)已知類(lèi)型的單極性霍爾開(kāi)關(guān)或全極性霍爾開(kāi)關(guān)進(jìn)行功能檢測(cè),操作簡(jiǎn)單準(zhǔn)確,檢測(cè)快速、高效,在開(kāi)關(guān)的扳動(dòng)過(guò)程中,通過(guò)測(cè)試顯示電路的狀態(tài)即可對(duì)霍爾開(kāi)關(guān)進(jìn)行檢測(cè)和判斷,結(jié)果判斷直觀、準(zhǔn)確率高,可以兼容不同型號(hào)、不同類(lèi)型的霍爾開(kāi)關(guān)測(cè)試設(shè)備。

      【專(zhuān)利附圖】

      【附圖說(shuō)明】
      [0015]圖1為本發(fā)明霍爾開(kāi)關(guān)測(cè)試設(shè)備的結(jié)構(gòu)原理圖。

      【具體實(shí)施方式】
      [0016]下面結(jié)合附圖及具體的實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步介紹。
      [0017]如圖1所示為本發(fā)明霍爾開(kāi)關(guān)測(cè)試設(shè)備實(shí)施例的結(jié)構(gòu)原理圖,由圖可知,該測(cè)試設(shè)備包括用于連接在待測(cè)霍爾開(kāi)關(guān)輸出引腳上的測(cè)試顯示電路以及用于對(duì)待測(cè)霍爾開(kāi)關(guān)感應(yīng)測(cè)試的測(cè)試電路,測(cè)試電路包括電磁鐵LI及電磁鐵線圈的兩出線端之間連接的測(cè)試電源P2,電磁鐵LI與測(cè)試電源P2之間設(shè)有一個(gè)用于切換測(cè)試電路電流流向的切換開(kāi)關(guān)K2。
      [0018]為便于連接,該測(cè)試設(shè)備還設(shè)有分別用于與待測(cè)霍爾開(kāi)關(guān)的供電引腳、接地引腳、輸出引腳對(duì)應(yīng)連接的三個(gè)測(cè)試用接線柱,在測(cè)試時(shí),需將被測(cè)霍爾開(kāi)關(guān)的三個(gè)引腳分別接到三個(gè)測(cè)試用接線柱上,供電引腳接到VCC接線柱上,接地引腳接到GND接線柱上,輸出引腳接到OUT接線柱上。
      [0019]本實(shí)施例的切換開(kāi)關(guān)K2采用一個(gè)雙刀雙擲開(kāi)關(guān),該雙刀雙擲開(kāi)關(guān)的A、B觸點(diǎn)分別接電磁鐵線圈的兩個(gè)出線端I和2,A1和B2觸點(diǎn)接測(cè)試電源P2的正極,A2和BI觸點(diǎn)接測(cè)試電源P2的負(fù)極。
      [0020]另外,為便于調(diào)整測(cè)試電路的電壓,在測(cè)試電路上串接一個(gè)電位計(jì)RP1,RP1的2腳和I腳接電磁鐵線圈的出線端1,RPl的3腳接K2的A觸點(diǎn)。
      [0021]本實(shí)施例還包括用于連接在待測(cè)霍爾開(kāi)關(guān)供電引腳與接地引腳之間的供電電路,采用供電電源Pl (5V)進(jìn)行供電,該供電電路上還串接有供電開(kāi)關(guān)Kl和保險(xiǎn)器FUl,Kl采用單刀雙擲開(kāi)關(guān),Kl的A2觸點(diǎn)接保險(xiǎn)器FUl的2腳,Kl的Al觸點(diǎn)懸空,F(xiàn)Ul的I腳接供電電源Pl的正極,Pl的負(fù)極與GND接線柱連接。當(dāng)然Kl也可以采用其他開(kāi)關(guān),例如單刀單擲開(kāi)關(guān),只要滿足使用要求即可。
      [0022]本實(shí)施例的測(cè)試顯示電路采用測(cè)試指示燈Vl (綠色LED燈)進(jìn)行顯示,該電路上還串接有電阻器Rl (300歐姆)。該測(cè)試顯示電路由供電電路進(jìn)行供電,將Kl的A2觸點(diǎn)同時(shí)連接測(cè)試指示燈Vl的正極,其負(fù)極與電阻器Rl的2腳連接,Rl的I腳連接OUT接線柱。
      [0023]本發(fā)明既可對(duì)未知類(lèi)型的霍爾開(kāi)關(guān)進(jìn)行類(lèi)型判斷,看其是否為單極性霍爾開(kāi)關(guān)或全極性霍爾開(kāi)關(guān),也能對(duì)已知類(lèi)型的單極性霍爾開(kāi)關(guān)或全極性霍爾開(kāi)關(guān)進(jìn)行功能檢測(cè),判斷其是否正常,現(xiàn)分別對(duì)各種判別過(guò)程進(jìn)行說(shuō)明。
      [0024]如果待檢測(cè)的霍爾開(kāi)關(guān)未知其類(lèi)型,按下述步驟進(jìn)行檢測(cè):
      [0025]1、將待測(cè)霍爾開(kāi)關(guān)固定到靠近電磁鐵的指定位置,以使霍爾開(kāi)關(guān)能夠充分感應(yīng)到電磁鐵的磁場(chǎng)。
      [0026]2、Kl打到A2觸點(diǎn),使Pl導(dǎo)通。
      [0027]3、扳動(dòng)K2,分別打到第一組和第二組動(dòng)觸點(diǎn)接通狀態(tài),使電磁鐵的磁極轉(zhuǎn)換,觀察測(cè)試指示燈Vl的狀態(tài)。如果K2打到第一組動(dòng)觸點(diǎn)接通狀態(tài),Vl點(diǎn)亮,K2打到第二組動(dòng)觸點(diǎn)接通狀態(tài)時(shí),Vl未點(diǎn)亮,則表明該霍爾開(kāi)關(guān)是單極性霍爾開(kāi)關(guān),感應(yīng)極為N級(jí);如果K2打到第一組動(dòng)觸點(diǎn)接通狀態(tài),Vl未點(diǎn)亮,K2打到第二組動(dòng)觸點(diǎn)接通狀態(tài),Vl點(diǎn)亮,則表明該霍爾開(kāi)關(guān)是單極性霍爾開(kāi)關(guān),感應(yīng)極為S級(jí);如果K2分別打到第一組和第二組動(dòng)觸點(diǎn)接通狀態(tài)時(shí),Vl均點(diǎn)亮,則表明該霍爾開(kāi)關(guān)是全極性霍爾開(kāi)關(guān);如果K2分別打到第一組和第二組動(dòng)觸點(diǎn)接通狀態(tài),Vl均未點(diǎn)亮,則表明該霍爾開(kāi)關(guān)損壞或者該霍爾開(kāi)關(guān)既不是單極性霍爾開(kāi)關(guān),也不是全極性霍爾開(kāi)關(guān)。
      [0028]4、測(cè)試完畢,將Kl打到Al觸點(diǎn)以關(guān)閉供電電源P1,再將被測(cè)霍爾開(kāi)關(guān)器件與接線柱脫開(kāi)連接即可。
      [0029]如果已知待檢測(cè)的霍爾開(kāi)關(guān)屬單極性霍爾開(kāi)關(guān),按下述步驟進(jìn)行檢測(cè):
      [0030]1、將霍爾開(kāi)關(guān)固定到靠近電磁鐵的指定位置,以使霍爾開(kāi)關(guān)能夠充分感應(yīng)到電磁鐵的磁場(chǎng)。
      [0031]2、K1打到A2觸點(diǎn),使Pl導(dǎo)通。
      [0032]3、扳動(dòng)Κ2,分別打到第一組和第二組動(dòng)觸點(diǎn)接通狀態(tài),使電磁鐵的磁極轉(zhuǎn)換,觀察測(cè)試指示燈Vl的狀態(tài)。如果Κ2在扳動(dòng)過(guò)程中,Vl由點(diǎn)亮狀態(tài)變?yōu)槲袋c(diǎn)亮狀態(tài)或者由未點(diǎn)亮狀態(tài)變?yōu)辄c(diǎn)亮狀態(tài),則表明該單極性霍爾開(kāi)關(guān)工作正常;如果Κ2在扳動(dòng)過(guò)程中,Vl的狀態(tài)未發(fā)生變化,則表明該單極性霍爾開(kāi)關(guān)已損壞。
      [0033]4、測(cè)試完畢,將Kl打到Al觸點(diǎn)以關(guān)閉供電電源Ρ1,再將被測(cè)霍爾開(kāi)關(guān)器件與接線柱脫開(kāi)連接即可。
      [0034]如果已知待檢測(cè)的霍爾開(kāi)關(guān)屬全極性霍爾開(kāi)關(guān),按下述步驟進(jìn)行檢測(cè):
      [0035]1、將霍爾開(kāi)關(guān)固定到靠近電磁鐵的指定位置,以使霍爾開(kāi)關(guān)能夠充分感應(yīng)到電磁鐵的磁場(chǎng)。
      [0036]2、Kl打到Α2觸點(diǎn),使Pl導(dǎo)通。
      [0037]3、扳動(dòng)Κ2,分別打到第一組和第二組動(dòng)觸點(diǎn)接通狀態(tài),使電磁鐵的磁極轉(zhuǎn)換,觀察測(cè)試指示燈Vl的狀態(tài)。如果Κ2在扳動(dòng)過(guò)程中,Vl均處于點(diǎn)亮狀態(tài),則表明該全極性霍爾開(kāi)關(guān)工作正常;如果Κ2在扳動(dòng)過(guò)程中,Vl —直處于未點(diǎn)亮狀態(tài),則表明該全極性霍爾開(kāi)關(guān)已損壞。
      [0038]4、測(cè)試完畢,將Kl打到Al觸點(diǎn)以關(guān)閉供電電源Ρ1,再將被測(cè)霍爾開(kāi)關(guān)器件與接線柱脫開(kāi)連接即可。
      【權(quán)利要求】
      1.一種霍爾開(kāi)關(guān)測(cè)試設(shè)備,其特征在于:包括用于連接在待測(cè)霍爾開(kāi)關(guān)輸出引腳上的測(cè)試顯示電路以及用于對(duì)待測(cè)霍爾開(kāi)關(guān)感應(yīng)測(cè)試的測(cè)試電路,所述測(cè)試電路包括電磁鐵及電磁鐵線圈的兩出線端之間連接的測(cè)試電源,所述電磁鐵與測(cè)試電源之間設(shè)有一個(gè)用于切換測(cè)試電路電流流向的切換開(kāi)關(guān)。
      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的霍爾開(kāi)關(guān)測(cè)試設(shè)備,其特征在于:該測(cè)試設(shè)備還包括用于連接在待測(cè)霍爾開(kāi)關(guān)供電引腳與接地引腳之間的供電電路。
      3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的霍爾開(kāi)關(guān)測(cè)試設(shè)備,其特征在于:所述切換開(kāi)關(guān)為一個(gè)雙刀雙擲開(kāi)關(guān)。
      4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的霍爾開(kāi)關(guān)測(cè)試設(shè)備,其特征在于:所述測(cè)試電路上還串接有一個(gè)電位計(jì)。
      5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的霍爾開(kāi)關(guān)測(cè)試設(shè)備,其特征在于:所述供電電路上串接有一個(gè)供電電源和一個(gè)供電開(kāi)關(guān)。
      6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的霍爾開(kāi)關(guān)測(cè)試設(shè)備,其特征在于:所述供電電路上還串接有一個(gè)保險(xiǎn)器。
      7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的霍爾開(kāi)關(guān)測(cè)試設(shè)備,其特征在于:所述測(cè)試顯示電路上串接有一個(gè)測(cè)試指示燈。
      8.根據(jù)權(quán)利要求2所述的霍爾開(kāi)關(guān)測(cè)試設(shè)備,其特征在于:所述測(cè)試顯示電路由供電電路供電。
      9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的霍爾開(kāi)關(guān)測(cè)試設(shè)備,其特征在于:所述測(cè)試顯示電路上還串接有一個(gè)電阻器。
      10.根據(jù)權(quán)利要求2?9任意一項(xiàng)所述的霍爾開(kāi)關(guān)測(cè)試設(shè)備,其特征在于:該測(cè)試設(shè)備還包括分別用于與待測(cè)霍爾開(kāi)關(guān)的供電引腳、接地引腳、輸出引腳對(duì)應(yīng)連接的三個(gè)測(cè)試用接線柱。
      【文檔編號(hào)】G01R31/327GK104297674SQ201310626058
      【公開(kāi)日】2015年1月21日 申請(qǐng)日期:2013年11月28日 優(yōu)先權(quán)日:2013年11月28日
      【發(fā)明者】喻波, 韋雙, 邵林林, 劉站平 申請(qǐng)人:中國(guó)航空工業(yè)集團(tuán)公司洛陽(yáng)電光設(shè)備研究所
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