一種防差錯(cuò)通用型電路板測(cè)試適配器的制造方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種防差錯(cuò)通用型電路板測(cè)試適配器，包含機(jī)箱、設(shè)置在機(jī)箱側(cè)面的前面板，前面板集成有測(cè)試接口及若干個(gè)測(cè)試插座，測(cè)試接口通過測(cè)試電纜與外部的測(cè)試器相連；該適配器還包含：若干個(gè)設(shè)置在機(jī)箱內(nèi)的子適配器，其與若干個(gè)測(cè)試插座一一對(duì)應(yīng)；若干個(gè)適配器識(shí)別電阻，其兩端分別連接在測(cè)試接口與子適配器之間；若干個(gè)測(cè)試電纜識(shí)別電阻，其兩端分別連接在測(cè)試電纜與測(cè)試接口之間。本發(fā)明可以大幅減少自動(dòng)轉(zhuǎn)換開關(guān)電器的適配器數(shù)目，縮小系統(tǒng)規(guī)模，節(jié)約研制成本，同時(shí)防差錯(cuò)工藝可以從技術(shù)上消除產(chǎn)生人為差錯(cuò)的可能性。
【專利說明】一種防差錯(cuò)通用型電路板測(cè)試適配器
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及自動(dòng)適配領(lǐng)域，特別涉及一種防差錯(cuò)通用型電路板測(cè)試適配器。
【背景技術(shù)】
[0002]測(cè)試適配器是指通過測(cè)試電纜在機(jī)載電子設(shè)備和綜合自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的陣列接口之間提供電子、電氣和機(jī)械兼容的裝置，是綜合自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的重要組成部分，其功能主要是完成信號(hào)轉(zhuǎn)接、信號(hào)轉(zhuǎn)換、負(fù)載匹配、信號(hào)激勵(lì)等。
[0003]傳統(tǒng)測(cè)試系統(tǒng)通過不同的適配器實(shí)現(xiàn)對(duì)不同被測(cè)對(duì)象的測(cè)試，以往的設(shè)計(jì)通常是一個(gè)被測(cè)對(duì)象對(duì)應(yīng)一個(gè)測(cè)試適配器，從而導(dǎo)致一個(gè)測(cè)試系統(tǒng)由于被測(cè)對(duì)象數(shù)量眾多，需要設(shè)計(jì)大量的測(cè)試適配器與之對(duì)應(yīng)，由此帶來設(shè)計(jì)工作量增加、設(shè)計(jì)成本升高，連接復(fù)雜、安全性降低等一系列問題。
[0004]自動(dòng)轉(zhuǎn)換開關(guān)電器在使用和維護(hù)過程中都可能出現(xiàn)因人為疏忽而造成的誤操作，如插錯(cuò)接口測(cè)試適配器、測(cè)試電纜等，因此需要對(duì)測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行防差錯(cuò)技術(shù)研究，從技術(shù)上消除產(chǎn)生人為差錯(cuò)的可能性，保證測(cè)試系統(tǒng)的正常運(yùn)行。當(dāng)測(cè)試系統(tǒng)中存在外形和尺寸相同的接口適配器和測(cè)試電纜時(shí)，單純依靠上面的標(biāo)識(shí)和標(biāo)志并不能完全避免用戶接錯(cuò)電纜，如果測(cè)試時(shí)不能及時(shí)發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤，就可能帶來嚴(yán)重的后果，從而造成測(cè)試系統(tǒng)損壞，甚至危機(jī)到人身安全。
[0005]防差錯(cuò)通用型適配器技術(shù)在國(guó)內(nèi)尚屬空白。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]本發(fā)明的目的是提供一種防差錯(cuò)通用型電路板測(cè)試適配器，可以替代多個(gè)傳統(tǒng)適配器，同一個(gè)適配器通過更換不同的測(cè)試電纜可兼容測(cè)試不同的產(chǎn)品，可以大幅減少自動(dòng)轉(zhuǎn)換開關(guān)電器的適配器數(shù)目，縮小系統(tǒng)規(guī)模，節(jié)約研制成本，同時(shí)防差錯(cuò)工藝可以從技術(shù)上消除產(chǎn)生人為差錯(cuò)的可能性，保證測(cè)試系統(tǒng)的正常運(yùn)行，提高了系統(tǒng)的可靠性和可維修性。
[0007]為了實(shí)現(xiàn)以上目的，本發(fā)明是通過以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)的:
一種防差錯(cuò)通用型電路板測(cè)試適配器，包含機(jī)箱、設(shè)置在機(jī)箱側(cè)面的前面板，其特點(diǎn)是，所述的前面板集成有測(cè)試接口及若干個(gè)測(cè)試插座，
所述的測(cè)試接口通過測(cè)試電纜與外部的測(cè)試器相連；
該適配器還包含:
若干個(gè)設(shè)置在機(jī)箱內(nèi)的子適配器，其與若干個(gè)測(cè)試插座一一對(duì)應(yīng)；
若干個(gè)適配器識(shí)別電阻，其兩端分別連接在測(cè)試接口與子適配器之間；
若干個(gè)測(cè)試電纜識(shí)別電阻，其兩端分別連接在測(cè)試電纜與測(cè)試接口之間。
[0008]若干個(gè)所述的測(cè)試插座為20芯插座、40芯插座、中頻測(cè)試插座、程序電阻插座及50芯插座的任意組合。
[0009]若干個(gè)所述適配器識(shí)別電阻的阻值相互不同。
[0010]若干個(gè)所述測(cè)試電纜識(shí)別電阻的阻值相互不同。[0011]本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比，具有以下優(yōu)點(diǎn):
1、用通用適配器代替多個(gè)傳統(tǒng)適配器，使得自動(dòng)轉(zhuǎn)換開關(guān)電器所需的適配器數(shù)量大幅減少，縮小了系統(tǒng)規(guī)模，同時(shí)提高了系統(tǒng)的可靠性和可維修性。
[0012]2、適配器防差錯(cuò)技術(shù)通過建立識(shí)別電路規(guī)范，運(yùn)用自動(dòng)檢測(cè)技術(shù)可以防止人為疏忽而造成的誤操作，有效地提高了自動(dòng)轉(zhuǎn)換開關(guān)電器整體的可靠性。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0013]圖1為本發(fā)明一種防差錯(cuò)通用型電路板測(cè)試適配器的應(yīng)用結(jié)構(gòu)示意圖。
[0014]圖2為本發(fā)明一種防差錯(cuò)通用型電路板測(cè)試適配器的防差錯(cuò)識(shí)別流程圖。
【具體實(shí)施方式】
[0015]以下結(jié)合附圖，通過詳細(xì)說明一個(gè)較佳的具體實(shí)施例，對(duì)本發(fā)明做進(jìn)一步闡述。
[0016]如圖1所示，一種防差錯(cuò)通用型電路板測(cè)試適配器，包含機(jī)箱、設(shè)置在機(jī)箱側(cè)面的前面板1，所述的前面板I集成有測(cè)試接口 11及若干個(gè)測(cè)試插座12，所述的測(cè)試接口 11通過測(cè)試電纜3與外部的測(cè)試器4相連，該測(cè)試接口 11設(shè)有99管腳、100管腳和101管腳；該適配器還包含:若干個(gè)設(shè)置在機(jī)箱內(nèi)的子適配器，其與若干個(gè)測(cè)試插座一一對(duì)應(yīng)；若干個(gè)適配器識(shí)別電阻，其兩端分別連接在測(cè)試接口 11與子適配器之間，該適配器識(shí)別電阻一端連接在測(cè)試接口 11的99管腳或100管腳，該適配器識(shí)別電阻對(duì)應(yīng)唯一的子適配器；若干個(gè)測(cè)試電纜識(shí)別電阻，其兩端分別連接在測(cè)試電纜3與測(cè)試接口的101管腳之間，101管腳對(duì)應(yīng)與測(cè)試電纜空余插針的最后一腳，每個(gè)子適配器對(duì)應(yīng)使用的測(cè)試電纜3具有唯一的測(cè)試電纜識(shí)別電阻。
[0017]若干個(gè)所述的測(cè)試插座為20芯插座12、40芯插座13、中頻測(cè)試插座14、程序電阻插座15及50芯插座16的任意組合，考慮到50芯插座包含了絕大多數(shù)的測(cè)試資源，因此對(duì)于特殊接口的電路板，可以通過專用測(cè)試電纜連接50芯通用插座進(jìn)行轉(zhuǎn)接。
[0018]若干個(gè)所述適配器識(shí)別電阻的阻值相互不同。所述測(cè)試電纜識(shí)別電阻的阻值相互不同。
[0019]測(cè)試器4包含數(shù)字萬用表(DMM)及開關(guān)網(wǎng)絡(luò)，數(shù)字萬用表(DMM)負(fù)端測(cè)試時(shí)與適配器識(shí)別電阻或測(cè)試電纜識(shí)別電阻相連；開關(guān)網(wǎng)絡(luò)切換測(cè)量子適配器和測(cè)試電纜的識(shí)別管腳。
[0020]使用時(shí)，被測(cè)電路板與其中一個(gè)測(cè)試插座相接，測(cè)試電纜接入測(cè)試接口( 11 )，初始用來測(cè)試被測(cè)的板卡儀器，通過數(shù)字萬用表測(cè)量適配器識(shí)別電阻，若匹配不成功，板卡儀器發(fā)出警報(bào)，說明子適配器與測(cè)試電路板連接錯(cuò)誤，需要選用正確的測(cè)試插座；若匹配成功則跳轉(zhuǎn)到測(cè)量測(cè)試電纜匹配的步驟；通過數(shù)字萬用表測(cè)量測(cè)試電纜識(shí)別電阻，若匹配不成功，板卡儀器發(fā)出警報(bào)，說明測(cè)試電纜與子適配器連接錯(cuò)誤，需要選用正確的測(cè)試電纜；若匹配成功，則進(jìn)入后續(xù)電路板測(cè)試。
[0021]綜上所述，本發(fā)明一種防差錯(cuò)通用型電路板測(cè)試適配器，可以替代多個(gè)傳統(tǒng)適配器，同一個(gè)適配器通過更換不同的測(cè)試電纜可兼容測(cè)試不同的產(chǎn)品，可以大幅減少自動(dòng)轉(zhuǎn)換開關(guān)電器的適配器數(shù)目，縮小系統(tǒng)規(guī)模，節(jié)約研制成本，同時(shí)防差錯(cuò)工藝可以從技術(shù)上消除產(chǎn)生人為差錯(cuò)的可能性，保證測(cè)試系統(tǒng)的正常運(yùn)行，提高了系統(tǒng)的可靠性和可維修性。[0022]盡管本發(fā)明的內(nèi)容已經(jīng)通過上述優(yōu)選實(shí)施例作了詳細(xì)介紹，但應(yīng)當(dāng)認(rèn)識(shí)到上述的描述不應(yīng)被認(rèn)為是對(duì)本發(fā)明的限制。在本領(lǐng)域技術(shù)人員閱讀了上述內(nèi)容后，對(duì)于本發(fā)明的多種修改和替代都將是顯而易見的。因此，本發(fā)明的保護(hù)范圍應(yīng)由所附的權(quán)利要求來限定。
【權(quán)利要求】
1.一種防差錯(cuò)通用型電路板測(cè)試適配器，包含機(jī)箱、設(shè)置在機(jī)箱側(cè)面的前面板(1)，其特征在于，所述的前面板(I)集成有測(cè)試接口( 11)及若干個(gè)測(cè)試插座(12 )， 所述的測(cè)試接口( 11)通過測(cè)試電纜(3 )與外部的測(cè)試器(4 )相連； 該適配器還包含: 若干個(gè)設(shè)置在機(jī)箱內(nèi)的子適配器，其與若干個(gè)測(cè)試插座一一對(duì)應(yīng)； 若干個(gè)適配器識(shí)別電阻，其兩端分別連接在測(cè)試接口(11)與子適配器之間； 若干個(gè)測(cè)試電纜識(shí)別電阻，其兩端分別連接在測(cè)試電纜(3)與測(cè)試接口之間。
2.如權(quán)利要求1所述的防差錯(cuò)通用型電路板測(cè)試適配器，其特征在于，若干個(gè)所述的測(cè)試插座為20芯插座(12)、40芯插座(13)、中頻測(cè)試插座(14)、程序電阻插座(15)及50芯插座(16)的任意組合。
3.如權(quán)利要求1所述的防差錯(cuò)通用型電路板測(cè)試適配器，其特征在于，若干個(gè)所述適配器識(shí)別電阻的阻值相互不同。
4.如權(quán)利要求1所述的防差錯(cuò)通用型電路板測(cè)試適配器，其特征在于，若干個(gè)所述測(cè)試電纜識(shí)別電阻的阻值相互不同。
【文檔編號(hào)】G01R1/04GK103792398SQ201310661582
【公開日】2014年5月14日 申請(qǐng)日期:2013年12月9日 優(yōu)先權(quán)日:2013年12月9日
【發(fā)明者】王哲, 馮云, 龔明 申請(qǐng)人:上海無線電設(shè)備研究所