專利名稱：醫(yī)療設(shè)備pcba的測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型屬于自動化測試設(shè)備領(lǐng)域，尤其涉及一種醫(yī)療設(shè)備PCBA的測試裝置。
背景技術(shù)：
傳統(tǒng)的PCBA (Printed Circuit Board Assembly,印刷電路板組件)功能測試裝置及方法主要是利用常用的測試儀器(萬用表、信號發(fā)生器、示波器等)來進行，該測試方式具有一定的靈活性，但是需要在檢測過程中人工參與程度高，因而智能化程度低，測試可靠性不高，測試的效率低下，不適合快速生產(chǎn)測試的需要。通過通用計算機和必要的數(shù)據(jù)采集硬件的支持下，通過軟件來實原先傳統(tǒng)測試儀器的功能。傳統(tǒng)測試系統(tǒng)運用數(shù)據(jù)采集卡對整個信號采集過程進行邏輯控制、輸入輸出電壓控制。但是數(shù)據(jù)采集卡在運用過程中有控制端口少，輸出帶負(fù)載能力弱，控制方式單一等問題，作為一個測試系統(tǒng)，導(dǎo)致以下問題:第一，可測試覆蓋點少，不能滿足作為一個系統(tǒng)的測試要求；第二，測試手段單一，測試面窄，不能作為電壓電流輸出，同時對電壓電流進行測試。

實用新型內(nèi)容本實用新型實施例的目的在于提供一種醫(yī)療設(shè)備PCBA的測試裝置，旨在解決傳統(tǒng)的PCBA測試裝置可測試覆蓋點少，手段單一，不能滿足作為一個系統(tǒng)的測試要求的問題。本實用新型實施例是這樣實現(xiàn)的，一種醫(yī)療設(shè)備PCBA的測試裝置，包括:與待測PCBA各測試點相連，反饋測試信號的測試夾具；與所述測試夾具相連接，根據(jù)控制信號為所述測試夾具提供激勵源、控制所述測試夾具切換測試點以及對所述測試信號進行預(yù)處理的測試中控臺；通過屏蔽電纜 與所述測試中控臺連接，將所述控制信號輸出至所述測試中控臺以及將測試信號上傳的數(shù)據(jù)采集卡；以及與所述數(shù)據(jù)采集卡通過卡槽連接，發(fā)送所述控制信號以及接收并分析所述測試信號后輸出測試結(jié)果的上位機。進一步地，所述測試中控臺包括:與所述數(shù)據(jù)采集卡的I/O 口連接，用于擴展I/O 口的I/O 口擴展模塊；多個連接在所述I/O 口擴展模塊與所述測試夾具連接之間，控制所述測試夾具切換測試點的繼電器；與所述數(shù)據(jù)采集卡的模擬輸出口連接，調(diào)節(jié)激勵源大小的電壓電流激勵模塊；以及與所述數(shù)據(jù)采集卡的模擬輸入口連接，將測試信號轉(zhuǎn)換至所述數(shù)據(jù)采集卡的有效測試范圍的數(shù)據(jù)處理模塊。進一步地，所述I/O 口擴展模塊為譯碼器。進一步地，所述電壓電流激勵模塊包括線圈與所述數(shù)據(jù)采集卡的I/O 口連接的第一雙路繼電器、恒壓電路以及恒流電路，所述第一雙路繼電器選擇恒壓電路的恒壓激勵源或恒流電路的恒流激勵源輸出到所述測試夾具。進一步地，所述數(shù)據(jù)處理模塊包括第二雙路繼電器、第一繼電器以及第一運放，其中，所述第二雙路繼電器的第一常閉觸點經(jīng)一電阻Rl與所述測試夾具連接、第一常開觸點懸空，所述第二雙路繼電器的第二常開觸點經(jīng)一電阻R2與所述測試夾具連接并經(jīng)一電阻R3接地、第二常閉觸點懸空；所述第一運放的正相輸入端與所述第二雙路繼電器的兩個動觸點連接、所述第一運放的反相輸入端經(jīng)一電阻R4與其輸出端連接，并與所述第一繼電器的動觸點連接，所述第一繼電器的常閉觸點懸空、常開觸點經(jīng)一電阻R5接地，所述第一運放的輸出端作為所述數(shù)據(jù)處理模塊的輸出端與所述數(shù)據(jù)采集的模擬輸入口連接。進一步地，所述恒壓電路包括第二運放、第三運放、第三雙路繼電器、N型MOS管以及P型MOS管，其中，所述第二運放的正相輸入端經(jīng)一電阻R6與所述數(shù)據(jù)采集卡的模擬輸出口連接所述第二運放的輸出端經(jīng)一電阻R7與其反相輸入端連接，所述輸出端還經(jīng)過串聯(lián)連接的電阻R8、電阻R9以及電阻RlO與所述測試夾具連接；第三雙路繼電器的第一常閉觸點經(jīng)一電阻Rll與所述測試夾具連接、第一常開觸點懸空，第三雙路繼電器的第二常開觸點經(jīng)一電阻R12與所述測試夾具連接并經(jīng)一電阻R12接地，第三雙路繼電器的第二常閉觸點懸空；所述第三運放的正相輸入端與所述第三雙路繼電器的兩個動觸點連接、反相輸入端經(jīng)一電阻R14與其輸出端連接，所述第三運放的輸出端并與所述第一雙路繼電器的第一常閉觸點連接，所述第一雙 路繼電器的兩個動觸點與所述第二運放的反相輸入端連接；所述N型MOS管和P型MOS管的柵極均與所述電阻R9靠近所述第二運放的一端連接，所述N型MOS管和P型MOS管的源極均與所述R9的另一端連接，所述N型MOS管的漏極與一正直流電源連接，所述P型MOS管的漏極與一負(fù)直流電源連接。進一步地，所述恒流電路包括第四運放、第五運放以及第六運放，其中，所述第四運放的正相輸入端與所述電阻RlO靠近所述測試夾具的一端連接、反相輸入端經(jīng)一電阻R15與其輸出端連接，所述第四運放的反相輸入端還經(jīng)一電阻R16與所述第五運放的反相輸入端連接；所述第五運放的反相輸入端經(jīng)一電阻R17與其輸出端連接、正相輸入端與所述電阻RlO遠(yuǎn)離所述測試夾具的一端連接，所述第四運放的輸出端經(jīng)一電阻R18與所述第六運放的正相輸入端連接；所述第六運放的正相輸入端經(jīng)一電阻R19接地、反相輸入端經(jīng)一電阻R20與所述第四運放的輸出端連接，所述第六運放的反相輸入端還經(jīng)一電阻R21與其輸出端連接，所述第六運放的輸出端作為所述恒流電路的輸出端與所述第一雙路繼電器的第二常開觸點連接。進一步地，所述數(shù)據(jù)采集卡為PCI總線采集卡。進一步地，所述譯碼器為6-64譯碼器。進一步地，所述測試夾具裝配有測試接口和探針。[0031]上述醫(yī)療設(shè)備PCBA的測試裝置通過測試夾具與待測PCBA各測試點相連，上位機發(fā)送控制信號控制數(shù)據(jù)采集卡以及測試中控臺發(fā)出激勵源至測試夾具對待測PCBA進行測試，其后測試夾具將反饋測試信號到上位機進行顯示輸出測試結(jié)果，實現(xiàn)了可一次性覆蓋多個測試點，并實現(xiàn)自動化輸出全部測試結(jié)果的自動化測試過程，滿足了作為一個系統(tǒng)的測試要求。

圖1是本實用新型實施例提供的醫(yī)療設(shè)備PCBA的測試裝置的結(jié)構(gòu)框圖；圖2是本實用新型實施例提供的數(shù)據(jù)處理模塊的電路原理圖；圖3是本實用新型實施例提供的電壓電流激勵模塊的電路原理圖。
具體實施方式
為了使本實用新型要解決的技術(shù)問題、技術(shù)方案及有益效果更加清楚明白，
以下結(jié)合附圖及實施例，對本實用新型進行進一步詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本實用新型，并不用于限定本實用新型。如圖1所示，為一優(yōu)選實施例的醫(yī)療設(shè)備PCBA的測試裝置的結(jié)構(gòu)框圖，醫(yī)療設(shè)備PCBA的測試裝置包括上位機100、數(shù)據(jù)采集卡200、屏蔽電纜(圖未標(biāo))、測試中控臺300以及測試夾具400。測試夾具400與待測PCBA500各測試點相連，并反饋測試信號；測試中控臺300與所述測試夾具400相連接，根據(jù)控制信號為所述測試夾具400提供激勵源、控制所述測試夾具400切換測試點以及對所述測試信號進行預(yù)處理；數(shù)據(jù)采集卡200通過屏蔽電纜與所述測試中控臺300連接，將所述控制信號輸出至所述測試中控臺300以及將測試信號上傳；上位機100與所述數(shù)據(jù)采集卡200通過卡槽連接，發(fā)送所述控制信號以及接收并分析所述測試信號后輸出測試結(jié)果。·上述醫(yī)療設(shè)備PCBA的測試裝置通過測試夾具400與待測PCBA500各測試點相連，上位機100發(fā)送控制信號控制數(shù)據(jù)采集卡200以及測試中控臺300發(fā)出激勵源至測試夾具400對待測PCBA500進行測試，其后測試夾具400將反饋測試信號到上位機100進行顯示輸出測試結(jié)果，實現(xiàn)了可一次性覆蓋多個測試點，并實現(xiàn)自動化輸出全部測試結(jié)果的自動化測試過程，滿足了作為一個系統(tǒng)的測試要求。在優(yōu)選的實施例中，所述測試中控臺300包括I/O 口擴展模塊310、多個繼電器320、電壓電流激勵模塊330以及數(shù)據(jù)處理模塊340。I/O 口擴展模塊310與所述數(shù)據(jù)采集卡200的I/O 口連接，用于擴展I/O 口的，優(yōu)選地，I/o 口擴展模塊310為譯碼器，可以使用ALTERA (阿爾特拉)公司的FPGA (Field
Programmable Gata Array,現(xiàn)場可編程門陣列)芯片-EP2C5T144構(gòu)成6_64譯碼器，將
數(shù)據(jù)采集卡200上的6個I/O 口擴展成64個。該每個繼電器320，分別連接在所述I/O 口擴展模塊310與所述測試夾具400連接之間，控制所述測試夾具400切換測試點的。根據(jù)6-64譯碼器的邏輯功能設(shè)置，數(shù)據(jù)采集卡200上的6路I/O信號通過發(fā)送000000-111111范圍內(nèi)的不同電平控制64路繼電器320的通斷，如000001選通I號繼電器320,000002選通2號繼電器320，另外還預(yù)留3組6路I/O 口，可根據(jù)不同PCBA，接入相同F(xiàn)PGA芯片進行端口擴展。電壓電流激勵模塊330與所述數(shù)據(jù)采集卡200的模擬輸出口連接，調(diào)節(jié)激勵源大小的，以滿足一個測試系統(tǒng)的需求。數(shù)據(jù)處理模塊340與所述數(shù)據(jù)采集卡200的模擬輸入口連接，將測試信號轉(zhuǎn)換至所述數(shù)據(jù)采集卡200的有效測試范圍的。將測試信號的電流轉(zhuǎn)換成電壓、電壓值的縮小和放大，最終將測試信號轉(zhuǎn)換至數(shù)據(jù)采集卡200的有效測試范圍；并對測試過程中測試到的波形進行處理，轉(zhuǎn)換至數(shù)據(jù)采集卡200的有效測試范圍后傳回上位機100的虛擬示波器中進行顯示。參考圖2，在優(yōu)選的實施例中，所述數(shù)據(jù)處理模塊340包括第二雙路繼電器K1、第一繼電器K2以及第一運放Ul。所述第二雙路繼電器320的第一常閉觸點經(jīng)一電阻Rl與所述測試夾具400連接、第二雙路繼電器320的第一常開觸點懸空，所述第二雙路繼電器320的第二常開觸點經(jīng)一電阻R2與所述測試夾具400連接并經(jīng)一電阻R3接地、第二雙路繼電器320第二常閉觸點懸空。所述第一運放Ul的正相輸入端與所述第二雙路繼電器320的兩個動觸點連接、所述第一運放Ul的反相輸入端經(jīng)一電阻R4與其輸出端連接,并與所述第一繼電器320的動觸點連接，所述第一繼電器320的常閉觸點懸空、所述第一繼電器320的常開觸點經(jīng)一電阻R5接地，所述第一運放Ul的輸出端作為所述數(shù)據(jù)處理模塊340的輸出端與所述數(shù)據(jù)采集的模擬輸入口連接。數(shù)據(jù)處理模塊340中通過控制第二雙路繼電器Kl、第一繼電器K2來控制輸入數(shù)據(jù)放大縮小倍數(shù)。當(dāng)?shù)诙p路繼電器K1、第一繼電器K2都不開啟，則測試夾具400輸入得到電壓與第一運放Ul構(gòu)成跟隨電路，放大倍數(shù)為I ;當(dāng)?shù)诙p路繼電器Kl開啟、第一繼電器K2關(guān)閉時，測試夾具400輸入的電壓比例縮小，縮小比例為R3/(R2+R3);當(dāng)?shù)谝焕^電器K2開啟，第二雙路繼電器Kl關(guān)閉時，測試夾具400輸入的電壓比例放大，放大比例為(R4+R5) /R5。如測試夾具400輸入50V，選擇打開第二雙路繼電器Kl，縮小20倍變?yōu)?.5V，再將此電壓輸入至數(shù)據(jù)采集卡200的模擬輸入端口，再由上位機100進行讀取，分析。參考圖3，在優(yōu)選的實施例中，所述電壓電流激勵模塊330包括線圈與所述數(shù)據(jù)采集卡200的I/O 口連接的第一雙路繼電器332、恒壓電路334以及恒流電路336，所述第一雙路繼電器332選擇恒壓電路334的恒壓激勵源或恒流電路336的恒流激勵源輸出到所述測試夾具400。如此，在實際情況中，可通過電壓電流激勵模塊330選擇用恒壓電路334的恒壓激勵源或恒流電路336的恒流激勵源輸出測試夾具400以激勵待測PCBA500的測試點，進行有效測試。電壓電流激勵模塊330可提供電壓激勵和/或電流激勵輸出到測試夾具400，同時對待測PCBA500各測試點的電壓和/或電流進行測試。在優(yōu)選的實施例中，所述恒壓電路334包括第二運放U2、第三運放U3、第三雙路繼電器K3、N型MOS管Ql以及P型MOS管Q2。即在上述的電壓電流激勵模塊330中，所述第一雙路繼電器332的第一常閉觸點與所述恒壓電路334的輸出端連接、第一雙路繼電器332的第一常開觸點懸空，所述第一雙路繼電器332的第二常開觸點與所述恒流電路336的輸出端連接、第一雙路繼電器332的第二常閉觸點懸空，所述第一雙路繼電器332的兩個動觸點與第二運放U2的反向輸入端連接。所述第二運放U2的正相輸入端經(jīng)一電阻R6與所述數(shù)據(jù)采集卡200的模擬輸出口連接所述第二運放U2的輸出端經(jīng)一電阻R7與其反相輸入端連接，所述輸出端還經(jīng)過串聯(lián)連接的電阻R8、電阻R9以及電阻RlO與所述測試夾具400連接。第三雙路繼電器K3的第一常閉觸點經(jīng)一電阻Rll與所述測試夾具400連接、第一常開觸點懸空，第三雙路繼電器K3的第二常開觸點經(jīng)一電阻R12與所述測試夾具400連接并經(jīng)一電阻R12接地，第三雙路繼電器K3的第二常閉觸點懸空。所述第三運放U3的正相輸入端與所述第三雙路繼電器K3的兩個動觸點連接、反相輸入端經(jīng)一電阻R14與其輸出端連接，所述第三運放U3的輸出端并與所述第一雙路繼電器332的第一常閉觸點連接，所述第一雙路繼電器332的兩個動觸點與所述第二運放U2的反相輸入端連接。所述N型MOS管Ql和P型MOS管Q2的柵極均與所述電阻R9靠近所述第二運放U2的一端連接，所述N型MOS管Ql和P型MOS管Q2的源極均與所述R9的另一端連接，所述N型MOS管Ql的漏極與一正直流電源Vcc+連接，所述P型MOS管Q2的漏極與一負(fù)直流電源Vcc-連接，優(yōu)選地，正直流電源為正40伏，負(fù)直流電源為負(fù)40伏。整個恒壓電路334構(gòu)成一個反饋回路，通過第三雙路繼電器K3的開啟/關(guān)閉選擇不同的反饋系數(shù)，當(dāng)數(shù)據(jù)采集卡200的模擬輸出口輸入一個電壓時，測試夾具400可以通過控制得到相應(yīng)需要輸出的恒壓，使得最高輸出可達(dá)到40V，而輸入電壓最大值為10V，所以現(xiàn)在只需設(shè)置兩種輸出倍數(shù)——I倍和5倍，當(dāng)需輸出電壓大于IOV時，則閉合第三雙路繼電器K3，輸出倍數(shù)確定為(R12+R13)/R13，當(dāng)需要輸出為30V時，當(dāng)輸出倍數(shù)選擇為5倍，則從數(shù)據(jù)采集卡200的模擬輸出口輸入6V，則測試夾具400及和得到30V的電壓。在優(yōu)選的實施例中，所述恒流電路336包括第四運放U4、第五運放U5以及第六運放U6。所述第四運放U4的正相輸入端與所述電阻RlO靠近所述測試夾具400的一端連接、所述第四運放U4的反相輸入端經(jīng)一電阻R15與其輸出端連接，所述第四運放U4的反相輸入端還經(jīng)一電阻R16與所述第五運放U5的反相輸入端連接；所述第五運放U5的反相輸入端經(jīng)一電阻R17與其輸出端連接、正相輸入端與所述電阻RlO遠(yuǎn)離所述測試夾具400的一端連接，所述第四運放U4的輸出端經(jīng)一電阻R18與所述第六運放U6的正相輸入端連接；所述第六運放U6的正相輸入端經(jīng)一電阻R19接地、所述第六運放U6的反相輸入端經(jīng)一電阻R20與所述第四運放U4的輸出端連接，所述第六運放U6的反相輸入端還經(jīng)一電阻R21與其輸出端連接，所述第六運放U6的輸出端作為所述恒流電路336的輸出端與所述第一雙路繼電器332的第二常開觸點連接。通過檢測電阻RlO兩端電壓vinl和vin2的電壓差值進行反饋，電壓差值放大倍數(shù)計算公式為(R15+R16+R17) /R16，其中，R15=R17,則恒流電路336輸出的恒定電流大小為輸出端電壓V/R10。將此恒流電路336接入反饋回路中，就可通過從數(shù)據(jù)采集卡200的模擬輸出口輸出不同的電壓，可以控制得到相應(yīng)需要輸出的恒流。模擬輸出口輸出5V電壓，電壓差值放大倍數(shù)為2，RlO電阻值為IKQ，則輸出恒定電流大小為2.5mA。
在優(yōu)選的實施例中，所述數(shù)據(jù)采集卡200為PCI總線采集卡。在其他實施例中，數(shù)據(jù)采集卡200可以是ISA總線采集卡。在優(yōu)選的實施例中，所述測試夾具400裝配有測試接口和探針。現(xiàn)對舉例一種測試項目進行更詳細(xì)的說明。測試項目:當(dāng)在高壓電路的控制端提供5V電壓的激勵，則高壓輸出端將輸出IlOV電壓(誤差范圍109-111V)。上位機100的首先對此待測PCBA500的測試項目進行測試參數(shù)的配置，配置控制繼電器320的端口為AOl ;模擬輸出端口為DA0，輸出電壓為5V ;模擬輸入端口為AI8，輸入電壓需縮小20倍；測試上限值5.55V，下限值5.45V。在測試過程中，通過數(shù)據(jù)采集卡200發(fā)出相應(yīng)信號控制測試中控臺300，對I/O 口擴展模塊310，電壓電流激勵模塊330和數(shù)據(jù)處理模塊340進行配置。測試夾具400根據(jù)待測PCBA500的測試點位置配置測試探針，每一根探針都對應(yīng)待測PCBA500上的一個測試點，將待測PCBA500放在測試夾具400中，夾緊測試夾具400上的肘夾，測試探針就會與每個測試點緊密接觸。每個測試點通過導(dǎo) 線與繼電器320相連，當(dāng)繼電器320開啟之后，與電壓電流激勵模塊330或者數(shù)據(jù)處理模塊340相連。測試過程開始后，上位機100先通過數(shù)據(jù)采集卡200配置發(fā)送10路I/O 口電平。其中6路I/O 口電平通過I/O 口擴展模塊310后就選通AOl這一路的繼電器320，兩路I/O口電平選擇配置電壓電流激勵模塊330中的第一雙路繼電器332和第三雙路繼電器K3，最后2路I/O 口電平選擇配置數(shù)據(jù)處理模塊340的第二雙路繼電器K1、第一繼電器K2用以放大或縮小測試信號的倍數(shù)。上位機100軟件發(fā)送6路的I/O 口電平接入FPGA構(gòu)成6_64譯碼器的輸入端，當(dāng)6路I/O電平由低至高為000001時，選擇第二路I/O 口電平為高電平，從而選通AOl路繼電器。繼電器320優(yōu)選為雙路繼電器。繼電器320的兩路一起導(dǎo)通:一、電壓電流激勵模塊330的輸出端就與高壓電路的控制端測試夾具400相連；二、數(shù)據(jù)處理模塊340的輸入端就與高壓電路的輸出端測試夾具400相連。同時由于輸出電壓5V在數(shù)據(jù)采集卡200模擬輸出的范圍± IOV內(nèi)，不需要配置恒壓電路334輸出倍數(shù)，所以此路I/O電平為低電平，不閉合第三雙路繼電器K3，反饋電平通過Rll與第三運放U3形成跟隨電路，恒壓電路334的恒壓反饋倍數(shù)為I。然后數(shù)據(jù)采集卡200輸出模擬電平5V，及第二運放的正相輸入端接收電平為5V，測試夾具400得到的電壓也為5V，此時電壓電流激勵模塊330的輸出端與高壓電路的控制端測試夾具400相連，5V激勵電壓源通過測試夾具400輸入到高壓電路的控制端管腳。待測PCBA500上的高壓電路控制端在接收到5V激勵電壓源后，高壓電路開始工作，輸出IlOV高壓；高壓電路的輸出端測試夾具400與數(shù)據(jù)處理模塊340相連。接收上位機100的控制命令后，已經(jīng)配置成為了輸出電壓縮小20倍的電路，當(dāng)接收到高壓電路輸出端測試夾具400傳回的IlOV電壓后，數(shù)據(jù)處理模塊340進行信號處理，將IlOV高壓縮小20倍后傳回數(shù)據(jù)采集卡200模擬輸入端口 AI8。數(shù)據(jù)采集卡200接收到數(shù)據(jù)后進行模數(shù)轉(zhuǎn)換后傳輸?shù)缴衔粰C100進行診斷。上位機100在判斷傳回的電壓值是否在測試下限值5.45V，上限值5.55V之間，如在此判定范圍之間，則在顯示此電壓值，并存儲此值，如不在此判定范圍之間，則在顯示此電壓值，報警模塊紅燈報警，并顯示錯誤警報。上述醫(yī)療設(shè)備PCBA的測試裝置通過測試夾具400與待測PCBA500各測試點相連，上位機100發(fā)送控制信號控制數(shù)據(jù)采集卡200以及測試中控臺300發(fā)出激勵源至測試夾具400對待測PCBA500進行測試，其后測試夾具400將反饋測試信號到上位機100進行顯示輸出測試結(jié)果，通過使用I/O 口擴展模塊310擴展數(shù)據(jù)采集卡200的I/O 口，可以控制更多的測試夾具400，實現(xiàn)了可一次性覆蓋多個測試點，并實現(xiàn)自動化輸出全部測試結(jié)果的自動化測試過程，滿足了作為一個系統(tǒng)的測試要求，同時，電壓電流激勵模塊330可提供電壓激勵和/或電流激勵輸出到測試夾具400，同時對待測PCBA500各測試點的電壓和/或電流進行測試。以上所述僅為本實用新型的較佳實施例而已，并不用以限制本實用新型，凡在本實用新型的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進等，均應(yīng)包含在本實用新型的保護范圍之內(nèi)。 ·
權(quán)利要求1.一種醫(yī)療設(shè)備PCBA的測試裝置，其特征在于，包括: 與待測PCBA各測試點相連，反饋測試信號的測試夾具； 與所述測試夾具相連接，根據(jù)控制信號為所述測試夾具提供激勵源、控制所述測試夾具切換測試點以及對所述測試信號進行預(yù)處理的測試中控臺； 通過屏蔽電纜與所述測試中控臺連接，將所述控制信號輸出至所述測試中控臺以及將測試信號上傳的數(shù)據(jù)采集卡；以及 與所述數(shù)據(jù)采集卡通過卡槽連接，發(fā)送所述控制信號以及接收并分析所述測試信號后輸出測試結(jié)果的上位機。
2.如權(quán)利要求1所述的醫(yī)療設(shè)備PCBA的測試裝置，其特征在于，所述測試中控臺包括: 與所述數(shù)據(jù)采集卡的I/o 口連接，用于擴展I/O 口的I/O 口擴展模塊； 多個連接在所述I/o 口擴展模塊與所述測試夾具連接之間，控制所述測試夾具切換測試點的繼電器； 與所述數(shù)據(jù)采集卡的模擬輸出口連接，調(diào)節(jié)激勵源大小的電壓電流激勵模塊；以及與所述數(shù)據(jù)采集卡的模擬輸入口連接，將測試信號轉(zhuǎn)換至所述數(shù)據(jù)采集卡的有效測試范圍的數(shù)據(jù)處理模塊。
3.如權(quán)利要求2所述的醫(yī)療設(shè)備PCBA的測試裝置，其特征在于，所述I/O口擴展模塊為譯碼器。
4.如權(quán)利要求2所述·的醫(yī)療設(shè)備PCBA的測試裝置，其特征在于，所述電壓電流激勵模塊包括線圈與所述數(shù)據(jù)采集卡的I/O 口連接的第一雙路繼電器、恒壓電路以及恒流電路，所述第一雙路繼電器選擇恒壓電路的恒壓激勵源或恒流電路的恒流激勵源輸出到所述測試夾具。
5.如權(quán)利要求2所述的醫(yī)療設(shè)備PCBA的測試裝置，其特征在于，所述數(shù)據(jù)處理模塊包括第二雙路繼電器、第一繼電器以及第一運放，其中， 所述第二雙路繼電器的第一常閉觸點經(jīng)一電阻Rl與所述測試夾具連接、第一常開觸點懸空，所述第二雙路繼電器的第二常開觸點經(jīng)一電阻R2與所述測試夾具連接并經(jīng)一電阻R3接地、第二常閉觸點懸空； 所述第一運放的正相輸入端與所述第二雙路繼電器的兩個動觸點連接、所述第一運放的反相輸入端經(jīng)一電阻R4與其輸出端連接，并與所述第一繼電器的動觸點連接，所述第一繼電器的常閉觸點懸空、常開觸點經(jīng)一電阻R5接地，所述第一運放的輸出端作為所述數(shù)據(jù)處理模塊的輸出端與所述數(shù)據(jù)采集的模擬輸入口連接。
6.如權(quán)利要求4所述的醫(yī)療設(shè)備PCBA的測試裝置，其特征在于，所述恒壓電路包括第二運放、第三運放、第三雙路繼電器、N型MOS管以及P型MOS管，其中， 所述第二運放的正相輸入端經(jīng)一電阻R6與所述數(shù)據(jù)采集卡的模擬輸出口連接所述第二運放的輸出端經(jīng)一電阻R7與其反相輸入端連接，所述輸出端還經(jīng)過串聯(lián)連接的電阻R8、電阻R9以及電阻RlO與所述測試夾具連接； 第三雙路繼電器的第一常閉觸點經(jīng)一電阻Rll與所述測試夾具連接、第一常開觸點懸空，第三雙路繼電器的第二常開觸點經(jīng)一電阻R12與所述測試夾具連接并經(jīng)一電阻R12接地，第三雙路繼電器的第二常閉觸點懸空；所述第三運放的正相輸入端與所述第三雙路繼電器的兩個動觸點連接、反相輸入端經(jīng)一電阻R14與其輸出端連接,所述第三運放的輸出端并與所述第一雙路繼電器的第一常閉觸點連接，所述第一雙路繼電器的兩個動觸點與所述第二運放的反相輸入端連接； 所述N型MOS管和P型MOS管的柵極均與所述電阻R9靠近所述第二運放的一端連接，所述N型MOS管和P型MOS管的源極均與所述R9的另一端連接，所述N型MOS管的漏極與一正直流電源連接，所述P型MOS管的漏極與一負(fù)直流電源連接。
7.如權(quán)利要求6所述的醫(yī)療設(shè)備PCBA的測試裝置，其特征在于，所述恒流電路包括第四運放、第五運放以及第六運放，其中， 所述第四運放的正相輸入端與所述電阻RlO靠近所述測試夾具的一端連接、反相輸入端經(jīng)一電阻R15與其輸出端連接，所述第四運放的反相輸入端還經(jīng)一電阻R16與所述第五運放的反相輸入端連接； 所述第五運放的反相輸入端經(jīng)一電阻R17與其輸出端連接、正相輸入端與所述電阻RlO遠(yuǎn)離所述測試夾具的一端連接，所述第四運放的輸出端經(jīng)一電阻R18與所述第六運放的正相輸入端連接； 所述第六運放的正相輸入端經(jīng)一電阻R19接地、反相輸入端經(jīng)一電阻R20與所述第四運放的輸出端連接，所述第六運放的反相輸入端還經(jīng)一電阻R21與其輸出端連接，所述第六運放的輸出端作為所述恒流電路的輸出端與所述第一雙路繼電器的第二常開觸點連接。
8.如權(quán)利要求1至7任一項所述的醫(yī)療設(shè)備PCBA的測試裝置，其特征在于，所述數(shù)據(jù)采集卡為PCI總線采集卡。
9.如權(quán)利要求3所述的醫(yī)療設(shè)備PCBA的測試裝置，其特征在于，所述譯碼器為6-64譯碼器。
10.如權(quán)利要求1至7任一項所述的醫(yī)療設(shè)備PCBA的測試裝置，其特征在于，所述測試夾具裝配有測試接口和探針。
專利摘要本實用新型適用于自動化測試領(lǐng)域，提供了一種醫(yī)療設(shè)備PCBA的測試裝置包括測試夾具，與待測PCBA相連，反饋測試信號；測試中控臺，根據(jù)控制信號為所述測試夾具提供激勵源、控制所述測試夾具切換測試點以及對所述測試信號進行預(yù)處理；數(shù)據(jù)采集卡，將所述控制信號輸出至所述測試中控臺以及將測試信號上傳；以及上位機，發(fā)送所述控制信號以及接收并分析所述測試信號后輸出測試結(jié)果的。通過測試夾具與待測PCBA各測試點相連，測試夾具將反饋測試信號到上位機進行顯示輸出測試結(jié)果，實現(xiàn)了可一次性覆蓋多個測試點，并實現(xiàn)自動化輸出全部測試結(jié)果的自動化測試過程，滿足了作為一個系統(tǒng)的測試要求。
文檔編號G01R31/28GK203117380SQ20132009630
公開日2013年8月7日 申請日期2013年3月1日 優(yōu)先權(quán)日2013年3月1日
發(fā)明者向波, 孫世勇 申請人:深圳雷杜生命科學(xué)股份有限公司