納米流體冷卻液懸浮穩(wěn)定性測(cè)試裝置制造方法
【專利摘要】本實(shí)用新型涉及一種納米流體冷卻液懸浮穩(wěn)定性測(cè)試裝置，包括用于放置納米流體冷卻液的透明容器，透明容器一側(cè)設(shè)置有給透明容器提供均勻光束的供光裝置，透明容器相對(duì)供光裝置的另一側(cè)設(shè)置有用于光束透明容器后進(jìn)行成像的成像裝置。采用上述方案，本實(shí)用新型提供一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、成本低的納米流體冷卻液懸浮穩(wěn)定性測(cè)試裝置。
【專利說明】納米流體冷卻液懸浮穩(wěn)定性測(cè)試裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型具體涉及一種納米流體冷卻液懸浮穩(wěn)定性測(cè)試裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]納米流體是指把金屬或非金屬納米粉體分散到水、醇、油等傳統(tǒng)換熱介質(zhì)中，制備成均勻、穩(wěn)定、高導(dǎo)熱的新型換熱介質(zhì)，這是納米技術(shù)應(yīng)用于熱能工程這一傳統(tǒng)領(lǐng)域的創(chuàng)新性的研究。納米流體在能源、化工、汽車、建筑、微電子、信息等領(lǐng)域具有巨大的潛在應(yīng)用前景，從而成為材料、物理、化學(xué)、傳熱學(xué)等眾領(lǐng)域的研究熱點(diǎn)。
[0003]納米流體冷卻液的制備中存在有很多的問題，但是較為顯著的問題之一就是納米粒子由于存在其獨(dú)特的粒子運(yùn)動(dòng)特性使得所配置的納米流體冷卻液存在懸浮穩(wěn)定性不佳的問題。懸浮穩(wěn)定性成為評(píng)價(jià)納米流體冷卻液的重要關(guān)鍵因素，但是如何評(píng)價(jià)所配置的納米流體冷卻液的懸浮穩(wěn)定性，一直以來都是通過理論分析的方式或簡(jiǎn)單的實(shí)驗(yàn)研究方式。所謂理論分析即采用數(shù)學(xué)建模和或納米粒子運(yùn)動(dòng)軌跡模擬的方式計(jì)算出納米粒子聚集的特性；所謂簡(jiǎn)單實(shí)驗(yàn)方式即靜置試驗(yàn)和TEM照相方式直接觀察出納米粒子的聚集現(xiàn)象。理論分析畢竟是理論的方法，其所獲得的數(shù)據(jù)并不能完全代替實(shí)際情況；傳統(tǒng)的TEM方式雖然較為精確且直觀的觀測(cè)出納米粒子的聚集情況，但需花費(fèi)高昂的費(fèi)用購(gòu)置電子顯微鏡，且只能觀測(cè)局部的情況，不能完全說明整體的聚集情況。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)存在的不足，本實(shí)用新型的目的在于提供一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、成本低的納米流體冷卻液懸浮穩(wěn)定性測(cè)試裝置。
[0005]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型提供了如下技術(shù)方案:包括用于放置納米流體冷卻液的透明容器，所述的透明容器一側(cè)設(shè)置有給透明容器提供均勻光束的供光裝置，所述的透明容器相對(duì)供光裝置的另一側(cè)設(shè)置有用于光束照射透明容器后進(jìn)行成像的成像裝置。
[0006]通過采用上述技術(shù)方案，供光裝置提供的光束穿過透明容器成像于成像裝置，相比電子顯微鏡內(nèi)部復(fù)雜結(jié)構(gòu)大大簡(jiǎn)化，易于實(shí)現(xiàn)，采用的裝置成本更低，更適合普通實(shí)驗(yàn)室用于分析納米流體冷卻液懸浮穩(wěn)定性。
[0007]本實(shí)用新型進(jìn)一步設(shè)置為:所述的供光裝置包括發(fā)射光束的光源及用于均勻發(fā)散光束至透明容器的透鏡，所述的透鏡設(shè)置于成像裝置朝向透明容器的延長(zhǎng)線上，所述的光源位于透鏡相對(duì)透明容器的另一側(cè)并發(fā)射出垂直于透鏡的光束。
[0008]通過采用上述技術(shù)方案，光源發(fā)出的光束通過透鏡進(jìn)行均勻發(fā)散至透明容器使成像更大，顯示更清晰，不會(huì)因?yàn)楣庠吹墓馐^于集中使成像不清楚。
[0009]本實(shí)用新型進(jìn)一步設(shè)置為:所述的透鏡與光源之間設(shè)置有用于調(diào)整光束角度的反射鏡。
[0010]通過采用上述技術(shù)方案，使光源可以根據(jù)實(shí)際情況進(jìn)行安裝，再利用反射鏡反射至透鏡上，保證光源的發(fā)出的光束能垂直照射至透鏡。[0011]本實(shí)用新型進(jìn)一步設(shè)置為:所述的成像裝置包括朝向透明容器的底片，所述的底片相對(duì)透明容器的另一側(cè)設(shè)置有計(jì)算底片上光束分布情況的計(jì)算器，所述的計(jì)算器連接設(shè)置有用于分析光束分布情況的計(jì)算機(jī)。
[0012]通過采用上述技術(shù)方案，采用底片進(jìn)行成像，實(shí)施方便，技術(shù)成熟，其次通過計(jì)算器計(jì)算光束通過納米流體冷卻液所成像的分布情況，最后發(fā)送至計(jì)算機(jī)進(jìn)行進(jìn)一步分析。
[0013]本實(shí)用新型進(jìn)一步設(shè)置為:所述的光源為激光光源。
[0014]通過采用上述技術(shù)方案，可采用多種光源，優(yōu)選激光光源穿透性好，非常適合實(shí)際的整個(gè)裝置的應(yīng)用。
[0015]下面結(jié)合附圖和【具體實(shí)施方式】對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步描述。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0016]圖1為本實(shí)用新型【具體實(shí)施方式】的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0017]圖2為本實(shí)用新型【具體實(shí)施方式】的光束流向圖。
【具體實(shí)施方式】
[0018]如圖1所示，本實(shí)用新型公開了一種納米流體冷卻液懸浮穩(wěn)定性測(cè)試裝置，包括用于放置納米流體冷卻液的透明容器1，透明容器I 一側(cè)設(shè)置有給透明容器提供均勻光束的供光裝置2，透明容器I相對(duì)供光裝置2的另一側(cè)設(shè)置有用于光束照射透明容器I后進(jìn)行成像的成像裝置3，供光裝置2提供的光束穿過透明容器I成像于成像裝置3，相比電子顯微鏡內(nèi)部復(fù)雜結(jié)構(gòu)大大簡(jiǎn)化，易于實(shí)現(xiàn)，采用的裝置成本更低，更適合普通實(shí)驗(yàn)室用于分析納米流體冷卻液懸浮穩(wěn)定性。
[0019]供光裝置2包括發(fā)射光束的光源21及用于均勻發(fā)散光束至透明容器的透鏡22，透鏡22設(shè)置于成像裝置3朝向透明容器I的延長(zhǎng)線上，光源21位于透鏡22相對(duì)透明容器I的另一側(cè)并發(fā)射出垂直于透鏡的光束，光源21發(fā)出的光束通過透鏡22進(jìn)行均勻發(fā)散至透明容器I使成像更大，顯示更清晰，不會(huì)因?yàn)楣庠吹墓馐^于集中使成像不清楚。
[0020]透鏡22與光源21之間設(shè)置有用于調(diào)整光束角度的反射鏡23，使光源21可以根據(jù)實(shí)際情況進(jìn)行安裝，再利用反射鏡23反射至透鏡22上，保證光源的發(fā)出的光束能垂直照射至透鏡22。
[0021]成像裝置3包括朝向透明容器I的底片31，底片31相對(duì)透明容器I的另一側(cè)設(shè)置有計(jì)算底片31上光束分布情況的計(jì)算器32，計(jì)算器32連接設(shè)置有用于分析光束分布情況的計(jì)算機(jī)4，采用底片31進(jìn)行成像，實(shí)施方便，技術(shù)成熟，其次通過計(jì)算器31計(jì)算光束通過納米流體冷卻液所成像的分布情況，最后發(fā)送至計(jì)算機(jī)進(jìn)行進(jìn)一步分析。
[0022]光源21為激光光源，可采用多種光源21，優(yōu)選激光光源穿透性好，非常適合實(shí)際的整個(gè)裝置的應(yīng)用。
[0023]如圖2所示，首先將所配置好的納米流體冷卻液放置于透明容器1，即納米流體冷卻液懸浮穩(wěn)定性最好的時(shí)刻，然后光源21發(fā)出光束，光束經(jīng)反射鏡23反射至透鏡22，透鏡22將光束進(jìn)行均勻分散，分散后的光束照射至透明容器I內(nèi)的納米流體冷卻液，照射后的光束成像于底片31，計(jì)算器31對(duì)成像結(jié)果進(jìn)行計(jì)算，最后發(fā)送至計(jì)算機(jī)進(jìn)行進(jìn)一步分析。
【權(quán)利要求】
1.一種納米流體冷卻液懸浮穩(wěn)定性測(cè)試裝置，其特征在于:包括用于放置納米流體冷卻液的透明容器，所述的透明容器一側(cè)設(shè)置有給透明容器提供均勻光束的供光裝置，所述的透明容器相對(duì)供光裝置的另一側(cè)設(shè)置有用于光束照射透明容器后進(jìn)行成像的成像裝置。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的納米流體冷卻液懸浮穩(wěn)定性測(cè)試裝置，其特征在于:所述的供光裝置包括發(fā)射光束的光源及用于均勻發(fā)散光束至透明容器的透鏡，所述的透鏡設(shè)置于成像裝置朝向透明容器的延長(zhǎng)線上，所述的光源位于透鏡相對(duì)透明容器的另一側(cè)并發(fā)射出垂直于透鏡的光束。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的納米流體冷卻液懸浮穩(wěn)定性測(cè)試裝置，其特征在于:所述的透鏡與光源之間設(shè)置有用于調(diào)整光束角度的反射鏡。
4.根據(jù)權(quán)利要求2或3所述的納米流體冷卻液懸浮穩(wěn)定性測(cè)試裝置，其特征在于:所述的成像裝置包括朝向透明容器的底片，所述的底片相對(duì)透明容器的另一側(cè)設(shè)置有計(jì)算底片上光束分布情況的計(jì)算器，所述的計(jì)算器連接設(shè)置有用于分析光束分布情況的計(jì)算機(jī)。
5.根據(jù)權(quán)利要求2或3所述的納米流體冷卻液懸浮穩(wěn)定性測(cè)試裝置，其特征在于:所述的光源為激光光源。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的納米流體冷卻液懸浮穩(wěn)定性測(cè)試裝置，其特征在于:所述的光源為激光光源。
【文檔編號(hào)】G01N15/04GK203396677SQ201320424453
【公開日】2014年1月15日 申請(qǐng)日期:2013年7月15日 優(yōu)先權(quán)日:2013年7月15日
【發(fā)明者】侯齊齊, 潘曉銘, 鄭偉 申請(qǐng)人:溫州大學(xué)