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      一種帶屏蔽功能的射頻測(cè)試裝置制造方法

      文檔序號(hào):6202521閱讀:330來源:國(guó)知局
      一種帶屏蔽功能的射頻測(cè)試裝置制造方法
      【專利摘要】本實(shí)用新型公開了一種帶屏蔽功能的射頻測(cè)試裝置,包括一個(gè)金屬材質(zhì)的屏蔽箱體,屏蔽箱體的側(cè)壁設(shè)置有至少一個(gè)卡座,卡座上具有用于放置RFID卡的連接卡口,連接卡口與RFID卡電氣連接,卡座通過線纜與屏蔽箱體內(nèi)的低頻一致性測(cè)試板相連接,在屏蔽箱體上與卡座相對(duì)的一側(cè)設(shè)計(jì)有PCB板連接口,低頻一致性測(cè)試板與所述PCB板連接口相連接,屏蔽箱體的頂部設(shè)置有天線,天線與屏蔽箱體內(nèi)的低頻一致性測(cè)試板相連接,天線與屏蔽箱體頂部的連接部位設(shè)置有屏蔽端。低頻一致性測(cè)試板安裝在屏蔽箱體,屏蔽箱體能夠屏蔽掉大部分的電磁干擾,天線雖然穿出屏蔽箱體,理論上存在漏磁漏電的可能,但由于安裝了屏蔽端,且將屏蔽端設(shè)置為復(fù)合層結(jié)構(gòu),故能夠防止漏磁漏的現(xiàn)象發(fā)生。
      【專利說明】一種帶屏蔽功能的射頻測(cè)試裝置
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本實(shí)用新型涉及一種射頻測(cè)試裝置,尤其涉及一種帶屏蔽功能的射頻測(cè)試裝置?!颈尘凹夹g(shù)】
      [0002]在對(duì)RFID卡進(jìn)行射頻測(cè)試時(shí),往往要求一個(gè)比較高的測(cè)試環(huán)境,防止外界電磁干擾影響測(cè)試結(jié)果?,F(xiàn)有技術(shù)中采用RFID射頻測(cè)試屏蔽盒對(duì)RFID卡進(jìn)行射頻,但由于市面上的屏蔽箱體由于結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)不合理,存在使用操作繁瑣和屏蔽效果不好的缺陷,已經(jīng)不能滿足人們的需求。
      實(shí)用新型內(nèi)容
      [0003]本實(shí)用新型的目的在于提供一種操作簡(jiǎn)單易行、結(jié)構(gòu)合理且屏蔽效果好的帶屏蔽功能的射頻測(cè)試裝置,解決現(xiàn)有技術(shù)存在的缺憾。
      [0004]本實(shí)用新型采用如下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn):
      [0005]一種帶屏蔽功能的射頻測(cè)試裝置,其特征在于,包括一個(gè)金屬材質(zhì)的屏蔽箱體,所述屏蔽箱體的側(cè)壁設(shè)置有至少一個(gè)卡座,所述卡座上具有用于放置RFID卡的連接卡口,所述連接卡口與所述RFID卡電氣連接,所述卡座通過線纜與屏蔽箱體內(nèi)的低頻一致性測(cè)試板相連接,在所述屏蔽箱體上與所述卡座相對(duì)的一側(cè)設(shè)計(jì)有PCB板連接口,所述低頻一致性測(cè)試板與所述PCB板連接口相連接,所述屏蔽箱體的頂部設(shè)置有天線,所述天線與屏蔽箱體內(nèi)的低頻一致性測(cè)試板相連接,天線與屏蔽箱體頂部的連接部位設(shè)置有屏蔽端,所述屏蔽端為復(fù)合層結(jié)構(gòu),包括一個(gè)橡膠層,所述橡膠層的底部與屏蔽箱體的頂端粘接,還包括一個(gè)金屬層,所述金屬設(shè)置在所述橡膠層的上邊,并與所述橡膠層粘接。
      [0006]進(jìn)一步的,所述PCB板連接口通過連接座安裝在所述屏蔽箱體上。
      [0007]本實(shí)用新型具備的有益技術(shù)效果是:
      [0008]低頻一致性測(cè)試板安裝在金屬材質(zhì)的屏蔽箱體,屏蔽箱體能夠屏蔽掉大部分的電磁干擾,天線雖然穿出屏蔽箱體,理論上存在漏磁漏電的可能,但由于安裝了屏蔽端,且將屏蔽端設(shè)置為復(fù)合層結(jié)構(gòu),故能夠防止漏磁漏的現(xiàn)象發(fā)生。
      【專利附圖】

      【附圖說明】
      [0009]圖1是本實(shí)用新型帶屏蔽功能的射頻測(cè)試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
      【具體實(shí)施方式】
      [0010]通過下面對(duì)實(shí)施例的描述,將更加有助于公眾理解本實(shí)用新型,但不能也不應(yīng)當(dāng)將 申請(qǐng)人:所給出的具體的實(shí)施例視為對(duì)本實(shí)用新型技術(shù)方案的限制,任何對(duì)部件或技術(shù)特征的定義進(jìn)行改變和/或?qū)φw結(jié)構(gòu)作形式的而非實(shí)質(zhì)的變換都應(yīng)視為本實(shí)用新型的技術(shù)方案所限定的保護(hù)范圍。
      [0011]如圖1所示的帶屏蔽功能的射頻測(cè)試裝置,包括一個(gè)金屬材質(zhì)的屏蔽箱體1,屏蔽箱體I的側(cè)壁設(shè)置有至少一個(gè)卡座3,卡座3上具有用于放置RFID卡的連接卡口,連接卡口與RFID卡電氣連接,卡座3通過線纜與屏蔽箱體I內(nèi)的低頻一致性測(cè)試板2相連接,在屏蔽箱體I上與卡座相對(duì)的一側(cè)設(shè)計(jì)有PCB板連接口 7,低頻一致性測(cè)試板2與PCB板連接口7相連接,屏蔽箱體I的頂部設(shè)置有天線,天線5與屏蔽箱體I內(nèi)的低頻一致性測(cè)試板I相連接,天線5與屏蔽箱體I頂部的連接部位設(shè)置有屏蔽端4,屏蔽端為復(fù)合層結(jié)構(gòu),包括一個(gè)橡膠層,橡膠層的底部與屏蔽箱體的頂端粘接,還包括一個(gè)金屬層,金屬設(shè)置在橡膠層的上邊,并與橡膠層粘接。作為本實(shí)施例的改進(jìn),可將PCB板連接口 7通過連接座安裝在屏蔽箱體上,用以增強(qiáng)PCB板連接口 7的強(qiáng)度,并能夠在一定程度上防止漏磁或漏電。低頻一致性測(cè)試板即所謂的TB板,可在TB板中預(yù)先設(shè)置好與待測(cè)射頻讀卡器的低頻信號(hào)的通信距離門限相對(duì)應(yīng)的低頻信號(hào)強(qiáng)度,在預(yù)定的通信距離門限處,射頻讀卡器所發(fā)射的低頻信號(hào)強(qiáng)度等于標(biāo)準(zhǔn)強(qiáng)度,測(cè)試時(shí)要看低頻信號(hào)強(qiáng)度與標(biāo)準(zhǔn)強(qiáng)度是否存在偏差,即,用測(cè)試所得的低頻信號(hào)強(qiáng)度與標(biāo)準(zhǔn)強(qiáng)度的差值的絕對(duì)值除以標(biāo)準(zhǔn)強(qiáng)度,所得之商再乘以100%即可得到偏差,通過該偏差值可以判斷該射頻讀卡器是否為合格產(chǎn)品。低頻一致性測(cè)試板7安裝在金屬材質(zhì)的屏蔽箱體,屏蔽箱體I能夠屏蔽掉大部分的電磁干擾,天線5雖然穿出屏蔽箱體1,理論上存在漏磁漏電的可能,但由于安裝了屏蔽端4,且將屏蔽端4設(shè)置為復(fù)合層結(jié)構(gòu),故能夠防止漏磁漏的現(xiàn)象發(fā)生。整個(gè)測(cè)試過程都是在金屬材質(zhì)的屏蔽盒殼體內(nèi)進(jìn)行,連接導(dǎo)線也可以通過軟排線連接,RFID卡與低頻一致性測(cè)試板7之間形成一個(gè)通路,天線與低頻一致性測(cè)試板7之間也形成通路,通過上位機(jī)6可以對(duì)低頻一致性測(cè)試板7進(jìn)行操作,通過人機(jī)交互界面能夠方便快捷地查看測(cè)試結(jié)果,并根據(jù)不同的測(cè)試結(jié)果做出相應(yīng)的處理,上位機(jī)與低頻一致性測(cè)試板7的連接方式對(duì)于本領(lǐng)域技術(shù)人員而言是很容易實(shí)現(xiàn)的,可以通過各種公知的通信接口進(jìn)行連接,故在此不贅述。使用本實(shí)用新型的射頻測(cè)試裝置,無需開蓋即可在密閉的測(cè)試環(huán)境中進(jìn)行整個(gè)射頻測(cè)試操作,相比現(xiàn)有技術(shù)而言大大提高了測(cè)試效果,由于增加了卡座3的數(shù)量,在測(cè)試過程中無需反復(fù)開合屏蔽箱體即可完成整個(gè)測(cè)試過程,不僅縮短了測(cè)試時(shí)間,而且還提高了射頻測(cè)試系統(tǒng)的整體屏蔽效果,提高了產(chǎn)品測(cè)試的準(zhǔn)確率。
      [0012]當(dāng)然,本實(shí)用新型還可以有其他多種實(shí)施例,在不背離本實(shí)用新型精神及其實(shí)質(zhì)的情況下,熟悉本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以根據(jù)本實(shí)用新型做出各種相應(yīng)的改變和變形,但這些相應(yīng)的改變和變形都應(yīng)屬于本實(shí)用新型所附的權(quán)利要求的保護(hù)范圍。
      【權(quán)利要求】
      1.一種帶屏蔽功能的射頻測(cè)試裝置,其特征在于,包括一個(gè)金屬材質(zhì)的屏蔽箱體,所述屏蔽箱體的側(cè)壁設(shè)置有至少一個(gè)卡座,所述卡座上具有用于放置RFID卡的連接卡口,所述連接卡口與所述RFID卡電氣連接,所述卡座通過線纜與屏蔽箱體內(nèi)的低頻一致性測(cè)試板相連接,在所述屏蔽箱體上與所述卡座相對(duì)的一側(cè)設(shè)計(jì)有PCB板連接口,所述低頻一致性測(cè)試板與所述PCB板連接口相連接,所述屏蔽箱體的頂部設(shè)置有天線,所述天線與屏蔽箱體內(nèi)的低頻一致性測(cè)試板相連接,天線與屏蔽箱體頂部的連接部位設(shè)置有屏蔽端,所述屏蔽端為復(fù)合層結(jié)構(gòu),包括一個(gè)橡膠層,所述橡膠層的底部與屏蔽箱體的頂端粘接,還包括一個(gè)金屬層,所述金屬設(shè)置在所述橡膠層的上邊,并與所述橡膠層粘接。
      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的帶屏蔽功能的射頻測(cè)試裝置,其特征在于,所述PCB板連接口通過連接座安裝在所述屏蔽箱體上。
      【文檔編號(hào)】G01R31/00GK203616398SQ201320647276
      【公開日】2014年5月28日 申請(qǐng)日期:2013年10月21日 優(yōu)先權(quán)日:2013年10月21日
      【發(fā)明者】楊良春, 濮德龍 申請(qǐng)人:北京信諾達(dá)泰思特科技股份有限公司
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