利用具有光子計(jì)數(shù)探測(cè)器的成像系統(tǒng)的常規(guī)成像的制作方法
【專利摘要】一種成像系統(tǒng)（600)包括輻射源（608)和探測(cè)器陣列(610)，其中，所述輻射源(608)發(fā)射穿過(guò)檢查區(qū)域的多色輻射，所述探測(cè)器陣列（610)定位為與所述輻射源相對(duì)，位于所述檢查區(qū)域的對(duì)面，所述探測(cè)器陣列（610)包括麻痹型光子計(jì)數(shù)探測(cè)器像素（611)，所述麻痹型光子計(jì)數(shù)探測(cè)器像素（611)探測(cè)穿過(guò)所述檢查區(qū)域并且照射所述探測(cè)器像素的所述輻射的光子、并且生成指示每個(gè)探測(cè)到的光子的信號(hào)。輸出光子計(jì)數(shù)率到輸入光子計(jì)數(shù)率的映射（626)包括將所述探測(cè)器像素的多個(gè)輸入光子計(jì)數(shù)率映射到所述探測(cè)器像素的單一的輸出光子計(jì)數(shù)率的至少一個(gè)映射，并且輸入光子計(jì)數(shù)率確定器（624)將所述映射的所述多個(gè)輸入光子計(jì)數(shù)率中的一個(gè)輸入光子計(jì)數(shù)率識(shí)別為所述探測(cè)器像素的正確的輸入光子計(jì)數(shù)率。重建器基于識(shí)別出的輸入光子計(jì)數(shù)率來(lái)重建所述信號(hào)。
【專利說(shuō)明】利用具有光子計(jì)數(shù)探測(cè)器的成像系統(tǒng)的常規(guī)成像

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 以下總體上涉及利用具有光子計(jì)數(shù)探測(cè)器的成像系統(tǒng)的常規(guī)成像，并且特別應(yīng)用 于計(jì)算斷層攝影（CT);然而，本發(fā)明還涉及其他成像，包括但不限于X射線和乳房X線照相 術(shù)。

【背景技術(shù)】
[0002] 常規(guī)（積分）計(jì)算斷層攝影（CT)掃描器包括由旋轉(zhuǎn)框架支撐的X射線管。旋轉(zhuǎn) 框架和X射線管圍繞檢查區(qū)域旋轉(zhuǎn)，并且X射線管發(fā)射穿過(guò)檢查區(qū)域和設(shè)置在檢查區(qū)域中 的對(duì)象和/或目標(biāo)的多色輻射。輻射敏感探測(cè)器定位為與X射線管相對(duì)，處于檢查區(qū)域的 對(duì)面，并且探測(cè)穿過(guò)檢查區(qū)域和對(duì)象和/或目標(biāo)的輻射。所述輻射敏感探測(cè)器包括積分探 測(cè)器像素（例如連同對(duì)應(yīng)的積分電路一起的基于閃爍體/光傳感器的像素）的一維或二維 陣列。一般地，閃爍體響應(yīng)于吸收入射光子而產(chǎn)生光，光傳感器響應(yīng)于接收光而產(chǎn)生指示吸 收的光子的電荷，并且積分電路累計(jì)電荷并且生成指示探測(cè)到的輻射的投影數(shù)據(jù)。
[0003] 重建器重建投影數(shù)據(jù)并且生成指示對(duì)象和/或目標(biāo)的體積圖像數(shù)據(jù)。可以使用圖 像處理器來(lái)處理體積圖像數(shù)據(jù)并且生成指示對(duì)象和/或目標(biāo)的一幅或多幅圖像。一般地， 體積圖像數(shù)據(jù)/圖像包括被按照與相對(duì)輻射密度相對(duì)應(yīng)的灰度值表示的體素/像素。這樣 的信息反映被掃描的對(duì)象和/或目標(biāo)的X射線衰減特性，并且一般地示出諸如對(duì)象內(nèi)的解 剖結(jié)構(gòu)、無(wú)生命目標(biāo)內(nèi)的物理結(jié)構(gòu)等結(jié)構(gòu)。然而因?yàn)椴牧蠈?duì)光子的吸收取決于穿過(guò)材料的 光子的能量，所以探測(cè)到的輻射還包括提供指示組織和/或材料的元素成分（例如原子序 數(shù)）的額外信息的光譜信息。遺憾的是，因?yàn)橛商綔y(cè)器生成的信號(hào)與在能量譜上積分的能 量流量成比例，所以常規(guī)（積分）CT中生成的體積圖像數(shù)據(jù)不反映光譜特性。
[0004] 光譜CT掃描器除了以上討論的部件，還包括捕獲探測(cè)到的輻射的光譜特性的一 個(gè)或多個(gè)部件。這樣的（一個(gè)或多個(gè)）部件的范例是包括諸如碲化鎘（CdTe)、碲鋅鎘（CZT) 等的直接轉(zhuǎn)換半導(dǎo)體材料和對(duì)應(yīng)的處理電路的光子計(jì)數(shù)探測(cè)器。利用這樣的探測(cè)器，每個(gè) 像素針對(duì)其探測(cè)的每個(gè)光子產(chǎn)生電信號(hào)，并且該電信號(hào)指示所述光子的能量。放大器將信 號(hào)放大，并且信號(hào)整形器將經(jīng)放大的信號(hào)整形，形成具有指示所述光子的能量的高度或峰 值的電脈沖。區(qū)分器將脈沖的幅值與根據(jù)與X射線管的平均發(fā)射水平相對(duì)應(yīng)的不同的能量 水平來(lái)設(shè)定的一個(gè)或多個(gè)能量閾值進(jìn)行比較。計(jì)數(shù)器針對(duì)每個(gè)閾值對(duì)幅值超過(guò)閾值的次數(shù) 進(jìn)行計(jì)數(shù)，并且分箱器（binner)基于計(jì)數(shù)將探測(cè)到的光子分箱（bin)或分配到能量范圍。 可以使用光譜和/或常規(guī)重建算法來(lái)重建得到的經(jīng)能量解析的探測(cè)到的輻射，并且產(chǎn)生光 譜和/或常規(guī)圖像數(shù)據(jù)和/或圖像。
[0005] 取決于傳感器和探測(cè)器的電子結(jié)構(gòu)可以使用麻痹型（paralyzable)探測(cè)器模型 或非麻搏型（non-paralyzable)探測(cè)器模型來(lái)對(duì)基于CdTe或CZT的光子計(jì)數(shù)探測(cè)器的性 能進(jìn)行足夠精確的建模。以下將討論利用對(duì)可以由麻痹型探測(cè)器模型描述的探測(cè)器系統(tǒng)中 的輸出計(jì)數(shù)率的模糊（ambiguous)測(cè)量來(lái)重建入射率的困難。一般地，麻痹型探測(cè)器中的 每個(gè)探測(cè)到的光子具有非零（例如10到100納秒）的解析時(shí)間或死區(qū)時(shí)間，使得如果在死 區(qū)時(shí)間期間探測(cè)到另一個(gè)光子，那么探測(cè)器將不能夠解析單獨(dú)的光子探測(cè)并且得到的脈沖 的幅值將取決于單獨(dú)的脈沖的幅值和他們到達(dá)之間的時(shí)間差。死區(qū)時(shí)間是由整形器生成的 脈沖的寬度的函數(shù)，并且麻痹型探測(cè)器的輸出光子計(jì)數(shù)率是每時(shí)間入射X射線光子的數(shù)量 (輸入光子計(jì)數(shù)率）和死區(qū)時(shí)間的函數(shù)。輸出光子計(jì)數(shù)率可以被表達(dá)為如等式1所示：
[0006] 等式 1 :
[0007] m = r · e_r" τ
[0008] 其中，m表示輸出光子計(jì)數(shù)率，r表示輸入光子計(jì)數(shù)率并且τ表示死區(qū)時(shí)間。在 圖1中通過(guò)曲線100圖形化地示出了這種性能的范例，其中y軸102表示平均輸出光子計(jì) 數(shù)率m，并且X軸104表示根據(jù)死區(qū)時(shí)間τ的輸入光子計(jì)數(shù)率 r。在圖1中，曲線1〇〇的峰 值106表示出現(xiàn)在與1/ τ相對(duì)應(yīng)的輸入光子計(jì)數(shù)率110處的最大輸出光子計(jì)數(shù)率 108。對(duì)于小于最大輸出光子計(jì)數(shù)率108的輸出光子計(jì)數(shù)率（例如輸出光子計(jì)數(shù)率112)，存 在兩個(gè)可能的輸入光子計(jì)數(shù)率（例如輸入光子計(jì)數(shù)率114和116)，一個(gè)小于而一個(gè)大 于r最大。
[0009] 為了正確地重建與輸出光子計(jì)數(shù)率112相對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)以生成常規(guī)的圖像數(shù)據(jù)，需 要知曉與所述數(shù)據(jù)相對(duì)應(yīng)的正確的輸入光子計(jì)數(shù)率114或116。利用不正確的輸入光子計(jì) 數(shù)率來(lái)重建數(shù)據(jù)將偽影引入到圖像中，所述偽影可能將圖像繪制得不適合于診斷的目的。 通過(guò)范例，圖2示出了利用常規(guī)積分探測(cè)器的模擬數(shù)據(jù)重建的圖像，并且圖3示出了利用計(jì) 數(shù)探測(cè)器的模擬數(shù)據(jù)重建的圖像，在圖3利用的模擬數(shù)據(jù)中已知正確的輸入光子計(jì)數(shù)率。 注意到圖3的圖像在視覺(jué)上與圖2的圖像非常相似，但是圖3的圖像具有稍高的噪聲水平。 相比之下，圖4示出了在所有情況下r都大于的假設(shè)下利用計(jì)數(shù)探測(cè)器的模擬數(shù)據(jù)重 建的圖像，并且圖5示出了在所有情況下r都小于的假設(shè)下利用計(jì)數(shù)探測(cè)器的模擬數(shù) 據(jù)重建的圖像。圖4和圖5在視覺(jué)上示出了使用不正確的輸入光子計(jì)數(shù)率來(lái)重建圖像引入 了偽影。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0010] 本文描述的方面解決了以上提到的問(wèn)題和其他問(wèn)題。
[0011] 在一個(gè)方面中，一種成像系統(tǒng)包括發(fā)射穿過(guò)檢查區(qū)域的多色輻射的輻射源和定位 為與所述輻射源相對(duì)、位于所述檢查區(qū)域的對(duì)面的探測(cè)器陣列，所述探測(cè)器陣列包括麻痹 型光子計(jì)數(shù)探測(cè)器像素，所述麻痹型光子計(jì)數(shù)探測(cè)器像素探測(cè)穿過(guò)所述檢查區(qū)域并照射探 測(cè)器像素的所述輻射的光子、并且生成指示每個(gè)探測(cè)到的光子的信號(hào)。輸出光子計(jì)數(shù)率到 輸入光子計(jì)數(shù)率的映射包括將所述探測(cè)器像素的多個(gè)輸入光子計(jì)數(shù)率映射到所述探測(cè)器 像素的單一的輸出光子計(jì)數(shù)率的至少一個(gè)映射，并且輸入光子計(jì)數(shù)率確定器將所述映射的 所述多個(gè)輸入光子計(jì)數(shù)率中的一個(gè)輸入光子計(jì)數(shù)率識(shí)別為所述探測(cè)器像素的正確的輸入 光子計(jì)數(shù)率。重建器基于識(shí)別出的輸入光子計(jì)數(shù)率來(lái)重建所述信號(hào)。
[0012] 在另一方面中，一種方法包括接收麻痹型光子計(jì)數(shù)探測(cè)器像素的輸出信號(hào)，其中， 所述麻痹型光子計(jì)數(shù)探測(cè)器像素以輸入光子計(jì)數(shù)率來(lái)接收光子。所述方法還包括確定所述 探測(cè)器像素的輸出光子計(jì)數(shù)率。所述方法還包括為所述輸出光子計(jì)數(shù)率從多個(gè)候選輸入光 子計(jì)數(shù)率中識(shí)別輸入光子計(jì)數(shù)率，其中，所述輸入光子計(jì)數(shù)率與所述探測(cè)器像素和所述輸 出光子計(jì)數(shù)率相對(duì)應(yīng)。所述方法還包括基于識(shí)別出的輸入光子計(jì)數(shù)率來(lái)重建所述輸出信 號(hào)。

【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0013] 本發(fā)明可以采取各種部件和部件的安排的形式，并且采取各種步驟和步驟的安排 的形式。附圖僅用于圖示優(yōu)選的實(shí)施例并且不被解釋為對(duì)本發(fā)明的限制。
[0014] 圖1圖形化地圖示了作為輸入光子計(jì)數(shù)率和脈沖整形死區(qū)時(shí)間的函數(shù)的麻痹型 光子計(jì)數(shù)探測(cè)器的輸出光子計(jì)數(shù)率行為的范例。
[0015] 圖2圖示了基于來(lái)自常規(guī)探測(cè)器的模擬數(shù)據(jù)而產(chǎn)生的圖形。
[0016] 圖3圖示了基于來(lái)自麻痹型光子計(jì)數(shù)探測(cè)器的模擬數(shù)據(jù)并且使用正確的輸入光 子計(jì)數(shù)率來(lái)產(chǎn)生的常規(guī)圖像。
[0017] 圖4圖示了基于來(lái)自麻痹型光子計(jì)數(shù)探測(cè)器的模擬數(shù)據(jù)并且當(dāng)正確的輸入光子 計(jì)數(shù)率大于時(shí)使用小于的輸入光子計(jì)數(shù)率來(lái)產(chǎn)生的常規(guī)圖像。
[0018] 圖5圖示了基于來(lái)自麻痹型光子計(jì)數(shù)探測(cè)器的模擬數(shù)據(jù)并且當(dāng)正確的輸入光子 計(jì)數(shù)率小于時(shí)使用大于的輸入光子計(jì)數(shù)率來(lái)產(chǎn)生的常規(guī)圖像。
[0019] 圖6示意性地圖示了具有光子計(jì)數(shù)探測(cè)器并且與輸入光子計(jì)數(shù)率確定器相連接 的示范性CT成像系統(tǒng)。
[0020] 圖7示意性地圖示了圖6的輸入光子計(jì)數(shù)率確定器的范例，所述輸入光子計(jì)數(shù)率 確定器使用過(guò)閾時(shí)間（time over threshold)值來(lái)確定正確的輸入光子計(jì)數(shù)率。
[0021] 圖8圖形化地圖示了在積分周期上對(duì)較低的輸入光子計(jì)數(shù)率的測(cè)得的探測(cè)器像 素的輸出光子計(jì)數(shù)率。
[0022] 圖9圖形化地圖示了在積分周期上對(duì)相對(duì)較高的輸入光子計(jì)數(shù)率的測(cè)得的探測(cè) 器像素的輸出光子計(jì)數(shù)率，所述測(cè)得的輸出光子計(jì)數(shù)率具有與圖8的測(cè)得的輸出光子計(jì)數(shù) 率相同的值。
[0023] 圖10圖形化地圖示了根據(jù)輸入光子計(jì)數(shù)率的、脈沖高于給定的閾值的時(shí)間量。
[0024] 圖11示意性地圖示了圖6的輸入光子計(jì)數(shù)率確定器的范例，所述輸入光子計(jì)數(shù)率 確定器使用脈沖堆積計(jì)數(shù)來(lái)確定正確的輸入光子計(jì)數(shù)率。
[0025] 圖12示意性地圖示了圖6的輸入光子計(jì)數(shù)率確定器的范例，所述輸入光子計(jì)數(shù)率 確定器使用來(lái)自至少兩個(gè)不同大小的探測(cè)器像素的信息來(lái)確定正確的輸入光子計(jì)數(shù)率。
[0026] 圖13示意性地圖示了圖6的輸入光子計(jì)數(shù)率確定器的范例，所述輸入光子計(jì)數(shù)率 確定器使用至少兩個(gè)不同的整形時(shí)間來(lái)生成信息，從而確定正確的輸入光子計(jì)數(shù)率。
[0027] 圖14示意性地圖示了圖6的輸入光子計(jì)數(shù)率確定器的范例，其中，使用至少兩個(gè) 不同的通量率來(lái)生成信息，所述輸入光子計(jì)數(shù)率確定器使用這樣生成的信息來(lái)確定正確的 輸入光子計(jì)數(shù)率。
[0028] 圖15圖形化地圖示了根據(jù)結(jié)合圖1的輸入光子計(jì)數(shù)率的箱（bin)中的計(jì)數(shù)的范 例。
[0029] 圖16圖示了示范性的方法。

【具體實(shí)施方式】
[0030] 下面描述了用于利用具有麻痹型計(jì)數(shù)探測(cè)器的光譜成像系統(tǒng)來(lái)生成常規(guī)圖像的 方案，其中，圖像具有與利用常規(guī)（非光譜）成像系統(tǒng)生成的圖像的圖像質(zhì)量相似的圖像質(zhì) 量。
[0031] 首先參考圖6,圖示了示范性的光譜CT掃描器600。CT掃描器600包括大體固定 的臺(tái)架602和旋轉(zhuǎn)臺(tái)架604,其中，旋轉(zhuǎn)臺(tái)架604由固定臺(tái)架602可旋轉(zhuǎn)地支撐并且繞z軸 圍繞檢查區(qū)域606旋轉(zhuǎn)。諸如X射線管的放射源608由旋轉(zhuǎn)臺(tái)架可旋轉(zhuǎn)地支撐、與旋轉(zhuǎn)臺(tái) 架604 -起旋轉(zhuǎn)并且發(fā)射穿過(guò)檢查區(qū)域606的多色輻射。
[0032] 輻射敏感探測(cè)器陣列610在檢查區(qū)域606對(duì)面與放射源608相對(duì)而對(duì)向一角度 弧。輻射敏感探測(cè)器陣列610探測(cè)穿過(guò)檢查區(qū)域606的輻射并且針對(duì)每個(gè)探測(cè)到的光子生 成指示探測(cè)到的光子的信號(hào)。在圖示的實(shí)施例中，輻射敏感探測(cè)器陣列610是具有光子計(jì) 數(shù)探測(cè)器像素611的一維或二維陣列的光子計(jì)數(shù)探測(cè)器陣列，其中，光子計(jì)數(shù)探測(cè)器像素 611包括諸如CdTe、CZT的直接轉(zhuǎn)換材料和/或其他麻痹型直接轉(zhuǎn)換材料。
[0033] 對(duì)于每個(gè)探測(cè)器像素611，任選的放大器612放大信號(hào)。整形器614處理經(jīng)放大的 信號(hào)并且生成脈沖，例如電壓或指示探測(cè)到的光子的能量的其他脈沖。區(qū)分器616根據(jù)能 量來(lái)區(qū)分脈沖。在圖示的范例中，能量區(qū)分器616包括將脈沖的幅值與對(duì)應(yīng)于不同的感興 趣能量的不同能量閾值進(jìn)行比較的一個(gè)或多個(gè)比較器618。區(qū)分器616產(chǎn)生針對(duì)每個(gè)閾值 指示幅值是否超過(guò)閾值的輸出（例如高或低、〇或1等）。
[0034] 計(jì)數(shù)器620基于區(qū)分器616的輸出來(lái)遞增各個(gè)閾值的計(jì)數(shù)值。比如當(dāng)針對(duì)特定的 閾值的比較器618的輸出指示脈沖的幅值超過(guò)對(duì)應(yīng)的閾值時(shí)，遞增該閾值的計(jì)數(shù)值。分箱 器622基于計(jì)數(shù)將信號(hào)和光子根據(jù)能量分箱到兩個(gè)或更多個(gè)能量箱中。一般地，能量箱包 括能量范圍或能量窗。例如，可以針對(duì)兩個(gè)閾值之間的能量范圍來(lái)定義箱，其中，將對(duì)于較 低的閾值引起計(jì)數(shù)但對(duì)于較高的閾值不引起計(jì)數(shù)的光子分配到該箱。
[0035] 輸入光子計(jì)數(shù)率確定器624利用至少一個(gè)輸出光子計(jì)數(shù)率到輸入光子計(jì)數(shù)率的 映射626從多個(gè)候選輸入光子計(jì)數(shù)率中確定對(duì)于每個(gè)積分周期每個(gè)探測(cè)器像素611的正確 的輸入光子計(jì)數(shù)率，輸出光子計(jì)數(shù)率到輸入光子計(jì)數(shù)率的映射626包括與r〈r i± (圖1)相 對(duì)應(yīng)的第一子映射626i和與r>rs± (圖1)相對(duì)應(yīng)的第二子映射6262。可以基于使用不同 已知通量率的空氣掃描和/或使用具有已知衰減屬性的組織等價(jià)材料的各種厚度的一系 列校準(zhǔn)掃描來(lái)生成映射626。
[0036] 如以下更詳細(xì)地描述的，輸入光子計(jì)數(shù)率確定器624基于一個(gè)或多個(gè)方案來(lái)確定 正確的輸入光子計(jì)數(shù)率，所述一個(gè)或多個(gè)方案包括但不限于：響應(yīng)于在積分周期期間探測(cè) 到光子超過(guò)閾值而生成的脈沖的時(shí)間量、積分周期中的探測(cè)到的脈沖堆積的數(shù)量、具有不 同已知輻射敏感面積的不同探測(cè)器的輸入光子計(jì)數(shù)率的比、不同放射源發(fā)射通量的輸入光 子計(jì)數(shù)率的比、基于竇腔X射線成像的估計(jì)、能量箱的計(jì)數(shù)值的分布和/或其他方式。
[0037] 重建器628基于由輸入光子計(jì)數(shù)率確定器624確定的輸入光子計(jì)數(shù)率來(lái)重建數(shù) 據(jù)，并且生成可以被處理以產(chǎn)生一個(gè)或多個(gè)常規(guī)圖像的體積圖像數(shù)據(jù)。如本文所討論的，使 用多個(gè)候選輸入光子計(jì)數(shù)率中的正確的一個(gè)來(lái)重建數(shù)據(jù)減輕由基于輸入光子計(jì)數(shù)率中的 不正確的一個(gè)來(lái)重建數(shù)據(jù)而引入的偽影，并且?guī)椭删哂信c利用常規(guī)CT掃描器生成的 圖像的圖像質(zhì)量相當(dāng)?shù)膱D像質(zhì)量的圖像。
[0038] 諸如臥榻的對(duì)象支撐體630支撐檢查區(qū)域606中的目標(biāo)或?qū)ο?。通用?jì)算機(jī)系統(tǒng) 或計(jì)算機(jī)用作操作者控制臺(tái)632?？刂婆_(tái)632包括諸如監(jiān)視器的人類可讀輸出設(shè)備和諸如 鍵盤、鼠標(biāo)等的輸入設(shè)備。駐留在控制臺(tái)632上的軟件允許操作者經(jīng)由圖像用戶界面（GUI) 或者以其他方式來(lái)與掃描器600交互和/或操作掃描器600。
[0039] 圖7圖示了針對(duì)探測(cè)器像素 611中的一個(gè)的輸入光子計(jì)數(shù)率確定器624的非限制 性范例。
[0040] 整形器700從探測(cè)器像素611接收輸出信號(hào)并且針對(duì)每個(gè)探測(cè)到的光子生成脈 沖，例如電壓或具有指示探測(cè)到的光子的能量的峰值高度的其他脈沖。比較器702將脈沖 的幅值與光子探測(cè)識(shí)別閾值（TH PDI) 704進(jìn)行比較，并且產(chǎn)生指示該幅值是否超過(guò)該閾值的 輸出（例如高或低、〇或1等）。在一個(gè)實(shí)例中，閾值704的值處在探測(cè)器像素611的噪聲 水平處或正好高于探測(cè)器像素611的噪聲水平，這幫助區(qū)分探測(cè)到的光子和噪聲。
[0041] 每次比較器702的輸出從指示輸出低于閾值704轉(zhuǎn)變到指示輸出已經(jīng)超過(guò)閾值 704,計(jì)數(shù)器706遞增計(jì)數(shù)值。如本文所討論的，這樣的轉(zhuǎn)變可以指示單獨(dú)的光子探測(cè)或多 個(gè)堆積的（交疊的）光子。每個(gè)積分周期計(jì)數(shù)器706重置，例如在接收積分周期（IP)觸發(fā) 信號(hào)后重置，并且輸出計(jì)數(shù)值，所述計(jì)數(shù)值是對(duì)在對(duì)應(yīng)的積分周期上的輸出光子計(jì)數(shù)率的 測(cè)量?？梢詼y(cè)量積分周期的時(shí)間，或者可以使用預(yù)定的靜態(tài)值。
[0042] 暫時(shí)轉(zhuǎn)到圖8和圖9,示出了兩個(gè)不同的輸入光子計(jì)數(shù)率因脈沖堆積而得到相同 的測(cè)得的輸出光子計(jì)數(shù)率的范例。在圖8中，預(yù)定的時(shí)間段（例如積分周期）內(nèi)的六個(gè)光 子的較低的輸入光子計(jì)數(shù)率得到五個(gè)光子的輸出光子計(jì)數(shù)率，其中，探測(cè)到的光子中的兩 個(gè)的脈沖交疊，使得他們不可以被單獨(dú)地解析。在圖9中，由于不可以被單獨(dú)地解析的交疊 的脈沖，相同時(shí)間段內(nèi)的十五個(gè)光子的較高的輸入光子計(jì)數(shù)率在相同時(shí)間段內(nèi)也得到五個(gè) 光子的輸出光子計(jì)數(shù)率。結(jié)果，不可以單單利用測(cè)得的輸出光子計(jì)數(shù)率來(lái)確定映射626的 多個(gè)候選輸入光子計(jì)數(shù)率中的正確的輸入光子計(jì)數(shù)率。
[0043] 回到圖7,計(jì)時(shí)器708對(duì)比較器702的輸出的幅值指示閾值704被超過(guò)的時(shí)間量進(jìn) 行計(jì)時(shí)。即計(jì)時(shí)器708響應(yīng)于比較器702的輸出升高到閾值704或高于閾值704而啟動(dòng)， 并且持續(xù)到輸出落到閾值704以下。每個(gè)接下來(lái)的積分周期計(jì)時(shí)器708重置，例如在接收 IP觸發(fā)信號(hào)后重置，并且輸出過(guò)閾時(shí)間值。暫時(shí)轉(zhuǎn)到圖10,圖形化地圖示了作為輸入光子 計(jì)數(shù)率的函數(shù)的過(guò)閾時(shí)間曲線1000,其中，y軸1002表示一個(gè)積分周期內(nèi)的過(guò)閾時(shí)間，并且 X軸1004表示輸入光子計(jì)數(shù)率。如所示的，即使達(dá)到并且超過(guò)了 之后過(guò)閾時(shí)間也單調(diào) 增加，而不像測(cè)得的輸出光子計(jì)數(shù)率那樣（圖1)。
[0044] 回到圖7,邏輯710接收過(guò)閾時(shí)間值、將它與輸入光子過(guò)閾時(shí)間水平（THT(m) 712進(jìn) 行比較、并且響應(yīng)于過(guò)閾時(shí)間值落到閾值712之下而將子映射626i識(shí)別為正確的子映射或 響應(yīng)于過(guò)閾時(shí)間值滿足或超過(guò)閾值712而將子映射626 2識(shí)別為正確的子映射。邏輯710填 入與竇腔X射線成像對(duì)應(yīng)并且為竇腔X射線成像中的每個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)指示正確的子映射的二維 矩陣。
[0045] 在該實(shí)施例中，邏輯710采用矩陣、測(cè)得的輸出光子計(jì)數(shù)率和映射626來(lái)獲得用于 重建的輸入光子計(jì)數(shù)率。在另一個(gè)實(shí)施例中，重建器628、控制臺(tái)632和/或其他部件采用 矩陣、測(cè)得的輸出光子計(jì)數(shù)率和映射626來(lái)獲得用于重建的輸入光子計(jì)數(shù)率。在這樣的實(shí) 施例中，可以從輸入光子計(jì)數(shù)率確定器624中省略計(jì)數(shù)器706。出于簡(jiǎn)潔和清楚的目的，在 下面的實(shí)施例中并未示出計(jì)數(shù)器706,但是同時(shí)可以包括計(jì)數(shù)器706。在包括計(jì)數(shù)器706的 情況下，下面的實(shí)施例中的邏輯可以如結(jié)合圖7所討論的那樣采用其輸出來(lái)確定輸入光子 計(jì)數(shù)率和/或以其他方式確定。
[0046] 圖11圖示了輸入光子計(jì)數(shù)率確定器624的另一個(gè)非限制性范例。在該范例中，整 形器1100和比較器1102進(jìn)行與圖7的整形器700和比較器702基本相似的操作。然而在 該范例中，比較器1102將整形器1100的輸出的幅值與脈沖堆積識(shí)別器閾值（TH PPI) 1104進(jìn) 行比較，脈沖堆積識(shí)別器閾值（THPPI)1104具有大于輻射源發(fā)射電壓的值。這樣整形器1100 的輸出的幅值將只有存在這樣的脈沖堆積事件時(shí)才超過(guò)TH PPI，即在所述脈沖堆積事件中單 獨(dú)的脈沖交疊并且組合以產(chǎn)生超過(guò)THPPI的幅值。計(jì)數(shù)器1106對(duì)脈沖堆積事件進(jìn)行計(jì)數(shù)，并 且邏輯1108將該計(jì)數(shù)值與脈沖堆積水平閾值（TH m) 1110進(jìn)行比較。邏輯1108與圖7的 邏輯710基本相似地工作并且至少基于所述比較來(lái)識(shí)別正確的子映射。
[0047] 圖12結(jié)合具有不同的大小的輻射敏感面積的至少兩個(gè)探測(cè)器像素1202和1204 示意性地圖示了輸入光子計(jì)數(shù)率確定器624的非限制性范例。在該范例中，第一處理鏈 1206處理與探測(cè)器像素1202相對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)，并且第二處理鏈1208處理與探測(cè)器像素1204 相對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)。處理鏈1206和1208分別包括整形器1210和1212、比較器1214和1216、 以及計(jì)數(shù)器1218和1220,它們進(jìn)行與圖7的整形器700、比較器702和計(jì)數(shù)器706基本相 似地工作。比較器1214和1216可以采用與圖7或圖11的那種閾值相似的閾值（TH)或不 同的閾值。
[0048] 在該范例中，探測(cè)器像素1202具有是探測(cè)器像素1204的輻射敏感面積的大小的 x(其中X是大于零的實(shí)數(shù)）倍的輻射敏感面積。通過(guò)相同的每mm2輸入光子計(jì)數(shù)率（IPCR) 來(lái)輻射探測(cè)器像素1202和1204兩者，但是由于它們不同大小的輻射敏感面積，它們將接受 不同的IPCR ;即較小面積的探測(cè)器像素1204將接受IPCRS，而較大面積的探測(cè)器像素1202 將接受IPCR b = X · IPCRS。這樣將存在由計(jì)數(shù)器1218和1220測(cè)得的兩個(gè)不同的輸出光子 計(jì)數(shù)率（0PCR)，即m b和ms。IPCRS可以被表達(dá)為如等式2所示：
[0049] 等式 2 :
[0050]

【權(quán)利要求】
1. 一種成像系統(tǒng)（600)，包括： 輻射源（608)，其發(fā)射穿過(guò)檢查區(qū)域的多色輻射； 探測(cè)器陣列￠10)，其被定位為與所述輻射源相對(duì)，位于所述檢查區(qū)域的對(duì)面，所述探 測(cè)器陣列包括麻痹型光子計(jì)數(shù)探測(cè)器像素￠11)，所述麻痹型光子計(jì)數(shù)探測(cè)器像素（611) 探測(cè)穿過(guò)所述檢查區(qū)域并且照射所述探測(cè)器像素的所述輻射的光子，并且所述探測(cè)器陣列 生成指示每個(gè)探測(cè)到的光子的信號(hào)； 輸出光子計(jì)數(shù)率到輸入光子計(jì)數(shù)率的映射￠26)，其包括將所述探測(cè)器像素的多個(gè)輸 入光子計(jì)數(shù)率映射到所述探測(cè)器像素的單個(gè)輸出光子計(jì)數(shù)率的至少一個(gè)映射； 輸入光子計(jì)數(shù)率確定器￠24)，其將所述映射的所述多個(gè)輸入光子計(jì)數(shù)率中的一個(gè)輸 入光子計(jì)數(shù)率識(shí)別為所述探測(cè)器像素的正確的輸入光子計(jì)數(shù)率；以及 重建器，其基于識(shí)別出的輸入光子計(jì)數(shù)率來(lái)重建所述信號(hào)。
2. 如權(quán)利要求1所述的成像系統(tǒng)，所述輸入光子計(jì)數(shù)率確定器包括： 整形器（700)，其接收所述信號(hào)并且針對(duì)探測(cè)到的光子生成脈沖，其中，每個(gè)脈沖具有 指示相對(duì)應(yīng)的探測(cè)到的光子的能量的峰值幅值； 比較器（702)，其將所述整形器的輸出的幅值與脈沖識(shí)別閾值進(jìn)行比較，并且輸出指示 所述幅值是低于還是超過(guò)所述脈沖識(shí)別閾值的值；以及 計(jì)時(shí)器（708)，其基于所述比較器的輸出來(lái)確定在每個(gè)積分周期上所述脈沖超過(guò)所述 脈沖識(shí)別閾值的時(shí)間量；以及 邏輯（710)，其將所確定的每積分周期的時(shí)間量與輸入光子過(guò)閾時(shí)間水平（712)進(jìn)行 比較，并且基于所述比較來(lái)生成指示所確定的時(shí)間量是低于還是高于所述輸入光子過(guò)閾時(shí) 間水平的數(shù)據(jù)。
3. 如權(quán)利要求2所述的成像系統(tǒng)，其中，所述映射包括至少兩個(gè)子映射，一個(gè)包括所述 多個(gè)輸入光子計(jì)數(shù)率中的第一個(gè)并且一個(gè)包括所述多個(gè)輸入光子計(jì)數(shù)率中的第二個(gè)。
4. 如權(quán)利要求3所述的成像系統(tǒng)，其中，所述邏輯生成第一二維矩陣，所述第一二維矩 陣具有針對(duì)每個(gè)測(cè)得的輸出計(jì)數(shù)率的條目，所述第一二維矩陣針對(duì)每個(gè)測(cè)得的輸出計(jì)數(shù)率 指示識(shí)別出的子映射。
5. 如權(quán)利要求2到4中的任一項(xiàng)所述的成像系統(tǒng)，所述輸入光子計(jì)數(shù)率確定器還包 括： 計(jì)數(shù)器（706)，其對(duì)在每個(gè)積分周期上所述比較器的所述輸出升高到超過(guò)所述脈沖識(shí) 別閾值（704)的脈沖之上的次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)，并且基于其生成輸出光子計(jì)數(shù)率， 其中，所述邏輯基于指示所確定的時(shí)間量是低于還是高于所述過(guò)閾時(shí)間水平的所述數(shù) 據(jù)和所述輸出光子計(jì)數(shù)率來(lái)識(shí)別所述一個(gè)輸入光子計(jì)數(shù)率。
6. 如權(quán)利要求5所述的成像系統(tǒng)，其中，所述邏輯生成第一二維矩陣，所述第一二維矩 陣具有針對(duì)每個(gè)測(cè)得的輸出計(jì)數(shù)率的條目，所述第一二維矩陣針對(duì)每個(gè)測(cè)得的輸出計(jì)數(shù)率 指示識(shí)別出的輸入光子計(jì)數(shù)率。
7. 如權(quán)利要求1所述的成像系統(tǒng)，所述輸入光子計(jì)數(shù)率確定器包括： 整形器（1100)，其接收所述信號(hào)并且針對(duì)探測(cè)到的光子生成脈沖，其中，每個(gè)脈沖具有 指示對(duì)應(yīng)的探測(cè)到的光子的能量的峰值幅值； 比較器（1102)，其將所述整形器的輸出的幅值與脈沖堆積閾值（1104)進(jìn)行比較，并且 輸出指示所述幅值是低于還是超過(guò)所述脈沖堆積閾值的值，其中，所述脈沖堆積閾值具有 與大于所述輻射源的最高發(fā)射能量的能量相對(duì)應(yīng)的值； 計(jì)數(shù)器（1106)，其對(duì)每個(gè)積分周期內(nèi)指示所述幅值升高到所述脈沖堆積閾值之上的所 述比較器的輸出的次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)，并且輸出對(duì)其進(jìn)行指示的堆積計(jì)數(shù)值；以及 邏輯（1108)，其將所述堆積計(jì)數(shù)值與脈沖堆積水平閾值（1110)進(jìn)行比較，并且基于所 述比較來(lái)生成指示所述堆積計(jì)數(shù)值是低于還是高于所述脈沖堆積水平閾值的數(shù)據(jù)，其中， 所述數(shù)據(jù)識(shí)別所述多個(gè)輸入光子計(jì)數(shù)率中的所述一個(gè)輸入光子計(jì)數(shù)率。
8. 如權(quán)利要求1所述的成像系統(tǒng)，所述輸入光子計(jì)數(shù)率確定器包括： 第一處理鏈（1206)，其包括： 第一整形器（1210)，其接收由第一探測(cè)器像素響應(yīng)于所述第一探測(cè)器像素探測(cè)到第一 多個(gè)探測(cè)到的光子而產(chǎn)生的第一信號(hào)，其中，所述第一整形器輸出指示積分周期期間所述 第一多個(gè)探測(cè)到的光子的能量的第一脈沖； 第一比較器（1214)，其將所述第一脈沖的幅值與脈沖探測(cè)閾值（1215)進(jìn)行比較，并且 輸出指示所述第一脈沖的幅值是否超過(guò)所述脈沖探測(cè)閾值的第一脈沖探測(cè)信號(hào)；以及 第一計(jì)數(shù)器（1218)，其對(duì)所述第一比較器的所述輸出指示所述幅值超過(guò)所述脈沖探測(cè) 閾值的次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)，并且輸出第一輸出光子計(jì)數(shù)率； 第二處理鏈（1208)，其包括： 第二整形器（1212)，其接收由第二探測(cè)器像素響應(yīng)于所述第二探測(cè)器像素探測(cè)到第二 多個(gè)探測(cè)到的光子而產(chǎn)生的第二信號(hào)，其中，所述第二整形器輸出指示所述積分周期期間 所述第二多個(gè)探測(cè)到的光子的能量的第二脈沖，其中，所述第二探測(cè)器像素具有相對(duì)于所 述第一探測(cè)器像素較小的輻射敏感探測(cè)面積； 第二比較器（1216)，其將所述第二脈沖的幅值與所述脈沖探測(cè)閾值進(jìn)行比較，并且輸 出指示所述第二脈沖的幅值是否超過(guò)所述脈沖探測(cè)閾值的第二脈沖探測(cè)信號(hào)；以及 第二計(jì)數(shù)器（1220)，其對(duì)所述第二比較器的所述輸出指示所述幅值超過(guò)所述脈沖探測(cè) 閾值的次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)，并且輸出第二輸出光子計(jì)數(shù)率；以及 邏輯（1222)，其基于所述第一輸出光子計(jì)數(shù)率和所述第二輸出光子計(jì)數(shù)率來(lái)識(shí)別所述 輸入光子計(jì)數(shù)率。
9. 如權(quán)利要求8所述的成像系統(tǒng)，其中，所述第一探測(cè)器像素和所述第二探測(cè)器像素 是同一探測(cè)器像素。
10. 如權(quán)利要求8所述的成像系統(tǒng)，其中，所述第一探測(cè)器像素和所述第二探測(cè)器像素 是不同的探測(cè)器像素。
11. 如權(quán)利要求8所述的成像系統(tǒng)，其中，所述邏輯還基于所述第一探測(cè)器像素的輻射 敏感探測(cè)面積的大小與所述第二探測(cè)器像素的輻射敏感探測(cè)面積的大小的比來(lái)確定所述 正確的輸入光子計(jì)數(shù)率。
12. 如權(quán)利要求1所述的成像系統(tǒng)，所述輸入光子計(jì)數(shù)率確定器包括： 整形器（1300)，其接收探測(cè)到的光子的所述信號(hào)并且生成針對(duì)所述積分周期期間多個(gè) 探測(cè)到的光子指示探測(cè)到的光子的能量的脈沖； 整形器控制器（1306)，其在兩個(gè)連續(xù)的積分周期之間，在至少兩個(gè)不同的整形時(shí)間之 間切換所述整形器的整形時(shí)間； 比較器（1302)，其將所述整形器的輸出的幅值與閾值進(jìn)行比較，并且輸出指示所述幅 值是否超過(guò)所述閾值的信號(hào)； 計(jì)數(shù)器（1106)，其對(duì)所述比較器的所述輸出指示所述幅值超過(guò)所述閾值的次數(shù)進(jìn)行計(jì) 數(shù)，并且輸出針對(duì)所述至少兩個(gè)不同的整形時(shí)間中的第一整形時(shí)間的第一輸出光子計(jì)數(shù)率 和針對(duì)所述至少兩個(gè)不同的整形時(shí)間中的第二整形時(shí)間的第二輸出光子計(jì)數(shù)率；以及 邏輯（1308)，其基于所述第一整形時(shí)間、所述第二整形時(shí)間、所述第一輸出光子計(jì)數(shù)率 和所述第二輸出光子計(jì)數(shù)率來(lái)識(shí)別所述輸入光子計(jì)數(shù)率。
13. 如權(quán)利要求1所述的成像系統(tǒng)，所述輸入光子計(jì)數(shù)率確定器包括： 第一整形器（1300)，其在所述積分周期期間接收針對(duì)探測(cè)到的光子的所述信號(hào)并且生 成針對(duì)多個(gè)探測(cè)到的光子指示探測(cè)到的光子的能量的脈沖，其中，所述第一整形器具有第 一整形時(shí)間； 第二整形器（1300)，其在所述積分周期期間接收針對(duì)探測(cè)到的光子的所述信號(hào)并且生 成針對(duì)多個(gè)探測(cè)到的光子指示探測(cè)到的光子的能量的脈沖，其中，所述第二整形器具有第 二整形時(shí)間，并且所述第一整形時(shí)間和所述第二整形時(shí)間是不同的； 一個(gè)或多個(gè)比較器（1302)，其將所述第一整形器的輸出的幅值與第一閾值進(jìn)行比較并 且將所述第二整形器的輸出的幅值與第二閾值進(jìn)行比較，并且分別輸出指示所述第一信號(hào) 的所述幅值是否超過(guò)所述第一閾值的第一數(shù)據(jù)和指示所述第二信號(hào)的所述幅值是否超過(guò) 所述第二閾值的第二數(shù)據(jù)； 一個(gè)或多個(gè)計(jì)數(shù)器（1106)，其對(duì)所述一個(gè)或多個(gè)比較器的所述輸出指示所述第一信號(hào) 的所述幅值超過(guò)所述第一閾值的次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)，并且輸出所述第一整形時(shí)間的第一輸出光 子計(jì)數(shù)率，并且對(duì)所述一個(gè)或多個(gè)比較器的所述輸出指示所述第二信號(hào)的所述幅值超過(guò)所 述第二閾值的次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)，并且輸出所述第二整形時(shí)間的第二輸出光子計(jì)數(shù)率；以及 邏輯（1308)，其基于所述第一整形時(shí)間、所述第二整形時(shí)間、所述第一輸出光子計(jì)數(shù)率 和所述第二輸出光子計(jì)數(shù)率來(lái)識(shí)別所述輸入光子計(jì)數(shù)率。
14. 如權(quán)利要求1所述的成像系統(tǒng)，還包括： 輻射源控制器（1406)，其在兩個(gè)連續(xù)的積分周期之間，在至少兩個(gè)不同的X射線通量 之間切換所述輻射源的通量，其中，所述探測(cè)器陣列針對(duì)所述至少兩個(gè)不同的X射線通量 中的第一通量探測(cè)光子，并且針對(duì)所述至少兩個(gè)不同的X射線通量中的第二通量探測(cè)光 子； 整形器（1400)，其接收所述探測(cè)器陣列的輸出，并且生成針對(duì)與所述第一通量相對(duì)應(yīng) 的光子和與所述第二通量相對(duì)應(yīng)的光子指示探測(cè)到的光子的能量的脈沖； 比較器（1402)，其將所述整形器的輸出的幅值與閾值進(jìn)行比較，并且輸出指示所述幅 值是否超過(guò)所述閾值的信號(hào)； 計(jì)數(shù)器（1404)，其對(duì)所述比較器的所述輸出指示所述幅值超過(guò)所述閾值的次數(shù)進(jìn)行 計(jì)數(shù)，并且輸出所述第一通量的第一輸出光子計(jì)數(shù)率和所述第二通量的第二輸出光子計(jì)數(shù) 率；以及 邏輯（1222)，其基于所述第一輸出光子計(jì)數(shù)率、所述第二輸出光子計(jì)數(shù)率和所述第一 通量與所述第二通量的比來(lái)識(shí)別所述輸入光子計(jì)數(shù)率。
15. -種方法，包括： 接收麻痹型光子計(jì)數(shù)探測(cè)器像素的輸出信號(hào)，所述麻痹型光子計(jì)數(shù)探測(cè)器像素以輸入 光子計(jì)數(shù)率來(lái)接收光子； 經(jīng)由整形器將所述輸出信號(hào)整形，產(chǎn)生整形器輸出信號(hào)； 基于所述整形器輸出信號(hào)來(lái)確定所述探測(cè)器像素的輸出光子計(jì)數(shù)率； 從所述輸出光子計(jì)數(shù)率的多個(gè)候選輸入光子計(jì)數(shù)率中，將輸入光子計(jì)數(shù)率識(shí)別為與所 述探測(cè)器像素和所述輸出光子計(jì)數(shù)率相對(duì)應(yīng)的輸入光子計(jì)數(shù)率；并且 基于識(shí)別出的輸入光子計(jì)數(shù)率來(lái)重建所述輸出信號(hào)。
16. 如權(quán)利要求15所述的方法，還包括： 確定在積分周期上所述整形器輸出信號(hào)的幅值高于脈沖識(shí)別閾值的時(shí)間量，其中，識(shí) 別所述輸入光子計(jì)數(shù)率包括基于在所述積分周期上所述整形器輸出信號(hào)的所述幅值高于 所述脈沖識(shí)別閾值的所述時(shí)間量來(lái)識(shí)別所述輸入光子計(jì)數(shù)率。
17. 如權(quán)利要求15所述的方法，其中，識(shí)別所述輸入光子計(jì)數(shù)率包括將在所述積分周 期上所述整形器輸出信號(hào)的所述幅值高于所述脈沖識(shí)別閾值的所述時(shí)間量與輸入光子計(jì) 數(shù)率水平閾值進(jìn)行比較，并且還包括： 基于所述輸出光子計(jì)數(shù)率來(lái)識(shí)別兩個(gè)或更多個(gè)輸入光子計(jì)數(shù)率； 響應(yīng)于所述整形器輸出信號(hào)的所述幅值高于所述輸入光子計(jì)數(shù)率水平閾值的所述時(shí) 間量，將所述輸入光子計(jì)數(shù)率識(shí)別為所述兩個(gè)或更多個(gè)輸入光子計(jì)數(shù)率中的第一個(gè)；并且 響應(yīng)于所述整形器輸出信號(hào)的所述幅值低于所述輸入光子計(jì)數(shù)率水平閾值的所述時(shí) 間量，將所述輸入光子計(jì)數(shù)率識(shí)別為所述兩個(gè)或更多個(gè)輸入光子計(jì)數(shù)率中的第二個(gè)。
18. 如權(quán)利要求15所述的方法，還包括： 確定在積分周期上與第一探測(cè)器像素相對(duì)應(yīng)的第一輸出光子計(jì)數(shù)率； 確定在相同的積分周期上與第二探測(cè)器像素相對(duì)應(yīng)的第二輸出光子計(jì)數(shù)率，其中，所 述第二探測(cè)器像素具有比所述第一探測(cè)器像素的輻射敏感面積更大的輻射敏感面積。 基于所述第一輸出光子計(jì)數(shù)率、所述第二輸出光子計(jì)數(shù)率和所述第一探測(cè)器像素的所 述輻射敏感面積的大小與所述第二探測(cè)器像素的所述第二較大的輻射敏感面積的大小的 比來(lái)確定所述輸入光子計(jì)數(shù)率。
19. 如權(quán)利要求15所述的方法，還包括： 確定在積分周期上第一整形時(shí)間的第一輸出光子計(jì)數(shù)率； 確定在相同的或不同的積分周期中的一個(gè)上第二整形時(shí)間的第二輸出光子計(jì)數(shù)率，其 中，所述第一和第二整形時(shí)間是不同的；以及 基于所述第一輸出光子計(jì)數(shù)率、所述第二輸出光子計(jì)數(shù)率、所述第一整形時(shí)間和所述 第二整形時(shí)間來(lái)確定所述輸入光子計(jì)數(shù)率。
20. 如權(quán)利要求15所述的方法，還包括： 確定在具有第一預(yù)定長(zhǎng)度的積分周期上第一輻射源通量的第一輸出光子計(jì)數(shù)率； 確定在具有第二預(yù)定長(zhǎng)度的積分周期上第二輻射源通量的第二輸出光子計(jì)數(shù)率，其 中，所述第一和第二通量是不同的；并且 基于所述第一輸出光子計(jì)數(shù)率和所述第二輸出光子計(jì)數(shù)率來(lái)確定所述輸入光子計(jì)數(shù) 率。
21. 如權(quán)利要求15所述的方法，還包括： 將探測(cè)到的光子分箱到多個(gè)能量箱，其中，基于探測(cè)到的光子的對(duì)應(yīng)的能量來(lái)對(duì)每個(gè) 探測(cè)到的光子進(jìn)行分箱；并且 基于至少一個(gè)能量箱中的光子的計(jì)得的數(shù)量的分布來(lái)確定所述輸入光子計(jì)數(shù)率。
22. 如權(quán)利要求21所述的方法，其中，基于使用不同已知通量率的一個(gè)或多個(gè)空氣掃 描或使用具有已知衰減屬性的組織等價(jià)材料的各種厚度的一系列校準(zhǔn)掃描來(lái)確定所述分 布。
23. 如權(quán)利要求15所述的方法，還包括： 通過(guò)將在竇腔X射線成像的外圍處的數(shù)據(jù)點(diǎn)分配到較高的輸入光子計(jì)數(shù)率并且將在 所述竇腔X射線成像的中心區(qū)域處的數(shù)據(jù)點(diǎn)分配到較低的輸入光子計(jì)數(shù)率來(lái)確定所述竇 腔X射線成像的每個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)的所述輸入光子計(jì)數(shù)率。
【文檔編號(hào)】G01T1/17GK104220899SQ201380016483
【公開日】2014年12月17日 申請(qǐng)日期:2013年3月25日 優(yōu)先權(quán)日:2012年3月27日
【發(fā)明者】H·德爾, E·勒斯?fàn)? 申請(qǐng)人:皇家飛利浦有限公司