用于檢查隱形眼鏡的系統(tǒng)和方法
【專利摘要】一種用于檢查透鏡的設(shè)備，包括包含開放比色杯的檢查系統(tǒng)、通信耦合CT測量設(shè)備、以及被通信耦合到檢查系統(tǒng)的用戶接口。根據(jù)一個(gè)實(shí)施例，透鏡檢查系統(tǒng)提供了用于檢查透鏡質(zhì)量的單個(gè)儀表，從而使透鏡從一個(gè)檢查部件到另一個(gè)的傳遞最小化。
【專利說明】用于檢查隱形眼鏡的系統(tǒng)和方法

【背景技術(shù)】
[0001]在最近幾十年中，隱形眼鏡已經(jīng)變成其他視力矯正方法的優(yōu)選替換。由于其增加的流行性，大規(guī)模地制造隱形眼鏡以便滿足消費(fèi)者需求已經(jīng)變成強(qiáng)制性的。此外，要求以低公差來精確地制造這些透鏡以便提供適當(dāng)且有效的矯正透鏡。
[0002]可通過使用自旋澆鑄過程來執(zhí)行軸向?qū)ΨQ物品、諸如隱形眼鏡的聚合澆鑄。自旋澆鑄已被證明是大量生產(chǎn)隱形眼鏡的有效方式。在此過程中，將受控量的可聚合液體放置到開放模型中，其然后以足以產(chǎn)生引起可聚合液體的徑向向外位移的離心力的旋轉(zhuǎn)速度繞著其垂直軸旋轉(zhuǎn)。通過保持受控旋轉(zhuǎn)速率，由旋轉(zhuǎn)引起的離心力將促使可聚合液體采用大體上凹面形狀。一旦可聚合液體已獲得平衡形狀，則可以用任何合理手段來實(shí)現(xiàn)液體的聚合，諸如加熱或暴露于光化輻射(即紫外光),從而產(chǎn)生實(shí)心聚合隱性眼鏡。
[0003]在自旋澆鑄過程中所使用的開放模型通常以外圓筒形壁和包括暴露凹面成型腔的模具為特征。成型腔的形狀通常將限定成品隱形眼鏡的前表面的形狀，并且可包含諸如微透鏡曲線、環(huán)面曲線、非球面曲線和旨在以預(yù)定方式與眼睛、其光學(xué)過程或眼瞼相交互的其他此類特征或形狀之類的期望元素。
[0004]透鏡的后面或背面表面的形狀因數(shù)主要由旋轉(zhuǎn)的角速度以及其他因數(shù)確定，諸如可聚合液體的表面張力以及重力加速度。
[0005]在制造隱形眼鏡期間，通常在自旋管中使聚合物聚合。自旋管必須能夠呈現(xiàn)用于模具的準(zhǔn)確且筆直的內(nèi)孔且必須以最小的可聚合液體流出和系統(tǒng)內(nèi)的最小振動(dòng)而繞著其自己的垂直軸自旋。自旋澆鑄隱形眼鏡的生產(chǎn)中的不一致性可由任何數(shù)目的制造元素引入。例如，自旋管流出的變化可影響最后的隱形眼鏡。另外，自旋管到旋轉(zhuǎn)底座中的不準(zhǔn)確安裝可引入影響所生產(chǎn)的隱形眼鏡的不準(zhǔn)確性。另外，可能無意中引入污染物，或者系統(tǒng)振動(dòng)可產(chǎn)生缺少足夠精度的產(chǎn)品(例如具有不期望缺陷或瑕疵的隱形眼鏡此外，將結(jié)果得到的透鏡從其模具去除可向透鏡引入開裂及其他缺陷。
[0006]為了確保隱形眼鏡的恒定質(zhì)量，提供使用工業(yè)圖像處理方法進(jìn)行的隱形眼鏡的自動(dòng)檢查是適當(dāng)?shù)?。在圖像處理中，在兩半模具中且在真空夾具處測試透鏡。例如在歐洲專利491663中描述了這種圖像處理方法。當(dāng)然，并不是所有的有缺陷隱形眼鏡都可能受到此類檢查的影響，或者建立標(biāo)稱缺陷，諸如由水溢出形成的氣泡，然而其圖示出偽像。此外，自動(dòng)化檢查系統(tǒng)裝備差而不能識(shí)別可能并非透鏡缺陷、而是系統(tǒng)污染(諸如灰塵規(guī)格(鄧^⑶)和/或纖維)的透鏡上的偽像。通過不得不挑選出完美的透鏡，降低了產(chǎn)率，其對(duì)平衡成本具有副作用。
[0007]為了減少自動(dòng)化檢查系統(tǒng)的副作用，許多當(dāng)前系統(tǒng)結(jié)合了透鏡的手動(dòng)檢查。然而，為了手動(dòng)地檢查透鏡的多個(gè)方面，將透鏡傳遞至多個(gè)儀表。透鏡的多次傳遞實(shí)際上可能作為檢查過程的一部分而使透鏡損壞或變形。因此，這種傳統(tǒng)手動(dòng)檢查系統(tǒng)一般地引起透鏡損失和廢物的人為地升高速率。檢查過程期間的此增加的透鏡損失在為特定的個(gè)人制造一次性處方透鏡的處方實(shí)驗(yàn)室中是特別麻煩的。
[0008]換言之，傳統(tǒng)檢查系統(tǒng)結(jié)合了多個(gè)儀表，從而引入了在儀表之間的傳遞期間的透鏡損壞的可能性。另外，透鏡損壞的增加一般地要求使用附加透鏡。此外，傳統(tǒng)系統(tǒng)常常引入透鏡干燥，其潛在地改變您正在測量的每個(gè)透鏡的尺寸。當(dāng)嘗試在靜態(tài)狀態(tài)下測量對(duì)象時(shí)，經(jīng)由過程產(chǎn)生的透鏡尺寸的此變化是違反直覺的。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0009]根據(jù)一個(gè)示例性實(shí)施例，一種用于檢查隱形眼鏡的設(shè)備提供了用以檢查眼科產(chǎn)品的更靈活的方法，允許更快速且更高效的檢查，無論操作員技術(shù)或經(jīng)驗(yàn)如何，可以改善檢查結(jié)果的客觀性，同時(shí)提供一種單次檢查系統(tǒng)，其能夠提供用以在受控且高效的審計(jì)站內(nèi)對(duì)透鏡進(jìn)行完全檢查和評(píng)級(jí)的手段。
[0010]根據(jù)一個(gè)示例性實(shí)施例，本示例性系統(tǒng)提供了一種包括被通信耦合到'測量儀表的測量設(shè)備的檢查系統(tǒng)。該測量設(shè)備包括被設(shè)計(jì)成提供完全潤濕測量環(huán)境的比色杯(011^6^6),該完全潤濕測量環(huán)境提供封閉比色杯性質(zhì)。根據(jù)本實(shí)施例，該比色杯包括磁性比色杯定位和保持系統(tǒng)，其消除了實(shí)際比色杯中的對(duì)緊固件的需要。另外，該示例性比色杯包括防紋影和振動(dòng)/脈沖控制性質(zhì)，至少以使比色杯的溫度梯度均化的擋板和混合板的形式。
[0011]另外，根據(jù)一個(gè)示例性實(shí)施例，本示例性透鏡檢查系統(tǒng)包括一種結(jié)合了與輪廓測定和矢狀評(píng)估相結(jié)合的射線追蹤的基礎(chǔ)曲線測量系統(tǒng)。本示例性系統(tǒng)結(jié)合了多個(gè)且連續(xù)的照明條件以提供用于準(zhǔn)確地識(shí)別透鏡缺陷的最佳視圖。另外，根據(jù)一個(gè)示例性實(shí)施例，本示例性系統(tǒng)結(jié)合了一種色彩解釋模塊，其提供被檢查的透鏡中的基于鐵的材料的準(zhǔn)確檢測。
[0012]此外，根據(jù)一個(gè)示例性實(shí)施例，本示例性透鏡檢查系統(tǒng)和方法包括一種結(jié)合了人類資格證明和計(jì)算機(jī)量化兩者的系統(tǒng)。根據(jù)一個(gè)示例性實(shí)施例，經(jīng)由直觀觸摸屏檢查員接口來啟用人類資格證明。這提供了基于客觀101評(píng)級(jí)及人類資格證明和計(jì)算機(jī)量化的檢查。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0013]附圖圖示出本文所述原理的各種實(shí)施例且是本說明書的一部分。所示實(shí)施例僅僅是示例且不限制權(quán)利要求的范圍。
[0014]圖1八是根據(jù)本示例性系統(tǒng)和方法的實(shí)施例的用透鏡檢查系統(tǒng)來檢查透鏡的透視圖。
[0015]圖18是根據(jù)本示例性系統(tǒng)和方法的一個(gè)實(shí)施例的圖1八的透鏡檢查系統(tǒng)的透視圖。
[0016]圖2八-2？圖示出根據(jù)本示例性系統(tǒng)和方法的各種實(shí)施例的透鏡比色杯的各種視圖。
[0017]圖3是圖示出根據(jù)本示例性系統(tǒng)和方法的實(shí)施例的鹽水循環(huán)控制裝備(861-111))的系統(tǒng)框圖。
[0018]圖4八和48是根據(jù)本示例性系統(tǒng)和方法的實(shí)施例的測量設(shè)備的透視圖和截面透視圖。
[0019]圖5八和58圖不出根據(jù)本不例性系統(tǒng)和方法的實(shí)施例的可與圖4八和48的測量設(shè)備相結(jié)合地使用的光源的透視圖。
[0020]圖6八和68是根據(jù)本示例性系統(tǒng)和方法的實(shí)施例的測量設(shè)備的眼科配置的示意圖。
[0021]圖7八、78和70是根據(jù)本示例性系統(tǒng)和方法的實(shí)施例的分別地使用亮場光場、遠(yuǎn)心光場以及暗場光場的缺陷檢查圖像的照片。
[0022]圖8是根據(jù)本示例性系統(tǒng)和方法的實(shí)施例的針對(duì)遠(yuǎn)心光場被照亮的透鏡檢查圖像及其相應(yīng)測試數(shù)據(jù)的屏幕快照。
[0023]圖9八和98是根據(jù)本示例性系統(tǒng)和方法的實(shí)施例的被測試透鏡的側(cè)視圖的照片。
[0024]圖10八和108是根據(jù)本示例性系統(tǒng)和方法的實(shí)施例的測量設(shè)備的透視圖和前視圖。
[0025]圖11是圖示出根據(jù)本示例性系統(tǒng)和方法的實(shí)施例的本測量設(shè)備所使用的基礎(chǔ)曲線測量原理的示意圖。
[0026]圖12八是根據(jù)本示例性系統(tǒng)和方法的實(shí)施例的用本透鏡檢查系統(tǒng)獲得的透鏡檢查數(shù)據(jù)的屏幕快照。
[0027]圖128是根據(jù)本示例性系統(tǒng)和方法的實(shí)施例的透鏡檢查圖像和相應(yīng)測試程序指令的屏幕快照。
[0028]圖13八是圖示出根據(jù)本示例性系統(tǒng)和方法的實(shí)施例的被透鏡檢查系統(tǒng)結(jié)合的逐步工作流程屏幕生成的示意圖。
[0029]圖138是圖示出根據(jù)本示例性系統(tǒng)和方法的實(shí)施例的被本透鏡檢查系統(tǒng)結(jié)合的透鏡檢查的逐步工作流程的示意圖。
[0030]圖13(:是圖示出根據(jù)本示例性系統(tǒng)和方法的實(shí)施例的被透鏡檢查系統(tǒng)結(jié)合的用于透鏡測量的逐步工作流程的示意圖。
[0031]圖14描述了適合于實(shí)現(xiàn)本系統(tǒng)和方法的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)的框圖。
[0032]遍及各圖，相同的附圖標(biāo)記指示類似但不一定相同的元件。

【具體實(shí)施方式】
[0033]在以下描述中，出于說明的目的，闡述了許多特定細(xì)節(jié)以便提供本系統(tǒng)和方法的透徹理解。然而，對(duì)于本領(lǐng)域的技術(shù)人員而言將顯而易見的是可在沒有這些特定細(xì)節(jié)的情況下實(shí)施本系統(tǒng)和方法。在本說明書中對(duì)“實(shí)施例”、“示例”或類似語言的參考意味著結(jié)合該實(shí)施例或示例所述的特定特征、結(jié)構(gòu)或特性被包括在至少那個(gè)實(shí)施例中，但在其他實(shí)施例中不一定。短語“在一個(gè)實(shí)施例中”或類似短語在本說明書中的不同位置上的不同實(shí)例不一定全部參考同一實(shí)施例。
[0034]本示例性系統(tǒng)和方法被配置成用于眼科產(chǎn)品的檢查和評(píng)級(jí)。更具體地，根據(jù)一個(gè)示例性實(shí)施例，本示例性系統(tǒng)和方法被配置成用于隱形眼鏡的高效且準(zhǔn)確的檢查。雖然本說明書將僅僅為了便于說明而把描述本示例性檢查系統(tǒng)描述為用來檢查新制造隱形眼鏡的質(zhì)量，但將理解的是本示例性系統(tǒng)可用來直觀地檢查任何數(shù)目的眼科產(chǎn)品。
[0035]轄體系統(tǒng)圖1八是根據(jù)本示例性系統(tǒng)和方法的實(shí)施例的用戶用透鏡檢查系統(tǒng)來檢查透鏡的透視圖。如圖1八中所示，本示例性檢查系統(tǒng)100包括被通信耦合到鋼筆顯示器110和中心厚度
(01)量規(guī)130的測量設(shè)備120。根據(jù)一個(gè)示例性實(shí)施例，示例性檢查系統(tǒng)100被設(shè)置在穩(wěn)定支撐結(jié)構(gòu)140上以用于用戶150的容易且可靠的使用，該穩(wěn)定支撐結(jié)構(gòu)可包括具有高度耐久表面的托盤工作臺(tái)170。
[0036]圖18還提供了根據(jù)本示例性系統(tǒng)和方法的一個(gè)實(shí)施例的為了易于查看的沒有用戶150的圖1八的透鏡檢查系統(tǒng)100的透視圖。如圖18中所示，示例性檢查系統(tǒng)100包括可以是鋼筆顯示器110形式的用戶接口以及被通信耦合到測量設(shè)備120的量規(guī)130。在結(jié)構(gòu)上支撐透鏡檢查系統(tǒng)100的支撐結(jié)構(gòu)140可包括任何數(shù)目的特征，其旨在增加測量準(zhǔn)確度并減少圖像退化環(huán)境變化的引入，包括但絕不局限于用以減少振動(dòng)傳輸?shù)姆蛛x工作臺(tái)142、用以減少靜態(tài)和瞬態(tài)振動(dòng)的沉重框架144、用沙填充的框架、地板上的長釘以及被構(gòu)造成減少標(biāo)準(zhǔn)波和振動(dòng)效果的任何其他特征或設(shè)備。
[0037]如上所述，本示例性系統(tǒng)和方法被配置成與傳統(tǒng)系統(tǒng)相比增加等級(jí)的檢查準(zhǔn)確度，同時(shí)減少檢查時(shí)間，減少用戶培訓(xùn)時(shí)間，并且大大地減少檢查期間的透鏡傳遞的發(fā)生。下面參考附圖來提供示例性透鏡檢查系統(tǒng)100的部件的進(jìn)一步細(xì)節(jié)。
[0038]比色杯系統(tǒng)
根據(jù)一個(gè)示例性實(shí)施例，本示例性檢查系統(tǒng)100是單集成系統(tǒng)，其包括在沒有透鏡的物理觸摸或傳遞的情況下促進(jìn)比色杯內(nèi)部的被測試透鏡270的測量的開放比色杯200。根據(jù)一個(gè)示例性實(shí)施例，開放比色杯200促進(jìn)除之外的國際標(biāo)準(zhǔn)化組織(130)所需的所有參數(shù)的測量。因此，根據(jù)本示例性方法，被測試透鏡270的剛好在丟棄被測試透鏡或放置在小瓶“匕丨)中之前最后測量。根據(jù)本示例性方法，如下面參考圖10^-11更詳細(xì)地所述的，確定測量結(jié)果并經(jīng)由任何數(shù)目的有線或無線通信特征而反饋到測量設(shè)備120中，以確定被測試透鏡270的基礎(chǔ)曲線。替換地，可通過開放比色杯200來獲得包括的130所需的所有參數(shù)。根據(jù)本示例性實(shí)施例，可經(jīng)由諸如輪廓測定法等光學(xué)手段在處于開放比色杯200中的同時(shí)確定透鏡的丁。
[0039]繼續(xù)圖2八-2？，根據(jù)本示例性系統(tǒng)和方法的各種實(shí)施例，圖示出透鏡比色杯200的示例性視圖。如所示，透鏡比色杯200在使用期間被設(shè)置在檢查系統(tǒng)100的比色杯安裝底座430上。根據(jù)一個(gè)示例性實(shí)施例，比色杯200包括開放頂部201，其促進(jìn)被測試透鏡270到比色杯中的插入。另外，示例性比色杯200的開放頂部201促進(jìn)在檢查期間用一對(duì)鑷子或其他設(shè)備進(jìn)行的被測試透鏡270的操縱。
[0040]如所示，比色杯200包括傳感器底座250，其用于將熱探針和/或其他傳感器定位于包含在具有被測試透鏡270的比色杯內(nèi)的鹽水中。另外，示例性比色杯200包括許多側(cè)壁260，其限定用于容納鹽水和被測試透鏡270的比色杯200的內(nèi)部。如所示，可由側(cè)壁260來限定許多光孔徑280、透鏡282以及測量孔徑281以促進(jìn)被測試透鏡270的定位、照明、檢查以及成像，如下面將更詳細(xì)地描述的。
[0041]具有基于封閉的視覺系統(tǒng)的開放比色杯200的結(jié)合向本示例性系統(tǒng)提供許多益處。傳統(tǒng)封閉比色杯是小的、基于窄毛細(xì)管的系統(tǒng)，透鏡被插入其中。常常使用該封閉比色杯系統(tǒng)是因?yàn)槠涮峁┯糜跈z查透鏡的靜態(tài)狀態(tài)。傳統(tǒng)比色杯中的空間使得透鏡剛好配合在內(nèi)部而沒有額外空間。一旦被封裝，透鏡將保持在比色杯中直至被檢查實(shí)驗(yàn)室打開。然而，不能進(jìn)行傳統(tǒng)封閉比色杯中的透鏡檢查期間的操縱。
[0042]相反地，本示例性比色杯200允許透鏡的快速插入和檢查，同時(shí)允許在觸摸透鏡、移動(dòng)透鏡、將透鏡重新定位、操縱透鏡以確定在檢查期間在透鏡上是否存在將浮起的顆粒方面的高度靈活性。另外，本比色杯仍提供與封閉比色杯系統(tǒng)類似的完全靜態(tài)測量環(huán)境。
[0043]更具體地，本比色杯600的靜態(tài)測量環(huán)境是經(jīng)由鹽水孔口 286、設(shè)置在測試區(qū)域內(nèi)的嵌入體240以及動(dòng)態(tài)可調(diào)整泵系統(tǒng)而提供的，如在下面更詳細(xì)地描述的。如圖202？中所示，可在比色杯200中形成許多鹽水孔口 286以促進(jìn)鹽水到由側(cè)壁260限定的比色杯的內(nèi)部中的引入。根據(jù)圖3中所示的一個(gè)示例性實(shí)施例，結(jié)合了泵300以使鹽水循環(huán)到比色杯200中。根據(jù)本示例性實(shí)施例，泵300被配置成在使鹽水移動(dòng)通過過濾器以保持鹽水清潔方面是有效的。然而，如圖3中所示，泵300和相應(yīng)的配置被配置成在測量期間的要消除比色杯200的潤濕蜂窩中的鹽水流動(dòng)的時(shí)刻可控地停止鹽水到比色杯200中的流動(dòng)。換言之，為了使由本示例性測量設(shè)備120獲取的測量結(jié)果的精度最大化，包含在比色杯200內(nèi)的鹽水在被測試透鏡270實(shí)際上被測量的瞬間完全靜止。
[0044]如圖3中所示，泵經(jīng)由鹽水孔口 286而被流體耦合到比色杯200。雖然將本示例性系統(tǒng)描述為在檢查期間將鹽水泵送到比色杯200中，但將認(rèn)識(shí)到的是可將任何可接受的流體用于比色杯200的潤濕蜂窩的水化。如所示，泵300通過輸入閥320向比色杯200提供鹽水，并且鹽水經(jīng)由輸出閥330而返回到泵300。另外，旁路310與跟泵300相關(guān)聯(lián)的輸入和輸出線路流體連通。在操作期間，當(dāng)要進(jìn)行被測試透鏡270的測試時(shí)，打開旁路310并閉合輸入閥320和輸出閥330。因此，包含在比色杯中的鹽水保持靜態(tài)且沒有用于流動(dòng)以用于精密測量。另外，泵300可隨著離開泵300的鹽水經(jīng)由被旁路創(chuàng)建的閉合環(huán)路返回而繼續(xù)操作以保持溫度恒定。在結(jié)束測量之后，旁路310閉合且輸入閥320和輸出閥330被致動(dòng)以允許鹽水的滲流繼續(xù)。
[0045]由于此配置，在發(fā)生成像的微秒，鹽水具有脈沖效果且是絕對(duì)靜態(tài)的。因此，在比色杯200內(nèi)經(jīng)歷封閉比色杯效果。比色杯200的頂部和底部有效地被鹽水的表面封閉，并且比色杯的側(cè)面也被關(guān)閉，因?yàn)辂}水不再流動(dòng)，導(dǎo)致開放比色杯優(yōu)點(diǎn)，但是具有封閉比色杯檢查條件。
[0046]再次返回圖28，本示例性比色杯200包括嵌入件240以減小比色杯內(nèi)的鹽水所經(jīng)歷的溫度梯度。嵌入件240基于均勻或均化而提供溫度控制。靜態(tài)比色杯的主要缺點(diǎn)中的一個(gè)是根據(jù)130標(biāo)準(zhǔn)要求的加熱溶液根據(jù)它被包含在其中的環(huán)境而改變。換言之，冷卻環(huán)境中的測試將實(shí)現(xiàn)封閉靜態(tài)比色杯，并且將促使條件不服從130標(biāo)準(zhǔn)。另外，作為檢查過程的一部分測量的某些聚合物也是熱敏的，并且將根據(jù)溫度而在尺寸方面改變。因此，對(duì)本示例性比色杯200進(jìn)行溫度控制以保持恒定標(biāo)準(zhǔn)溫度，無論其周圍的環(huán)境如何。
[0047]然而，通過經(jīng)由加熱流體的流動(dòng)來保持恒定溫度，可向系統(tǒng)中引入溫度梯度。所產(chǎn)生的溫度梯度常常稱為紋影效應(yīng)。紋影效應(yīng)是其中由于水的溫度在不同區(qū)域中不同地影響透鏡而跨被測試透鏡270顯示出功率梯度。因此，如圖2八-2？中所示，示出了雙層系統(tǒng)，其在水或鹽水被引入容納被測試透鏡270的該部分比色杯之前提供水或鹽水溫度的均化。根據(jù)一個(gè)示例性實(shí)施例，嵌入件240包括擋板或混合板。形成比色杯的一部分的嵌入件240被構(gòu)造成中斷來自泵進(jìn)口或鹽水孔口 286的鹽水的層流并在潤濕蜂窩本身的環(huán)境內(nèi)產(chǎn)生軟混合效果。一旦鹽水通過嵌入件240并經(jīng)歷輕柔的混合，則產(chǎn)生非層流以便使溫度梯度均化。
[0048]根據(jù)一個(gè)示例性實(shí)施例，本比色杯200還包括許多定位特征，其被構(gòu)造成將比色杯精確地放置在測量設(shè)備120的比色杯安裝板430上。根據(jù)本示例性實(shí)施例，將比色杯200定位成使得比色杯200的透鏡接收表面以約五度取向230傾斜。換言之，將比色杯200放平。測量設(shè)備的安裝板430可以是可針對(duì)特定角度進(jìn)行調(diào)諧的，以確保被檢查透鏡270始終在測量孔徑281內(nèi)被保持在測量設(shè)備的尖端上以具有公共參考。由于傾斜230，被檢查透鏡270將在將其正確地定位以用于檢查的比色杯200的測量孔徑281中下沉到多基準(zhǔn)面特征283。替換地，可將比色杯200本身制造成使得測量孔徑281的表面以被構(gòu)造成針對(duì)用于檢查的多基準(zhǔn)面特征283將被檢查透鏡270 —致地定位的角度定位。
[0049]繼續(xù)圖2？，可用包括磁引力的任何數(shù)目的機(jī)械緊固系統(tǒng)將比色杯200固定于測量設(shè)備120。更具體地，根據(jù)一個(gè)示例性實(shí)施例，可在比色杯200和/或測量設(shè)備120中形成一個(gè)或多個(gè)稀土磁體299以促進(jìn)比色杯200到測量設(shè)備的磁性緊固。根據(jù)圖26和2？中所示的一個(gè)示例性實(shí)施例，可向比色杯200中形成或模塑多個(gè)稀土磁體299。稀土磁體299然后可形成磁性底座220，其與連接底座210相互作用，該連接底座210包括一個(gè)或多個(gè)定位插銷、基準(zhǔn)面或促進(jìn)比色杯的非常準(zhǔn)確且一致的定位的其他幾何定位特征。此磁性底座220還提供比色杯的容易去除。此外，通過將稀土磁體299模塑到比色杯200中，不存在諸如在傳統(tǒng)比色杯中利用的那些之類的零件或螺釘，其常常對(duì)比色杯200造成泄漏或其他結(jié)構(gòu)損害。
[0050]將稀土磁體299模塑到比色杯200中以形成磁性底座200的有利之處在于稀土磁體被密封且是防水的。這消除了任何生銹或污染的可能性。相反地，傳統(tǒng)比色杯被用螺釘以及然后被用0形環(huán)密封的其他緊固件緊固。該0形環(huán)在通過一定時(shí)間之后趨于磨損。
[0051]根據(jù)一個(gè)示例性實(shí)施例，一旦比色杯200被定位在磁性底座210上，則存在絕對(duì)零移動(dòng)。本質(zhì)上，產(chǎn)生將比色杯200鎖定在原位的零公差系統(tǒng)。因此，在測量期間，不存在來自泵300或周圍環(huán)境的可以通過到比色杯的耦合而發(fā)射的振動(dòng)效果。這允許獲得比傳統(tǒng)系統(tǒng)高得多的檢查準(zhǔn)確度等級(jí)。為了在判斷光學(xué)質(zhì)量的同時(shí)準(zhǔn)確地測量高階像差和準(zhǔn)確的功率，過程的質(zhì)量也必須非常高。
[0052]此外，本示例性比色杯200是可消毒、可清洗且可替換的。根據(jù)一個(gè)示例性實(shí)施例，比色杯200可由一個(gè)或多個(gè)適當(dāng)?shù)目上静牧现瞥桑ǖ^不限于類似于八83或聚碳酸酯的適當(dāng)靜態(tài)塑料。此外，比色杯200本身的各種零件可以是完全不透明、半透明或透明的，取決于對(duì)操作員的期望輔助。相反地，構(gòu)成比色杯200的實(shí)心部分或底部和頂部平行平面的透鏡282和測量孔徑281可由在制造期間或之后插入比色杯200中的玻璃制成。透鏡282和測量孔徑281由高質(zhì)量玻璃制成，使得存在光學(xué)可靠性、均勻性以及穩(wěn)定性。
[0053]測量設(shè)各
圖4八和48是根據(jù)本示例性系統(tǒng)和方法的實(shí)施例的測量設(shè)備的透視圖和截面透視圖。如圖4八和48中所示,示例性測量設(shè)備120包括安裝在振動(dòng)隔離底座440上的主體400。還可用防水面層450來涂敷振動(dòng)隔離底座440和測量設(shè)備120的其他部件。如所示，主體400限定用于接收比色杯200并進(jìn)行定位的比色杯安裝底座430。多個(gè)光源420、425被耦合到主體400且被具體地定位成選擇性地照亮包含在比色杯200中的被測試透鏡270。另外，可在測量設(shè)備120的主體400中形成許多測量透鏡435以促進(jìn)透鏡檢查圖像的捕捉。繼續(xù)圖4八，示例性測量設(shè)備120可包括耐海水鋁框架410和維修開口 460，其被構(gòu)造成向測量設(shè)備提供結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性，同時(shí)使得能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)設(shè)備的內(nèi)部部件的維修。
[0054]圖48圖示出根據(jù)一個(gè)示例性實(shí)施例的示例性測量設(shè)備120的示例性內(nèi)部配置。如所示，示例性測量設(shè)備120可包括被構(gòu)造成感測設(shè)備所經(jīng)歷的振動(dòng)以用于證明測試數(shù)據(jù)、修改計(jì)算和/或丟棄測量結(jié)果的振動(dòng)傳感器406。另外，可將[￡0控制器404設(shè)置在測量設(shè)備中并可控地耦合到光源420、425。根據(jù)一個(gè)示例性實(shí)施例，[￡0控制器向光源420、425提供信號(hào)以便提供期望光場，如下面將更詳細(xì)地描述的。
[0055]另外，許多照相機(jī)/光學(xué)件408位于示例性測量設(shè)備120中以捕捉圖像以用于分析。下面參考圖6八和68來詳述示例性光學(xué)配置的更多細(xì)節(jié)。
[0056]圖5八和58圖示出可結(jié)合本示例性系統(tǒng)而使用的許多示例性光源420、425。如圖5八和58中所示，可使用準(zhǔn)直120光源500來產(chǎn)生期望光場。如在本領(lǐng)域中已知的，還可使用替換照明配置。
[0057]圖6八和68是根據(jù)本示例性系統(tǒng)和方法的實(shí)施例的測量設(shè)備的眼科配置的示意圖。如圖6八的光學(xué)件圖600中所示，可將任何數(shù)目的照明源610、630相對(duì)于被測試透鏡270定向。根據(jù)一個(gè)示例性實(shí)施例，一個(gè)照明源630被構(gòu)造成向側(cè)視圖照相機(jī)640提供光源，其與被測試透鏡270成一直線地定向以獲得透鏡的側(cè)視圖圖像。另外，由與被測試透鏡270成一直線地定向的各種照明源610提供的光被任何數(shù)目的反射鏡680和光束分離器670反射和分離而向視力和控制照相機(jī)650和傳感器660提供圖像。雖然在圖6八中圖示出一個(gè)示例性配置，但可以使用任何數(shù)目的變化配置來執(zhí)行期望圖像的輸送。
[0058]圖68還圖示出根據(jù)一個(gè)示例性實(shí)施例的本測量設(shè)備120的原理。如所示,可將比色杯200和被測試透鏡270放置在對(duì)應(yīng)于平面608的保護(hù)玻璃690上，該平面608被成像到
傳感器660和視力控制照相機(jī)650。如所示，被成像到傳感器660和視力控制照相機(jī)650的光可源自于[￡0纖維照明源618和漫射場照明器616。光可在到傳感器660和視力控制照相機(jī)650的路線中被從任何數(shù)目的反射鏡624、680、準(zhǔn)直儀612和或光束分離器670反射回來。所示配置的各種元件被具體地定向成將物鏡用于針對(duì)樣本成像604、602的望遠(yuǎn)鏡并將物鏡用于到606的成像。
[0059]圖9八和98圖示出從本示例性系統(tǒng)的側(cè)視圖照相機(jī)640獲取的圖像。根據(jù)本示例性實(shí)施例，結(jié)合傳感器660而使用輪廓或側(cè)視圖照相機(jī)640提供被測試透鏡270的功率和功率移位的識(shí)別。這些測量結(jié)果然后被用來確定被測試透鏡270的基礎(chǔ)曲線。更具體地，使用光學(xué)輪廓測定法在傳統(tǒng)上導(dǎo)致被測量物體的周界的極點(diǎn)處的衍射效應(yīng)。因此，如果您在剖面上掃視三維形狀，則不可能保證您精確地在被成像的物體的主子午線中。根據(jù)本示例性系統(tǒng)，用輪廓測定法來確定透鏡的高度或最大高度或者透鏡270的總垂度。來自量規(guī)130的透鏡270的中心厚度(其為最后的測量結(jié)果)被反饋到系統(tǒng)且然后被從前表面最大高度輪廓測定中減去。結(jié)果得到的測量結(jié)果是從直徑、即從邊緣至邊緣至中心的背表面總垂度，導(dǎo)致被測試透鏡270的總垂度。因此，確定了實(shí)際基礎(chǔ)曲線。
[0060]實(shí)際基礎(chǔ)曲線的此確定是有益的，因?yàn)樾袠I(yè)在10臟弦(⑶1x0的標(biāo)準(zhǔn)上進(jìn)行工作并對(duì)球形進(jìn)行測量。然而，如果制造非球面透鏡、雙曲線透鏡或多曲線透鏡，則這些傳統(tǒng)測量結(jié)果并不是理想的。根據(jù)這些實(shí)施例，不能測量準(zhǔn)確的基礎(chǔ)曲線。具體地，傳統(tǒng)測量配置包括探針，該探針向上旋轉(zhuǎn)直至其在透鏡被支撐在10111111弦上的同時(shí)觸摸到透鏡的底部為止。一旦探針接觸透鏡，則刻度計(jì)然后估計(jì)基礎(chǔ)曲線。傳統(tǒng)上使用的實(shí)際公式是3 = 1^減去記減V2的平方根，其中，X2是半弦且I？是光學(xué)半徑的半徑，如圖11中所示。然而，傳統(tǒng)基礎(chǔ)曲線計(jì)算未能考慮到非球面透鏡。
[0061]與傳統(tǒng)系統(tǒng)相反，本示例性系統(tǒng)使用通過前表面輪廓測定和準(zhǔn)確到半微米的測量的減法而確定的背面總垂度。用此信息，我們可以確定透鏡的功率，因?yàn)?br> 皿傳感器660追蹤該功率。可以基于功率與正面和背面曲線之間的可計(jì)算關(guān)系相對(duì)于實(shí)際功率經(jīng)證明是什么而確定知道基礎(chǔ)曲線用所測量功率以及和總垂度基礎(chǔ)曲線應(yīng)讀出什么。
[0062]一旦確定了功率、正面和背面的總垂度以及口，則可以確定透鏡的背面與正面之間的偏差以便實(shí)現(xiàn)用皿傳感器測量的所識(shí)別功率。
[0063]然后可以通過將透鏡的總垂度與基礎(chǔ)曲線應(yīng)讀出的內(nèi)容相比較來確定基礎(chǔ)曲線的確認(rèn)。兩者的比較將提供關(guān)于基礎(chǔ)曲線的非常準(zhǔn)確的確認(rèn)。換言之，本示例性系統(tǒng)使用前表面輪廓測定法來提供跨透鏡的10皿截面的非常準(zhǔn)確的追蹤。
[0064]
根據(jù)本示例性系統(tǒng)，在被測試透鏡270的檢查期間使用至少三個(gè)不同的光場并成像給用戶150。圖7八、78和7(:是根據(jù)本示例性系統(tǒng)和方法的實(shí)施例的分別地使用亮場光場、遠(yuǎn)心光場以及暗場光場的缺陷檢查圖像的照片。
[0065]根據(jù)本示例性系統(tǒng)，亮場光場根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)檢查系統(tǒng)從顯示法向表面缺陷和包括物的房屋進(jìn)行工作。此照明條件對(duì)于非常廣泛的不合格品和確定某個(gè)東西是不合格品還是僅僅是被測試透鏡270上的污染物適用。
[0066]圖78中所示的第二光場是遠(yuǎn)心光場。遠(yuǎn)心光場隨著其經(jīng)歷透鏡系統(tǒng)而基本上延伸光的聚焦透鏡，在與亮場的透鏡相比較時(shí)產(chǎn)生大得多的場深或三維效果。因此，通過透鏡的非潤濕圓圈或氣泡將被遠(yuǎn)心光場顯示為深或極深的隧道。結(jié)果得到的三維外觀突出顯示僅被亮場光場顯示為亮圓圈的非潤濕缺陷。
[0067]作為黑色背景的在圖7(:中圖示出的暗場本質(zhì)上是在傾斜方向上從透鏡后面進(jìn)入的光源，其因此產(chǎn)生突出顯示邊緣分離的透鏡的負(fù)像。
[0068]各種光場因此在鋼筆顯示器10上被呈現(xiàn)給用戶150以用于缺陷的人工檢查。然后可以由人類用戶150來圈出或識(shí)別缺陷，使得他們系統(tǒng)然后可測量并量化缺陷。
[0069]本示例性系統(tǒng)還結(jié)合了被配置成自動(dòng)地識(shí)別銹蝕污染的基于色彩的鐵過濾器。
[0070]圖8是根據(jù)本示例性系統(tǒng)和方法的實(shí)施例的針對(duì)遠(yuǎn)心光場被照亮的透鏡檢查圖像及其相應(yīng)測試數(shù)據(jù)的屏幕快照。如先前所述，將透鏡檢查圖像呈現(xiàn)給用戶150以用于識(shí)別實(shí)際透鏡缺陷，與可出現(xiàn)在圖像中的灰塵或其他雜質(zhì)形成對(duì)比。如圖8中所示，一旦識(shí)別了實(shí)際透鏡缺陷，則系統(tǒng)將缺陷的尺寸和嚴(yán)重度量化并將自動(dòng)化結(jié)果作為測試數(shù)據(jù)800顯示給用戶150。
[0071]01測量設(shè)各
圖10八和108是根據(jù)本示例性系統(tǒng)和方法的實(shí)施例的測量設(shè)備的透視圖和前視圖。根據(jù)一個(gè)示例性實(shí)施例，示例性量規(guī)130包括用于在已完成全部其他檢查之后接收被測試透鏡270的測試底座1000。根據(jù)本示例性實(shí)施例，量規(guī)130包括與偏移校準(zhǔn)工具1020同步以提供準(zhǔn)確測量結(jié)果的測試探針1010。如上所述，經(jīng)由通信電纜1030或其他數(shù)據(jù)傳輸介質(zhì)將結(jié)果從量規(guī)130發(fā)射到測量設(shè)備120。然后可從前表面最大高度輪廓測定中減去用于被測試透鏡270的測量結(jié)果以確定被測試透鏡270的總垂度。
[0072]用戶接口如先前所述，本示例性系統(tǒng)100可包括用于向用戶150顯示圖像且用于允許用戶150與系統(tǒng)之間的交互的鋼筆顯示器110。本示例性系統(tǒng)100的鋼筆顯示器110可包括任何數(shù)目的數(shù)據(jù)顯示器和/或輸入設(shè)備，其包括但絕不局限于觸摸顯示器、鋼筆顯示器等。鋼筆顯示器110提供具有觸摸屏的人類接口，該觸摸屏顯示測試圖像、測試數(shù)據(jù)(圖12八),提供逐步方向、視頻以及視覺圖像，其被配置成示出操作員如何執(zhí)行適當(dāng)檢查。具體地，如圖128中所示，為用戶150提供測試圖像1200和關(guān)于如何獲得期望檢查信息的相應(yīng)逐步指令1210。逐步指令1210可以是視頻、圖像、聲音等形式。這使得本示例性系統(tǒng)能夠使得能夠由用戶150實(shí)現(xiàn)快速能力，不考慮語言、訓(xùn)練或其他通信障礙。
[0073]另外，視覺逐步指令1210使得能夠結(jié)合圖像或指令的自定義畫外音，其可用不同語言的選擇來提供，使得該指令適合于使用測量系統(tǒng)100的個(gè)體150。因此，將減少訓(xùn)練時(shí)間且可消除語言要求。另外，將由于快速的訓(xùn)練和理解而增強(qiáng)生產(chǎn)力。
[0074]圖13八是圖示出根據(jù)本示例性系統(tǒng)和方法的實(shí)施例的被透鏡檢查系統(tǒng)結(jié)合的逐步工作流程屏幕生成的示意圖。如所示，以逐步方式指引用戶150以執(zhí)行登錄、設(shè)置以及測量。同樣地，圖138是圖示出根據(jù)本示例性系統(tǒng)和方法的實(shí)施例的被本透鏡檢查系統(tǒng)結(jié)合的透鏡檢查的逐步工作流程的示意圖。如所示，用戶150系統(tǒng)地逐步通過檢查過程，包括遠(yuǎn)心光場圖像、暗場圖像以及亮場圖像(按照任何連續(xù)順序)的顯示，后面是測量。同樣地，如用于圖13(:中所示的透鏡檢查系統(tǒng)所結(jié)合的透鏡測量的逐步工作流程中所示，測量諸如振動(dòng)之類的環(huán)境條件并根據(jù)所識(shí)別極限而執(zhí)行和/或拒絕計(jì)算。
[0075]圖14描述了適合于將本系統(tǒng)和方法實(shí)現(xiàn)為測量設(shè)備120的整體部件或?qū)崿F(xiàn)為被通信耦合到檢查系統(tǒng)100的獨(dú)立部件的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)1510的框圖。計(jì)算機(jī)系統(tǒng)1510包括將計(jì)算機(jī)系統(tǒng)1510的主要子系統(tǒng)互連的總線1512，諸如中央處理器1514、系統(tǒng)存儲(chǔ)器1517(通常是狀1，但其還可包括如1、閃速狀1等?、輸入/輸出控制器1518、外部音頻設(shè)備，諸如經(jīng)由音頻輸出接口 1522的揚(yáng)聲器系統(tǒng)1520、外部設(shè)備，諸如經(jīng)由顯示適配器1526的顯示屏1524、串行端口 1528和1530、鍵盤1532 (與鍵盤控制器1533對(duì)接?、多個(gè)舊8設(shè)備1592(與…8控制器1590對(duì)接?、存儲(chǔ)接口 1534、可操作用于接收軟盤1538的軟盤驅(qū)動(dòng)器1537、可操作用于與光纖信道網(wǎng)1590相連的主機(jī)總線適配器(撤8)接口卡1535八、可操作用于連接到總線1539的主機(jī)總線適配器(耶八)接口卡15358、以及可操作用于接收光盤1542的光盤驅(qū)動(dòng)器1540。還包括鼠標(biāo)1546(或其他點(diǎn)擊設(shè)備，經(jīng)由串行端口 1528被耦合到總線512〉、調(diào)制解調(diào)器1547 (經(jīng)由串行端口 1530被耦合到總線1512)以及網(wǎng)絡(luò)接口 1548 (直接地耦合到總線150。
[0076]總線1512允許中央處理器1514與系統(tǒng)存儲(chǔ)器1517之間的數(shù)據(jù)通信，其可包括只讀存儲(chǔ)器(801)或閃速存儲(chǔ)器(兩者都未示出)以及隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(狀…(未示出),如前所述。狀1 一般地是操作系統(tǒng)和應(yīng)用程序被加載到其中的主存儲(chǔ)器。除其他代碼之外，或閃速存儲(chǔ)器還可以包含基本輸入輸出系統(tǒng)(8103),其控制基本硬件操作，諸如與外圍部件或設(shè)備的交互。例如，可將用以實(shí)現(xiàn)本系統(tǒng)和方法的似系統(tǒng)170存儲(chǔ)在系統(tǒng)存儲(chǔ)器1517內(nèi)。常駐于計(jì)算機(jī)系統(tǒng)1510的應(yīng)用程序一般地被存儲(chǔ)在計(jì)算接可讀介質(zhì)且經(jīng)由該計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)而被訪問，諸如硬盤驅(qū)動(dòng)器(例如，固定磁盤1544〉、光驅(qū)(例如，光驅(qū)154(0、軟盤單元1537或其他存儲(chǔ)介質(zhì)。另外，應(yīng)用程序可以采取當(dāng)經(jīng)由網(wǎng)絡(luò)調(diào)制解調(diào)器1547或接口1548被訪問時(shí)根據(jù)應(yīng)用程序和數(shù)據(jù)通信技術(shù)來調(diào)制的電子信號(hào)的形式。
[0077]如計(jì)算機(jī)系統(tǒng)1510的其他存儲(chǔ)接口一樣，存儲(chǔ)接口 1534可以連接到標(biāo)準(zhǔn)計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)以用于信息存儲(chǔ)和/或檢索，諸如固定磁盤驅(qū)動(dòng)器1544。固定磁盤驅(qū)動(dòng)器1544可以是計(jì)算機(jī)系統(tǒng)1510的一部分，或者可以是單獨(dú)的并通過其他接口系統(tǒng)來訪問。調(diào)制解調(diào)器1547可提供經(jīng)由電話鏈路到遠(yuǎn)程服務(wù)器或經(jīng)由因特網(wǎng)服務(wù)提供商(巧？)到因特網(wǎng)的直接連接。網(wǎng)絡(luò)接口 1548可提供經(jīng)由直接網(wǎng)絡(luò)鏈路到遠(yuǎn)程服務(wù)器、經(jīng)由？0？(存在點(diǎn))到因特網(wǎng)的直接連接。網(wǎng)絡(luò)接口 1548可使用無線技術(shù)來提供此類連接，包括數(shù)字蜂窩電話連接、蜂窩式數(shù)字分組數(shù)據(jù)(⑶?0)連接、數(shù)字衛(wèi)星數(shù)據(jù)連接等。
[0078]可以類似方式(例如，文檔掃描儀、數(shù)字式照相機(jī)等)來連接許多其他設(shè)備或子系統(tǒng)(未示出相反地，并不是圖15中示出的所有設(shè)備都需要出現(xiàn)以實(shí)施本系統(tǒng)和方法?？梢砸耘c圖15中所示的不同的方式將設(shè)備和子系統(tǒng)互連。諸如圖15中所示的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)的操作在本領(lǐng)域中是容易知道的，并且在本申請(qǐng)中并未詳細(xì)地討論?？梢詫⒂靡詫?shí)現(xiàn)本公開的代碼存儲(chǔ)在計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)中，諸如系統(tǒng)存儲(chǔ)器1517、固定磁盤1544、光盤1542或軟盤1538中的一個(gè)或多個(gè)。在計(jì)算機(jī)系統(tǒng)1510上提供的操作系統(tǒng)可以是冊(cè)0胃?、08/2^ 或另一已知操作系統(tǒng)。
[0079]此外，關(guān)于本文所述的信號(hào)，本領(lǐng)域的技術(shù)人員將認(rèn)識(shí)到可以直接地從第一區(qū)塊向第二區(qū)塊發(fā)射信號(hào)，或者可以在各區(qū)塊之間修改信號(hào)(例如，放大、衰減、延遲、鎖存、緩沖、反相、濾波或以其他方式修改雖然上述實(shí)施例的信號(hào)被表征為被從一個(gè)區(qū)塊向下一個(gè)發(fā)射，但本系統(tǒng)和方法的其他實(shí)施例可包括已修改信號(hào)來代替此類直接發(fā)射信號(hào)，只要在各區(qū)塊之間發(fā)射信號(hào)的信息和/或功能方面即可。在某種程度上，可以由于涉及到的電路的物理限制(例如，將不可避免地存在某種衰減和延遲)而將第二區(qū)塊處的信號(hào)輸入概念化為從第一信號(hào)導(dǎo)出的第二信號(hào)，該第一信號(hào)從第一區(qū)塊輸出。因此，如本文所使用的，從第一信號(hào)導(dǎo)出的第二信號(hào)包括第一信號(hào)或?qū)Φ谝恍盘?hào)的任何修改，無論是由于電路限制還是由于通過不改變第一信號(hào)的信息和/或最后功能方面的其他電路元件。
[0080]工業(yè)實(shí)用件
根據(jù)本示例性系統(tǒng)和方法，提供了用于檢查和確定諸如隱形眼鏡之類的眼科產(chǎn)品的質(zhì)量的單個(gè)設(shè)備。如上所述，用戶并沒有進(jìn)行關(guān)于被測試透鏡將是通過還是失敗的最后調(diào)用的任務(wù)。相反地，用戶在確定關(guān)于不合格品的巧妙方面更加準(zhǔn)確，即確定潛在的不合格品是實(shí)際的不合格品還是僅僅是系統(tǒng)中的污染物或其他問題。例如，小的毛發(fā)或小顆?；蛞恍∑q毛可能進(jìn)入鹽水并滲入被測試透鏡的表面。由于透鏡表面上的那種不合格品的特殊性質(zhì)和人類可以在比色杯中用一對(duì)鑷子來操縱透鏡的事實(shí)，人類用戶可以容易地進(jìn)行該潛在缺陷僅僅是污染物的識(shí)別。
[0081]然而，人類用戶在針對(duì)已知標(biāo)準(zhǔn)來測量不合格品時(shí)是不可靠的。相反地，人類用戶通常在確定時(shí)引入某種形式的偏見，諸如工作人員間偏見或工作人員內(nèi)偏見，導(dǎo)致不一致的結(jié)果。換言之，用戶可以在不同的時(shí)間進(jìn)行不同的判定，取決于其在前一天晚上是否睡得很好或其是否具有情緒問題等。因此，在不同的人之間通常存在關(guān)于其檢查什么和其獲得什么結(jié)果的差異。
[0082]因此，本系統(tǒng)允許人類識(shí)別實(shí)際缺陷且系統(tǒng)然后將該缺陷量化。換言之，人類用戶限定儀表，經(jīng)由識(shí)別來限定不合格品，并且然后計(jì)算機(jī)基于預(yù)先編程算法根據(jù)固定標(biāo)準(zhǔn)來測量缺陷。因此，人類用戶從不進(jìn)行關(guān)于該不合格品的通過或失敗適用性的判斷。根據(jù)一個(gè)實(shí)施例，用戶識(shí)別然后簡單地大體上圍繞該不合格品畫個(gè)圓或其他標(biāo)識(shí)符的缺陷。系統(tǒng)處理器將識(shí)別該所畫的圓內(nèi)的不合格品，并且將立即在該不合格品上放置覆蓋層，其將會(huì)準(zhǔn)確地符合公司已針對(duì)該不合格品放入的該缺陷是在公司還是130標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)符合的輸入。因此，該種類中的被畫圓的每個(gè)缺陷將經(jīng)受公共覆蓋層，使得在缺陷量化方面不存在直觀性。
[0083]根據(jù)一個(gè)示例性實(shí)施例，單獨(dú)公司可提供用于缺陷可接受性的基線標(biāo)準(zhǔn)，其然后由本系統(tǒng)在缺陷覆蓋層之后實(shí)現(xiàn)。因此，本系統(tǒng)提供了被測試透鏡是通過還是失敗的完全客觀的構(gòu)造并根據(jù)一組協(xié)議準(zhǔn)則(其可以是也可以不是130標(biāo)準(zhǔn))來判斷所有透鏡。
[0084]同樣地，根據(jù)放大倍率，可由結(jié)合了本系統(tǒng)的公司來設(shè)定用于透鏡的通過或失敗的極限。該極限將確立什么組成不合格品。用戶確定的結(jié)合將減少或消除錯(cuò)誤不合格品的發(fā)生。
[0085]此外，與傳統(tǒng)系統(tǒng)相反，本示例性系統(tǒng)提供了一種一步自動(dòng)測量系統(tǒng)。一旦在比色杯中設(shè)定被測試透鏡且用戶確信不存在組成不合格品的足夠缺陷，則可按下第一按鈕并自動(dòng)地確定功率及其他130參數(shù)。
[0086]提出前面的描述僅僅是為了舉例說明和描述所述原理的實(shí)施例和示例。本描述并不意圖是排他性的或使這些原理局限于公開的任何精確形式。根據(jù)以上教導(dǎo)可以有許多修改和變化。
【權(quán)利要求】
1.一種眼科設(shè)備檢查系統(tǒng)，包括: 處理器； 存儲(chǔ)器部件，被通信耦合到處理器； 光學(xué)檢查設(shè)備，被通信耦合到處理器，其中，該光學(xué)檢查設(shè)備包括比色杯； 中心厚度(CT)測量設(shè)備，被通信耦合到處理器；以及 視覺顯示器，被通信耦合到處理器； 其中，該檢查系統(tǒng)被配置成根據(jù)固定標(biāo)準(zhǔn)來識(shí)別和量化眼科設(shè)備的缺陷。
2.權(quán)利要求1的眼科設(shè)備檢查系統(tǒng)，其中，所述比色杯還包括完全潤濕比色杯。
3.權(quán)利要求2的眼科設(shè)備檢查系統(tǒng)，其中，比色杯還包括磁性比色杯定位和保持系統(tǒng)，其被配置成將比色杯耦合到光學(xué)檢查設(shè)備。
4.權(quán)利要求3的眼科設(shè)備檢查系統(tǒng)，其中，所述磁性比色杯定位和保持系統(tǒng)還包括被模塑到比色杯中的至少一個(gè)稀土磁體和在光學(xué)檢查設(shè)備上形成的相應(yīng)安裝板。
5.權(quán)利要求4的眼科設(shè)備檢查系統(tǒng)，其中，在光學(xué)檢查設(shè)備上形成的安裝板包括當(dāng)光學(xué)檢查設(shè)備被設(shè)置在水平表面上時(shí)相對(duì)于水平線顯示出至少5度傾斜的表面。
6.權(quán)利要求2的眼科設(shè)備檢查系統(tǒng)，其中，所述比色杯還包括: 比色杯主體,包括限定內(nèi)部體積的多個(gè)側(cè)壁； 封閉底座，被耦合到所述多個(gè)側(cè)壁，其中，所述封閉底座包括磁性底座； 多個(gè)鹽水孔口，其被所述多個(gè)側(cè)壁限定； 水平嵌入件，被設(shè)置在所述多個(gè)鹽水孔口上面的內(nèi)部體積中；以及 測量孔徑，在水平嵌入件上面的內(nèi)部體積中形成。
7.權(quán)利要求6的眼科設(shè)備檢查系統(tǒng)，其中，比色杯還包括在第一側(cè)壁中形成的至少一個(gè)光孔徑和在相對(duì)側(cè)壁中形成的相對(duì)測量孔徑。
8.權(quán)利要求6的眼科設(shè)備檢查系統(tǒng)，其中，所述比色杯還包括在側(cè)壁中的至少一個(gè)上形成的傳感器底座。
9.權(quán)利要求6的眼科設(shè)備檢查系統(tǒng)，其中，所述比色杯還包括與水平嵌入件相關(guān)聯(lián)的多個(gè)擋板或混合板。
10.權(quán)利要求6的眼科設(shè)備檢查系統(tǒng)，其中，所述比色杯還包括設(shè)置在測量孔徑上的至少一個(gè)透鏡定位特征。
11.權(quán)利要求10的眼科設(shè)備檢查系統(tǒng)，其中，設(shè)置在測量孔徑上的所述至少一個(gè)透鏡定位特征還包括在測量孔徑中形成的多個(gè)基準(zhǔn)面特征。
12.權(quán)利要求6的眼科設(shè)備檢查系統(tǒng)，其中，所述比色杯還包括至少一個(gè)光學(xué)透鏡。
13.權(quán)利要求6的眼科設(shè)備檢查系統(tǒng)，其中，所述比色杯還包括被流體耦合到所述多個(gè)鹽水孔口中的第一個(gè)的輸入閥和被流體耦合到所述多個(gè)鹽水孔口中的第二個(gè)的輸出閥。
14.權(quán)利要求6的眼科設(shè)備檢查系統(tǒng)，還包括被流體耦合到比色杯的鹽水泵系統(tǒng)。
15.權(quán)利要求14的眼科設(shè)備檢查系統(tǒng)，其中，所述鹽水泵系統(tǒng)還包括: 鹽水泵，被流體耦合到輸入閥和輸出閥； 過濾器；以及 芳路，設(shè)置在鹽水泵與輸入和輸出閥之間。
16.權(quán)利要求15的眼科設(shè)備檢查系統(tǒng)，其中，所述旁路被配置成當(dāng)在比色杯內(nèi)獲取測量結(jié)果時(shí)被選擇性地致動(dòng)。
17.權(quán)利要求6的眼科設(shè)備檢查系統(tǒng)，其中，所述比色杯還包括防紋影控制。
18.權(quán)利要求6的眼科設(shè)備檢查系統(tǒng)，其中，所述比色杯還包括振動(dòng)和脈沖控制。
19.權(quán)利要求1的眼科設(shè)備檢查系統(tǒng)，其中，所述光學(xué)檢查設(shè)備還包括: 主體，包括比色杯安裝底座；、 振動(dòng)隔尚底座； 至少一個(gè)光源，被定位成當(dāng)被安裝在比色杯安裝底座上時(shí)選擇性地照亮設(shè)置在比色杯中的被測試透鏡；以及 至少一個(gè)照相機(jī)，設(shè)置在主體上。
20.權(quán)利要求19的眼科設(shè)備檢查系統(tǒng)，其中，所述光學(xué)檢查設(shè)備還包括至少一個(gè)振動(dòng)傳感器。
21.權(quán)利要求19的眼科設(shè)備檢查系統(tǒng)，其中，所述至少一個(gè)光源包括至少一個(gè)發(fā)光二極管(LED)。
22.權(quán)利要求21的眼科設(shè)備檢查系統(tǒng)，其中，所述至少一個(gè)LED包括多個(gè)準(zhǔn)直LED。
23.權(quán)利要求19的眼科設(shè)備檢查系統(tǒng)，還包括發(fā)光二極管控制器。
24.權(quán)利要求19的眼科設(shè)備檢查系統(tǒng)，其中，所述至少一個(gè)照相機(jī)還包括側(cè)視圖照相機(jī)以及視力和控制照相機(jī)。
25.權(quán)利要求24的眼科設(shè)備檢查系統(tǒng)，還包括與側(cè)視圖照相機(jī)相對(duì)地設(shè)置的第一光源和與視力和控制照相機(jī)相對(duì)地設(shè)置的第二光源。
26.權(quán)利要求24的眼科設(shè)備檢查系統(tǒng)，還包括: Shack-Hartmann傳感器；以及 射束分離器，其與第二光源相對(duì)地設(shè)置，射束分離器的第一輸出指向視力和控制照相機(jī)且射束分離器的第二輸出指向Shack Hartman傳感器。
27.權(quán)利要求26的眼科設(shè)備檢查系統(tǒng)，其中，所述檢查系統(tǒng)被配置成在至少3個(gè)不同光場中對(duì)被測試透鏡進(jìn)行成像。
28.權(quán)利要求27的眼科設(shè)備檢查系統(tǒng)，其中，所述至少3個(gè)不同光場圖像是亮場光場、遠(yuǎn)心光場以及暗場光場。
29.權(quán)利要求28的眼科設(shè)備檢查系統(tǒng)，其中，在視覺顯示器上顯示所述至少3個(gè)不同的光場圖像。
30.權(quán)利要求1的眼科設(shè)備檢查系統(tǒng)，其中，所述處理器被配置成使用輪廓測定法來確定被測試透鏡的矢狀高度。
31.權(quán)利要求1的眼科設(shè)備檢查系統(tǒng)，其中，所述處理器被配置成使用輪廓測定法來確定被測試透鏡的矢狀高度，使用CT量規(guī)來確定被測試透鏡的中心厚度，并確定被測試透鏡的基礎(chǔ)曲線。
32.權(quán)利要求1的眼科設(shè)備檢查系統(tǒng)，還包括色彩解釋模塊。
33.權(quán)利要求1的眼科設(shè)備檢查系統(tǒng)，其中，該系統(tǒng)結(jié)合了人類和自動(dòng)化資格證明兩者。
34.權(quán)利要求1的眼科設(shè)備檢查系統(tǒng)，其中，所述存儲(chǔ)器包括代碼，在代碼被處理器訪問時(shí)促使處理器在視覺顯示器上向用戶顯示逐步工作流程指令； 其中，在視覺顯示器上給用戶的逐步工作流程指令沒有基于口語或書面語言的指令。
35.一種與隱形眼鏡檢查系統(tǒng)一起使用的比色杯，該比色杯包括: 比色杯主體,包括限定內(nèi)部體積的多個(gè)側(cè)壁； 封閉底座，被耦合到所述多個(gè)側(cè)壁，其中，所述封閉底座包括磁性底座； 多個(gè)鹽水孔口，其被所述多個(gè)側(cè)壁限定； 水平嵌入件，被設(shè)置在所述多個(gè)鹽水孔口上面的內(nèi)部體積中；以及 測量孔徑，在水平嵌入件上面的內(nèi)部體積中形成。
36.權(quán)利要求35的比色杯，其中，比色杯還包括在第一側(cè)壁中形成的至少一個(gè)光孔徑和在相對(duì)側(cè)壁中形成的相對(duì)測量孔徑。
37.權(quán)利要求35的比色杯，其中，所述比色杯還包括在側(cè)壁中的至少一個(gè)上形成的傳感器底座。
38.權(quán)利要求35的比色杯，其中，所述比色杯還包括與水平嵌入件相關(guān)聯(lián)的多個(gè)擋板或混合板。
39.權(quán)利要求35的比色杯，其中，所述比色杯還包括設(shè)置在測量孔徑上的至少一個(gè)透鏡定位特征。
40.權(quán)利要求39的比色杯，其中，設(shè)置在測量孔徑上的所述至少一個(gè)透鏡定位特征還包括在測量孔徑中形成的多個(gè)基準(zhǔn)面特征。
41.權(quán)利要求35的比色杯，其中，所述比色杯還包括至少一個(gè)光學(xué)透鏡。
42.權(quán)利要求35的比色杯，其中，所述比色杯還包括被流體耦合到所述多個(gè)鹽水孔口中的第一個(gè)的輸入閥和被流體耦合到所述多個(gè)鹽水孔口中的第二個(gè)的輸出閥。
43.權(quán)利要求35的比色杯，還包括被流體耦合到比色杯的鹽水泵系統(tǒng)。
44.權(quán)利要求35的比色杯，其中，所述比色杯還包括防紋影控制。
45.權(quán)利要求35的比色杯，其中，所述比色杯還包括振動(dòng)和脈沖控制。
46.一種眼科設(shè)備檢查系統(tǒng),包括: 處理器； 存儲(chǔ)器部件，被通信耦合到處理器； 光學(xué)檢查設(shè)備，被通信耦合到處理器，其中，所述光學(xué)檢查設(shè)備包括比色杯、包括比色杯安裝底座的主體、振動(dòng)隔離底座、被定位成當(dāng)被安裝在比色杯安裝底座上時(shí)選擇性地照亮被設(shè)置在比色杯中的被測試透鏡的至少一個(gè)光源、以及設(shè)置在主體上的至少一個(gè)照相機(jī)，其中，所述檢查系統(tǒng)被配置成在至少3個(gè)不同光場中對(duì)被測試透鏡進(jìn)行成像； 中心厚度(CT)測量設(shè)備，被通信耦合到處理器；以及 視覺顯示器，被通信耦合到處理器； 其中，該檢查系統(tǒng)被配置成根據(jù)固定標(biāo)準(zhǔn)來識(shí)別和量化眼科設(shè)備的缺陷。
【文檔編號(hào)】G01B11/00GK104428649SQ201380036811
【公開日】2015年3月18日 申請(qǐng)日期:2013年5月10日 優(yōu)先權(quán)日:2012年5月10日
【發(fā)明者】S.D.紐曼, 大山博幸, J.普芬德, J.蘭普雷希特 申請(qǐng)人:美你康新加坡私人有限公司