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      一種聚變裝置中微波外差系統(tǒng)的強(qiáng)度絕對(duì)標(biāo)定方法

      文檔序號(hào):6251319閱讀:262來(lái)源:國(guó)知局
      一種聚變裝置中微波外差系統(tǒng)的強(qiáng)度絕對(duì)標(biāo)定方法
      【專利摘要】本發(fā)明公開(kāi)了一種聚變裝置中微波外差系統(tǒng)的強(qiáng)度絕對(duì)標(biāo)定方法,采用標(biāo)準(zhǔn)強(qiáng)度源向待標(biāo)定微波外差系統(tǒng)提供輻射強(qiáng)度,其特征在于:所述標(biāo)準(zhǔn)強(qiáng)度源和待標(biāo)定微波外差系統(tǒng)之間還設(shè)有還采用斬波器,所述的斬波器調(diào)制待標(biāo)定微波外差系統(tǒng)接收到的信號(hào)并提供周期信號(hào)和參考信號(hào),還采用鎖相放大器以及采集系統(tǒng),所述參考信號(hào)直接輸入采集系統(tǒng),所述周期信號(hào)輸入鎖相放大器,所述待標(biāo)定微波外差系統(tǒng)接收斬波器調(diào)制的信號(hào)并分兩路輸出該信號(hào),一路直接輸入采集系統(tǒng),另一路輸入鎖相放大器;本發(fā)明專利方法簡(jiǎn)潔有效,易于實(shí)施,解決了微波外差系統(tǒng)的強(qiáng)度絕對(duì)標(biāo)定。
      【專利說(shuō)明】一種聚變裝置中微波外差系統(tǒng)的強(qiáng)度絕對(duì)標(biāo)定方法

      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本發(fā)明涉及聚變裝置微波外差系統(tǒng)領(lǐng)域,具體為一種聚變裝置中微波外差系統(tǒng)的強(qiáng)度絕對(duì)標(biāo)定方法。

      【背景技術(shù)】
      [0002]聚變裝置中的微波外差系統(tǒng)是用于診斷聚變等離子體電子溫度分布的一種設(shè)備,其診斷原理是等離子體電子回旋輻射(微波頻段)的強(qiáng)度與局域電子溫度成正比。因此,對(duì)外差系統(tǒng)作強(qiáng)度絕對(duì)標(biāo)定是其診斷電子溫度分布的前提條件。由于用于標(biāo)定的標(biāo)準(zhǔn)源的溫度(103開(kāi)爾文)比等離子體電子溫度( 107 — 10 8開(kāi)爾文)低4-5個(gè)數(shù)量級(jí),微弱信號(hào)的探測(cè)是微波外差系統(tǒng)強(qiáng)度絕對(duì)標(biāo)定的難點(diǎn)。此前國(guó)內(nèi)在微波外差系統(tǒng)的強(qiáng)度絕對(duì)標(biāo)定方面還比較欠缺,本專利分別采用了硬件和軟件的方式實(shí)現(xiàn)了微弱信號(hào)的探測(cè),完成了微波外差系統(tǒng)的強(qiáng)度絕對(duì)標(biāo)定。


      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0003]本發(fā)明專利的目的是解決微波外差系統(tǒng)強(qiáng)度絕對(duì)標(biāo)定中微弱信號(hào)探測(cè)的問(wèn)題,實(shí)現(xiàn)聚變裝置中微波外差系統(tǒng)的強(qiáng)度絕對(duì)標(biāo)定。
      [0004]為實(shí)現(xiàn)以上目的,本發(fā)明的技術(shù)方案是:
      一種聚變裝置中微波外差系統(tǒng)的強(qiáng)度絕對(duì)標(biāo)定方法,采用標(biāo)準(zhǔn)強(qiáng)度源向待標(biāo)定微波外差系統(tǒng)提供輻射強(qiáng)度,其特征在于:所述標(biāo)準(zhǔn)強(qiáng)度源和待標(biāo)定微波外差系統(tǒng)之間還設(shè)有斬波器,所述的斬波器調(diào)制待標(biāo)定微波外差系統(tǒng)接收到的信號(hào)并提供周期信號(hào);還采用鎖相放大器以及采集系統(tǒng),所述周期信號(hào)輸入鎖相放大器并同時(shí)輸入采集系統(tǒng),所述待標(biāo)定微波外差系統(tǒng)接收斬波器調(diào)制的信號(hào)并分兩路輸出該信號(hào),一路直接輸入采集系統(tǒng),另一路輸入鎖相放大器。一方面,所述鎖相放大器利用斬波器輸出的參考信號(hào)對(duì)待標(biāo)定微波外差系統(tǒng)輸出的微弱信號(hào)做硬件濾波和放大再輸送至采集系統(tǒng)。另一方面,采集系統(tǒng)直接采集待標(biāo)定微波外差系統(tǒng)輸出信號(hào)然后通過(guò)內(nèi)置軟件作相干平均。分別通過(guò)硬件和軟件的方式實(shí)現(xiàn)微弱信號(hào)的探測(cè),完成待標(biāo)定微波外差系統(tǒng)的絕對(duì)強(qiáng)度標(biāo)定。
      [0005]所述的標(biāo)準(zhǔn)強(qiáng)度源是黑體源,其輻射強(qiáng)度與溫度相關(guān)。
      [0006]所述的斬波器通過(guò)改變光路通斷以實(shí)現(xiàn)調(diào)制待標(biāo)定微波外差系統(tǒng)接收到的信號(hào),并提供表征光路通斷的周期信號(hào)用于鎖相放大器及相干平均。
      [0007]所述的鎖相放大器用于微弱信號(hào)的探測(cè)。
      [0008]本發(fā)明可以通過(guò)鎖相放大器實(shí)現(xiàn)利用硬件探測(cè)微弱信號(hào)完成微波外差系統(tǒng)輸出信號(hào)的強(qiáng)度絕對(duì)標(biāo)定;也可以通過(guò)斬波器提供參考信號(hào)用于作相干平均以提高信噪比,實(shí)現(xiàn)利用軟件計(jì)算處理完成微波外差系統(tǒng)輸出信號(hào)的強(qiáng)度絕對(duì)標(biāo)定。

      【專利附圖】

      【附圖說(shuō)明】
      [0009]圖1為本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖。

      【具體實(shí)施方式】
      [0010]結(jié)合圖1,詳細(xì)說(shuō)明本發(fā)明專利的【具體實(shí)施方式】,但不對(duì)本發(fā)明的權(quán)利要求作任何限定。
      [0011]一種聚變裝置中微波外差系統(tǒng)的強(qiáng)度絕對(duì)標(biāo)定方法,采用標(biāo)準(zhǔn)強(qiáng)度源向待標(biāo)定微波外差系統(tǒng)提供輻射強(qiáng)度,其特征在于:所述標(biāo)準(zhǔn)強(qiáng)度源和待標(biāo)定微波外差系統(tǒng)之間還設(shè)有斬波器,所述的斬波器調(diào)制待標(biāo)定微波外差系統(tǒng)接收到的信號(hào)并提供周期信號(hào);還采用鎖相放大器以及采集系統(tǒng),所述周期信號(hào)輸入鎖相放大器并同時(shí)輸入采集系統(tǒng),所述待標(biāo)定微波外差系統(tǒng)接收斬波器調(diào)制的信號(hào)并分兩路輸出該信號(hào),一路直接輸入采集系統(tǒng),另一路輸入鎖相放大器。一方面,所述鎖相放大器利用斬波器輸出的參考信號(hào)對(duì)待標(biāo)定微波外差系統(tǒng)輸出的微弱信號(hào)做硬件濾波和放大再輸送至采集系統(tǒng)。另一方面,采集系統(tǒng)直接采集待標(biāo)定微波外差系統(tǒng)輸出信號(hào)然后通過(guò)內(nèi)置軟件作相干平均。分別通過(guò)硬件和軟件的方式實(shí)現(xiàn)微弱信號(hào)的探測(cè),完成待標(biāo)定微波外差系統(tǒng)的絕對(duì)強(qiáng)度標(biāo)定。
      [0012]所述的標(biāo)準(zhǔn)強(qiáng)度源是黑體源,其輻射強(qiáng)度與溫度相關(guān)。
      [0013]所述的斬波器通過(guò)改變光路通斷以實(shí)現(xiàn)調(diào)制待標(biāo)定微波外差系統(tǒng)接收到的信號(hào),并提供表征光路通斷的周期信號(hào)用于鎖相放大器及相干平均。
      [0014]所述的鎖相放大器用于微弱信號(hào)的探測(cè)。
      [0015]本發(fā)明可以通過(guò)鎖相放大器實(shí)現(xiàn)利用硬件探測(cè)微弱信號(hào)完成微波外差系統(tǒng)輸出信號(hào)的強(qiáng)度絕對(duì)標(biāo)定,也可以通過(guò)斬波器提供參考信號(hào)用于作相干平均以提高信噪比,實(shí)現(xiàn)利用軟件計(jì)算處理完成微波外差系統(tǒng)輸出信號(hào)的強(qiáng)度絕對(duì)標(biāo)定。
      【權(quán)利要求】
      1.一種聚變裝置中微波外差系統(tǒng)的強(qiáng)度絕對(duì)標(biāo)定方法,采用標(biāo)準(zhǔn)強(qiáng)度源向待標(biāo)定微波外差系統(tǒng)提供輻射強(qiáng)度,其特征在于:所述標(biāo)準(zhǔn)強(qiáng)度源和待標(biāo)定微波外差系統(tǒng)之間還設(shè)有斬波器,所述的斬波器調(diào)制待標(biāo)定微波外差系統(tǒng)接收到的信號(hào)并提供周期信號(hào);還采用鎖相放大器以及采集系統(tǒng),所述周期信號(hào)輸入鎖相放大器并同時(shí)輸入采集系統(tǒng),所述待標(biāo)定微波外差系統(tǒng)接收斬波器調(diào)制的信號(hào)并分兩路輸出該信號(hào),一路直接輸入采集系統(tǒng),另一路輸入鎖相放大器。
      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種聚變裝置中微波外差系統(tǒng)的強(qiáng)度絕對(duì)標(biāo)定方法,其特征在于:所述鎖相放大器利用斬波器輸出的參考信號(hào)對(duì)待標(biāo)定微波外差系統(tǒng)輸出的微弱信號(hào)做硬件濾波和放大再輸送至采集系統(tǒng),同時(shí)采集系統(tǒng)直接采集待標(biāo)定微波外差系統(tǒng)輸出信號(hào)然后通過(guò)內(nèi)置軟件作相干平均;分別通過(guò)硬件和軟件的方式實(shí)現(xiàn)微弱信號(hào)的探測(cè),完成待標(biāo)定微波外差系統(tǒng)的絕對(duì)強(qiáng)度標(biāo)定。
      3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種聚變裝置中微波外差系統(tǒng)的強(qiáng)度絕對(duì)標(biāo)定方法,其特征在于:所述的標(biāo)準(zhǔn)強(qiáng)度源是黑體源,其輻射強(qiáng)度與溫度相關(guān)。
      4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種聚變裝置中微波外差系統(tǒng)的強(qiáng)度絕對(duì)標(biāo)定方法,其特征在于:所述的斬波器通過(guò)改變光路通斷以實(shí)現(xiàn)調(diào)制待標(biāo)定微波外差系統(tǒng)接收到的信號(hào),并提供表征光路通斷的周期信號(hào)用于鎖相放大器及相干平均。
      【文檔編號(hào)】G01J5/00GK104501961SQ201410723124
      【公開(kāi)日】2015年4月8日 申請(qǐng)日期:2014年12月2日 優(yōu)先權(quán)日:2014年12月2日
      【發(fā)明者】劉永, 劉祥, 胡立群 申請(qǐng)人:中國(guó)科學(xué)院等離子體物理研究所
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