細長軸深孔壁厚測量裝置及測量方法
【專利摘要】本發(fā)明提供了一種細長軸深孔壁厚測量裝置及測量方法。該細長軸深孔壁厚測量裝置，包括：底座；安裝組件，包括用于安裝待測細長軸的支撐座；檢測組件，包括安裝座、測量桿、檢測件以及處理器，其中，安裝座沿底座的長度方向可移動地設(shè)置；測量桿可沿第一方向運動，該第一方向為垂直于放置在支撐座上的待測細長軸的軸線的方向；檢測件用于檢測待測細長軸的深孔的孔壁上的多個第一點處的孔壁坐標和待測細長軸的外表面上的與該多個第一點對應(yīng)的多個第二點處的外表面坐標；處理器與檢測件連接以對檢測件檢測的數(shù)據(jù)進行處理以確定待測細長軸深孔的壁厚。本發(fā)明的細長軸深孔壁厚測量裝置及測量方法的測量精度高，且結(jié)構(gòu)簡單，自動化程度高，便于實現(xiàn)。
【專利說明】細長軸深孔壁厚測量裝置及測量方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及深孔內(nèi)型腔測量裝置領(lǐng)域，具體而言，涉及一種細長軸深孔壁厚測量裝置及測量方法。

【背景技術(shù)】
[0002]以航空發(fā)動機動力渦輪傳動軸為代表的柔性細長軸具有深徑比大(大于30)、壁薄、高速動平衡要求高等特點，是發(fā)動機高速旋轉(zhuǎn)工作條件下的主要承力件，傳遞載荷，與盤、葉片等組成轉(zhuǎn)子，支承在軸承上做高速旋轉(zhuǎn)，為渦軸航空發(fā)動機的核心零件。
[0003]柔性細長軸一般都是薄壁空心軸，其內(nèi)型腔表面設(shè)計成通孔或臺階孔，并帶有內(nèi)花鍵、螺紋等。內(nèi)孔圓周跳動及直線度要求高達0.03_，壁厚差不大于0.05_，為了檢測細長軸的合格率，現(xiàn)有技術(shù)中采用三坐標測量機測量方法檢測細長軸的各個率，具體步驟為:將細長軸臥式安裝在放置三坐標平臺上的兩個V形鐵上，測頭接細長加長桿深入深孔內(nèi)腔進行檢測?，F(xiàn)有的檢測細長軸的合格率的方法有如下幾個缺點:
[0004](I)由于三坐標測頭傳感器連接的加長桿較長，測頭的負重大，造成測頭不平衡，測量精度及重復(fù)精度成急劇下降趨勢，坐標機接長桿最長極限值為300_，無法檢測到深孔內(nèi)腔的全程。
[0005](2)無專用的測量裝夾輔助工裝，長軸的軸線靠人工調(diào)整無法保證與三坐標機械坐標系平行，在測量的過程中經(jīng)常發(fā)生測頭碰撞故障。
[0006](3)三坐標的測量數(shù)據(jù)是通過計算機計算后得到的長軸的中心軸線的數(shù)據(jù)反映，并非長軸母線上的真實數(shù)據(jù)反映。
[0007](4)三坐標測量壁厚差是通過中心、內(nèi)外徑進行間接計算得出的，存在測量誤差。
[0008](5)在平臺上測量內(nèi)孔的跳動，只能檢測到孔口的跳動，深孔內(nèi)部的跳動無法檢測到。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0009]本發(fā)明的主要目的在于提供一種便于對細長軸深孔壁厚進行檢測的細長軸深孔壁厚測量裝置及測量方法。
[0010]為了實現(xiàn)上述目的，根據(jù)本發(fā)明的一個方面，提供了一種細長軸深孔壁厚測量裝置，包括:底座；安裝組件，安裝組件包括用于安裝待測細長軸的支撐座；檢測組件，檢測組件包括安裝座、測量桿、檢測件以及處理器，其中，安裝座設(shè)置在底座上，安裝座沿底座的長度方向可移動地設(shè)置；測量桿的第一端設(shè)置在安裝座上，測量桿平行于底座，且測量桿的軸線與放置在支撐座上的待測細長軸的軸線方向一致，測量桿可沿第一方向運動，該第一方向為垂直于放置在支撐座上的待測細長軸的軸線的方向；檢測件設(shè)置在測量桿的靠近支撐座的一端以檢測待測細長軸的深孔的孔壁上的多個第一點處的孔壁坐標和待測細長軸的外表面上的與該多個第一點對應(yīng)的多個第二點處的外表面坐標；處理器與檢測件連接以對檢測件檢測的數(shù)據(jù)進行處理以確定待測細長軸深孔的壁厚。進一步地，底座上設(shè)置有沿底座的長度方向延伸的軌道，支撐座沿軌道的長度方向可移動地設(shè)置。
[0011]進一步地，支撐座至少為兩個，至少兩個支撐座間隔設(shè)置在軌道上。
[0012]進一步地，支撐座包括:底板，底板可移動地設(shè)置在軌道上；螺桿，螺桿固定在底板上，螺桿垂直于底座；螺母，螺母套設(shè)在螺桿上，并可沿螺桿的長度方向移動；支撐板，支撐板上設(shè)置有與螺桿相適配的通孔，且支撐板位于螺母的遠離底板的一側(cè)。
[0013]進一步地，支撐板上設(shè)置有V型定位槽。
[0014]進一步地，測量桿由碳纖維材料制成。
[0015]進一步地，細長軸深孔壁厚測量裝置還包括校準組件，校準組件包括:支架，支架固定設(shè)置在底座上；標準塊，標準塊固定設(shè)置在支架上以校準測量桿和檢測件。
[0016]進一步地，檢測件為T型雙向掃描傳感器。
[0017]根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供了一種細長軸深孔壁厚測量方法，細長軸深孔壁厚測量方法由上述的細長軸深孔壁厚測量裝置實現(xiàn)，包括:放置步驟:將待測細長軸放置在支撐座上，并使測量桿的軸線與放置在支撐座上的待測細長軸的軸線方向一致；檢測步驟:使安裝座沿底座的長度方向運動，然后使測量桿沿垂直于放置在支撐座上的待測細長軸的軸線的第一方向移動，并利用檢測件檢測待測細長軸的深孔的孔壁上的多個第一點處的孔壁坐標和待測細長軸的外表面上的與該多個第一點對應(yīng)的多個第二點處的外表面坐標；計算步驟:根據(jù)檢測件的測量結(jié)果，利用處理器計算待測細長軸的深孔的壁厚。
[0018]進一步地，在放置步驟之前，細長軸深孔壁厚測量方法的還包括校準步驟，校準步驟包括:利用細長軸深孔壁厚測量裝置的校準組件對測量桿和檢測件進行校準。
[0019]應(yīng)用本發(fā)明的技術(shù)方案，當需要對細長軸深孔的壁厚進行測量時，首先將待測細長軸放置在安裝組件上，并保證待測細長軸的軸線方向與測量桿的軸向方向一致，然后使安裝座沿底座的長度方向運動，此時，由于測量桿可沿垂直于待測細長軸的軸向方向運動，當安裝座運動的過程中，測量桿可以伸入到待測細長軸的深孔內(nèi)，隨測量桿的運動，可以帶動設(shè)置在測量桿上的檢測件的運動，檢測件沿待測細長軸軸線方向運動的過程中，可以檢測得到待測細長軸的深孔的孔壁上的多個第一點處的孔壁坐標，并將多個第一點處的孔壁坐標傳遞給處理器；同樣地，當安裝座運動的過程時，可以調(diào)整測量桿的位置，使測量桿移動到待測細長軸的外周，此時，通過檢測件的作用，可以得到待測細長軸外表面上的與前述的多個第一點對應(yīng)的多個第二點處的外表面坐標，并將該外表面坐標傳遞至處理器，最后，通過處理器的作用，將相對應(yīng)的外表面坐標和孔壁坐標相減，即可得到待測細長軸的深孔孔壁的厚度。測量的過程中，可以旋轉(zhuǎn)放置在支撐座上的待測細長軸，得到多組數(shù)據(jù)，如果經(jīng)處理器處理后的壁厚值的波動范圍在0.05mm內(nèi)，則說明該細長軸為合格的細長軸，反之則為不合格的細長軸。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0020]構(gòu)成本申請的一部分的說明書附圖用來提供對本發(fā)明的進一步理解，本發(fā)明的示意性實施例及其說明用于解釋本發(fā)明，并不構(gòu)成對本發(fā)明的不當限定。在附圖中:
[0021]圖1示意性示出了本發(fā)明的細長軸深孔壁厚測量裝置的主視圖；
[0022]圖2示意性示出了本發(fā)明的細長軸深孔壁厚測量裝置的俯視圖；以及
[0023]圖3示意性示出了本發(fā)明的細長軸深孔壁厚測量裝置的左視圖。
[0024]其中，上述附圖包括以下附圖標記:
[0025]10、底座；11、軌道；20、安裝組件；21、支撐座；211、底板；212、螺桿；213、支撐板；2131、V型定位槽；30、檢測組件；31、安裝座；32、測量桿；33、檢測件；40、校準組件；41、支架；42、標準塊；50、待測細長軸。

【具體實施方式】
[0026]需要說明的是，在不沖突的情況下，本申請中的實施例及實施例中的特征可以相互組合。下面將參考附圖并結(jié)合實施例來詳細說明本發(fā)明。
[0027]參見圖1至圖3所示，根據(jù)本發(fā)明的實施例，提供了一種細長軸深孔孔壁測量裝置。該細長軸深孔壁厚測量裝置包括底座10、安裝組件20以及檢測組件30。
[0028]其中，安裝組件20包括用于安裝待測細長軸50的支撐座21 ;檢測組件30包括安裝座31、測量桿32、檢測件33以及處理器(圖中未示出)，安裝座31設(shè)置在底座10上，安裝座31沿底座10的長度方向可移動地設(shè)置；測量桿32的第一端設(shè)置在安裝座31上，測量桿32平行于底座10，且測量桿32的軸線與放置在支撐座21上的待測細長軸50的軸線方向一致，測量桿32可沿第一方向運動，該第一方向為垂直于放置在支撐座21上的待測細長軸50的軸線方向；檢測件33設(shè)置在測量桿32的靠近支撐座21的一端以檢測待測細長軸50的深孔的孔壁上的多個第一點處的孔壁坐標和待測細長軸50的外表面上的與該多個第一點對應(yīng)的多個第二點處的外表面坐標；處理器與檢測件33連接以對檢測件33檢測的數(shù)據(jù)進行處理以確定待測細長軸50深孔的壁厚。
[0029]根據(jù)本實施例，當需要對細長軸深孔的壁厚進行測量時，首先將待測細長軸50放置在安裝組件20上，并保證待測細長軸50的軸線方向與測量桿32的軸向方向一致，然后使安裝座31沿底座10的長度方向運動，此時，由于測量桿32可沿垂直于待測細長軸50的軸向方向運動，當安裝座31運動的過程中，測量桿32可以伸入到待測細長軸50的深孔內(nèi)，隨測量桿32的運動，可以帶動設(shè)置在測量桿32上的檢測件33的運動，檢測件33沿待測細長軸50軸線方向運動的過程中，可以檢測得到待測細長軸50的深孔的孔壁上的多個第一點處的孔壁坐標，并將多個第一點處的孔壁坐標傳遞給處理器；同樣地，當安裝座31運動的過程時，可以調(diào)整測量桿32的位置，使測量桿32移動到待測細長軸50的外周，此時，通過檢測件33的作用，可以得到待測細長軸50外表面上的與前述的多個第一點對應(yīng)的多個第二點處的外表面坐標，并將該外表面坐標傳遞至處理器，最后，通過處理器的作用，將相對應(yīng)的外表面坐標和孔壁坐標相減，即可得到待測細長軸50的深孔孔壁的厚度。測量的過程中，可以旋轉(zhuǎn)放置在支撐座21上的待測細長軸50，得到多組數(shù)據(jù)，如果經(jīng)處理器處理后的壁厚值的波動范圍在0.05mm內(nèi)，則說明該細長軸為合格的細長軸，反之則為不合格的細長軸。
[0030]本實施例中裝置還包括數(shù)據(jù)采集器(圖中未示出)，數(shù)據(jù)采集器與檢測件33連接以采集檢測件33檢測得到的數(shù)據(jù)，數(shù)據(jù)采集器將采集到的數(shù)據(jù)傳遞給處理器處理得到細長軸深孔的壁厚，結(jié)構(gòu)簡單，便于實現(xiàn)。
[0031]根據(jù)本實施例，由于本實施例中確定的細長軸深孔壁厚的因素僅包括孔壁坐標和外邊坐標，且僅需要一個方向上的坐標即可確定，相對于以往采用三坐標機測量細長軸深孔壁厚的方式，本實施例的裝置的測量精度高，且結(jié)構(gòu)簡單，自動化程度高，便于實現(xiàn)。
[0032]此外，本實施例中檢測件33設(shè)置在測量桿32的靠近安裝組件20的一端，能夠伸入到待測細長軸50的深孔內(nèi)，便于提高本實施例的細長軸深孔壁厚檢測裝置的檢測精度。
[0033]針對長軸類零件的內(nèi)孔直徑、跳動、直線度、輪廓度和壁厚差的檢測要求，編制專用的長軸深孔檢測及數(shù)據(jù)處理的處理器，允許用戶自由進行零件的相關(guān)尺寸和公差計算。處理器可自動識別不同的零件，也可以識別指定的輪廓特征從而調(diào)用最合適的測量程序，對已經(jīng)定義的輪廓進行自動測量。處理器可以運用輸入的理論數(shù)據(jù)或?qū)嶓w圖形跟蹤檢測被測輪廓，并與其進行精確地自動比較和數(shù)據(jù)處理。報告形式分圖形報告和實測數(shù)據(jù)文本報告兩種形式。
[0034]參見圖3所示，本實施例中的底座10上設(shè)置有沿底座10的長度方向延伸的軌道11，支撐座21沿軌道11的長度方向可移動地設(shè)置，便于根據(jù)待測細長軸50的長度調(diào)整支撐座21的支撐點，保證待測細長軸50軸線與測量桿32的軸線方向的一致性。
[0035]優(yōu)選地，支撐座21至少為兩個，至少兩個支撐座21間隔設(shè)置在軌道11上，便于支撐待測細長軸50。
[0036]在本發(fā)明的一種優(yōu)選的實施例中，支撐座21包括底板211、螺桿212、螺母(圖中未示出)以及支撐板213。其中，底板211可移動地設(shè)置在軌道11上，便于適應(yīng)不同長度的待測細長軸50 ;螺桿212固定在底板211上，螺桿212垂直于底座10 ;螺母套設(shè)在螺桿212上，并可沿螺桿212的長度方向移動；支撐板213上設(shè)置有與螺桿212相適配的通孔，支撐板213通過該通孔定位在螺桿212上，且該支撐板213位于螺母的遠離底板211的一側(cè)，通過螺母支撐在支撐座21上。在放置待測細長軸50的過程中，為了保證待測細長軸50與測量桿32的軸向方向的一致性，由于螺母可沿螺桿212的長度方向運動，使得支撐板213的高度可調(diào)，通過螺母的調(diào)節(jié)作用，能夠在待測細長軸50的軸線方向與測量桿32的軸線方向不一致時對待測細長軸50進行調(diào)節(jié)，進而提高本實施例的測量裝置的檢測精度。
[0037]優(yōu)選地，支撐板213上設(shè)置有V型定位槽2131，便于放置待測細長軸50，結(jié)構(gòu)簡單，便于實現(xiàn)，在設(shè)計V型定位槽2131的過程中，在V型定位槽2131配合雙向參考基準，便于保證待測細長軸50的安裝精度。
[0038]由于測量桿32為細長桿，受重力的作用，細長的測量桿32的安裝有檢測件33的一端的負重大，容易出現(xiàn)不平衡的現(xiàn)象，為了避免這一現(xiàn)象的出現(xiàn)，本實施例中的測量桿32由碳纖維材料制成，其長度可達1200_，結(jié)構(gòu)強度高，變形小。
[0039]再次結(jié)合圖1至3所示，本實施例中的細長軸深孔壁厚測量裝置還包括校準組件40，該校準組件40包括支架41和標準塊42。其中，支架41固定設(shè)置在底座10上；標準塊42固定設(shè)置在支架41上以校準測量桿32和檢測件33。校準時，使安裝座31沿底座10的長度方向運動，在標準塊42的上表面和下表面分別檢測一組數(shù)據(jù)，利用處理器將兩組數(shù)據(jù)相減，得到數(shù)值如為標準塊42的標準厚度，則說明測量桿32和檢測件33的安裝準確，否則調(diào)整后重新校準。
[0040]優(yōu)選地，檢測件33為T型雙向掃描傳感器，其精度可滿足內(nèi)腔形狀誤差的檢測，從功能上還能一并完成壁厚差的檢測。
[0041]根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提高了一種細長軸深孔壁厚測量方法，細長軸深孔壁厚測量方法由上述的細長軸深孔壁厚測量裝置實現(xiàn)。
[0042]本實施例的細長軸深孔壁厚測量方法包括校準步驟、放置步驟、檢測步驟以及計算步驟。
[0043]在實際測量的過程中，校準步驟和放置步驟可以相互交換。下面具體介紹各個步驟的具體操作過程。
[0044]校準步驟:利用細長軸深孔壁厚測量裝置的校準組件40對測量桿32和檢測件33進行校準。校準時，使安裝座31沿底座10的長度方向運動，在標準塊42的上表面和下表面分別檢測一組數(shù)據(jù)，利用處理器將兩組數(shù)據(jù)相減，得到數(shù)值如為標準塊42的標準厚度，則說明測量桿32和檢測件33的安裝準確，否則調(diào)整后重新校準。
[0045]放置步驟:將待測細長軸50放置在支撐座21上，并使測量桿32的軸線與放置在支撐座21上的待測細長軸50的軸線方向一致，如果不一致，可以調(diào)節(jié)支撐座21，使支撐座21上的螺母沿螺桿212的長度方向運動以調(diào)整支撐板213，進而使測量桿32的軸線與放置在支撐座21上的待測細長軸50的軸線方向一致。
[0046]檢測步驟:使安裝座31沿底座10的長度方向運動，然后使測量桿32測量桿32沿垂直于放置在支撐座21上的待測細長軸50的軸線的第一方向移動，并利用檢測件33檢測待測細長軸50的深孔的孔壁上的多個第一點處的孔壁坐標和待測細長軸50的外表面上的與該多個第一點對應(yīng)的多個第二點處的外表面坐標，在測量的過程中，為了提高檢測的檢測精度，可以旋轉(zhuǎn)細長軸，測量多組數(shù)據(jù)。
[0047]計算步驟:根據(jù)檢測件33的測量結(jié)果，利用處理器計算待測細長軸50的深孔的壁厚。將相對應(yīng)的外表面坐標和孔壁坐標相減，即可得到待測細長軸50的深孔孔壁的厚度。如果經(jīng)處理器處理后的壁厚值的波動范圍在0.05mm內(nèi)，則說明該細長軸為合格的細長軸。
[0048]從以上的描述中，可以看出，本發(fā)明上述的實施例實現(xiàn)了如下技術(shù)效果:
[0049](I)測量精度由原有的0.03提高到0.005，測量數(shù)據(jù)穩(wěn)定，測量重復(fù)性好；
[0050](2)能完成長度至1000mm、直徑小至Φ 15mm的深孔長軸內(nèi)孔尺寸的全量程檢測，能精準的測量出長軸內(nèi)孔母線輪廓、任意截面跳動和壁厚差。在加工過程中可根據(jù)實測數(shù)據(jù)將長軸深孔偏尚狀態(tài)修正合格。
[0051](3)測量方法容易掌握，方便推廣；
[0052](4)裝夾、找正方法簡單，測量和數(shù)據(jù)處理實現(xiàn)程序化批量測量效率極高，每批只需找正一件后，余下的零件直接執(zhí)行程序開始測量即可。測量效率由原有的2小時/件提高到0.5小時/件；
[0053](5)用3D測量軟件處理數(shù)據(jù)方便直觀，也可使用工件CAD圖形與測量輪廓精確比較。
[0054](6)大大地提高了檢測精度和工作效率，不僅為細長軸類零件的按時交付起到了關(guān)鍵性作用，而且為公司全年的航機交付爭取了大量的寶貴時間，效果很好。
[0055]以上僅為本發(fā)明的優(yōu)選實施例而已，并不用于限制本發(fā)明，對于本領(lǐng)域的技術(shù)人員來說，本發(fā)明可以有各種更改和變化。凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、等同替換、改進等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種細長軸深孔壁厚測量裝置，其特征在于，包括: 底座(10)； 安裝組件(20)，所述安裝組件(20)包括用于安裝待測細長軸(50)的支撐座(21)； 檢測組件(30)，所述檢測組件(30)包括安裝座(31)、測量桿(32)、檢測件(33)以及處理器，其中， 所述安裝座(31)設(shè)置在所述底座(10)上，所述安裝座(31)沿所述底座(10)的長度方向可移動地設(shè)置； 所述測量桿(32)的第一端設(shè)置在所述安裝座(31)上，所述測量桿(32)平行于所述底座(10)，且所述測量桿(32)的軸線與放置在所述支撐座(21)上的所述待測細長軸(50)的軸線方向一致，所述測量桿(32)可沿第一方向運動，該第一方向為垂直于放置在所述支撐座(21)上的所述待測細長軸(50)的軸線的方向； 所述檢測件(33)設(shè)置在所述測量桿(32)的靠近所述支撐座(21)的一端以檢測所述待測細長軸(50)的深孔的孔壁上的多個第一點處的孔壁坐標和所述待測細長軸(50)的外表面上的與該多個第一點對應(yīng)的多個第二點處的外表面坐標； 所述處理器與所述檢測件(33)連接以對所述檢測件(33)檢測的數(shù)據(jù)進行處理以確定所述待測細長軸(50)深孔的壁厚。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的細長軸深孔壁厚測量裝置，其特征在于，所述底座(10)上設(shè)置有沿所述底座(10)的長度方向延伸的軌道(11)，所述支撐座(21)沿所述軌道(11)的長度方向可移動地設(shè)置。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的細長軸深孔壁厚測量裝置，其特征在于，所述支撐座(21)至少為兩個，所述至少兩個支撐座(21)間隔設(shè)置在所述軌道(11)上。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的細長軸深孔壁厚測量裝置，其特征在于，所述支撐座(21)包括: 底板(211)，所述底板(211)可移動地設(shè)置在所述軌道(11)上； 螺桿(212)，所述螺桿(212)固定在所述底板(211)上，所述螺桿(212)垂直于底座(10)； 螺母，所述螺母套設(shè)在所述螺桿(212)上，并可沿所述螺桿(212)的長度方向移動； 支撐板(213)，所述支撐板(213)上設(shè)置有與所述螺桿(212)相適配的通孔，且所述支撐板(213)位于所述螺母的遠離所述底板(211)的一側(cè)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的細長軸深孔壁厚測量裝置，其特征在于，所述支撐板(213)上設(shè)置有V型定位槽(231)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的細長軸深孔壁厚測量裝置，其特征在于，所述測量桿(32)由碳纖維材料制成。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的細長軸深孔壁厚測量裝置，其特征在于，所述細長軸深孔壁厚測量裝置還包括校準組件(40)，所述校準組件(40)包括: 支架(41)，所述支架(41)固定設(shè)置在所述底座(10)上； 標準塊(42)，所述標準塊(42)固定設(shè)置在所述支架(41)上以校準所述測量桿(32)和所述檢測件(33)。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的細長軸深孔壁厚測量裝置，其特征在于，所述檢測件(33)為T型雙向掃描傳感器。
9.一種細長軸深孔壁厚測量方法，其特征在于，所述細長軸深孔壁厚測量方法由權(quán)利要求I至8中任一項所述的細長軸深孔壁厚測量裝置實現(xiàn)，包括: 放置步驟:將待測細長軸(50)放置在所述支撐座(21)上，并使所述測量桿(32)的軸線與放置在所述支撐座(21)上的所述待測細長軸(50)的軸線方向一致； 檢測步驟:使所述安裝座(31)沿所述底座(10)的長度方向運動，然后使所述測量桿(32)沿垂直于放置在所述支撐座(21)上的待測細長軸(50)的軸線的第一方向移動，并利用所述檢測件(33)檢測所述待測細長軸(50)的深孔的孔壁上的多個第一點處的孔壁坐標和所述待測細長軸(50)的外表面上的與該多個第一點對應(yīng)的多個第二點處的外表面坐標； 計算步驟:根據(jù)所述檢測件(33)的測量結(jié)果，利用所述處理器計算所述待測細長軸(50)的深孔的壁厚。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的細長軸深孔壁厚測量方法，其特征在于，在所述放置步驟之前，所述細長軸深孔壁厚測量方法的還包括校準步驟，所述校準步驟包括: 利用所述細長軸深孔壁厚測量裝置的校準組件(40)對所述測量桿(32)和所述檢測件(33)進行校準。
【文檔編號】G01B21/08GK104457667SQ201410788152
【公開日】2015年3月25日 申請日期:2014年12月17日 優(yōu)先權(quán)日:2014年12月17日
【發(fā)明者】袁園, 何莉, 廖振幫 申請人:中國南方航空工業(yè)(集團)有限公司