一種led多晶快速掃描檢測系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型提供了一種LED多晶快速掃描檢測系統(tǒng)，其包括一種加電信號(hào)的通道自動(dòng)切換電路，由首次加電極性判斷部分，通道切換部分和重加電測試部分組成，所述首次加電極性判斷部分分為電學(xué)測試判斷和光學(xué)測試判斷兩種手段，所述通道切換部分在判斷極性后根據(jù)由FPGA發(fā)出控制信號(hào)控制通道切換。本實(shí)用新型具有以下優(yōu)點(diǎn)：極大地減少了基臺(tái)LED測試的時(shí)間(不需要基臺(tái)旋轉(zhuǎn)LED)，提高了效率；同時(shí)也提高了良品率，避免了因?yàn)長ED芯片因?yàn)樾D(zhuǎn)而浪費(fèi)測試時(shí)間。
【專利說明】—種LED多晶快速掃描檢測系統(tǒng)
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001 ] 本實(shí)用新型涉及LED檢測系統(tǒng)設(shè)備，特別涉及一種針對(duì)LED檢測時(shí)發(fā)生旋轉(zhuǎn)，仍能夠快速判斷LED方向，并采用高速開關(guān)切換電路對(duì)被測LED進(jìn)行加電檢測的LED多晶快速掃描檢測機(jī)構(gòu)。
【背景技術(shù)】
[0002]目前LED是朝陽產(chǎn)業(yè)，具有節(jié)能、環(huán)保等特點(diǎn)。處于大力推廣的階段，LED產(chǎn)量加大，對(duì)于LED測試設(shè)備的需求越來越大，測試速度高，功能全的產(chǎn)品更能滿足客戶的需求。
[0003]LED測試儀在檢測LED芯片時(shí)，LED芯片夾在測試基臺(tái)上首先要對(duì)芯片的旋轉(zhuǎn)位置進(jìn)行判斷，判斷出位置后，如果正裝，就直接進(jìn)行測試，如果旋轉(zhuǎn)了 180度，就需要基臺(tái)進(jìn)行旋轉(zhuǎn)180度后在進(jìn)行測試，這一機(jī)械旋轉(zhuǎn)過程浪費(fèi)了大量的測試時(shí)間。
[0004]圖2展示了 一些封裝的LED產(chǎn)品的引腳圖。如圖2，當(dāng)3C4CC0M或者3C4AC0M兩種LED封裝，旋轉(zhuǎn)180度后，公共端(com)翻轉(zhuǎn)到CH2.通常的LED測試儀就無法對(duì)這種封裝的LED直接測試，只能旋轉(zhuǎn)后再次測試。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0005]為了解決上述【背景技術(shù)】的缺陷，本實(shí)用新型提供一種LED多晶快速掃描檢測系統(tǒng)，LED檢測過程中，被測LED多種可能角度旋轉(zhuǎn)后，腳位變換后帶來測試引腳與基臺(tái)連接發(fā)生變化，不需要將LED芯片重新旋轉(zhuǎn)到正確位置，就能快速判斷LED的引腳位置并能正確的加電到相應(yīng)LED腳位上進(jìn)行測試。
[0006]為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型采用以下技術(shù)方案是:
[0007]—種LED多晶快速掃描檢測系統(tǒng)，其包括一種加電信號(hào)的通道自動(dòng)切換電路，所述通道自動(dòng)切換電路由首次加電極性判斷部分，通道切換部分和重加電測試部分組成，所述首次加電記性判斷部分分為電學(xué)測試判斷和光學(xué)測試判斷兩種手段，所述通道切換部分在判斷極性后根據(jù)由FPGA發(fā)出控制信號(hào)控制通道切換。
[0008]進(jìn)一步的，所述加電信號(hào)的通道自動(dòng)切換電路使用高速的光隔離MOS開關(guān)，所述MOS開關(guān)的控制端連接FPGA數(shù)字控制電路，開關(guān)端連接測試電路到外部輸出加電接口。
[0009]優(yōu)選的，所述光學(xué)測試判斷采用亮度指標(biāo)作為極性判斷的依據(jù)，電學(xué)測試判斷極性選用電學(xué)VF極性判斷。
[0010]本實(shí)用新型的有益效果是:
[0011]1.采用了開關(guān)網(wǎng)絡(luò)切換加電測試通道，使得LED測試儀的功能大大的增強(qiáng)，LED的測試速度也大大提高；
[0012]2.聞速的光隔尚MOS切換開關(guān)的選用，大大的提聞了開關(guān)的切換速度,使得開關(guān)建立時(shí)間最小0.2msο
【專利附圖】

【附圖說明】[0013]圖1為是開關(guān)掃描切換網(wǎng)絡(luò)的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0014]圖2為LED芯片正位時(shí)LED封裝形式結(jié)構(gòu)示意圖。
[0015]圖3為LED芯片發(fā)生旋轉(zhuǎn)180度連接在基臺(tái)測試位時(shí)的LED封裝形式結(jié)構(gòu)示意圖?！揪唧w實(shí)施方式】
[0016]下面結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例作詳細(xì)闡述，以使本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)和特征能更易于被本領(lǐng)域技術(shù)人員理解，從而對(duì)本實(shí)用新型的保護(hù)范圍作出更為清楚明確的界定。
[0017]根據(jù)圖2所示的兩種三晶四腳LED，正位時(shí)，圖2的CHl連接圖1的Pl接口上，圖2的CH2連接在圖1的P2接口上，圖2的CH3連接在圖1的P3接口上，圖2的COM端連接在圖1的P4接口上。這種連接是通常的正位連接測試。
[0018]LED芯片發(fā)生旋轉(zhuǎn)180度連接在基臺(tái)測試位時(shí)，圖2的CHl連接圖1的P3接口上，圖2的CH2連接在圖1的P4接口上，圖2的CH3連接在圖1的P3接口上，圖2的COM端連接在圖1的P4接口上。加電通道CHl、CH2、CH3都是分時(shí)加電導(dǎo)通，而COM端在測每個(gè)晶體是都是導(dǎo)通在地線回路上。所以把圖1的P2通道和原來的P4通道切換。相應(yīng)的CHl?CH3重新排列切換分時(shí)加電，
[0019]加電等待開關(guān)切換完畢后0.5ms電路穩(wěn)定建立后開始加電測試，測試分為極性判斷過程(掃描)，和正常項(xiàng)目測試。
[0020]以上所述，僅為本實(shí)用新型的【具體實(shí)施方式】之一，但本實(shí)用新型的保護(hù)范圍并不局限于此，任何熟悉本領(lǐng)域的技術(shù)人員在本實(shí)用新型所揭露的技術(shù)范圍內(nèi)，可不經(jīng)過創(chuàng)造性勞動(dòng)想到的變化或替換，都應(yīng)涵蓋在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。因此，本實(shí)用新型的保護(hù)范圍應(yīng)該以權(quán)利要求書所限定的保護(hù)范圍為準(zhǔn)。
【權(quán)利要求】
1.一種LED多晶快速掃描檢測系統(tǒng)，其特征在于，其包括一種加電信號(hào)的通道自動(dòng)切換電路，所述通道自動(dòng)切換電路由首次加電極性判斷部分，通道切換部分和重加電測試部分組成，所述首次加電記性判斷部分分為電學(xué)測試判斷和光學(xué)測試判斷兩種手段，所述通道切換部分在判斷極性后根據(jù)由FPGA發(fā)出控制信號(hào)控制通道切換。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種LED多晶快速掃描檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述加電信號(hào)的通道自動(dòng)切換電路使用高速的光隔離MOS開關(guān)，所述MOS開關(guān)的控制端連接FPGA數(shù)字控制電路，開關(guān)端連接測試電路到外部輸出加電接口。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種LED多晶快速掃描檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述光學(xué)測試判斷采用亮度指標(biāo)作為極性判斷的依據(jù)，電學(xué)測試判斷極性選用電學(xué)VF極性判斷。
【文檔編號(hào)】G01R31/02GK203745601SQ201420093542
【公開日】2014年7月30日 申請(qǐng)日期:2014年3月3日 優(yōu)先權(quán)日:2014年3月3日
【發(fā)明者】王繼超, 劉建東, 錢衛(wèi)東, 金欣 申請(qǐng)人:蘇州索拉科技有限公司