一種光學(xué)測(cè)試平臺(tái)支撐基座的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型涉及一種光學(xué)測(cè)試平臺(tái)支撐基座，包括設(shè)置于測(cè)試臺(tái)面上的底座，所述底座上設(shè)置有光學(xué)檢測(cè)主機(jī)，所述光學(xué)檢測(cè)主機(jī)的上方設(shè)置有試件，所述試件與光學(xué)檢測(cè)主機(jī)之間設(shè)置有連接線纜，所述底座的兩側(cè)設(shè)置有兩個(gè)向上延伸的支撐臂，兩個(gè)支撐臂的相向側(cè)各設(shè)置有一個(gè)懸掛托架，所述懸掛托架通過螺栓固定于支撐臂上，所述連接線纜的下端由底座下端面的穿線孔導(dǎo)出、并與光學(xué)檢測(cè)主機(jī)連接，所述連接線纜的上端由位于懸掛托架上方的穿線孔導(dǎo)出、并與試件連接，具有連接結(jié)構(gòu)穩(wěn)定、結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、易于反復(fù)拆裝、并且不易出現(xiàn)遮擋干涉。
【專利說明】一種光學(xué)測(cè)試平臺(tái)支撐基座

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及一種光學(xué)檢測(cè)平臺(tái)，特別是一種光學(xué)測(cè)試平臺(tái)支撐基座。

【背景技術(shù)】
[0002]光學(xué)檢測(cè)平臺(tái)是安裝光學(xué)檢測(cè)主機(jī)及試件的關(guān)鍵性基礎(chǔ)承載裝置，其主要作用是實(shí)現(xiàn)檢測(cè)過程中的重心穩(wěn)定與姿態(tài)平衡，現(xiàn)有的光學(xué)檢測(cè)平臺(tái)通常包括四個(gè)位于底部的空氣支撐座，以及支撐基座，在檢測(cè)過程中，試件和光學(xué)檢測(cè)主機(jī)分別固定于支撐基座的上、下兩端，并通過安裝在其上的驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)、傳動(dòng)系統(tǒng)、傳感系統(tǒng)等附屬裝置實(shí)現(xiàn)檢測(cè)過程中試件位置的精密對(duì)焦調(diào)整，以完成整個(gè)光學(xué)檢測(cè)操作。
[0003]然而，在現(xiàn)有的光學(xué)檢測(cè)平臺(tái)中，通常都采用實(shí)心的結(jié)構(gòu)件作為支撐基座，其存在的不足之處在于:試件上的線纜散落于支撐基座的周圍，容易扭曲纏繞，并且受到試驗(yàn)振動(dòng)影響較大。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0004]本實(shí)用新型的發(fā)明目的在于:針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)存在的問題，提供一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單穩(wěn)定，試件上電源線布局更好、不易扭曲纏繞、能夠有效衰減光學(xué)測(cè)試平臺(tái)支撐基座。
[0005]為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型采用的技術(shù)方案為:
[0006]一種光學(xué)測(cè)試平臺(tái)支撐基座，包括設(shè)置于測(cè)試臺(tái)面上的底座，所述底座上設(shè)置有光學(xué)檢測(cè)主機(jī)，所述光學(xué)檢測(cè)主機(jī)的上方設(shè)置有試件，所述試件與光學(xué)檢測(cè)主機(jī)之間設(shè)置有連接線纜，所述底座的兩側(cè)設(shè)置有兩個(gè)向上延伸的支撐臂，兩個(gè)支撐臂的相向側(cè)各設(shè)置有一個(gè)懸掛托架，所述懸掛托架通過螺栓固定于支撐臂上，所述試件通過懸掛托架與支撐臂連接；所述支撐臂的內(nèi)部設(shè)置有中空隔層，所述支撐臂上設(shè)置有連通至中空隔層的穿線孔，所述穿線孔設(shè)置于懸掛托架的上方、以及底座的下端面，所述連接線纜的下端由底座下端面的穿線孔導(dǎo)出、并與光學(xué)檢測(cè)主機(jī)連接，所述連接線纜的上端由位于懸掛托架上方的穿線孔導(dǎo)出、并與試件連接。
[0007]采用這樣的結(jié)構(gòu)，通過帶有底座承載光學(xué)檢測(cè)主機(jī)，并通過兩個(gè)向上延伸的支撐臂結(jié)合懸掛托架的方式、將試件夾設(shè)于光學(xué)檢測(cè)主機(jī)的正上方，具有連接結(jié)構(gòu)穩(wěn)定、結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、易于反復(fù)拆裝、并且不易出現(xiàn)遮擋干涉，通過中空隔層收納試件與光學(xué)檢測(cè)平臺(tái)之間的連接線纜(如電源線、信號(hào)線等)，不僅結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、布局更好，而且能夠有效防止連接線纜卷曲盤繞、避免連接線纜干涉遮擋光學(xué)檢測(cè)。
[0008]綜上所述，由于采用了上述技術(shù)方案，本實(shí)用新型的有益效果是:通過帶有底座承載光學(xué)檢測(cè)主機(jī)，并通過兩個(gè)向上延伸的支撐臂結(jié)合懸掛托架的方式、將試件夾設(shè)于光學(xué)檢測(cè)主機(jī)的正上方，具有連接結(jié)構(gòu)穩(wěn)定、結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、易于反復(fù)拆裝、并且不易出現(xiàn)遮擋干涉，通過中空隔層收納試件與光學(xué)檢測(cè)平臺(tái)之間的連接線纜(如電源線、信號(hào)線等)，不僅結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、布局更好，而且能夠有效防止連接線纜卷曲盤繞、避免連接線纜干涉遮擋光學(xué)檢測(cè)。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0009]圖1為本實(shí)用新型中支撐臂的立體結(jié)構(gòu)示意圖；
[0010]圖2為本實(shí)用新型在安裝試件和光學(xué)檢測(cè)主機(jī)后的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0011]圖中標(biāo)記:底座一I ;光學(xué)檢測(cè)主機(jī)一2 ;試件一3 ;連接線纜一4 ;支撐臂一5 ;懸掛托架一6 ;中空隔層一7 ;穿線孔一8。

【具體實(shí)施方式】
[0012]下面結(jié)合附圖，對(duì)本實(shí)用新型作詳細(xì)的說明。
[0013]為了使本實(shí)用新型的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實(shí)施例，對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅用以解釋本實(shí)用新型，并不用于限定本實(shí)用新型。
[0014]如圖1和圖2所示，本實(shí)施例一種光學(xué)測(cè)試平臺(tái)支撐基座，包括設(shè)置于測(cè)試臺(tái)面上的底座1，底座I上設(shè)置有光學(xué)檢測(cè)主機(jī)2，光學(xué)檢測(cè)主機(jī)2的上方設(shè)置有試件3，試件3與光學(xué)檢測(cè)主機(jī)2之間設(shè)置有連接線纜4，底座I的兩側(cè)設(shè)置有兩個(gè)向上延伸的支撐臂5，兩個(gè)支撐臂5的相向側(cè)各設(shè)置有一個(gè)懸掛托架6，懸掛托架6通過螺栓固定于支撐臂5上，試件3通過懸掛托架6與支撐臂5連接；支撐臂5的內(nèi)部設(shè)置有中空隔層7，支撐臂5上設(shè)置有連通至中空隔層7的穿線孔8，穿線孔8設(shè)置于懸掛托架6的上方、以及底座I的下端面，連接線纜4的下端由底座I下端面的穿線孔8導(dǎo)出、并與光學(xué)檢測(cè)主機(jī)2連接，連接線纜4的上端由位于懸掛托架6上方的穿線孔8導(dǎo)出、并與試件3連接，兩個(gè)支撐臂5的側(cè)部各設(shè)置有兩個(gè)向外延伸的支撐橫梁，支撐橫梁的固定端與支撐臂5之間通過螺栓固定連接，支撐橫梁的懸臂端設(shè)置有豎向連接樁，豎向連接樁的下端面與測(cè)試臺(tái)面之間設(shè)置有氣動(dòng)減振器。采用這樣的結(jié)構(gòu)，通過支撐橫梁和氣動(dòng)減振器相結(jié)合的方式，具有整體結(jié)構(gòu)更加穩(wěn)定、檢測(cè)過程中振動(dòng)小、精度高的有益效果，豎向連接樁的上端面與底座I的側(cè)壁之間設(shè)置有斜支撐梁，采用這樣的結(jié)構(gòu)，具有結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性更好的有益效果，兩個(gè)支撐橫梁在水平方向的夾角為30°?90°，通過帶有底座I承載光學(xué)檢測(cè)主機(jī)2，并通過兩個(gè)向上延伸的支撐臂5結(jié)合懸掛托架6的方式、將試件3夾設(shè)于光學(xué)檢測(cè)主機(jī)2的正上方，具有連接結(jié)構(gòu)穩(wěn)定、結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、易于反復(fù)拆裝、并且不易出現(xiàn)遮擋干涉，通過中空隔層7收納試件3與光學(xué)檢測(cè)平臺(tái)之間的連接線纜4 (如電源線、信號(hào)線等)，不僅結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、布局更好，而且能夠有效防止連接線纜4卷曲盤繞、避免連接線纜4干涉遮擋光學(xué)檢測(cè)。
[0015]以上所述僅為本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例而已，并不用以限制本實(shí)用新型，凡在本實(shí)用新型的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種光學(xué)測(cè)試平臺(tái)支撐基座，包括設(shè)置于測(cè)試臺(tái)面上的底座，所述底座上設(shè)置有光學(xué)檢測(cè)主機(jī)，所述光學(xué)檢測(cè)主機(jī)的上方設(shè)置有試件，所述試件與光學(xué)檢測(cè)主機(jī)之間設(shè)置有連接線纜，其特征在于:所述底座的兩側(cè)設(shè)置有兩個(gè)向上延伸的支撐臂，兩個(gè)支撐臂的相向側(cè)各設(shè)置有一個(gè)懸掛托架，所述懸掛托架通過螺栓固定于支撐臂上，所述試件通過懸掛托架與支撐臂連接；所述支撐臂的內(nèi)部設(shè)置有中空隔層，所述支撐臂上設(shè)置有連通至中空隔層的穿線孔，所述穿線孔設(shè)置于懸掛托架的上方、以及底座的下端面，所述連接線纜的下端由底座下端面的穿線孔導(dǎo)出、并與光學(xué)檢測(cè)主機(jī)連接，所述連接線纜的上端由位于懸掛托架上方的穿線孔導(dǎo)出、并與試件連接。
【文檔編號(hào)】G01D11/30GK204007678SQ201420497309
【公開日】2014年12月10日 申請(qǐng)日期:2014年8月29日 優(yōu)先權(quán)日:2014年8月29日
【發(fā)明者】曹志明, 劉鋼, 席勁松 申請(qǐng)人:成都福譽(yù)科技有限公司