一種音叉晶體穩(wěn)定度分析儀的制作方法
【專利摘要】一種音叉晶體穩(wěn)定度分析儀，其特征在于：包括待測音叉、控制芯片、鍵盤電路和顯示器，所述鍵盤電路與控制芯片的輸入口連接，顯示器與控制芯片的輸出口連接，所述控制芯片的控制口連接有繼電器，控制芯片還與漏電流檢測電路和頻率穩(wěn)定度分析電路相連接，所述待測音叉通過繼電器分別與漏電流檢測電路、頻率穩(wěn)定度分析電路選擇連接。本實用新型通過漏電流檢測電路和頻率穩(wěn)定度分析電路測試音叉晶體的漏電流和振蕩頻率，并通過51單片機將測試數(shù)據(jù)和設定數(shù)據(jù)進行比較分析，而后在顯示屏上給出分析結(jié)果，整個測試過程非常簡單，測試精度高，結(jié)果一目了然。
【專利說明】一種音叉晶體穩(wěn)定度分析儀

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型涉及一種音叉測試裝置，具體涉及一種音叉晶體穩(wěn)定度分析儀。

【背景技術(shù)】
[0002]在石英晶體生產(chǎn)領(lǐng)域，需要對石英音叉晶體穩(wěn)定度進行分析，避免產(chǎn)品在上機使用過程中失效，頻率抖動等不良反應。為提高石英音叉晶體穩(wěn)定性除了對其高溫老化處理夕卜，必須通過電氣性能上的測試進行判別，剔除不穩(wěn)定產(chǎn)品，使晶體能在不同電磁環(huán)境下正常使用?，F(xiàn)階段的音叉晶體生產(chǎn)領(lǐng)域沒有專門的測試分析工具，測試手續(xù)繁瑣，準確度也不聞。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本實用新型的目的是克服現(xiàn)有技術(shù)的缺陷和不足，提供一種操作簡單、數(shù)據(jù)準確的音叉晶體穩(wěn)定度分析儀。
[0004]為實現(xiàn)以上目的，本實用新型的技術(shù)解決方案是:一種音叉晶體穩(wěn)定度分析儀，其特征在于:包括待測音叉、控制芯片、鍵盤電路和顯示器，所述鍵盤電路與控制芯片的輸入口連接，顯示器與控制芯片的輸出口連接，所述控制芯片的控制口連接有繼電器，控制芯片還與漏電流檢測電路和頻率穩(wěn)定度分析電路相連接，所述待測音叉通過繼電器分別與漏電流檢測電路、頻率穩(wěn)定度分析電路選擇連接。
[0005]所述漏電流檢測電路包括電壓取樣電阻、電壓跟隨電路、電壓放大電路和A/D轉(zhuǎn)換電路。
[0006]所述頻率穩(wěn)定度分析電路包括電壓放大電路、D/A轉(zhuǎn)換電路、小信號整流電路、力口法電路、同相比例運算放大電路、自動增益同相比例運算放大電路、信號整形電路和頻率計數(shù)電路。
[0007]所述控制芯片為51單片機。
[0008]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實用新型的有益效果為:
[0009]1、本實用新型通過漏電流檢測電路和頻率穩(wěn)定度分析電路測試音叉晶體的漏電流和振蕩頻率，并通過51單片機將測試數(shù)據(jù)和設定數(shù)據(jù)進行比較分析，而后在顯示屏上給出分析結(jié)果，整個測試過程操作簡單，測試精度高，結(jié)果一目了然。
[0010]2、本實用新型采用51單片機作為控制芯片，這樣做既滿足了測試設備基本性能要求的同時也降低了設備的成本。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0011]圖1是本實用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0012]圖中:待測音叉1，控制芯片2，鍵盤電路3，顯示器4，繼電器5，漏電流檢測電路6，頻率穩(wěn)定度分析電路7，電壓取樣電阻8，電壓跟隨電路9，電壓放大電路10，A/D轉(zhuǎn)換電路11，電壓放大電路12，D/A轉(zhuǎn)換電路13，小信號整流電路14，加法電路15，同相比例運算放大電路16，自動增益同相比例運算放大電路17，信號整形電路18，頻率計數(shù)電路19。

【具體實施方式】
[0013]以下結(jié)合【專利附圖】

【附圖說明】和【具體實施方式】對本實用新型作進一步詳細的說明。
[0014]參見圖1，一種音叉晶體穩(wěn)定度分析儀，包括待測音叉1、控制芯片2、鍵盤電路3和顯示器4，本實用新型使用性能好、體積小的51單片機作為分析儀的控制芯片，所述鍵盤電路3與控制芯片2的輸入口連接，顯示器4與控制芯片2的輸出口連接，所述控制芯片2的控制口連接有繼電器5，控制芯片2還與漏電流檢測電路6和頻率穩(wěn)定度分析電路7相連接，所述待測音叉I通過繼電器5分別與漏電流檢測電路6、頻率穩(wěn)定度分析電路7選擇連接。
[0015]所述漏電流檢測電路6包括電壓取樣電阻8、電壓跟隨電路9、電壓放大電路10和A/D轉(zhuǎn)換電路11。
[0016]所述頻率穩(wěn)定度分析電路7包括電壓放大電路12、D/A轉(zhuǎn)換電路13、小信號整流電路14、加法電路15、同相比例運算放大電路16、自動增益同相比例運算放大電路17、信號整形電路18和頻率計數(shù)電路19。
[0017]本實用新型的工作過程為:首先用鍵盤電路3將設定好的頻率變化量、漏電量的最大值輸入51單片機，當需要測試音叉晶體漏電量時，用51單片機控制繼電器5連通漏電流檢測電路6，在100伏直流電壓下，通過串聯(lián)電阻電壓加到待測音叉I兩端，電壓取樣電阻8通過的電流由待測音叉I決定，當有電流經(jīng)過電壓取樣電阻8時，電壓取樣電阻8兩端會有感應電壓，感應電壓通過電壓跟隨電路9、電壓放大電路10后輸入到A/D轉(zhuǎn)換電路11中，單片機讀取A/D轉(zhuǎn)換電路11對應信號電壓的16位二進制數(shù)據(jù)，得到的數(shù)據(jù)與設定數(shù)據(jù)進行比對，判別待測音叉I的絕緣特性；當需要檢測待測音叉I頻率穩(wěn)定度時，用51單片機控制繼電器5連通頻率穩(wěn)定度分析電路7，51單片機通過其端口分時發(fā)出大小由低到高的數(shù)據(jù)，數(shù)據(jù)通過D/A轉(zhuǎn)換電路13得到對應的電壓值，該電壓值經(jīng)過電壓放大電路12放大，再經(jīng)過加法電路15、小信號整流電路14、同相比例運算放大電路16和自動增益同相比例運算放大電路17將待測音叉I在電壓刺激下產(chǎn)生的頻率信號收集整合，頻率信號經(jīng)過信號整形電路18和頻率計數(shù)電路19整理后輸送給51單片機，51單片機讀取發(fā)送過來的數(shù)據(jù)，計算出對應D/A轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)下的頻率值，通過對多組頻率值的最大差值與設定值比對，得到待測音叉I的頻率穩(wěn)定性能。51單片機對以上兩種電氣性能分析，得出待測音叉I的穩(wěn)定性，并將分析結(jié)果呈現(xiàn)在顯示器4上，以便操作人員觀察。
【權(quán)利要求】
1.一種音叉晶體穩(wěn)定度分析儀，其特征在于:包括待測音叉(1)、控制芯片(2)、鍵盤電路(3)和顯示器(4)，所述鍵盤電路(3)與控制芯片(2)的輸入口連接，顯示器(4)與控制芯片⑵的輸出口連接，所述控制芯片⑵的控制口連接有繼電器(5)，控制芯片⑵還與漏電流檢測電路(6)和頻率穩(wěn)定度分析電路(7)相連接，所述待測音叉(1)通過繼電器(5)分別與漏電流檢測電路￠)、頻率穩(wěn)定度分析電路(7)選擇連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種音叉晶體穩(wěn)定度分析儀，其特征在于:所述漏電流檢測電路(6)包括電壓取樣電阻(8)、電壓跟隨電路(9)、電壓放大電路(10)和A/D轉(zhuǎn)換電路(11)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種音叉晶體穩(wěn)定度分析儀，其特征在于:所述頻率穩(wěn)定度分析電路(7)包括電壓放大電路(12)、D/A轉(zhuǎn)換電路(13)、小信號整流電路(14)、加法電路(15)、同相比例運算放大電路(16)、自動增益同相比例運算放大電路(17)、信號整形電路(18)和頻率計數(shù)電路(19)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種音叉晶體穩(wěn)定度分析儀，其特征在于:所述控制芯片(2)為51單片機。
【文檔編號】G01R31/12GK204086428SQ201420545303
【公開日】2015年1月7日 申請日期:2014年9月22日 優(yōu)先權(quán)日:2014年9月22日
【發(fā)明者】葉熒福, 黃大勇, 葉保平, 李文雙 申請人:隨州潤晶電子科技有限公司