一種可調(diào)集成電路測試治具的制作方法
【專利摘要】本實用新型涉及一種可調(diào)集成電路測試治具，它包括底座（1）、頂蓋（2）、集成電路板（3）、可調(diào)定位機構(gòu)（4）和壓塊（5），頂蓋（2）鉸接安裝于底座（1）的一側(cè)，底座（1）包括底座架（6）、底座蓋板（7）、底座浮板（8）、底座定板（9）和探針（10），可調(diào)定位機構(gòu)（4）設(shè)置于底座架（6）的四角上；頂蓋（2）包括頂蓋架（13）、旋鈕（14）、壓塊安裝架（15）和頂蓋浮板（16）；可調(diào)定位機構(gòu)（4）包括定位塊（21）、調(diào)節(jié)螺栓（22）、卡圈（23）和彈簧C（24）。本實用新型的優(yōu)點在于：可適用于不同外形大小的同一封裝類型的集成電路，從而降低成本；壓塊下側(cè)的錐形槽設(shè)計可使集成電路板自動對中，且受力更加均勻。
【專利說明】一種可調(diào)集成電路測試治具

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型涉及集成電路測試【技術(shù)領(lǐng)域】，特別是一種可調(diào)集成電路測試治具。

【背景技術(shù)】
[0002]因陶瓷封裝具有電、熱、機械和尺寸穩(wěn)定性的綜合特性，其封裝技術(shù)要求低，封裝設(shè)備要求低。因此，陶瓷封裝主要用于需要具備高性能、高可靠性的封裝領(lǐng)域及集成電路驗證領(lǐng)域。
[0003]高可靠性陶瓷封裝集成電路，主要用于武器、裝備或其它對可靠性要求較高的領(lǐng)域，這限制了單一產(chǎn)品的需求量，一般單一產(chǎn)品使用測試治具頻次為I萬次左右；而測試治具壽命在15萬次以上，這對測試治具是極大的浪費。
[0004]同時，陶瓷封裝不具有標(biāo)準(zhǔn)的外形尺寸，其外形尺寸千變?nèi)f化，且比相同封裝形式的塑料封裝大，致使現(xiàn)有用于塑料封裝的測試治具，不能用于陶瓷封裝，這使得IC設(shè)計公司在驗證電路階段及測試產(chǎn)品性能時，只能定制測試治具。
[0005]傳統(tǒng)測試治具只能用于一種封裝形式且外形唯一的集成電路，這極大的增加了測試治具費用。
實用新型內(nèi)容
[0006]本實用新型的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)的缺點，提供一種可調(diào)集成電路測試治具，通過調(diào)節(jié)可調(diào)定位機構(gòu)，可適用于不同外形大小的同一封裝類型的集成電路，從而降低成本；壓塊下側(cè)的錐形槽設(shè)計可使集成電路板自動對中，且受力更加均勻。
[0007]本實用新型的目的通過以下技術(shù)方案來實現(xiàn):一種可調(diào)集成電路測試治具，它包括底座、頂蓋、集成電路板、可調(diào)定位機構(gòu)和壓塊，頂蓋通過鉸銷鉸接安裝于底座的一側(cè)，
[0008]所述的底座包括底座架、底座蓋板、底座浮板、底座定板和探針，底座架內(nèi)部設(shè)置有容置集成電路板的空腔，集成電路板置于該空腔內(nèi)，底座架內(nèi)部還設(shè)置有分別從四角向中心延伸的四條V形導(dǎo)軌，底座蓋板通過螺釘固定安裝在底座架的上表面，底座架的下表面依次固設(shè)有底座浮板和底座定板，底座浮板與底座定板之間還設(shè)置有多個彈簧A，底座浮板和底座定板沿豎直方向設(shè)置有容置探針的腔體，探針設(shè)置于該腔體內(nèi)；所述的可調(diào)定位機構(gòu)設(shè)置于底座架的四角上；
[0009]所述的頂蓋包括頂蓋架、旋鈕、壓塊安裝架和頂蓋浮板，頂蓋架上方與旋鈕通過螺紋配合連接，壓塊安裝架通過浮動螺釘安裝在頂蓋架的下表面，且浮動螺釘?shù)穆菁y段上套有彈簧B，彈簧B的一端抵壓在壓塊安裝架的下表面，彈簧B的另一端抵壓在浮動螺釘?shù)穆菝鄙?，壓塊安裝架的下方依次固定安裝有頂蓋浮板和壓塊；
[0010]所述的可調(diào)定位機構(gòu)包括定位塊、調(diào)節(jié)螺栓、卡圈和彈簧C，定位塊的下側(cè)設(shè)有V形塊，V形塊與V形導(dǎo)軌配合，定位塊的前端還設(shè)置有豎直的V形槽，V形槽的兩面與分別與集成電路板的兩相鄰邊配合，定位塊的上側(cè)固設(shè)有卡圈，調(diào)節(jié)螺栓的前端為光桿段，后端為螺紋端，調(diào)節(jié)螺栓的光桿段套裝有彈簧C，且調(diào)節(jié)螺栓的光桿段前端伸入卡圈內(nèi)，彈簧C的一端抵壓在卡圈的側(cè)面上，另一端抵壓在調(diào)節(jié)螺栓的螺紋段端面上，調(diào)節(jié)螺栓的螺紋段與底座架通過螺紋配合。
[0011]所述的頂蓋架上還設(shè)置有開關(guān)鎖扣，開關(guān)鎖扣的上部鉸接于頂蓋架的一側(cè)，開關(guān)鎖扣的下部與底座架的側(cè)面扣合。
[0012]所述的壓塊的下側(cè)開有上小下大的錐形槽，錐形槽壓緊于集成電路板的邊緣上。
[0013]所述的底座浮板的上表面還設(shè)置有與集成電路板引腳形狀一致的腔體。
[0014]所述的探針呈多個環(huán)狀地分布于底座浮板和底座定板內(nèi)。
[0015]所述的探針呈矩陣地分布于底座浮板和底座定板內(nèi)。
[0016]本實用新型具有以下優(yōu)點:
[0017]1、本實用新型可適用于不同長寬的集成電路，可使用底座上的可調(diào)定位機構(gòu)調(diào)節(jié)定位塊的位置，實現(xiàn)對不同長寬的集成電路的定位，使得集成電路的引腳準(zhǔn)確地與相對應(yīng)的探針接觸。
[0018]2、本實用新型可通過調(diào)節(jié)旋鈕的高低，以此來調(diào)節(jié)壓塊的高低，可適用于不同厚度的集成電路板。
[0019]3、只需更換底座定板和底座浮板中探針的排列形式，即可適用于不同外形大小、不同厚度、不同引腳排列、不同封裝形式的集成電路，可大大降低測試成本。
[0020]4、底座浮板上設(shè)計有與引腳形狀一致的腔體，用于保護并修正有引腳封裝的集成電路中變形的引腳。
[0021 ] 5、不同尺寸的集成電路板放在底座架內(nèi)時，壓塊下側(cè)的錐形槽擠壓集成電路板的邊緣，使其向中間靠攏，實現(xiàn)自動對中，且集成電路板的受力更加均勻。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0022]圖1為本實用新型的整體結(jié)構(gòu)示意圖；
[0023]圖2為底座的結(jié)構(gòu)爆炸示意圖；
[0024]圖3為頂蓋的結(jié)構(gòu)爆炸示意圖；
[0025]圖4為可調(diào)定位機構(gòu)的爆炸示意圖；
[0026]圖5為定位塊的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0027]圖6為底座蓋板與底座浮板配合的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0028]圖7為圖6中A-A剖視結(jié)構(gòu)示意圖；
[0029]圖8為本實用新型的探針呈多個環(huán)狀分布的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0030]圖9為本實用新型的探針呈矩形陣列分布的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0031]圖中:1_底座，2-頂蓋，3-集成電路板，4-可調(diào)定位機構(gòu)，5-壓塊，6-底座架，7-底座蓋板，8-底座浮板，9-底座定板，10-探針，11-彈簧八，12-V形導(dǎo)軌，13-頂蓋架，14-旋鈕，15-壓塊安裝架，16-頂蓋浮板，17-開關(guān)鎖扣，18-鉸銷，19-浮動螺釘，20-彈簧B，21-定位塊，22-調(diào)節(jié)螺栓，23-卡圈，24-彈簧C，25-V形塊，26-V形槽。

【具體實施方式】
[0032]下面結(jié)合附圖對本實用新型做進一步的描述，但本實用新型的保護范圍不局限于以下所述。
[0033]如圖1所示，一種可調(diào)集成電路測試治具，它包括底座1、頂蓋2、集成電路板3、可調(diào)定位機構(gòu)4和壓塊5，頂蓋2通過鉸銷18鉸接安裝于底座I的一側(cè)，
[0034]如圖2和圖6所示，所述的底座I包括底座架6、底座蓋板7、底座浮板8、底座定板9和探針10，底座架6內(nèi)部設(shè)置有容置集成電路板3的空腔，集成電路板3置于該空腔內(nèi)，底座架6內(nèi)部還設(shè)置有分別從四角向中心延伸的四條V形導(dǎo)軌12，底座蓋板7通過螺釘固定安裝在底座架6的上表面，底座架6的下表面依次固設(shè)有底座浮板8和底座定板9，底座浮板8與底座定板9之間還設(shè)置有多個彈簧All，底座浮板8和底座定板9沿豎直方向設(shè)置有容置探針10的腔體，探針10設(shè)置于該腔體內(nèi)；所述的可調(diào)定位機構(gòu)4設(shè)置于底座架6的四角上；
[0035]如圖3所示，所述的頂蓋2包括頂蓋架13、旋鈕14、壓塊安裝架15和頂蓋浮板16，頂蓋架13上方與旋鈕14通過螺紋配合連接，旋鈕14的下表面頂壓在壓塊安裝架15的上表面上，壓塊安裝架15通過浮動螺釘19安裝在頂蓋架13的下表面，且浮動螺釘19的螺紋段上套有彈簧B20，彈簧B20的一端抵壓在壓塊安裝架15的下表面，彈簧B20的另一端抵壓在浮動螺釘19的螺帽上，壓塊安裝架15的下方依次固定安裝有頂蓋浮板16和壓塊5，壓塊安裝架15在旋鈕14、浮動螺釘19和彈簧B20的共同作用下可在一定范圍內(nèi)上下移動，從而帶動壓塊5上下運動；
[0036]如圖4所示，所述的可調(diào)定位機構(gòu)4包括定位塊21、調(diào)節(jié)螺栓22、卡圈23和彈簧C24，如圖5所示，定位塊21的下側(cè)設(shè)有V形塊25，V形塊25與V形導(dǎo)軌12配合，定位塊21的前端還設(shè)置有豎直的V形槽26，V形槽26的兩面與分別與集成電路板3的兩相鄰邊配合，定位塊21的上側(cè)固設(shè)有卡圈23，調(diào)節(jié)螺栓22的前端為光桿段，后端為螺紋端，調(diào)節(jié)螺栓22的光桿段套裝有彈簧C24，且調(diào)節(jié)螺栓22的光桿段前端伸入卡圈23內(nèi)，彈簧C24的一端抵壓在卡圈23的側(cè)面上，另一端抵壓在調(diào)節(jié)螺栓22的螺紋段端面上，調(diào)節(jié)螺栓22的螺紋段與底座架6通過螺紋配合，向內(nèi)側(cè)旋動調(diào)節(jié)螺栓22時，彈簧C24受到擠壓，前端將卡圈23向前頂，使定位塊21沿著V形導(dǎo)軌12向底座架6的中間靠攏，定位塊21前端的V形槽的兩側(cè)面壓向集成電路板3的兩相鄰邊，四角的可調(diào)定位機構(gòu)4同時調(diào)動，便可實現(xiàn)不同尺寸的集成電路板3的固定安裝。
[0037]所述的頂蓋架13上還設(shè)置有開關(guān)鎖扣17，開關(guān)鎖扣17的上部鉸接于頂蓋架13的一側(cè)，開關(guān)鎖扣17的下部與底座架6的側(cè)面扣合。
[0038]如圖7所示，所述的壓塊5的下側(cè)開有上小下大的錐形槽，錐形槽壓緊于集成電路板3的邊緣上，當(dāng)不同尺寸的集成電路板3放在底座架6內(nèi)時，壓塊5下側(cè)的錐形槽擠壓集成電路板3的邊緣，使其向中間靠攏，實現(xiàn)自動對中，且集成電路板3的受力更加均勻；所述的底座浮板8的上表面還設(shè)置有與集成電路板3引腳形狀一致的腔體，集成電路板3的引腳插接于該腔體內(nèi)，可修整變形引腳并保護引腳不再變形。
[0039]如圖8所示，為適應(yīng)相同引腳節(jié)距，不同外形大小的兩面或四面出引腳的集成電路，在底座定板12和底座浮板13上布置了一定環(huán)數(shù)的容置探針10柱體空腔，所述的探針10呈多個環(huán)狀地分布于底座浮板8和底座定板9內(nèi)。
[0040]如圖9所示，為適應(yīng)相同引腳節(jié)距，不同外形大小的CBGA、CCGA、LGA等引出端呈矩陣排布的集成電路，在底座定板12和底座浮板13上布置了呈矩形陣列排布容置探針10的柱體空腔，所述的探針10呈矩陣地分布于底座浮板8和底座定板9內(nèi)。
[0041]除此之外，該治具還具有模塊化設(shè)計:只需更換底座定板12和底座浮板13中探針10的排列形式，即可適用于不同外形大小、不同厚度、不同引腳排列、不同封裝形式的集成電路，可大大降低測試成本。
[0042]如圖6和圖8所示，底座浮板13中探針10的排列形式，共四環(huán)，若最外環(huán)共有25*4=100個探針，第二環(huán)為21*4=84個探針，第三環(huán)為17*4=68個探針，第四環(huán)為13*4=52個探針，同時假定引腳節(jié)距為0.5mm，可適用于引腳節(jié)距為0.5mm，引腳數(shù)為100、92、84、76、68、60、52、44、36等四面出引腳的封裝。若最外環(huán)為24*4=96個探針，第二環(huán)為20*4=80個探針，第三環(huán)為16*4=64個探針，第四環(huán)為12*4=48個探針，同時假定引腳節(jié)距為0.5mm，則可適用于引腳節(jié)距為0.5mm，引腳數(shù)為96、88、80、72、64、56、48、40等四面出引腳的封裝。適用于CQFN或CLCC等無引腳四面出引腳封裝的探針排列。
[0043]因引腳有長度，一般I?1.5mm左右，合理布置探針的環(huán)數(shù)及相鄰兩環(huán)之間的間隙，可全覆蓋一定外形大小范圍的集成電路。最外環(huán)的直徑(左邊最外環(huán)探針到右邊最外環(huán)探針的距離或者是上邊最外環(huán)探針到下邊最外環(huán)探針的距離)為15mm，第二環(huán)為13mm，第三環(huán)為11mm，第四環(huán)為8.6mm，如果引腳長度為1.5mm，則能適應(yīng)剪腳尺寸(加上引腳長度的外形尺寸)從到的四面或兩面出引腳的集成電路。如需擴大適應(yīng)度，可增加探針環(huán)數(shù)。
【權(quán)利要求】
1.一種可調(diào)集成電路測試治具，其特征在于:它包括底座(1)、頂蓋(2)、集成電路板(3)、可調(diào)定位機構(gòu)(4)和壓塊(5)，頂蓋(2)通過鉸銷(18)鉸接安裝于底座(I)的一側(cè)， 所述的底座(I)包括底座架(6)、底座蓋板(7)、底座浮板(8)、底座定板(9)和探針(10)，底座架(6)內(nèi)部設(shè)置有容置集成電路板(3)的空腔，集成電路板(3)置于該空腔內(nèi)，底座架(6)內(nèi)部還設(shè)置有分別從四角向中心延伸的四條V形導(dǎo)軌(12)，底座蓋板(7)通過螺釘固定安裝在底座架(6 )的上表面，底座架(6 )的下表面依次固設(shè)有底座浮板(8 )和底座定板(9)，底座浮板(8)與底座定板(9)之間還設(shè)置有多個彈簧A (11)，底座浮板(8)和底座定板(9)沿豎直方向設(shè)置有容置探針(10)的腔體，探針(10)設(shè)置于該腔體內(nèi)；所述的可調(diào)定位機構(gòu)(4)設(shè)置于底座架(6)的四角上； 所述的頂蓋(2)包括頂蓋架(13)、旋鈕(14)、壓塊安裝架(15)和頂蓋浮板(16)，頂蓋架(13)上方與旋鈕(14)通過螺紋配合連接，壓塊安裝架(15)通過浮動螺釘(19)安裝在頂蓋架(13)的下表面，且浮動螺釘(19)的螺紋段上套有彈簧B (20)，彈簧B (20)的一端抵壓在壓塊安裝架(15)的下表面，彈簧B (20)的另一端抵壓在浮動螺釘(19)的螺帽上，壓塊安裝架(15)的下方依次固定安裝有頂蓋浮板(16)和壓塊(5)； 所述的可調(diào)定位機構(gòu)(4)包括定位塊(21)、調(diào)節(jié)螺栓(22 )、卡圈(23 )和彈簧C (24)，定位塊(21)的下側(cè)設(shè)有V形塊(25)，V形塊(25)與V形導(dǎo)軌(12)配合，定位塊(21)的前端還設(shè)置有豎直的V形槽(26)，V形槽(26)的兩面與分別與集成電路板(3)的兩相鄰邊配合，定位塊(21)的上側(cè)固設(shè)有卡圈(23)，調(diào)節(jié)螺栓(22)的前端為光桿段，后端為螺紋端，調(diào)節(jié)螺栓(22)的光桿段套裝有彈簧C (24)，且調(diào)節(jié)螺栓(22)的光桿段前端伸入卡圈(23)內(nèi)，彈簧C (24)的一端抵壓在卡圈(23)的側(cè)面上，另一端抵壓在調(diào)節(jié)螺栓(22)的螺紋段端面上，調(diào)節(jié)螺栓(22 )的螺紋段與底座架(6 )通過螺紋配合。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種可調(diào)集成電路測試治具，其特征在于:所述的頂蓋架(13)上還設(shè)置有開關(guān)鎖扣(17)，開關(guān)鎖扣(17)的上部鉸接于頂蓋架(13)的一側(cè)，開關(guān)鎖扣(17)的下部與底座架(6)的側(cè)面扣合。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種可調(diào)集成電路測試治具，其特征在于:所述的壓塊(5)的下側(cè)開有上小下大的錐形槽，錐形槽壓緊于集成電路板(3)的邊緣上。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種可調(diào)集成電路測試治具，其特征在于:所述的底座浮板(8)的上表面還設(shè)置有與集成電路板(3)引腳形狀一致的腔體。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種可調(diào)集成電路測試治具，其特征在于:所述的探針(10)呈多個環(huán)狀地分布于底座浮板(8)和底座定板(9)內(nèi)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種可調(diào)集成電路測試治具，其特征在于:所述的探針(10)呈矩陣地分布于底座浮板(8)和底座定板(9)內(nèi)。
【文檔編號】G01R1/04GK204166014SQ201420666420
【公開日】2015年2月18日 申請日期:2014年11月10日 優(yōu)先權(quán)日:2014年11月10日
【發(fā)明者】周平 申請人:成都振芯科技股份有限公司