絕緣耐壓測(cè)試裝置制造方法
【專利摘要】絕緣耐壓測(cè)試裝置。提供了一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，提高測(cè)試效率和安全性的絕緣耐壓測(cè)試裝置。包括測(cè)試總板、支撐柱、升降板和底座，支撐柱連接在所述測(cè)試總板和底座之間，升降板活動(dòng)連接在所述支撐柱上、且位于所述測(cè)試總板和底座之間；測(cè)試總板包括測(cè)試板架、測(cè)試板、導(dǎo)電銅板、導(dǎo)電泡棉和陰極底板，測(cè)試板架具有中孔，中孔的兩側(cè)設(shè)有一對(duì)滑道，測(cè)試板的兩側(cè)設(shè)有與所述滑道適配的滑軌，測(cè)試板滑動(dòng)連接在所述測(cè)試板架上；導(dǎo)電銅板和導(dǎo)電泡棉依次設(shè)在所述測(cè)試板的底面，陰極底板設(shè)在所述升降板上。本實(shí)用新型具有以下優(yōu)點(diǎn)：測(cè)試效率提升；解決手動(dòng)連接短路不充分或中途帶電脫落的風(fēng)險(xiǎn)；解決針腳式模塊接線困難的問(wèn)題；減少人員觸電風(fēng)險(xiǎn)。
【專利說(shuō)明】絕緣耐壓測(cè)試裝置

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及功率半導(dǎo)體模塊測(cè)試領(lǐng)域，尤其涉及通用型絕緣耐壓測(cè)試裝置。

【背景技術(shù)】
[0002]目前，絕緣性電力電子模塊出廠需檢測(cè)產(chǎn)品的絕緣耐壓性能，我司的檢測(cè)方法是按照UL標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)3600V交流。測(cè)試原理為短路產(chǎn)品所有的電極為一端接設(shè)備的正極輸出，產(chǎn)品的銅底板作為一端接設(shè)備的負(fù)極輸出，以此構(gòu)成一個(gè)電流回路。
[0003]傳統(tǒng)的測(cè)試方法:使用繞線或接線夾具短路所有的電極端子，對(duì)有些針腳式模塊短路比較麻煩，其結(jié)構(gòu)存在缺點(diǎn)為:繞線速度慢，導(dǎo)致測(cè)試效率低下；測(cè)試穩(wěn)定系數(shù)太低，容易脫落引起模塊損壞；針對(duì)多針腳模塊，接線復(fù)雜，裸露的端子短路不易且容易引起觸電。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0004]本實(shí)用新型針對(duì)以上問(wèn)題，提供了一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，提高測(cè)試效率和安全性的絕緣耐壓測(cè)試裝置。
[0005]本實(shí)用新型的技術(shù)方案是:包括測(cè)試總板、支撐柱、升降板和底座，所述支撐柱連接在所述測(cè)試總板和底座之間，所述升降板活動(dòng)連接在所述支撐柱上、且位于所述測(cè)試總板和底座之間；
[0006]所述測(cè)試總板包括測(cè)試板架、測(cè)試板、導(dǎo)電銅板、導(dǎo)電泡棉和陰極底板，所述測(cè)試板架具有中孔，所述中孔的兩側(cè)設(shè)有一對(duì)滑道，所述測(cè)試板的兩側(cè)設(shè)有與所述滑道適配的滑軌，所述測(cè)試板滑動(dòng)連接在所述測(cè)試板架上；
[0007]所述導(dǎo)電銅板和導(dǎo)電泡棉依次設(shè)在所述測(cè)試板的底面，所述陰極底板設(shè)在所述升降板上。
[0008]所述導(dǎo)電銅板包括板體和設(shè)在所述板體上的導(dǎo)柱，所述測(cè)試板上設(shè)有導(dǎo)孔，所述導(dǎo)柱位于所述導(dǎo)孔內(nèi)。
[0009]還包括泡棉擋板，所述測(cè)試板的底面設(shè)有凹槽，所述導(dǎo)電銅板和導(dǎo)電泡棉設(shè)在所述凹槽內(nèi)，所述泡棉擋板設(shè)在所述測(cè)試板的底面、且用于固定所述導(dǎo)電泡棉。
[0010]所述測(cè)試總板位于所述底座的上方。
[0011]本實(shí)用新型在工作中，待測(cè)模塊設(shè)置在陰極底板上，通過(guò)控制升降板的升降，使待測(cè)模塊上表面電極端子與導(dǎo)電泡棉接觸，導(dǎo)電泡棉與陽(yáng)極銅板接觸連接設(shè)備的高壓輸出端，模塊底板與陰極底板接觸后連接設(shè)備的低壓端，以此形成一個(gè)電回路。導(dǎo)電泡棉可以充分接觸各種高度及式樣的端子。
[0012]本實(shí)用新型具有以下優(yōu)點(diǎn):測(cè)試效率提升；解決手動(dòng)連接短路不充分或中途帶電脫落的風(fēng)險(xiǎn)；解決針腳式模塊接線困難的問(wèn)題；減少人員觸電風(fēng)險(xiǎn)。

【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0013]圖1是本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖，
[0014]圖2是本實(shí)用新型中測(cè)試板架的結(jié)構(gòu)示意圖，
[0015]圖3是本實(shí)用新型中測(cè)試板的結(jié)構(gòu)示意圖，
[0016]圖4是本實(shí)用新型中導(dǎo)電銅板的結(jié)構(gòu)示意圖，
[0017]圖5是本實(shí)用新型中測(cè)試板、導(dǎo)電銅板、導(dǎo)電泡棉和泡棉擋板的連接結(jié)構(gòu)示意圖，
[0018]圖6是圖5的立體結(jié)構(gòu)示意圖，
[0019]圖7是本實(shí)用新型的工作狀態(tài)圖；
[0020]圖中I是測(cè)試總板，10是測(cè)試板架，101是中孔，102是滑道，11是測(cè)試板，110是滑軌，12是導(dǎo)電銅板，121是板體，122是導(dǎo)柱，13是導(dǎo)電泡棉，14是泡棉擋板，15是陰極底板，2是升降板，3是支撐柱，4是底座。

【具體實(shí)施方式】
[0021]本實(shí)用新型如圖1-7所示，包括測(cè)試總板1、支撐柱3、升降板2和底座4，所述支撐柱3連接在所述測(cè)試總板I和底座4之間，所述升降板2活動(dòng)連接在所述支撐柱3上、且位于所述測(cè)試總I板和底座4之間；
[0022]所述測(cè)試總板I包括測(cè)試板架10、測(cè)試板11、導(dǎo)電銅板12、導(dǎo)電泡棉13和陰極底板15，所述測(cè)試板架10具有中孔101，所述中孔101的兩側(cè)設(shè)有一對(duì)滑道102，所述測(cè)試板11的兩側(cè)設(shè)有與所述滑道適配的滑軌110，所述測(cè)試板11滑動(dòng)連接在所述測(cè)試板架10上；
[0023]所述導(dǎo)電銅板12和導(dǎo)電泡棉13依次設(shè)在所述測(cè)試板11的底面,所述陰極底板15設(shè)在所述升降板2上。導(dǎo)電泡棉可以充分接觸各種高度及式樣的端子，通用性高；升降板在工作中可通過(guò)外部氣壓裝置控制升降，方便操作。
[0024]所述導(dǎo)電銅板12包括板體121和設(shè)在所述板體上的導(dǎo)柱122，所述測(cè)試板11上設(shè)有導(dǎo)孔，所述導(dǎo)柱位于所述導(dǎo)孔內(nèi)；方便定位，可靠性高，可通過(guò)導(dǎo)柱連接高壓輸出端。
[0025]還包括泡棉擋板14，所述測(cè)試板11的底面設(shè)有凹槽，所述導(dǎo)電銅板12和導(dǎo)電泡棉13設(shè)在所述凹槽內(nèi)，所述泡棉擋板14設(shè)在所述測(cè)試板的底面、且用于固定所述導(dǎo)電泡棉；
定位可靠，連接可靠。
[0026]所述測(cè)試總板I位于所述底座4的上方。
[0027]本實(shí)用新型能大大改善模塊各種類端子短路困難及繞線速度慢的缺點(diǎn)，能匹配各種高度各種針腳的模塊的測(cè)試需求，并且對(duì)傳統(tǒng)模式中測(cè)試端子脫落的情況做了改善，使測(cè)試的安全性也有較大的提高。
【權(quán)利要求】
1.絕緣耐壓測(cè)試裝置，其特征在于，包括測(cè)試總板、支撐柱、升降板和底座，所述支撐柱連接在所述測(cè)試總板和底座之間，所述升降板活動(dòng)連接在所述支撐柱上、且位于所述測(cè)試總板和底座之間； 所述測(cè)試總板包括測(cè)試板架、測(cè)試板、導(dǎo)電銅板、導(dǎo)電泡棉和陰極底板，所述測(cè)試板架具有中孔，所述中孔的兩側(cè)設(shè)有一對(duì)滑道，所述測(cè)試板的兩側(cè)設(shè)有與所述滑道適配的滑軌，所述測(cè)試板滑動(dòng)連接在所述測(cè)試板架上； 所述導(dǎo)電銅板和導(dǎo)電泡棉依次設(shè)在所述測(cè)試板的底面，所述陰極底板設(shè)在所述升降板上。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的絕緣耐壓測(cè)試裝置，其特征在于，所述導(dǎo)電銅板包括板體和設(shè)在所述板體上的導(dǎo)柱，所述測(cè)試板上設(shè)有導(dǎo)孔，所述導(dǎo)柱位于所述導(dǎo)孔內(nèi)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的絕緣耐壓測(cè)試裝置，其特征在于，還包括泡棉擋板，所述測(cè)試板的底面設(shè)有凹槽，所述導(dǎo)電銅板和導(dǎo)電泡棉設(shè)在所述凹槽內(nèi)，所述泡棉擋板設(shè)在所述測(cè)試板的底面、且用于固定所述導(dǎo)電泡棉。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的絕緣耐壓測(cè)試裝置，其特征在于，所述測(cè)試總板位于所述底座的上方。
【文檔編號(hào)】G01R31/12GK204129171SQ201420711032
【公開(kāi)日】2015年1月28日 申請(qǐng)日期:2014年11月24日 優(yōu)先權(quán)日:2014年11月24日
【發(fā)明者】趙冬, 周錦源, 柏治國(guó), 王毅 申請(qǐng)人:江蘇愛(ài)普特半導(dǎo)體有限公司