本發(fā)明屬于激光元素分析儀領(lǐng)域,尤其涉及一種lips全地形實(shí)時(shí)環(huán)境監(jiān)測(cè)儀。
背景技術(shù):
激光誘導(dǎo)等離子體光譜法,簡(jiǎn)稱lips(laser-inducedplasmaspectroscopy),或激光誘導(dǎo)擊穿光譜法,簡(jiǎn)稱libs(laser-inducedbreakdownspectroscopy),是由美國(guó)losalamos國(guó)家實(shí)驗(yàn)室的davidcremers研究小組于1962年提出和實(shí)現(xiàn)的。lips環(huán)境監(jiān)測(cè)儀是利用激光元素分析技術(shù)制成的一類儀器,激光元素分析技術(shù)是一種利用高能脈沖激光與樣品作用產(chǎn)生的等離子體發(fā)射光譜來進(jìn)行元素分析的新技術(shù)。該技術(shù)利用一束脈沖激光照射待測(cè)樣品(固體、液體、氣體),導(dǎo)致樣品內(nèi)的原子和分子激發(fā)或離化形成等離子體。等離子體中的激發(fā)態(tài)原子和離子在向下躍遷時(shí)產(chǎn)生弛豫現(xiàn)象,部分能量以光的形式輻射出來,這種輻射帶有明顯的元素特征。因此,通過光電檢測(cè)器記錄和分析輻射的光譜信號(hào)就可以對(duì)固體、液體和氣體樣品中的化學(xué)元素進(jìn)行定性和定量的分析。
現(xiàn)有的lips環(huán)境監(jiān)測(cè)儀在使用過程中存在以下問題:1、儀器無法移動(dòng),只能在室內(nèi)或車體上使用;2、樣品臺(tái)上只能設(shè)置1個(gè)樣品,嚴(yán)重影響樣品檢測(cè)效率。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
本發(fā)明針對(duì)上述技術(shù)問題,提供了一種儀器能夠移動(dòng),樣品臺(tái)上能設(shè)置多個(gè)樣品的lips全地形實(shí)時(shí)環(huán)境監(jiān)測(cè)儀。
本發(fā)明所采用的技術(shù)方案為:一種lips全地形實(shí)時(shí)環(huán)境監(jiān)測(cè)儀,其特征在于:包括機(jī)殼,所述機(jī)殼的內(nèi)部固定有電源、激光器、光譜儀、全反鏡、匯聚透鏡、光纖探頭,所述機(jī)殼的下部設(shè)置有樣品室,所述機(jī)殼的底部設(shè)置有底座,所述電源通過電路分別與所述激光器、光譜儀連接,所述光譜儀與計(jì)時(shí)器相連,所述全反鏡位于所述激光器的一側(cè),所述匯聚透鏡位于全反鏡、樣品室之間,所述底座上設(shè)置有儲(chǔ)物盒、貫通樣品室的滑道,所述底座的底部設(shè)置有萬(wàn)向輪,所述滑道上設(shè)置有三個(gè)結(jié)構(gòu)相同的樣品檢測(cè)裝置,一個(gè)樣品檢測(cè)裝置設(shè)置于樣品室內(nèi)部,兩個(gè)樣品檢測(cè)裝置設(shè)置于樣品室外部,所述三個(gè)樣品檢測(cè)裝置均包括滑動(dòng)座、轉(zhuǎn)臺(tái)、樣品臺(tái),所述滑動(dòng)座滑動(dòng)設(shè)置于所述滑道上,所述轉(zhuǎn)臺(tái)固定于所述滑動(dòng)座上,所述樣品臺(tái)固定于所述轉(zhuǎn)臺(tái)上,所述樣品臺(tái)上設(shè)置有三個(gè)以上的樣品孔,所述光纖探頭固定于所述樣品室內(nèi)并且其位于樣品臺(tái)的上方,所述光纖探頭與光譜儀相連。
所述儲(chǔ)物盒為抽屜式結(jié)構(gòu)。
所述樣品孔位于同一個(gè)圓環(huán)上。
本發(fā)明的有益效果為:圖中,1-機(jī)殼,2-電源,3-激光器,4-光譜儀,5-全反鏡,6-匯聚透鏡,7-光纖探頭,8-樣品室,9-底座,10-計(jì)時(shí)器,11-儲(chǔ)物盒,12-滑道,13-萬(wàn)向輪,14-樣品檢測(cè)裝置,15-滑動(dòng)座,16-轉(zhuǎn)臺(tái),17-樣品臺(tái),18-樣品孔。
1、本發(fā)明在使用時(shí),激光器發(fā)射出激光脈沖后,經(jīng)過匯聚透鏡會(huì)聚并照射到樣品臺(tái)的樣品上,激光作用于樣品產(chǎn)生等離子體,輻射出的特征譜線被光譜儀采集并傳輸?shù)竭h(yuǎn)程計(jì)算機(jī)上進(jìn)行處理,由于萬(wàn)向輪的設(shè)置,儀器能夠在所有地形上移動(dòng),樣品臺(tái)上只能設(shè)置三個(gè)以上的樣品孔,樣品檢測(cè)效率高。
2、底座上設(shè)置有儲(chǔ)物盒,儲(chǔ)存物品方便。
3、滑道的設(shè)置,樣品檢測(cè)裝置滑動(dòng)方便。
4、三個(gè)樣品檢測(cè)裝置,一個(gè)樣品檢測(cè)裝置設(shè)置于樣品室內(nèi)部,進(jìn)行樣品檢測(cè),兩個(gè)樣品檢測(cè)裝置設(shè)置于樣品室外部,一個(gè)樣品檢測(cè)裝置已經(jīng)檢測(cè)完畢,另一側(cè)樣品檢測(cè)裝置待檢測(cè),保障更換、處理樣品時(shí)間。
5、計(jì)時(shí)器的設(shè)置,在檢測(cè)過程中,計(jì)時(shí)方便。
6、轉(zhuǎn)臺(tái)的設(shè)置,更換樣品方便。
附圖說明
圖1為本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步說明:圖中,1-機(jī)殼,2-電源,3-激光器,4-光譜儀,5-全反鏡,6-匯聚透鏡,7-光纖探頭,8-樣品室,9-底座,10-計(jì)時(shí)器,11-儲(chǔ)物盒,12-滑道,13-萬(wàn)向輪,14-樣品檢測(cè)裝置,15-滑動(dòng)座,16-轉(zhuǎn)臺(tái),17-樣品臺(tái),18-樣品孔。
實(shí)施例
如圖1所示,一種lips全地形實(shí)時(shí)環(huán)境監(jiān)測(cè)儀,包括機(jī)殼1,機(jī)殼1的內(nèi)部固定有電源2、激光器3、光譜儀4、全反鏡5、匯聚透鏡6、光纖探頭7,機(jī)殼1的下部設(shè)置有樣品室8,機(jī)殼1的底部設(shè)置有底座9,電源2通過電路分別與激光器3、光譜儀4連接,光譜儀4與計(jì)時(shí)器10相連,全反鏡5位于激光器3的一側(cè),匯聚透鏡6位于全反鏡5、樣品室8之間,底座9上設(shè)置有儲(chǔ)物盒11、貫通樣品室8的滑道12,底座9的底部設(shè)置有萬(wàn)向輪13,滑道12上設(shè)置有三個(gè)結(jié)構(gòu)相同的樣品檢測(cè)裝置14,一個(gè)樣品檢測(cè)裝置14設(shè)置于樣品室8內(nèi)部,兩個(gè)樣品檢測(cè)裝置14設(shè)置于樣品室8外部,三個(gè)樣品檢測(cè)裝置14均包括滑動(dòng)座15、轉(zhuǎn)臺(tái)16、樣品臺(tái)17,滑動(dòng)座15滑動(dòng)設(shè)置于滑道12上,轉(zhuǎn)臺(tái)16固定于滑動(dòng)座15上,樣品臺(tái)17固定于轉(zhuǎn)臺(tái)16上,樣品臺(tái)17上設(shè)置有三個(gè)以上的樣品孔18,光纖探頭7固定于樣品室17內(nèi)并且其位于樣品臺(tái)17的上方,光纖探頭7與光譜儀4相連。
儲(chǔ)物盒11為抽屜式結(jié)構(gòu)。
樣品孔18位于同一個(gè)圓環(huán)上。
以上對(duì)本發(fā)明的1個(gè)實(shí)施例進(jìn)行了詳細(xì)說明,但所述內(nèi)容僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例,不能被認(rèn)為用于限定本發(fā)明的實(shí)施范圍。凡依本發(fā)明申請(qǐng)范圍所作的均等變化與改進(jìn)等,均應(yīng)仍歸屬于本發(fā)明的專利涵蓋范圍之內(nèi)。