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      基于雙目標(biāo)遺傳算法和非劣分層的超聲無損檢測探頭分布優(yōu)化的制作方法

      文檔序號:12358324閱讀:326來源:國知局
      基于雙目標(biāo)遺傳算法和非劣分層的超聲無損檢測探頭分布優(yōu)化的制作方法與工藝

      本發(fā)明涉及一種基于雙目標(biāo)遺傳算法和非劣分層的超聲無損檢測探頭分布優(yōu)化的方法,屬于無損檢測領(lǐng)域。



      背景技術(shù):

      超聲探頭作為超聲檢測過程中發(fā)射和接收超聲波的裝置,直接影響到檢測效果。根據(jù)超聲探頭接受信號的方式,一般分為超聲透射法和反射法檢測,透射法的檢測需要使用兩個超聲探頭,采取一發(fā)一收的方式,通過對透射超聲信號的能量衰減來檢測缺陷;反射法只使用一個超聲探頭實現(xiàn)超聲信號的發(fā)射和接收。無論是透射法還是反射法都存在探頭最佳位置的放置問題;在使用超聲探頭對材料進行內(nèi)部缺陷檢測時,單個探頭的使用雖然成本較低,但會使缺陷檢測遺漏,檢測效率降低;在檢測中使用探頭數(shù)量較多雖能保證檢測的正確率,但探頭的數(shù)量過多會造成信息冗余,增加檢測成本;因此在超聲檢測過程中,不僅要合理的控制探頭的數(shù)量,還需合理的控制探頭的位置分布。



      技術(shù)實現(xiàn)要素:

      本發(fā)明的目的是提供一種基于雙目標(biāo)遺傳算法和非劣分層的超聲無損檢測探頭分布優(yōu)化的方法,是基于遺傳算法和非劣分層的雙目標(biāo)優(yōu)化思想,提出材料超聲檢測時超聲探頭數(shù)量與位置分布的優(yōu)化方法,旨在獲得較高檢測率的同時,通過優(yōu)化探頭的分布,降低探頭的使用數(shù)量,給出探頭最優(yōu)檢測位置,使得缺陷檢測過程中以盡可能低的成本達到檢測的準(zhǔn)確率,并為超聲檢測過程中探頭的分布使用提供了優(yōu)選空間。

      一種基于雙目標(biāo)遺傳算法和非劣分層的超聲無損檢測探頭分布優(yōu)化的方法,技術(shù)方案包括以下內(nèi)容:

      一、樣本數(shù)據(jù)庫的建立

      通過COMSOL Multiphysics有限元仿真鋼板內(nèi)部缺陷的超聲檢測過程,在鋼板的四周排布超聲探頭共n個,將n個探頭編號i(i=1,2,...,n),m個缺陷看作 是m(m<n)類模式并編號j(j=1,2,...,m),分別采集每一個探頭檢測的m類模式的超聲缺陷回波數(shù)據(jù),并提取缺陷回波峰值即第i個探頭檢測到第j類缺陷所獲得的缺陷回波峰值,為后續(xù)優(yōu)化構(gòu)建樣本數(shù)據(jù)庫。樣本數(shù)據(jù)庫I為:

      二、設(shè)計優(yōu)化目標(biāo)函數(shù)

      優(yōu)化目標(biāo)函數(shù)包括超聲探頭數(shù)量優(yōu)化函數(shù)及超聲探頭位置分布優(yōu)化函數(shù),旨在通過超聲探頭檢測缺陷時,獲得較高檢測率的同時,通過優(yōu)化探頭的分布,降低探頭的使用數(shù)量,給出探頭最優(yōu)檢測位置,使得缺陷檢測過程中以盡可能低的成本達到檢測的準(zhǔn)確率。

      在仿真超聲無損檢測的過程中,采集缺陷回波信號并提取缺陷波峰值,在達到檢測要求的情況下,針對超聲探頭的位置分布和超聲探頭數(shù)量,設(shè)計了兩個優(yōu)化目標(biāo)函數(shù)f1(G)和f2(G),其中目標(biāo)函數(shù)1即f1(G)旨在獲取當(dāng)前探頭分布情況下,探頭的數(shù)量;目標(biāo)函數(shù)2即f2(G)旨在針對當(dāng)前探頭分布情況下,各類缺陷之間的最小區(qū)分度;本優(yōu)化旨在使f1(G)最小、f2(G)最大,即使得探頭數(shù)量越少越好,而使各類缺陷之間的差異越大越好,以便后續(xù)有良好的檢測率,即:

      (1)超聲探頭數(shù)量優(yōu)化

      針對超聲探頭數(shù)量,設(shè)計了目標(biāo)函數(shù)1,在保證缺陷可檢測出的條件下, 盡量使得檢測過程中超聲探頭使用數(shù)量最少,目標(biāo)函數(shù)為:

      式中G為給定的超聲探頭分布,n表示超聲探頭可設(shè)定的位置,共n個。超聲探頭分布向量G(G=[g1,g2,…,gn]T中包含n個元素,分別表示探頭可放置的位置,當(dāng)其中某一元素為零時,則表示該位置不設(shè)置探頭;目標(biāo)函數(shù)1旨在計算G中非零元素個數(shù),即獲得當(dāng)前探頭分布情況下,所使用的探頭數(shù)量;

      (2)超聲探頭位置優(yōu)化

      在超聲無損檢測過程中,探頭的位置不同對檢測效果也有影響,如何選取探頭放置的最佳位置,使得探頭數(shù)量一定時達到最好的檢測效果也是一個關(guān)鍵問題。根據(jù)仿真超聲檢測中每個超聲探頭針對每一類缺陷的回波信號,并提取缺陷回波信號峰值,來比較放置不同位置探頭檢測缺陷的差異性大小,通過雙目標(biāo)遺傳算法和非劣分層對m類缺陷之間的最小差異值進行優(yōu)化,直到優(yōu)化到最大后即可找出最優(yōu)探頭位置,針對探頭位置優(yōu)化設(shè)計函數(shù)為:

      f2(G)=min{zu,v} (4)

      目標(biāo)函數(shù)2提出超聲探頭位置優(yōu)化性能指標(biāo),針對所有探頭檢測的每一類缺陷,以給出超聲探頭獲得的缺陷回波數(shù)據(jù)建立樣本數(shù)據(jù)庫I,其中:

      式中:和Ij,i(i=1,2,...,n;j=1,2,...,m)表示第i個超聲探頭檢測到第j類缺陷的特征值,Ik=[Ik,1 … Ik,n](k=1,2,...,m)表示針對某一類缺陷,不同 探頭的特征值矩陣。

      由超聲探頭檢測到的各類缺陷,并構(gòu)造缺陷的特征值矩陣,得到不同模式類別之間的差異值矩陣Z為:

      式中

      目標(biāo)函數(shù)2為超聲探頭位置的優(yōu)化,旨在針對當(dāng)前探頭分布情況下,各類缺陷之間的最小區(qū)分度,本優(yōu)化使各類缺陷之間的差異越大越好,即可獲得探頭放置的位置最優(yōu);

      三、雙目標(biāo)遺傳算法及非劣分層

      遺傳算法是一種模擬自然進化過程搜索最優(yōu)解的方法。本發(fā)明設(shè)計的目標(biāo)函數(shù)包括超聲探頭數(shù)量優(yōu)化函數(shù)和超聲探頭位置優(yōu)化函數(shù)。本發(fā)明旨在實現(xiàn)以下兩個目標(biāo):第一,超聲探頭數(shù)量優(yōu)化函數(shù)值較小;第二,超聲探頭位置優(yōu)化函數(shù)值最大。由此可知這兩個目標(biāo)函數(shù)在優(yōu)化過程中存在非一致性的問題,該問題屬于雙目標(biāo)優(yōu)化問題。為了實現(xiàn)上述兩目標(biāo),本發(fā)明引入非劣分層思想來構(gòu)建多目標(biāo)遺傳算法,獲取超聲探頭數(shù)量優(yōu)化函數(shù)和超聲探頭位置優(yōu)化函數(shù)的非劣解集,最終確定這兩個目標(biāo)函數(shù)的最優(yōu)解。雙目標(biāo)遺傳算法及非劣分層的程序所附圖2所示。其具體步驟如下:

      (1)初始種群的設(shè)定:隨機生成個體數(shù)量為m個種群Et,每個個體的染色體數(shù)量為n。設(shè)t=0;

      (2)目標(biāo)函數(shù)評估:評估初始種群中所有個體的超聲探頭數(shù)量優(yōu)化函數(shù)f1(G)和超聲探頭位置優(yōu)化函數(shù)f2(G);

      (3)非劣分層:基于非劣分層算法對種群中所有個體進行排序,分配每個 個體的等級值分別為K1,K2,...,Km

      (4)隨機地選擇兩個個體,并比較其分層號和擁擠距離,選擇較好的個體進入優(yōu)選池;

      (5)采用交叉和變異的方法生成個體數(shù)量為m的子代種群Qt。其中設(shè)定交叉概率為Px,變異概率為Py;

      (6)聯(lián)合父代種群Et和子代種群Qt獲得兩倍于父代種群的中間種群Ft;

      (7)基于非劣分層算法對中間種群Ft中所有個體重新進行層次劃分,分配每個個體的等級值分別為K1,K2,...,Km,Km+1,...,K2m;

      (8)目標(biāo)函數(shù)評估:對中間種群中的每個個體進行目標(biāo)函數(shù)評估,并進行非劣分層排序,最優(yōu)解位于第一非劣層,獲得評估值;

      (9)終止條件:當(dāng)父代與子代種群非劣解中第一非劣層保持連續(xù)20代不變,則優(yōu)化結(jié)束,輸出結(jié)果,否則返回步驟(4)。

      本發(fā)明的有益結(jié)果是:針對超聲檢測缺陷過程中如何使用盡量少的探頭數(shù)量在最佳位置達到最好的檢測缺陷效果設(shè)計了超聲探頭數(shù)量和超聲探頭位置兩個優(yōu)化目標(biāo)函數(shù),并結(jié)合遺傳算法和非劣分層思想構(gòu)造了雙目標(biāo)遺傳算法,并獲取了超聲探頭數(shù)量和超聲探頭位置的最優(yōu)解集,為超聲檢測缺陷中探頭的排布提供了一個有效可行的方法。

      附圖說明:

      圖1:鋼板的缺陷分布及超聲探頭分布圖;

      圖2:雙目標(biāo)遺傳算法及非劣分層程序流程圖;

      具體實施方式:

      下面結(jié)合附圖并通過具體實施例對本發(fā)明作進一步詳述。通過COMSOL Multiphysics有限元仿真鋼板內(nèi)部缺陷的超聲檢測過程,以鋼板內(nèi)部的 m(m=9)類缺陷,鋼板四周分布n(n=12)個探頭為實施例,如圖1。

      實施例1:

      (1)樣本數(shù)據(jù)庫的建立,本發(fā)明通過COMSOL Multiphysics有限元仿真鋼板內(nèi)部缺陷的超聲檢測過程,在鋼板的四周排布超聲探頭共12個,將12個探頭編號i(i=1,2,...,12),9個缺陷看作是9類模式并編號j(j=1,2,...,9)。分別采集12探頭檢測的9類模式的超聲缺陷回波數(shù)據(jù),并提取缺陷回波峰值即第i個探頭檢測到第j類缺陷所獲得的缺陷回波峰值,為后續(xù)優(yōu)化構(gòu)建樣本數(shù)據(jù)庫。樣本數(shù)據(jù)庫I為:

      (2)設(shè)計優(yōu)化目標(biāo)函數(shù)

      1)優(yōu)化目標(biāo)函數(shù)1:超聲探頭數(shù)量優(yōu)化函數(shù)

      <mrow> <msub> <mi>f</mi> <mn>1</mn> </msub> <mrow> <mo>(</mo> <mi>G</mi> <mo>)</mo> </mrow> <mo>=</mo> <msubsup> <mi>&Sigma;</mi> <mrow> <mi>s</mi> <mo>=</mo> <mn>1</mn> </mrow> <mn>12</mn> </msubsup> <mo>,</mo> <mrow> <mo>(</mo> <msub> <mi>g</mi> <mi>s</mi> </msub> <mo>></mo> <mn>0</mn> <mo>)</mo> </mrow> <mrow> <mo>(</mo> <msub> <mi>g</mi> <mi>s</mi> </msub> <mo>=</mo> <mn>0</mn> <mo>,</mo> <mn>1</mn> <mo>,</mo> <mn>...</mn> <mo>,</mo> <mn>12</mn> <mo>)</mo> </mrow> <mo>-</mo> <mo>-</mo> <mo>-</mo> <mrow> <mo>(</mo> <mn>8</mn> <mo>)</mo> </mrow> </mrow>

      式中G為給定的超聲探頭分布,超聲探頭可設(shè)定的位置共12個。超聲探頭分布向量G(G=[g1,g2,…,g12]T中包含12個元素,分別表示探頭可放置的位置,當(dāng)其中某一元素為零時,則表示該位置不設(shè)置探頭;目標(biāo)函數(shù)1旨在計算G中非零元素個數(shù),即獲得當(dāng)前探頭分布情況下,所使用的探頭數(shù)量。

      2)優(yōu)化目標(biāo)函數(shù)2:超聲探頭位置優(yōu)化函數(shù)

      f2(G)=,min{zu,v} (9)

      目標(biāo)函數(shù)2提出超聲探頭位置優(yōu)化性能指標(biāo),針對所有探頭檢測的每一類缺陷,以給出超聲探頭獲得的缺陷回波數(shù)據(jù)建立樣本數(shù)據(jù)庫I,根據(jù)I行向量之間的距離表示所有超聲探頭檢測的缺陷之間的差異性,得到不同模式類別之間的差異值矩陣Z為:

      其中

      目標(biāo)函數(shù)2為超聲探頭位置的優(yōu)化,旨在針對當(dāng)前探頭分布情況下,各類缺陷之間的區(qū)分度,本優(yōu)化使各類缺陷之間的差異越大越好,即可獲得探頭放置的位置最優(yōu)。

      (3)通過雙目標(biāo)遺傳算法及非劣分層思想獲得超聲探頭數(shù)量和探頭位置優(yōu)化的非劣解集,其具體步驟如下:

      步驟一:優(yōu)化參數(shù)的設(shè)定。仿真超聲無損檢測‘單發(fā)單收’模型,采集鋼板四周排布的12個超聲探頭分別針對鋼板內(nèi)部9類缺陷所接收的缺陷回波信號,提取所有缺陷回波信號的峰值。

      步驟二:

      1)初始種群的設(shè)定:隨機生成個體數(shù)量為9的種群Et,每個個體的染色體數(shù)量為12。設(shè)t=0。

      2)目標(biāo)函數(shù)評估:評估初始種群中所有個體的超聲探頭數(shù)量優(yōu)化函數(shù)f1(G)和超聲探頭位置優(yōu)化函數(shù)f2(G)。

      3)非劣分層:基于非劣分層算法對種群中所有個體進行排序,分配每個個 體的等級值分別為K1,K2,...,Km。

      4)隨機地選擇兩個個體,并比較其分層號和擁擠距離,選擇較好的個體進入優(yōu)選池。

      5)采用交叉和變異的方法生成個體數(shù)量為m的子代種群Qt。其中設(shè)定交叉概率為Px,變異概率為Py

      6)聯(lián)合父代種群Et和子代種群Qt獲得兩倍于父代種群的中間種群Ft。

      7)基于非劣分層算法對中間種群Ft中所有個體重新進行層次劃分,分配每個個體的等級值分別為K1,K2,...,Km,Km+1,...,K2m。

      8)目標(biāo)函數(shù)評估:對中間種群中的每個個體進行目標(biāo)函數(shù)評估,并進行非劣分層排序,最優(yōu)解位于第一非劣層,獲得評估值。

      9)終止條件:當(dāng)父代與子代種群非劣解中第一非劣層保持連續(xù)20代不變,則優(yōu)化結(jié)束,輸出結(jié)果,否則返回步驟4)。

      結(jié)果:本實例針對鋼板內(nèi)部9類缺陷的超聲無損檢測仿真,設(shè)計排布12個超聲探頭在鋼板四周進行位置優(yōu)化,從使用1個超聲探頭一直到使用5個超聲探頭的部分優(yōu)化結(jié)果如表1所示。從結(jié)果可以看出,在使用1個超聲探頭檢測時最優(yōu)的是選取5號探頭,而當(dāng)選取4個探頭時,其最佳組合為編號1、5、7、11這4個探頭位置最優(yōu)。處于第一非劣層的結(jié)果最優(yōu),該優(yōu)化結(jié)果為超聲無損檢測中探頭的分布優(yōu)化提供了可選空間。因此,在檢測過程中應(yīng)根據(jù)需要,在達到檢測要求的情況下,選取最優(yōu)的探頭位置排布。

      表1部分優(yōu)化結(jié)果

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