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      一種基于全聚焦成像算法改進(jìn)邊緣缺陷檢測的方法與流程

      文檔序號:12452563閱讀:1956來源:國知局
      一種基于全聚焦成像算法改進(jìn)邊緣缺陷檢測的方法與流程

      本發(fā)明設(shè)計(jì)缺陷定位技術(shù)領(lǐng)域,特別是改進(jìn)了一種常規(guī)超聲不容易解決的小于半波長微小缺陷以及復(fù)雜結(jié)構(gòu)試件的后處理算法。



      背景技術(shù):

      超聲相控陣技術(shù)逐漸應(yīng)用于工業(yè)無損檢測,特別是在核工業(yè)及航空工業(yè)等領(lǐng)域。如核電站主泵隔熱板的檢測;核廢料罐電子束環(huán)焊縫的全自動(dòng)檢測及薄鋁板摩擦焊縫熱疲勞裂紋的檢測。隨著超聲相控陣檢測技術(shù)的不斷普及,使得成像算法的研究越來越得到廣泛的關(guān)注。其中HOMLES提出的全聚焦成像算法,使各陣元聲束在檢測區(qū)域內(nèi)的劃分的每一個(gè)點(diǎn)上進(jìn)行聚焦,因此對于常規(guī)超聲相控陣不容易解決的小于半波長的微小缺陷可以進(jìn)行高精度識別。全聚焦成像提供了幾種傳播模式(直接或間接成像)。對于傳統(tǒng)的全聚焦算法來說,一般直接采用直接成像,而實(shí)際檢測中常常會由地面回波反射到缺陷上間接成像。



      技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

      本發(fā)明的目的在于針對現(xiàn)有技術(shù)的不足,提供一種基于全聚焦成像算法改進(jìn)邊緣缺陷檢測的方法。

      本發(fā)明的目的是通過以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn)的:一種基于全聚焦成像算法改進(jìn)邊緣缺陷檢測的方法,包括以下步驟:

      (1)采集超聲陣列全矩陣數(shù)據(jù):依次激發(fā)超聲陣列探頭的N個(gè)陣元發(fā)射超聲波信號,每個(gè)陣元發(fā)射超聲波信號時(shí),全部陣元同時(shí)接收超聲回波信號;將發(fā)射陣元i、接收陣元j采集的超聲回波信號記為Sij(i=1,2,…,N;j=1,2,…,N);

      (2)劃分試塊的檢測區(qū)域,并將檢測區(qū)域離散化;根據(jù)超聲相控陣檢測的檢出率劃分聚焦點(diǎn)類型,對于檢出率高于檢測標(biāo)準(zhǔn)的聚焦點(diǎn),執(zhí)行步驟3;對于檢出率低于檢測標(biāo)準(zhǔn)的聚焦點(diǎn),執(zhí)行步驟4;

      (3)建立二維直角坐標(biāo)系Oxz,坐標(biāo)原點(diǎn)O設(shè)置在楔塊下表面中心,利用延時(shí)規(guī)則將換能器中所有發(fā)射-接收陣元組合的超聲回波信號在該聚焦點(diǎn)疊加,獲得表征該聚焦點(diǎn)信號強(qiáng)度的幅值I(x,z);分別獲得被測區(qū)域內(nèi)每一個(gè)目標(biāo)點(diǎn)的幅值,完成整個(gè)被檢測區(qū)域內(nèi)的檢測,I(x,z)的表達(dá)式如下:

      其中tij(x,z)為得到該幅值的延遲時(shí)間,包括從陣元i傳播到聚焦點(diǎn)P的時(shí)間,以及從聚焦點(diǎn)P傳播到陣元j的時(shí)間,具體如下:

      式中,(xi,0)、(xj,0)分別為發(fā)射陣元和接收陣元的坐標(biāo),c為超聲波在試塊中的傳播速度;

      (4)建立二維直角坐標(biāo)系Oxz,坐標(biāo)原點(diǎn)O設(shè)置在楔塊下表面中心;根據(jù)擴(kuò)散衰減系數(shù)重新定義幅值強(qiáng)度;利用延時(shí)規(guī)則將所有可能間接傳播到聚焦點(diǎn)產(chǎn)生的幅值和直接傳播到聚集點(diǎn)產(chǎn)生的幅值進(jìn)行疊加,獲得表征該聚焦點(diǎn)信號強(qiáng)度的幅值I(x,z);分別獲得被測區(qū)域內(nèi)每一個(gè)目標(biāo)點(diǎn)的幅值,完成整個(gè)被檢測區(qū)域內(nèi)的檢測;

      在直接傳播過程中傳播到聚焦點(diǎn)的擴(kuò)散衰減系數(shù)kd

      在間接傳播過程中傳播到聚集點(diǎn)的擴(kuò)散衰減系數(shù)ki

      其中,h為試塊的檢測厚度;

      聚焦點(diǎn)(x,z)的幅值I(x,z)表示為:

      其中,

      本發(fā)明的有益效果是:本發(fā)明公開了一種基于全聚焦成像算法改進(jìn)邊緣缺陷檢測的方法,現(xiàn)在的全聚焦成像算法僅僅考慮當(dāng)陣列換能器的波之間發(fā)射到缺陷位置上,忽略了當(dāng)陣列換能器的波傳播到試塊底部,反射到缺陷上產(chǎn)生的回波信號,本發(fā)明在考慮到多模型的全聚焦算法的基礎(chǔ)上,提出了改進(jìn)型的全聚焦成像算法,在考慮到波衰減的情況下,加進(jìn)了底面反射回波對缺陷成像的影響,本發(fā)明方法能更加精確的仿真真實(shí)超聲相控陣檢測,提高邊緣缺陷檢測的精確度。

      附圖說明

      圖1為檢測區(qū)域離散化結(jié)果示意圖;

      圖2為檢出率高于檢測標(biāo)準(zhǔn)的聚焦點(diǎn)信號強(qiáng)度的幅值計(jì)算示意圖;

      圖3為檢出率低于檢測標(biāo)準(zhǔn)的聚焦點(diǎn)信號強(qiáng)度的幅值計(jì)算示意圖。

      具體實(shí)施方式

      下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)說明。

      本發(fā)明提出的一種基于全聚焦成像算法改進(jìn)邊緣缺陷檢測的方法,該方法包括以下步驟:

      (1)采集超聲陣列全矩陣數(shù)據(jù):依次激發(fā)超聲陣列探頭的N個(gè)陣元發(fā)射超聲波信號,每個(gè)陣元發(fā)射超聲波信號時(shí),全部陣元同時(shí)接收超聲回波信號;將發(fā)射陣元i、接收陣元j采集的超聲回波信號記為Sij(i=1,2,…,N;j=1,2,…,N);Sij是一組包含了每個(gè)時(shí)間采樣點(diǎn)接收信號的幅值的數(shù)據(jù)。

      (2)劃分試塊的檢測區(qū)域,并將檢測區(qū)域離散化,以規(guī)則的矩形試塊為例,離散化結(jié)果如下圖1所示;根據(jù)超聲相控陣檢測的檢出率劃分聚焦點(diǎn)類型,對于檢出率高于檢測標(biāo)準(zhǔn)的聚焦點(diǎn)(位置在沒有用實(shí)線連接起來的中間區(qū)域),執(zhí)行步驟3進(jìn)行更為精確的定位;對于檢出率低于檢測標(biāo)準(zhǔn)的聚焦點(diǎn)來說(除最外側(cè)方框外,用方框框起來的位置),受邊界回波的影響,執(zhí)行步驟4;檢測標(biāo)準(zhǔn)可以選擇90%。

      (3)如圖2所示,建立二維直角坐標(biāo)系Oxz,坐標(biāo)原點(diǎn)O設(shè)置在楔塊下表面中心,利用延時(shí)規(guī)則將換能器中所有發(fā)射-接收陣元組合的超聲回波信號在該聚焦點(diǎn)疊加,獲得表征該聚焦點(diǎn)信號強(qiáng)度的幅值I(x,z);分別獲得被測區(qū)域內(nèi)每一個(gè)目標(biāo)點(diǎn)的幅值,完成整個(gè)被檢測區(qū)域內(nèi)的檢測,I(x,z)的表達(dá)式如下:

      其中tij(x,z)為得到該幅值的延遲時(shí)間,包括從陣元i傳播到聚焦點(diǎn)P的時(shí)間,以及從聚焦點(diǎn)P傳播到陣元j的時(shí)間,具體如下:

      式中,(xi,0)、(xj,0)分別為發(fā)射陣元和接收陣元的坐標(biāo),c為超聲波在試塊中的傳播速度;

      (4)針對圖1所示,用矩形框框起來的聚焦點(diǎn)來說,考慮到實(shí)際檢測中常常會出現(xiàn)如圖3所示的全聚焦模型,除了直接傳播到P點(diǎn)的波,一部分波會直接傳播到試塊底部,再反射回來,所以對于傳統(tǒng)的全聚焦來說,缺少了這一部分的值。但直接傳播和間接傳播,波衰減程度不一致,所以擴(kuò)散衰減系數(shù)在區(qū)分這兩部所得到的幅值,起到了重要作用。

      如圖3所示,建立二維直角坐標(biāo)系Oxz,坐標(biāo)原點(diǎn)O設(shè)置在楔塊下表面中心;根據(jù)擴(kuò)散衰減系數(shù)重新定義幅值強(qiáng)度;利用延時(shí)規(guī)則將所有可能間接傳播到聚焦點(diǎn)產(chǎn)生的幅值和直接傳播到聚集點(diǎn)產(chǎn)生的幅值進(jìn)行疊加,獲得表征該聚焦點(diǎn)信號強(qiáng)度的幅值I(x,z);分別獲得被測區(qū)域內(nèi)每一個(gè)目標(biāo)點(diǎn)的幅值,完成整個(gè)被檢測區(qū)域內(nèi)的檢測。

      在單一介質(zhì)的二維模型中,使用距離平方根的反比來表示擴(kuò)散衰減系數(shù),故在直接傳播過程中傳播到聚焦點(diǎn)的擴(kuò)散衰減系數(shù)kd

      在間接傳播過程中傳播到聚集點(diǎn)的擴(kuò)散衰減系數(shù)ki

      其中,h為試塊的檢測厚度;

      聚焦點(diǎn)(x,z)的幅值I(x,z)表示為:

      其中,

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