本實用新型屬于測試設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種老化架的布線結(jié)構(gòu)。

背景技術(shù)：

老化房，又叫高溫老化房和燒機(jī)房，是針對高性能電子產(chǎn)品(如：計算機(jī)整機(jī)、顯示器、終端機(jī)、車用電子產(chǎn)品、電源供應(yīng)器、主機(jī)板、監(jiān)視器、交換式充電器等)仿真出一種高溫、惡劣環(huán)境測試的設(shè)備，是提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的重要實驗設(shè)備，是各生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和競爭力的重要生產(chǎn)流程，該設(shè)備廣泛應(yīng)用于電源電子、電腦、通訊、生物制藥等領(lǐng)域。

老化架作為老化房中重要的部件，用老化房對大批量的電子產(chǎn)品進(jìn)行動態(tài)老化測試時，需將待測試電子產(chǎn)品放置在老化架上，再將老化架放進(jìn)老化房內(nèi)進(jìn)行動態(tài)老化測試，將老化房升溫，達(dá)到預(yù)設(shè)溫度后，用直流供電系統(tǒng)對老化房內(nèi)的電子產(chǎn)品通電，用老化房模擬惡劣環(huán)境下使用工況，待老化時間完成，判斷電子產(chǎn)品的質(zhì)量。

老化架用于模擬電子產(chǎn)品在現(xiàn)實使用條件中涉及到的各種因素對產(chǎn)品產(chǎn)生老化的情況，以提前發(fā)現(xiàn)電子產(chǎn)品的缺陷，提高電子產(chǎn)品的穩(wěn)定性和可靠性。

現(xiàn)有技術(shù)中的老化架要么只有靜態(tài)測試功能，老化架上沒有布線結(jié)構(gòu)，要么只有動態(tài)測試功能，老化架上不可拆卸的設(shè)置有布線結(jié)構(gòu)，使得老化架的利用率低，用戶不能根據(jù)實際需要選擇合適的測試功能。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

有鑒于此，為了解決現(xiàn)有技術(shù)中老化架的利用率低的技術(shù)問題，本實用新型提供一種老化架的布線結(jié)構(gòu)，使得老化架具有動態(tài)測試功能和靜態(tài)測試功能，供用戶合理選擇需要。

本實用新型通過以下技術(shù)手段解決上述問題：

一種老化架的布線結(jié)構(gòu)，包括藏線槽，所述藏線槽設(shè)置在老化架支撐架的外圈上，所述藏線槽與支撐架可拆卸連接，所述藏線槽開口端設(shè)有蓋板，所述蓋板與所述藏線槽可拆卸連接，所述蓋板上固定有電源端子和信號端子。

進(jìn)一步地，所述藏線槽與老化架的支撐架通過螺釘連接。

進(jìn)一步地，所述蓋板與所述藏線槽通過螺釘連接。

進(jìn)一步地，所述藏線槽為U型藏線槽。

進(jìn)一步地，所述電源端子和信號端子為航空端子。

本實用新型老化架的布線結(jié)構(gòu)具有以下有益效果：

1、無損對接原老化架，安裝時不影響原老化架任何功能的使用，當(dāng)用戶需要增加向待測試電子產(chǎn)品供電需求即達(dá)到動態(tài)測試功能時，可以在原老化架的基礎(chǔ)上，直接把獨立的布線結(jié)構(gòu)固定在老化架支撐架外圈上即可達(dá)到向待測試電子產(chǎn)品供電功能；

2、使得原有老化架包含動態(tài)測試功能和靜態(tài)測試功能，蓋板上固定有電源端子和信號端子，用于向待測試電子產(chǎn)品供電和控制，以達(dá)到動態(tài)測試功能，若把布線結(jié)構(gòu)去除，即把老化架的供電線路和蓋板上固定的電源端子和信號端子移除，使多層老化架變成不可以向待測試電子產(chǎn)品供電和控制，以達(dá)到靜態(tài)測試功能；

3、合理的布線設(shè)計，全部電線不外露、放置于藏線槽內(nèi)，以保障供電線路不會碰傷損壞。

附圖說明

為了更清楚地說明本實用新型實施例中的技術(shù)方案，下面將對實施例描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本實用新型的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。

圖1為本實用新型老化架的布線結(jié)構(gòu)的整體示意圖；

圖2為本實用新型藏線槽的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3為本實用新型蓋板的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖4為本實用新型的布線結(jié)構(gòu)用在H型老化架上的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖5為本實用新型的布線結(jié)構(gòu)用在八字型老化架上的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實施方式

為使本實用新型的上述目的、特征和優(yōu)點能夠更加明顯易懂，下面將結(jié)合附圖和具體的實施例對本實用新型的技術(shù)方案進(jìn)行詳細(xì)說明。需要指出的是，所描述的實施例僅僅是本實用新型一部分實施例，而不是全部的實施例，基于本實用新型中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本實用新型保護(hù)的范圍。

如圖1-3所示，一種老化架的布線結(jié)構(gòu)，包括藏線槽，藏線槽為U型藏線槽，U型藏線槽設(shè)置在老化架支撐架的外圈上，U型藏線槽與支撐架通過螺釘可拆卸連接，U型藏線槽開口端設(shè)有蓋板，所述蓋板與U型藏線槽通過螺釘可拆卸連接，所述蓋板上固定有電源端子和信號端子，電源端子和信號端子為航空端子，全部電線不外露、放置于藏線槽內(nèi)，以保障供電線路不會碰傷損壞。

當(dāng)待測試電子產(chǎn)品需要動態(tài)測試時，只需把本實用新型的布線結(jié)構(gòu)通過螺釘安裝至原老化架支撐架外圈上，這時蓋板上固定有電源端子和信號端子，用于向待測試電子產(chǎn)品供電和控制，以達(dá)到動態(tài)測試功能；

當(dāng)待測試電子產(chǎn)品需要靜態(tài)測試時，只需把布線結(jié)構(gòu)去除，即把老化架的供電線路和蓋板上固定的電源端子和信號端子移除，使多層老化架變成不可以向待測試電子產(chǎn)品供電和控制，以達(dá)到靜態(tài)測試功能。

下面以具體的老化架為例對本實用新型進(jìn)行詳細(xì)說明：

圖4為本實用新型的布線結(jié)構(gòu)用在H型老化架上的結(jié)構(gòu)示意圖，H型老化架原本只有靜態(tài)測試功能，當(dāng)用戶需要增加向待測試電子產(chǎn)品供電需求即達(dá)到動態(tài)測試功能時，可以在原H型老化架的基礎(chǔ)上，直接把獨立的布線結(jié)構(gòu)固定在老化架支撐架外圈上即可達(dá)到向待測試電子產(chǎn)品供電功能，無損對接原H型老化架，安裝時不影響原H型老化架任何功能的使用，并且全部電線不外露、放置于藏線槽內(nèi)，以保障供電線路不會碰傷損壞。

圖5為本實用新型的布線結(jié)構(gòu)用在八字型老化架上的結(jié)構(gòu)示意圖，八字型老化架原本只有靜態(tài)測試功能，當(dāng)用戶需要增加向待測試電子產(chǎn)品供電需求即達(dá)到動態(tài)測試功能時，可以在原八字型老化架的基礎(chǔ)上，直接把獨立的布線結(jié)構(gòu)固定在老化架支撐架外圈上即可達(dá)到向待測試電子產(chǎn)品供電功能，無損對接原八字型老化架，安裝時不影響原八字型老化架任何功能的使用，全部電線不外露、放置于藏線槽內(nèi)，以保障供電線路不會碰傷損壞。

本實用新型老化架的布線結(jié)構(gòu)具有以下有益效果：

1、無損對接原老化架，安裝時不影響原老化架任何功能的使用，當(dāng)用戶需要增加向待測試電子產(chǎn)品供電需求即達(dá)到動態(tài)測試功能時，可以在原老化架的基礎(chǔ)上，直接把獨立的布線結(jié)構(gòu)固定在老化架支撐架外圈上即可達(dá)到向待測試電子產(chǎn)品供電功能；

2、使得原有老化架包含動態(tài)測試功能和靜態(tài)測試功能，蓋板上固定有電源端子和信號端子，用于向待測試電子產(chǎn)品供電和控制，以達(dá)到動態(tài)測試功能，若把布線結(jié)構(gòu)去除，即把老化架的供電線路和蓋板上固定的電源端子和信號端子移除，使多層老化架變成不可以向待測試電子產(chǎn)品供電和控制，以達(dá)到靜態(tài)測試功能；

3、合理的布線設(shè)計，全部電線不外露、放置于藏線槽內(nèi)，以保障供電線路不會碰傷損壞。

以上所述實施例僅表達(dá)了本實用新型的幾種實施方式，其描述較為具體和詳細(xì)，但并不能因此而理解為對本實用新型專利范圍的限制。應(yīng)當(dāng)指出的是，對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本實用新型構(gòu)思的前提下，還可以做出若干變形和改進(jìn)，這些都屬于本實用新型的保護(hù)范圍。因此，本實用新型專利的保護(hù)范圍應(yīng)以所附權(quán)利要求為準(zhǔn)。