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      高壓帶電絕緣子周?chē)臻g電場(chǎng)檢測(cè)電路的制作方法

      文檔序號(hào):11684775閱讀:404來(lái)源:國(guó)知局

      本實(shí)用新型涉及信號(hào)采集領(lǐng)域,具體涉及一種高壓帶電絕緣子周?chē)臻g電場(chǎng)檢測(cè)電路。



      背景技術(shù):

      復(fù)合絕緣子以其優(yōu)異的防污閃性能在全國(guó)范圍為得到廣泛使用,但在運(yùn)行過(guò)程中如何檢測(cè)其性能狀況是國(guó)內(nèi)乃至世界范圍的難題,這個(gè)問(wèn)題甚至影響到了復(fù)合絕緣子大量推廣使用的技術(shù)政策。目前大多供電局采用的是目測(cè)方法檢測(cè),這種方法不能保證檢測(cè)出復(fù)合絕緣子內(nèi)部的缺陷。隨著合成絕緣子掛網(wǎng)運(yùn)行周期越來(lái)越長(zhǎng),不可避免的會(huì)發(fā)生合成絕緣子劣化事故。伴隨著合成絕緣子的劣化,有部分運(yùn)行中的合成絕緣子有脆斷、擊穿的趨勢(shì)。采用目測(cè)對(duì)合成絕緣子進(jìn)行帶電檢測(cè),并不能找到隱藏在硅橡膠下面的、玻璃纖維芯棒內(nèi)部的缺陷。用電場(chǎng)法對(duì)復(fù)合絕緣子進(jìn)行帶電檢測(cè)很有必要。

      長(zhǎng)期以來(lái)的試驗(yàn)結(jié)果證明,復(fù)合絕緣子的導(dǎo)通性缺陷及其局部的絕緣劣化可以通過(guò)沿絕緣子串軸向分布的場(chǎng)強(qiáng)變化而靈敏的反應(yīng)出來(lái)。因此,我們采用高靈敏度的電場(chǎng)傳感器和場(chǎng)強(qiáng)分布測(cè)量分析等多項(xiàng)專(zhuān)利技術(shù)可以有效的發(fā)現(xiàn)復(fù)合絕緣子的絕緣劣化現(xiàn)象,此項(xiàng)技術(shù)填補(bǔ)了復(fù)合絕緣子劣化在線檢測(cè)技術(shù)的空白。



      技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

      針對(duì)上述技術(shù)問(wèn)題,本實(shí)用新型的目的在于提供一種高壓帶電絕緣子周?chē)臻g電場(chǎng)檢測(cè)電路,具體技術(shù)方案如下:

      一種高壓帶電絕緣子周?chē)臻g電場(chǎng)檢測(cè)電路,包括并聯(lián)的入口電容C1、電阻R1、過(guò)壓保護(hù)TVS管D,所述入口電容C1、電阻R1、過(guò)壓保護(hù)TVS管D的一端連接輸入信號(hào)AD_IN,另一端連接至信號(hào)地SGND;該檢測(cè)電路還包括濾波電容C2,所述濾波電容C2的一端串接輸入信號(hào)AD_IN,另一端連接限制電阻一R2和限制電阻二R3,限制電阻一R2的另一端連接電源,限制電阻二R3的另一端連接至信號(hào)地SGND;所述限制電阻一R2和限制電阻二R3為輸入信號(hào)輸入抬升,能夠?qū)⑤斎胄盘?hào)AD_IN抬升到CPU能夠識(shí)別的電壓范圍,從AD_TEST輸出進(jìn)行比較。

      本實(shí)用新型高壓帶電絕緣子周?chē)臻g電場(chǎng)檢測(cè)電路,將檢測(cè)到的復(fù)合絕緣子周?chē)碾妶?chǎng)信號(hào)輸入電路,通過(guò)電路將輸入信號(hào)抬升到CPU能夠識(shí)別的電壓范圍并與其它檢測(cè)電路的檢測(cè)結(jié)果一起進(jìn)行比較,進(jìn)而判斷復(fù)合絕緣子的內(nèi)部是否有缺陷,電路信號(hào)處理精度高;濾波效果好,誤差小,檢測(cè)精度高。

      附圖說(shuō)明

      圖1為本實(shí)用新型高壓帶電絕緣子周?chē)臻g電場(chǎng)檢測(cè)電路圖

      具體實(shí)施方式

      下面結(jié)合附圖,對(duì)本實(shí)用新型作詳細(xì)說(shuō)明。

      如圖1所示,本實(shí)用新型一種高壓帶電絕緣子周?chē)臻g電場(chǎng)檢測(cè)電路,包括并聯(lián)的入口電容C1、電阻R1、過(guò)壓保護(hù)TVS管D,所述入口電容C1、電阻R1、過(guò)壓保護(hù)TVS管D的一端連接輸入信號(hào)AD_IN,另一端連接至信號(hào)地SGND;該檢測(cè)電路還包括濾波電容C2,所述濾波電容C2的一端串接輸入信號(hào)AD_IN,另一端連接限制電阻一R2和限制電阻二R3,限制電阻一R2的另一端連接電源,限制電阻二R3的另一端連接至信號(hào)地SGND;所述限制電阻一R2和限制電阻二R3為輸入信號(hào)輸入抬升,能夠?qū)⑤斎胄盘?hào)AD_IN抬升到CPU能夠識(shí)別的電壓范圍,從AD_TEST輸出進(jìn)行比較。

      具體的,本實(shí)用新型高壓帶電絕緣子周?chē)臻g電場(chǎng)檢測(cè)電路的入口電容C1采用104電容,電阻R1為500KΩ、過(guò)壓保護(hù)TVS管D的型號(hào)選用1.5KE-6.8A,濾波電容C2為1μF,限制電阻一R2和限制電阻二R3均采用100KΩ,限制電阻一R2連接3.3VA電源。

      本實(shí)用新型高壓帶電絕緣子周?chē)臻g電場(chǎng)檢測(cè)電路,將檢測(cè)到的復(fù)合絕緣子周?chē)碾妶?chǎng)信號(hào)輸入電路,通過(guò)電路將輸入信號(hào)抬升到CPU能夠識(shí)別的電壓范圍并與其它檢測(cè)電路的檢測(cè)結(jié)果一起進(jìn)行比較,進(jìn)而判斷復(fù)合絕緣子的內(nèi)部是否有缺陷,電路信號(hào)處理精度高;濾波效果好,誤差小,檢測(cè)精度高。

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