本實(shí)用新型涉及SMT器件檢測(cè)領(lǐng)域,特別是涉及一種SMT器件檢測(cè)系統(tǒng)。
背景技術(shù):
目前,SMT(Surface Mount Technology,表面組裝技術(shù))器件檢測(cè)系統(tǒng)中,測(cè)試的目標(biāo)元器件都是通過十字架或者一些圖形框起來以達(dá)到便于用戶快速定位的目的,并且該目標(biāo)元器件顯示于整個(gè)軟件界面的一小部分。此方式相比傳統(tǒng)的目視實(shí)物方式有很大的優(yōu)勢(shì),可以通過圖像放大及標(biāo)記輔助檢測(cè)者快速定位目標(biāo)元器件,進(jìn)而快速對(duì)該元器件進(jìn)行對(duì)應(yīng)檢測(cè)。
但是,由于目標(biāo)元器件僅為軟件界面的一小部分,不方便定位,且容易被其他顯示內(nèi)容,如定位目標(biāo)元器件的十字架或者其他圖像遮擋,造成檢測(cè)障礙。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
基于此,有必要提出一種能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)目標(biāo)對(duì)象的清晰顯示的SMT器件檢測(cè)方法和系統(tǒng)。
一種SMT器件檢測(cè)系統(tǒng),包括:
主顯示器,用于顯示SMT器件的圖像和參數(shù)信息;
處理器,連接所述主顯示器,用于從所述SMT器件的圖像中提取目標(biāo)對(duì)象的圖像和參數(shù)信息;
輔顯示器,連接所述處理器,用于單獨(dú)顯示所述目標(biāo)對(duì)象的圖像和參數(shù)信息。
上述SMT器件檢測(cè)系統(tǒng),通過輔顯示器將主顯示器中的目標(biāo)對(duì)象的圖像和參數(shù)信息進(jìn)行單獨(dú)顯示,圖像清晰無(wú)遮擋,減少了檢測(cè)者的勞動(dòng),提高了檢測(cè)效果和效率。
在其中一個(gè)實(shí)施例中,還包括工作臺(tái),所述輔顯示器固定嵌入在所述工作臺(tái)上。
在其中一個(gè)實(shí)施例中,所述輔顯示器和處理器無(wú)線連接。
在其中一個(gè)實(shí)施例中,還包括工作臺(tái),所述輔顯示器可移動(dòng)地設(shè)置在所述工作臺(tái)上。
在其中一個(gè)實(shí)施例中,所述工作臺(tái)上設(shè)置有電源開關(guān),連接所述處理器,用于啟動(dòng)所述處理器。
在其中一個(gè)實(shí)施例中,所述工作臺(tái)上設(shè)置有鍵盤,連接所述處理器,用于向所述主顯示器輸入信息。
在其中一個(gè)實(shí)施例中,還包括鼠標(biāo),連接所述處理器,用于從所述SMT器件的圖像中選取所述目標(biāo)對(duì)象。
在其中一個(gè)實(shí)施例中,所述輔顯示器為觸控顯示器。
附圖說明
圖1為一實(shí)施例中SMT器件檢測(cè)系統(tǒng)的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖;
圖2為另一實(shí)施例中SMT器件檢測(cè)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
參見圖1,圖1為一實(shí)施例中SMT器件檢測(cè)系統(tǒng)的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖。
在本實(shí)施中,該SMT器件檢測(cè)系統(tǒng),包括:
主顯示器10,用于顯示SMT器件的圖像和參數(shù)信息。
將片式的電子元器件通過SMT技術(shù)焊裝在印制電路板上,得到SMT器件,其為通過SMT技術(shù)得到的PCB板,SMT器件在出廠之前需要進(jìn)行首件檢測(cè),首件是指一定數(shù)量的樣品。
獲取SMT器件的圖像,并在主顯示器10上顯示出來,選中需要檢測(cè)的電子元器件作為目標(biāo)對(duì)象,提取該目標(biāo)對(duì)象的圖像和參數(shù)信息,該參數(shù)信息包括目標(biāo)對(duì)象的型號(hào)、尺寸、參數(shù)等。
處理器11,連接所述主顯示器10,用于從所述SMT器件的圖像中提取目標(biāo)對(duì)象的圖像和參數(shù)信息。
輔顯示器12,連接所述處理器11,用于單獨(dú)顯示所述目標(biāo)對(duì)象的圖像和參數(shù)信息。
輔顯示器12和主顯示器10均與處理器11連接,以實(shí)現(xiàn)二者的通訊,將提取到的目標(biāo)對(duì)象的圖像和參數(shù)信息發(fā)送給輔顯示器12,通過輔顯示器12單獨(dú)顯示該目標(biāo)對(duì)象。
由于SMT器件集成度高,大量的電子元器件均焊裝在同一塊印制電路板上,整個(gè)SMT器件顯示在主顯示器10上時(shí),單個(gè)電子元器件只占整個(gè)界面的一小部分。采用點(diǎn)擊、框選等方式選中目標(biāo)對(duì)象,將該目標(biāo)對(duì)象,如單個(gè)電子元器件單獨(dú)顯示在輔顯示器12上,通過輔顯示器12對(duì)該電子元器件進(jìn)行檢測(cè)。
輔顯示器12在顯示時(shí)不會(huì)受到定位目標(biāo)器件的十字架或者其他圖像的遮擋,能清楚的顯示每個(gè)電子元器件的圖像和參數(shù)信息。其中,參數(shù)信息可以顯示在區(qū)別于圖像的單獨(dú)版塊中。
參見圖2,在其中一個(gè)實(shí)施例中,該SMT器件檢測(cè)系統(tǒng)還包括工作臺(tái)20,所述輔顯示器12固定嵌入在所述工作臺(tái)20上。
輔顯示器12可以嵌入在工作臺(tái)20的任何位置,方便檢測(cè)者查看被測(cè)對(duì)象的圖像。
在其中一個(gè)實(shí)施例中,所述輔顯示器12和處理器11無(wú)線連接。
輔顯示器12和處理器11之間可以通過有線的方式連接,也可以通過無(wú)線的方式連接。
在其中一個(gè)實(shí)施例中,該SMT器件檢測(cè)系統(tǒng)還包括工作臺(tái)20,所述輔顯示器12可移動(dòng)地設(shè)置在所述工作臺(tái)20上。
檢測(cè)者可以自由的挪動(dòng)輔顯示器12的位置,方便自己查看。
在其中一個(gè)實(shí)施例中,所述工作臺(tái)20上設(shè)置有電源開關(guān)13,連接所述處理器11,用于啟動(dòng)所述處理器11。
在其中一個(gè)實(shí)施例中,所述工作臺(tái)20上設(shè)置有鍵盤14,連接所述處理器11,用于向所述主顯示器10輸入信息。
在其中一個(gè)實(shí)施例中,還包括鼠標(biāo)15,連接所述處理器11,用于從所述SMT器件的圖像中選取所述目標(biāo)對(duì)象。
在其中一個(gè)實(shí)施例中,所述輔顯示器12為觸控顯示器。
觸控顯示器可以對(duì)顯示的目標(biāo)對(duì)象的圖像進(jìn)行自由的縮放和移動(dòng),方便檢測(cè)者查看。
上述SMT器件檢測(cè)系統(tǒng),處理器11從主顯示器10顯示的SMT器件的圖像中提取目標(biāo)對(duì)象的圖像和參數(shù)信息,將該目標(biāo)對(duì)象的圖像和參數(shù)信息發(fā)送給輔顯示器12,通過輔顯示器12單獨(dú)顯示目標(biāo)對(duì)象的圖像和參數(shù)信息,該輔顯示器12可以靈活設(shè)置在工作臺(tái)上方便檢測(cè)者查看的任何位置,在該工作臺(tái)上設(shè)置有電源開關(guān)13、鍵盤14和鼠標(biāo)15,方便檢測(cè)者的操作;將目標(biāo)對(duì)象的圖像從SMT器件的圖像中提取出來,通過單獨(dú)設(shè)置的顯示器顯示,可以實(shí)現(xiàn)目標(biāo)器件的單獨(dú)顯示,圖像清晰無(wú)遮擋,減少了檢測(cè)者的勞動(dòng),提高了檢測(cè)效果和效率。
以上所述實(shí)施例的各技術(shù)特征可以進(jìn)行任意的組合,為使描述簡(jiǎn)潔,未對(duì)上述實(shí)施例中的各個(gè)技術(shù)特征所有可能的組合都進(jìn)行描述,然而,只要這些技術(shù)特征的組合不存在矛盾,都應(yīng)當(dāng)認(rèn)為是本說明書記載的范圍。
以上所述實(shí)施例僅表達(dá)了本實(shí)用新型的幾種實(shí)施方式,其描述較為具體和詳細(xì),但并不能因此而理解為對(duì)實(shí)用新型專利范圍的限制。應(yīng)當(dāng)指出的是,對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說,在不脫離本實(shí)用新型構(gòu)思的前提下,還可以做出若干變形和改進(jìn),這些都屬于本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。因此,本實(shí)用新型專利的保護(hù)范圍應(yīng)以所附權(quán)利要求為準(zhǔn)。