本實用新型屬于電測試技術(shù)領(lǐng)域，涉及一種電測試裝置。

背景技術(shù)：

電測試即電性能測試，主要是測試基板線路的導(dǎo)通性及絕緣性，導(dǎo)通性測試是指通過測量同一網(wǎng)絡(luò)內(nèi)結(jié)點間的電阻值是否小于導(dǎo)通閾值從而判斷該線路是否有斷開現(xiàn)象，即通常所說的斷路；絕緣性測試是指通過測量不同網(wǎng)絡(luò)的結(jié)點間電阻值是否大于絕緣閾值從而判斷絕緣網(wǎng)絡(luò)是否有短路現(xiàn)象。目前，在對基板進(jìn)行電測試時，通常先將鍍銀線的一端與探針焊接在一起，組成電測線，之后將鍍銀線的另一端與電測儀表相連，同時使探針與測試點位接觸，進(jìn)行電測試。由于鍍銀線與探針的焊接過程通常為手工焊接，焊接精度要求高，若焊接不牢，或隨著測試時間的增加，焊接點容易斷開，影響電測試的準(zhǔn)確性。且電測試時通常采用幾根甚至幾十根電測線，大量的電測線交錯在一起，不僅占用了較多空間，使用時受到較大限制，且若其中一根電測線出現(xiàn)問題，需要花費大量時間對一堆雜亂的電測線進(jìn)行排查及檢修，測試效率低，使用壽命短，檢修頻繁，可靠性差。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本實用新型的目的就是為了克服上述現(xiàn)有技術(shù)存在的缺陷而提供一種可靠性好的電測試裝置。

本實用新型的目的可以通過以下技術(shù)方案來實現(xiàn)：

一種電測試裝置，該裝置包括連接板、設(shè)置在連接板上表面的PCB電路板以及設(shè)置在連接板下表面的夾持機(jī)構(gòu)，所述的PCB電路板上開設(shè)有過孔，所述的連接板上與過孔相對應(yīng)處開設(shè)有鏤空槽，該鏤空槽內(nèi)設(shè)有與過孔相適配的雙頭探針，所述的夾持機(jī)構(gòu)將待測試基板固定在連接板下方，雙頭探針將待測試基板與PCB電路板導(dǎo)通。

所述的夾持機(jī)構(gòu)包括設(shè)置在連接板下表面的夾持板、多個分別布設(shè)在夾持板兩端的彈簧定位筒、沿彈簧定位筒的軸向設(shè)置在彈簧定位筒內(nèi)的彈簧以及與彈簧定位筒的底端鉸接并與彈簧彈性連接的夾持塊。按壓夾持塊與彈簧相連的一端，彈簧受壓收縮，同時夾持塊另一端向下轉(zhuǎn)動，與夾持板之間的距離變大；之后將待測試基板放入夾持板與夾持塊之間，松開夾持塊與彈簧相連的一端，彈簧在其回復(fù)力的作用下恢復(fù)原狀，并將夾持塊與彈簧相連的一端向下頂出，使夾持塊另一端壓在待測試基板上，并與夾持板一起將待測試基板緊緊固定住。其中，彈簧定位筒能夠?qū)椈蛇M(jìn)行徑向限位。

所述的彈簧定位筒共設(shè)有4個，且均勻布設(shè)在夾持板的兩端。通過對待測試基板進(jìn)行四個點位的夾持，提高對待測試基板固定的牢靠性。

所述的連接板的下表面設(shè)有滑軌，該滑軌上設(shè)有滑塊，所述的夾持板與滑塊固定連接?；瑝K可沿滑軌滑動，由于待測試基板的尺寸往往不同，將待測試基板夾在夾持塊與夾持板之間后，移動夾持板，使滑塊在滑軌上移動，當(dāng)待測試基板的測試點位恰好位于鏤空槽下方時，停止移動夾持板。

所述的滑塊上設(shè)有定位螺栓。當(dāng)滑塊移動至合適的位置后，旋緊定位螺栓，將滑塊與滑軌固定在一起，防止電測試時滑塊的移動影響測試的穩(wěn)定性。

所述的鏤空槽內(nèi)設(shè)有泡沫塊。雙頭探針的一端與待測試基板上的測試點位相接觸，另一端與PCB電路板上的過孔相接觸，并通過過孔內(nèi)的導(dǎo)體層與PCB電路板上的電路電連接，為了防止雙頭探針在電測試時移動，在鏤空槽內(nèi)設(shè)置泡沫塊，并將雙頭探針穿過泡沫塊，通過泡沫塊對雙頭探針進(jìn)行固定，提高測試的穩(wěn)定性。

該裝置還包括與PCB電路板電連接的電測儀表。待測試基板通過雙頭探針與PCB電路板電連接，之后將電測儀表接入PCB電路板，對待測試基板的相關(guān)電性能進(jìn)行測試。其中，電測儀表包括電位差計、電阻計、電流表等。

本實用新型在實際應(yīng)用時，將待測試基板固定在夾持塊與夾持板之間，并調(diào)整夾持板的位置，使待測試基板的測試點位恰好位于鏤空槽下方；將雙頭探針的一端依次穿過過孔、鏤空槽內(nèi)的泡沫塊后與待測試基板的測試點位接觸，同時雙頭探針的另一端與過孔接觸；將電測儀表接入PCB電路板，對待測試基板的相關(guān)電性能進(jìn)行測試。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實用新型具有以下特點：

1)采用PCB電路板作為待測試基板與電測儀表之間的橋梁，并通過雙頭探針將待測試基板與PCB電路板導(dǎo)通，避免了電測線中鍍銀線與探針之間的手工焊接不牢造成的測試誤差，降低了維修率，可靠性好，提高了電測試的準(zhǔn)確性，且裝置體積小，占用空間少，并易于進(jìn)行排查檢修，使用壽命長；

2)只需根據(jù)不同待測試基板的不同測試點位，更換相應(yīng)的PCB電路板，即可應(yīng)用于不同待測試基板的電測試，靈活性好，且雙頭探針與PCB電路板為活動連接，當(dāng)PCB電路板或雙頭探針損壞后，只需更換PCB電路板或雙頭探針即可，避免了電測線中鍍銀線或探針更換之后還要重新手工焊接電測線的復(fù)雜操作，提高了測試效率和維修效率；

3)通過更換不同的電測儀表，可根據(jù)需要測試產(chǎn)品的高壓特性、短路或斷路等電性能。

附圖說明

圖1為實施例1中電測試裝置的整體結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為實施例1中夾持機(jī)構(gòu)的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖中標(biāo)記說明：

1—連接板、2—PCB電路板、3—夾持機(jī)構(gòu)、4—鏤空槽、5—雙頭探針、6—夾持板、7—彈簧定位筒、8—彈簧、9—夾持塊、10—滑軌。

具體實施方式

下面結(jié)合附圖和具體實施例對本實用新型進(jìn)行詳細(xì)說明。本實施例以本實用新型技術(shù)方案為前提進(jìn)行實施，給出了詳細(xì)的實施方式和具體的操作過程，但本實用新型的保護(hù)范圍不限于下述的實施例。

實施例1：

如圖1所示的一種電測試裝置，該裝置包括連接板1、設(shè)置在連接板1上表面的PCB電路板2以及設(shè)置在連接板1下表面的夾持機(jī)構(gòu)3，PCB電路板2上開設(shè)有過孔，連接板1上與過孔相對應(yīng)處開設(shè)有鏤空槽4，該鏤空槽4內(nèi)設(shè)有與過孔相適配的雙頭探針5，夾持機(jī)構(gòu)3將待測試基板固定在連接板1下方，雙頭探針5將待測試基板與PCB電路板2導(dǎo)通。

如圖2所示，夾持機(jī)構(gòu)3包括設(shè)置在連接板1下表面的夾持板6、4個分別布設(shè)在夾持板6兩端的彈簧定位筒7、沿彈簧定位筒7的軸向設(shè)置在彈簧定位筒7內(nèi)的彈簧8以及與彈簧定位筒7的底端鉸接并與彈簧8彈性連接的夾持塊9。連接板1的下表面設(shè)有滑軌10，該滑軌10上設(shè)有滑塊，夾持板6與滑塊固定連接?；瑝K上設(shè)有定位螺栓。鏤空槽4內(nèi)設(shè)有泡沫塊。該裝置還包括與PCB電路板2電連接的電測儀表。

裝置在實際應(yīng)用時，將待測試基板固定在夾持塊9與夾持板6之間，并調(diào)整夾持板6的位置，使待測試基板的測試點位恰好位于鏤空槽4下方；將雙頭探針5的一端依次穿過過孔、鏤空槽4內(nèi)的泡沫塊后與待測試基板的測試點位接觸，同時雙頭探針5的另一端與過孔接觸；將電測儀表接入PCB電路板2，對待測試基板的相關(guān)電性能進(jìn)行測試。

實施例2：

本實施例中，彈簧定位筒7共設(shè)有6個，且均勻布設(shè)在夾持板6的兩端，其余同實施例1。

上述的對實施例的描述是為便于該技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員能理解和使用實用新型。熟悉本領(lǐng)域技術(shù)的人員顯然可以容易地對這些實施例做出各種修改，并把在此說明的一般原理應(yīng)用到其他實施例中而不必經(jīng)過創(chuàng)造性的勞動。因此，本實用新型不限于上述實施例，本領(lǐng)域技術(shù)人員根據(jù)本實用新型的揭示，不脫離本實用新型范疇所做出的改進(jìn)和修改都應(yīng)該在本實用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。