本技術(shù)屬于氣門(mén)室蓋，尤其涉及一種汽車(chē)氣門(mén)室蓋密封性能測(cè)試方法及設(shè)備。

背景技術(shù)：

1、氣門(mén)室蓋是發(fā)動(dòng)機(jī)最上部分的密封構(gòu)件，位于氣缸蓋之上，與油底殼相對(duì)應(yīng)，共同將發(fā)動(dòng)機(jī)潤(rùn)滑油密閉起來(lái)，確保發(fā)動(dòng)機(jī)在運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)，潤(rùn)滑油不會(huì)泄露到外部。

2、相關(guān)技術(shù)中，為了降低成本，越來(lái)越多的生產(chǎn)廠家選擇用塑料生產(chǎn)氣門(mén)室蓋，由塑料制成的氣門(mén)室蓋在運(yùn)輸時(shí)可能會(huì)發(fā)生剮蹭或磕碰，導(dǎo)致表面出現(xiàn)裂縫或凹陷進(jìn)而導(dǎo)致機(jī)油滲漏，并且由于生產(chǎn)工藝，在生產(chǎn)的氣門(mén)室蓋的內(nèi)部可能會(huì)存在氣泡，在高溫和震動(dòng)下可能導(dǎo)致氣門(mén)室蓋破裂，使得密封性能下降。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本技術(shù)實(shí)施例提供了一種汽車(chē)氣門(mén)室蓋密封性能測(cè)試方法及設(shè)備，可以解決氣門(mén)室蓋表面存在裂縫或內(nèi)部存在氣泡使得氣門(mén)室蓋的密封性能下降導(dǎo)致發(fā)動(dòng)機(jī)性能下降或出現(xiàn)安全隱患的問(wèn)題。

2、第一方面，本技術(shù)實(shí)施例提供了一種汽車(chē)氣門(mén)室蓋密封性能測(cè)試方法，包括：

3、所述汽車(chē)氣門(mén)室蓋密封性能測(cè)試設(shè)備獲取氣門(mén)室蓋物理信息；其中，所述氣門(mén)室蓋物理信息包括反映所述氣門(mén)室蓋的物理特征的信息；

4、所述汽車(chē)氣門(mén)室蓋密封性能測(cè)試設(shè)備基于所述氣門(mén)室蓋物理信息得到缺陷分析信息；其中，所述缺陷分析信息包括反映所述氣門(mén)室蓋存在的缺陷的信息；

5、所述汽車(chē)氣門(mén)室蓋密封性能測(cè)試設(shè)備基于所述缺陷分析信息得到性能檢測(cè)信息；其中，所述性能檢測(cè)信息包括反映所述氣門(mén)室蓋的密封性能的信息。

6、本技術(shù)實(shí)施例中上述的技術(shù)方案，至少具有如下技術(shù)效果：

7、本技術(shù)實(shí)施例提供的汽車(chē)氣門(mén)室蓋密封性能測(cè)試方法，通過(guò)先獲取包括反映氣門(mén)室蓋的物理特征的信息的氣門(mén)室蓋物理信息，能夠更直觀的觀察和分析汽車(chē)氣門(mén)室蓋并為后續(xù)步驟提供依據(jù)。然后基于氣門(mén)室蓋物理信息得到包括反映氣門(mén)室蓋存在的缺陷的信息的缺陷分析信息，將汽車(chē)氣門(mén)室蓋存在的缺陷列舉出來(lái)并對(duì)這些缺陷進(jìn)行分析，判斷是否存在會(huì)影響汽車(chē)氣門(mén)室蓋密封性能的缺陷，避免氣門(mén)室蓋表面存在裂縫或內(nèi)部存在氣泡使得氣門(mén)室蓋的密封性能下降導(dǎo)致發(fā)動(dòng)機(jī)性能下降或出現(xiàn)安全隱患的問(wèn)題。再基于缺陷分析信息得到包括反映氣門(mén)室蓋的密封性能的信息的性能檢測(cè)信息，使用戶更加直觀的了解該氣門(mén)室蓋的密封性能等級(jí)，輔助用戶判斷該氣門(mén)室蓋能夠正常使用。

8、在第一方面的一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，在所述獲取氣門(mén)室蓋物理信息之前，所述汽車(chē)氣門(mén)室蓋密封性能測(cè)試方法還包括：

9、控制清潔裝置對(duì)所述氣門(mén)室蓋進(jìn)行清潔，去除所述氣門(mén)室蓋表面的雜質(zhì)后控制清潔裝置去除所述氣門(mén)室蓋表面的水分；其中，所述雜質(zhì)為不屬于所述氣門(mén)室蓋本身的顆粒物或液體。

10、在第一方面的一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述獲取氣門(mén)室蓋物理信息，包括：

11、獲取氣門(mén)室蓋模型；其中，所述氣門(mén)室蓋模型為反映所述氣門(mén)室蓋的內(nèi)部物理情況的數(shù)字三維模型；

12、獲取圖像信息；其中，?所述圖像信息包括至少一張反映所述氣門(mén)室蓋表面物理情況的圖像；

13、將所述氣門(mén)室蓋模型和所述圖像信息確認(rèn)為所述氣門(mén)室蓋物理信息。

14、在第一方面的一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述獲取氣門(mén)室蓋模型，包括：

15、向掃描裝置發(fā)送第一控制指令；其中，所述第一控制指令用于指示所述掃描裝置對(duì)所述氣門(mén)室蓋進(jìn)行掃描，所述掃描裝置是能夠掃描所述氣門(mén)室蓋內(nèi)部結(jié)構(gòu)的裝置；

16、接收所述掃描裝置發(fā)送的掃描數(shù)據(jù)，并基于所述掃描數(shù)據(jù)得到所述氣門(mén)室蓋模型；其中，所述氣門(mén)室蓋模型包括反映所述氣門(mén)室蓋的內(nèi)部物理結(jié)構(gòu)的三維模型和多個(gè)特征點(diǎn)，每個(gè)所述特征點(diǎn)與所述氣門(mén)室蓋表面的一個(gè)位置或區(qū)域相對(duì)應(yīng)。

17、在第一方面的一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述獲取圖像信息，包括：

18、向圖像獲取裝置發(fā)送第二控制指令；其中，所述第二控制指令用于指示所述圖像獲取裝置對(duì)所述氣門(mén)室蓋進(jìn)行拍照，所述圖像獲取裝置是能夠獲取所述氣門(mén)室蓋表面圖像的裝置；

19、接收并將所述圖像獲取裝置發(fā)送的多張表面圖像確認(rèn)為所述圖像信息；其中，所述表面圖像包括與所述特征點(diǎn)數(shù)量相同，且與所述特征點(diǎn)反映的所述氣門(mén)室蓋表面的位置或區(qū)域相對(duì)應(yīng)的定位點(diǎn)。

20、在第一方面的一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述基于所述氣門(mén)室蓋物理信息得到缺陷分析信息，包括：

21、將所述氣門(mén)室蓋物理信息包含的所述圖像信息中的所述表面圖像分別輸入至圖像缺陷識(shí)別模型中，得到圖像缺陷信息；其中，所述圖像缺陷識(shí)別模型是通過(guò)機(jī)器學(xué)習(xí)得到的數(shù)據(jù)模型，所述圖像缺陷信息包括多張所述表面圖像、分別標(biāo)注在所述表面圖像上的至少一個(gè)第一缺陷信息和多個(gè)所述定位點(diǎn)，所述第一缺陷信息包括通過(guò)所述圖像缺陷識(shí)別模型得到的圖像缺陷范圍和與所述圖像缺陷范圍相對(duì)應(yīng)的像素?cái)?shù)值；

22、將所述氣門(mén)室蓋物理信息包含的所述氣門(mén)室蓋模型輸入至內(nèi)部缺陷識(shí)別模型中，得到內(nèi)部缺陷信息；其中，所述內(nèi)部缺陷識(shí)別模型是通過(guò)機(jī)器學(xué)習(xí)得到的數(shù)據(jù)模型，所述內(nèi)部缺陷信息包括所述氣門(mén)室蓋模型、標(biāo)注在所述氣門(mén)室蓋模型上的至少一個(gè)第二缺陷信息和多個(gè)所述特征點(diǎn)，所述第二缺陷信息包括通過(guò)所述內(nèi)部缺陷識(shí)別模型得到的內(nèi)部缺陷范圍和與所述內(nèi)部缺陷范圍相對(duì)應(yīng)的像素?cái)?shù)值；

23、基于所述圖像缺陷信息和所述內(nèi)部缺陷信息得到所述缺陷分析信息。

24、在第一方面的一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述基于所述圖像缺陷信息和所述內(nèi)部缺陷信息得到所述缺陷分析信息，包括：

25、將所述圖像缺陷信息中的所述表面圖像疊加在所述圖像缺陷信息中的所述氣門(mén)室蓋模型的表面，且將每個(gè)所述定位點(diǎn)反映的所述氣門(mén)室蓋表面的位置或區(qū)域與相對(duì)應(yīng)的所述特征點(diǎn)反映的所述氣門(mén)室蓋表面的位置或區(qū)域相重合得到仿真模型；其中，所述仿真模型包括多個(gè)所述第一缺陷信息和多個(gè)所述第二缺陷信息；

26、基于所述仿真模型得到所述缺陷分析信息。

27、在第一方面的一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述基于所述仿真模型得到所述缺陷分析信息，包括：

28、判斷全部的所述第一缺陷信息中是否存在所述圖像缺陷范圍相對(duì)應(yīng)的像素?cái)?shù)值大于第一預(yù)設(shè)數(shù)值；

29、若存在所述第一缺陷信息中所述圖像缺陷范圍相對(duì)應(yīng)的像素?cái)?shù)值大于第一預(yù)設(shè)數(shù)值，則得到反映所述氣門(mén)室蓋表面結(jié)構(gòu)不合格的第一分析信息；若不存在所述第一缺陷信息中所述圖像缺陷范圍相對(duì)應(yīng)的像素?cái)?shù)值大于第一預(yù)設(shè)數(shù)值，則將全部所述第一缺陷信息中的所述圖像缺陷范圍相對(duì)應(yīng)的像素?cái)?shù)值相加后除以所述仿真模型表面所占的像素?cái)?shù)值后得到的數(shù)值確認(rèn)為第一分析信息；

30、判斷全部的所述第二缺陷信息中是否存在所述內(nèi)部缺陷范圍相對(duì)應(yīng)的像素?cái)?shù)值大于第二預(yù)設(shè)數(shù)值；

31、若存在所述第二缺陷信息中所述內(nèi)部缺陷范圍相對(duì)應(yīng)的像素?cái)?shù)值大于第二預(yù)設(shè)數(shù)值，則得到反映所述氣門(mén)室蓋內(nèi)部結(jié)構(gòu)不合格的第二分析信息；若不存在所述第二缺陷信息中所述內(nèi)部缺陷范圍相對(duì)應(yīng)的像素?cái)?shù)值大于第二預(yù)設(shè)數(shù)值，則基于所述仿真模型得到第二分析信息；

32、將所述第一分析信息和所述第二分析信息確認(rèn)為所述缺陷分析信息。

33、在第一方面的一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述基于所述仿真模型得到第二分析信息，包括：

34、分別判斷所述仿真模型中的各個(gè)所述內(nèi)部缺陷范圍相對(duì)應(yīng)的第一缺陷距離數(shù)值是否大于第一預(yù)設(shè)距離數(shù)值；其中，所述第一缺陷距離數(shù)值為所述內(nèi)部缺陷范圍與所述表面圖像之間的最短距離的數(shù)值；

35、若所述仿真模型中存在所述內(nèi)部缺陷范圍相對(duì)應(yīng)的第一缺陷距離數(shù)值小于第一預(yù)設(shè)距離數(shù)值，則得到反映所述氣門(mén)室蓋內(nèi)部結(jié)構(gòu)不合格的所述第二分析信息；

36、若所述仿真模型中不存在所述內(nèi)部缺陷范圍相對(duì)應(yīng)的第一缺陷距離數(shù)值小于第一預(yù)設(shè)距離數(shù)值，則分別判斷仿真模型中的各個(gè)所述內(nèi)部缺陷范圍在第二缺陷范圍內(nèi)是否與其他至少一個(gè)所述內(nèi)部缺陷范圍發(fā)生接觸；其中，所述第二缺陷范圍為以所述內(nèi)部缺陷范圍的重心為中心，放大m倍的范圍，m為正數(shù)，m≥1.5；

37、若所述內(nèi)部缺陷范圍在第二缺陷范圍內(nèi)與其他至少一個(gè)所述內(nèi)部缺陷范圍發(fā)生接觸，則得到反映所述氣門(mén)室蓋內(nèi)部結(jié)構(gòu)不合格的所述第二分析信息；若所述內(nèi)部缺陷范圍在第二缺陷范圍內(nèi)不與其他所述內(nèi)部缺陷范圍發(fā)生接觸，則將全部所述內(nèi)部缺陷范圍相對(duì)應(yīng)的所述像素?cái)?shù)值相加后除以所述仿真模型的體積所占的像素?cái)?shù)值后得到的數(shù)值確認(rèn)為第二分析信息。

38、在第一方面的一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，將所述缺陷分析信息中的所述第一分析信息相對(duì)應(yīng)的數(shù)值和所述第二分析信息相對(duì)應(yīng)的數(shù)值在預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)庫(kù)中進(jìn)行檢索，得到與所述第一分析信息相對(duì)應(yīng)的數(shù)值和所述第二分析信息相對(duì)應(yīng)的數(shù)值相對(duì)應(yīng)的性能評(píng)估等級(jí)；其中，所述性能評(píng)估等級(jí)反映所述氣門(mén)室蓋的密封性能，所述第一分析信息相對(duì)應(yīng)的數(shù)值和所述第二分析信息相對(duì)應(yīng)的數(shù)值越小，所述性能評(píng)估等級(jí)反映的所述氣門(mén)室蓋的密封性能越好；

39、將所述性能評(píng)估等級(jí)確認(rèn)為所述性能檢測(cè)信息。

40、第二方面，本技術(shù)實(shí)施例提供了一種汽車(chē)氣門(mén)室蓋密封性能測(cè)試系統(tǒng)，包括：

41、獲取單元，用于獲取氣門(mén)室蓋物理信息；其中，所述氣門(mén)室蓋物理信息包括反映所述氣門(mén)室蓋的物理信息；

42、第一分析單元，用于基于所述氣門(mén)室蓋物理信息得到缺陷分析信息；其中，所述缺陷分析信息包括反映所述氣門(mén)室蓋存在的缺陷的信息；

43、第二分析單元，用于基于所述缺陷分析信息得到性能檢測(cè)信息；其中，所述性能檢測(cè)信息包括反映所述氣門(mén)室蓋的密封性能的信息

44、第三方面，本技術(shù)實(shí)施例提供了一種汽車(chē)氣門(mén)室蓋密封性能測(cè)試設(shè)備，包括存儲(chǔ)器、處理器以及存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器中并可在所述處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序，所述處理器執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序時(shí)實(shí)現(xiàn)上述第一方面中任一項(xiàng)所述的方法。

45、第四方面，本技術(shù)實(shí)施例提供了一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，所述計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)上述第一方面中任一項(xiàng)所述的方法。

46、第五方面，本技術(shù)實(shí)施例提供了一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品，當(dāng)計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品在汽車(chē)氣門(mén)室蓋密封性能測(cè)試設(shè)備上運(yùn)行時(shí)，使得汽車(chē)氣門(mén)室蓋密封性能測(cè)試設(shè)備執(zhí)行上述第一方面中任一項(xiàng)所述的汽車(chē)氣門(mén)室蓋密封性能測(cè)試方法。

47、可以理解的是，上述第二方面至第五方面的有益效果可以參見(jiàn)上述第一方面中的相關(guān)描述，在此不再贅述。