專利名稱：井像測井方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是一種用于地球物理測井中的測井方法，更具體地說是在電法測井的理論基礎(chǔ)上的一種新方法，用這種方法測出的原始測井曲線，可以繪制出測井井像圖，以達到真實、直觀形象地反映出井下地質(zhì)剖面變化的圖像。
常規(guī)的電法測井主要有電位電極測井和梯度電極測井等，這類測井方法是把井下測井設(shè)備-電極系放入井內(nèi)，測量井內(nèi)巖層電阻率變化的曲線，用以研究井所穿過的地質(zhì)剖面的油、氣、水層及巖性剖面。已有技術(shù)中的電極系是由發(fā)射電極和接收電極構(gòu)成(見附

圖1)，在發(fā)射電極中，一個電極B設(shè)置在地面，另一個電極A放入井內(nèi)，放入井內(nèi)的發(fā)射電極A也稱之為供電電極。它由地面裝置發(fā)射電流，在巖層中造成人工電場，一組接收電極M、N也稱之為測量電極，這種測量電極M、N通常設(shè)置在供電電極A的一側(cè)(見附圖2)，有時可設(shè)置在供電電極的頂部，有時可設(shè)置在供電電極的底部，同時測量電極和供電電極可以互換，如圖2中的梯度電極系，M、N;B、A位置互換，但無論怎樣設(shè)置，成對電極組均設(shè)置在單電極的一側(cè)。這種測量電極位置的設(shè)置用以接收和測量巖層在人工電場中M、N兩點的電位差，由此而獲取的井下測井曲線，計算出巖層的電阻率，這種測量方法直接測量的物理量是地層剖面上視電阻率，測量出的測井曲線均顯示在曲線零點的右側(cè)，即視電阻率無零值點，測井曲線其邊界處無明顯特征，顯示不出正負極值，因此這類曲線不能逐點反映出井下視電阻率的真實值。
本發(fā)明在電法測量的基礎(chǔ)上，提供出一種井像測井方法。該方法包括1、井像測井電極系的設(shè)置，2、井像測井解釋方法，3、繪制測井井像圖。該方法的井下電極系位置的設(shè)置與已有技術(shù)不同，它的供電電極位于測量電極的中間，即測量電極以供電電極為中心對稱設(shè)置，兩個測量電極與供電電極之間的距離相等，從而獲取出一種原始井像測井曲線。根據(jù)井像測井解釋方法將原始井像測井曲線解釋為測井井像圖。這種測井井像圖是根據(jù)井下視電阻率的變化的相對值，把地層界面位置與電阻率值兩種物理量統(tǒng)一在一個曲線形態(tài)中，這種測井井像圖可以直觀地反映出地質(zhì)剖面上任意一點的視電組率變化的真實值，從而達到準確而又簡單地劃分地層深度和地層厚度，從而解釋出油、氣、水層。這種井像測井圖對于研究薄層、非均質(zhì)互層組、扣夾層、沉積旋迴以及定量求解地層參數(shù)都有良好的效果。
附圖1是已有技術(shù)中電法測井的井下電極設(shè)置示意圖。
附圖2是已有技術(shù)中梯度電極系與電位電極系供電電極與測量電極位置設(shè)置示意圖。
附圖3是井像測井電極系供電電極與測量電極位置設(shè)置示意圖。
附圖4是井像測井電極系多組對稱設(shè)置位置示意圖。
附圖5是井像測井方法解釋圖版集之一。
附圖6-a是原始井像測井曲線圖。
附圖6-b是根據(jù)井像測井解釋方法做出的測井井像圖。
下面結(jié)合附圖作以詳細說明從附圖3可以看出井像測井方法是把供電電極A置于一組測量電極的中心部位，即兩測量電極以供電電極為中心對稱設(shè)置，這兩個測量電極與供電電極之間的距離相等。從附圖4可以看出，根據(jù)井像測井方法的需要，可以以供電電極為中心對稱設(shè)置多組測量電極。由井像測井方法而獲得井下巖層界面視電阻率變化的相對值。從附圖6-a的原始井像測井曲線中可以看出，該原始測井曲線在地層邊界處呈極大值，在上下電性對稱點出現(xiàn)零值，根據(jù)井像測井解釋方法，可以把地層邊界位置與電阻率物理量統(tǒng)一在一個曲線形態(tài)中，做出測井井像圖6-b。
井像測井解釋方法1、地層厚度的劃分根據(jù)井像測井原始曲線圖6-a，可以看出地層上下邊界處呈正負極大值，由圖6-a上的極大值1點和2點處劃出地層邊界。1點對應(yīng)的井深為913米，曲線2點井深為915米，根據(jù)兩點對應(yīng)的井深，便可簡單地計算出地層厚度2米。
2、測井井像圖中曲線的極大幅度值表征為相鄰兩地層電阻率的差值△Ri。
(1)采用附圖5井像測井方法解釋圖版，找出已知地層厚度H＝2米(設(shè)d＝1)，地層邊界極大值1點的讀值為-a(常數(shù))，2點的讀值為+b(常數(shù))，用圖版求出△R1，△R2值，△R1＝17，△R2＝38。
(2)求井像測井曲線在互層組中的電阻率值Ri，井像測井方法在互層組中任意層的電阻率方程公式為Ri＝Ro±△R1±△R2±△R3±…±△Ri(1)或?qū)懽鱎i =Ro ±Σi = 1n△Ri]]>其中Ri為第i地層視電阻率;
Ro為第o地層視電阻率;
△R1為第o層與第一層視電阻率之差，即△R1＝R1-Ro;
△R2為第一層與第二層視電阻率之差，即△R2＝R2-R1;
△R3為第二層與第三層視電阻率之差，即△R3＝R3-R2;
△Ri＝Ri+1-Ri。
該方法是采用遞推法(遞減法或遞增法)預(yù)求目的層電阻率Ri時，首先應(yīng)知道互層組的起始端Ro的電阻率，再求出各種相鄰層電阻率差值，根據(jù)實例圖6-a，目的層的電阻率值按Ri =Ro ±Σi = 1n△Ri]]>公式求出。
R1＝10R2＝7R3＝1權(quán)利要求
1.一種井像測井方法，該方法包括a、井下電極系的位置設(shè)置為兩個測量電極為中心對稱設(shè)置，兩個測量電極與供電電極之間的距離相等；b、用井像測井解釋方法進行測井井像圖的圖的解釋；c、測井井像圖中的地層邊界位置與電阻率物理量統(tǒng)一在一個曲線形態(tài)中，作出測井井像圖。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的井像測井方法，其特征在于以供電電極為中心，上下等距離對稱設(shè)置多組測量電極。
3.根據(jù)權(quán)利要求所述的井像測井方法，其特征在于原始井像曲線圖在地層邊界處呈正、負極大值。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的井像測井方法，其特征在于原始井像圖在上下電性對稱點出現(xiàn)零值。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的井像測井方法，還應(yīng)包括a、根據(jù)原始井像曲線在地層邊界處呈正、負極大值，依此劃分出地層上下邊界得到地層厚度和地層深度;b、根據(jù)已知的地層厚度，利用井像測井方法的解釋圖版，求出相鄰油層電阻率差值;c、采用遞推法，求出井像測井在互層組中任意層的視電阻阻率。
全文摘要
本發(fā)明是一種用于地球物理測井中的測井方法、該方法包括井像測井電極系的設(shè)置；井像測井的解釋方法繪制測井井像圖。該方法的井下電極系位置的設(shè)置是測量電極以供電電極為中心對稱設(shè)置，從而獲取出一種原始井像測井曲線，根據(jù)井像測井解釋方法而繪制出測井井像圖，從而達到準確而又簡單地劃分地層深度和地層厚度，解釋出油、氣、水層。
文檔編號G01V1/40GK1040412SQ8810499
公開日1990年3月14日 申請日期1988年8月18日 優(yōu)先權(quán)日1988年8月18日
發(fā)明者王紹民, 張志學(xué), 裘懌楠, 杜文亭, 褚人杰, 金焰, 沈聯(lián)蒂, 張西, 劉明新 申請人:石油部勘探開發(fā)科學(xué)研究院油氣田開發(fā)研究所