專利名稱：抗強(qiáng)電場(chǎng)干擾校正儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是一種供電系統(tǒng)高壓設(shè)備檢測(cè)用抗強(qiáng)電場(chǎng)干擾校正儀。
目前在110KV至550KV變電站內(nèi)對(duì)部分停電設(shè)備的電絕緣介質(zhì)損失角與電容量測(cè)試，大都使用上海電表廠生產(chǎn)的QS1型交流電橋來進(jìn)行測(cè)試時(shí)，經(jīng)常會(huì)遇到強(qiáng)電場(chǎng)和超強(qiáng)電場(chǎng)的干擾，其干擾電流(Ig1)是由被試品(CX)首端及聯(lián)接導(dǎo)線經(jīng)空間偶合而產(chǎn)生的干擾電流，它的分量相當(dāng)大，但對(duì)試驗(yàn)回路無影響。由于干擾電流(Ig1，Ig2)與試驗(yàn)電源迭加作用于試驗(yàn)回路，所以其影響也可忽略。干擾源與被試品(CX)中的部分元件因偶合而產(chǎn)生的干擾電流，與干擾源經(jīng)QS1型交流電橋(1)引線到被試品(CX)下端通過空間偶合產(chǎn)生的干擾電流之和為(Ig3)，由于被試設(shè)備遠(yuǎn)離地面，空間感應(yīng)電壓高，被試品又是一分布參數(shù)元件，且無屏蔽，表面積又叁，使QS1型交流電橋(1)對(duì)電絕緣介質(zhì)損失角與電容量的測(cè)量準(zhǔn)確度受到影響。采用倒相法和公式計(jì)算法也會(huì)帶來難以置信的誤差。用電源移相結(jié)合倒相法也很難使被試品(CX)中的試驗(yàn)電流與干擾電流(Ig3)同相或反相達(dá)到平衡，因此都不能滿足準(zhǔn)確測(cè)量的需要。
本發(fā)明的任務(wù)是提出一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，與現(xiàn)有技術(shù)相比成本低，而能抗強(qiáng)電場(chǎng)或超強(qiáng)電場(chǎng)干擾與QS1型交流電橋(1)組成一個(gè)共同檢測(cè)用的抗強(qiáng)電場(chǎng)干擾校正儀。
本發(fā)明目的可通過以下措施來達(dá)到抗強(qiáng)電場(chǎng)干擾校正儀(2)的特征是采用阻容移相電路來消除干擾源與被試品(CX)中部分元件因耦合而產(chǎn)生的干擾電流及干擾源經(jīng)QS1型交流電橋(1)引線到被試品(CX)下端A點(diǎn)通過空間耦合產(chǎn)生的干擾電源之和(Ig3)，使阻容移相電路的電流幅值與干擾電流(Ig3)相當(dāng)，相位完全相反，從而達(dá)到校正介質(zhì)損失角tgα和電容的測(cè)量誤差的目的。
抗強(qiáng)電場(chǎng)干擾校正儀(2)的阻容移相電路內(nèi)設(shè)有分壓電阻(RF1，RF2)，二者阻值相等。移相粗調(diào)電阻(RY1)和移相微調(diào)電阻(RY2)的電阻值比為110，選擇大功率的移相電阻，以免在趨向小阻值狀態(tài)時(shí)過載嚴(yán)重。根據(jù)被試品(CX)的不同電容量，即QS1型交流電橋(1)中電阻箱(R3)所處阻值的范圍來確定阻容移相電路輸出電壓幅值及電阻。輸出電壓幅值用粗調(diào)幅值電阻(RZ1)和細(xì)調(diào)幅值電阻(RZ2)進(jìn)行，輸出電阻(Rr1、Rr2、Rr3、Rr4)與QS1型交流電橋(1)的電阻箱(R3)并聯(lián)，其阻值為(Rr1、Rr2、Rr3、Rr4)≥100(R3)。由于QS1型交流電橋(1)內(nèi)裝有限流電容，使低壓測(cè)試電路電壓在90V－80V之間，因此在阻容移相電路內(nèi)裝一雙刀雙擲刀閘(K1)及移相電容(CY)，從而使移相范圍達(dá)350°－360°。
抗強(qiáng)電場(chǎng)干擾校正儀，(2)從QS1型交流電橋(1)的低壓測(cè)試回路(XC)和(E)間獲取電源，節(jié)省了變壓器，使整個(gè)儀器體積小，重量輕，使用方便。
本發(fā)明附圖和實(shí)施例說明如下

圖1、干擾電流分布狀態(tài)圖圖中 試驗(yàn)變壓器(T1)、高壓標(biāo)準(zhǔn)電容器(CN)。
被試品(｜CX)、檢流計(jì)(G)、電阻箱(R3)。
電容箱(C4)、固定電阻(R4)，干擾電流(Ig1、Ig2、Ig3、Ig4)。
圖2，抗強(qiáng)電場(chǎng)干擾校正儀線路圖。圖中有倒相開關(guān)K1，分壓電阻(RF1、RF2)、粗調(diào)幅值電阻(RZ1)，細(xì)調(diào)幅值電阻(RZ2)、輸出電阻(Rr1、Rr2、Rr3、Rr4)，波段開關(guān)(K2)。
圖3，正接法測(cè)試線路圖，圖中有QS1型交流電橋(1)、抗強(qiáng)電場(chǎng)干擾校正儀(2)，QS1型交流電橋測(cè)試回路(3)，試驗(yàn)變壓器(4)。
本發(fā)明結(jié)合實(shí)施例作進(jìn)一步詳述抗強(qiáng)電場(chǎng)干擾校正儀(2)裝在長(zhǎng)200毫米，寬50毫米，高60毫米的金屬盒內(nèi)，面板上設(shè)有移相粗調(diào)、細(xì)調(diào)旋紐、幅值粗調(diào)，細(xì)調(diào)旋紐，輸出內(nèi)阻段開關(guān)K2和倒相開關(guān)K1。檢測(cè)時(shí)，首先將被試品(CX)高壓端接地，按正接法連接QS1型交流電橋測(cè)試回路(3)，高壓回路不加壓。被試品(CX)的低壓端接入QS1型交流電橋的(XC)端。抗強(qiáng)電場(chǎng)干擾校正儀(2)輸出端插入QS1型交流電橋(1)的(E)端和(XC)端，接通QS1型交流電橋(1)電源。分別調(diào)節(jié)抗強(qiáng)電場(chǎng)干擾校儀(2)的幅值及移相電阻旋紐，調(diào)節(jié)QS1型交流電橋(1)的檢流計(jì)(G)并使其光帶縮至最細(xì)，觀察干擾電流的強(qiáng)度及校正度。當(dāng)光帶不再收縮時(shí)，將抗強(qiáng)電場(chǎng)干擾校正儀(2)輸出端并聯(lián)在QS1型交流電橋測(cè)試回路(3)中的電阻箱(R3)兩端，此時(shí)，強(qiáng)電場(chǎng)干擾電流(Ig3)的作用全部被抵消。將被試品(CX)高壓接地拆除，加上額定試驗(yàn)電壓，按正常測(cè)量介質(zhì)損失角tgα的方法進(jìn)行測(cè)試。當(dāng)測(cè)出的正反極性介質(zhì)損失角tgα值一致時(shí)，即為校正后測(cè)量的正確數(shù)據(jù)。
抗強(qiáng)電場(chǎng)干擾校正儀(2)體積小，重量輕，使用方便，在強(qiáng)電場(chǎng)或超強(qiáng)電場(chǎng)干擾下，與QS1型交流電橋(1)配合使用，測(cè)量準(zhǔn)確可靠，可廣泛應(yīng)用在供電系統(tǒng)變電站對(duì)高壓設(shè)備的介質(zhì)損失角和容量測(cè)試。
權(quán)利要求1.一種供電系統(tǒng)高壓設(shè)備檢測(cè)用抗強(qiáng)電場(chǎng)干擾校正儀(2)，與QS1型交流電橋配合使用，采用阻容移相電路，包括分壓電阻RF1和RF2，在移相粗調(diào)電阻RY1和微調(diào)電阻RY2與移相電容CY之間，接有電壓幅值粗調(diào)電阻RZ1和微調(diào)電阻RZ2，波段開關(guān)K2與輸出電阻Rr1、Rr2、Rr3、Rr4相接，本實(shí)用新型的特征是倒相開關(guān)K1一端與分壓電阻RF1和RF2連接，另一端與QS1型交流電橋(1)的低壓測(cè)試回路E端和Xc端并聯(lián)。
2.根據(jù)權(quán)利要求(1)所述的抗強(qiáng)電場(chǎng)干擾校正儀(2)，其特征是分壓電阻RF1和RF2阻值相等。
3.根據(jù)權(quán)利要求(1)所述的抗強(qiáng)電場(chǎng)干擾校正儀(2)，其特征是輸出電阻Rr1、Rr2、Rr3、Rr4＞＝100R3。
4.根據(jù)權(quán)利要求(1)所述的抗強(qiáng)電場(chǎng)干擾校正儀(2)，其特征是移相粗調(diào)電阻RY1和微調(diào)電阻RY2的阻值比為110。
5.根據(jù)權(quán)利要求(1)所述的抗強(qiáng)電場(chǎng)干擾校正儀(2)，其特征是從QS1型交流電橋(1)的低壓測(cè)試回路Xc和E間獲取電源。
專利摘要一種供電系統(tǒng)高壓設(shè)備檢測(cè)用抗強(qiáng)電場(chǎng)干擾校正儀(2)，與QS1型交流電橋配合使用，采用阻容移相電路，在移相電阻RY1、RY2和移相電容CY間，接有電壓幅值電阻RZ1和RZ2；波段開關(guān)K2與輸出電阻Rr1、Rr2、Rr3、Rr4連接。倒相開關(guān)K1分別與分壓電阻RF1、RF2及QS1型交流電橋(1)低壓測(cè)試回路E端和Xc端并聯(lián)，以獲取電源。
文檔編號(hào)G01R27/26GK2061296SQ8921943
公開日1990年8月29日 申請(qǐng)日期1989年11月7日 優(yōu)先權(quán)日1989年11月7日
發(fā)明者陳章龍, 蔣德平, 何大為 申請(qǐng)人:揚(yáng)州供電局