一種天線檢測(cè)系統(tǒng)及裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明屬于天線測(cè)試領(lǐng)域，尤其涉及一種天線檢測(cè)系統(tǒng)及裝置。
[0002]
【背景技術(shù)】
[0003]天線的駐波比不利于信號(hào)的發(fā)射，在無(wú)線電通信中，天線與饋線的阻抗不匹配或天線與發(fā)射機(jī)的阻抗不匹配，高頻能量就會(huì)產(chǎn)生發(fā)射折回，并與前進(jìn)的部分干擾匯合，發(fā)生駐波，之所以駐波的危害大，是因?yàn)榘l(fā)射傳輸給天線，會(huì)有一部分電波被反射回來(lái)，最終產(chǎn)生熱量，使得饋線升溫，反射電波在發(fā)射臺(tái)輸出口也可以產(chǎn)生相當(dāng)高的電壓，有可能損壞電臺(tái)。
[0004]而目前的天線檢測(cè)電路復(fù)雜，不能在進(jìn)行駐波比測(cè)試時(shí)自動(dòng)進(jìn)行不同區(qū)域的測(cè)試，需要人工一個(gè)區(qū)域一個(gè)區(qū)域的進(jìn)行測(cè)試，浪費(fèi)人力物力，效率低下。
[0005]

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]本發(fā)明提供了一種天線檢測(cè)系統(tǒng)，旨在解決現(xiàn)有進(jìn)行天線檢測(cè)測(cè)試時(shí)需要一個(gè)區(qū)域一個(gè)區(qū)域進(jìn)行手動(dòng)切換，造成人力物力浪費(fèi)的問(wèn)題。
[0007]為了解決上述技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明是這樣實(shí)現(xiàn)的:一種天線檢測(cè)系統(tǒng)，與電源連接，所述天線檢測(cè)系統(tǒng)包括:
測(cè)試模塊，分別置于預(yù)設(shè)區(qū)域，用于在進(jìn)行天線測(cè)試時(shí)時(shí)對(duì)所述預(yù)設(shè)區(qū)域的駐波比進(jìn)行測(cè)試；
檢測(cè)電路，與所述電源以及所述測(cè)試模塊連接，用于在進(jìn)行天線測(cè)試或校準(zhǔn)所述天線檢測(cè)系統(tǒng)時(shí)控制所述測(cè)試模塊與所述電源進(jìn)行連接或者斷開(kāi)。
[0008]進(jìn)一步地，所述檢測(cè)電路包括:第一控制單元、第二控制單元、開(kāi)關(guān)單元以及驅(qū)動(dòng)電路；
所述第一控制單元的輸出端與所述驅(qū)動(dòng)電路的輸入端連接，用于在進(jìn)行天線測(cè)試時(shí)根據(jù)預(yù)設(shè)程序輸出控制所述驅(qū)動(dòng)電路工作的第一控制信號(hào)；
所述第二控制單元的輸入端與所述電源連接，輸出端與所述驅(qū)動(dòng)電路的輸入端連接，用于在對(duì)所述天線檢測(cè)系統(tǒng)進(jìn)行校準(zhǔn)時(shí)控制所述驅(qū)動(dòng)電路工作的第二控制信號(hào)；
所述驅(qū)動(dòng)電路的輸入端與所述第一控制單元輸出端以及所述第二控制單元輸出端連接，輸出端與所述開(kāi)關(guān)單元的控制端連接，電源端與所述電源連接；
所述開(kāi)關(guān)單元的電源端與所述電源連接，輸出端分別與所述測(cè)試模塊連接，用于根據(jù)所述第一控制信號(hào)或所述第二控制信號(hào)控制所述測(cè)試模塊與所述電源進(jìn)行連接或者斷開(kāi)。
[0009]進(jìn)一步地，所述第一控制單元為微處理器MCU，所述第二控制單元為數(shù)碼開(kāi)關(guān)。
[0010]進(jìn)一步地，所述開(kāi)關(guān)單元為電子開(kāi)關(guān)；
所述電子開(kāi)關(guān)的電源端與所述電源連接，所述電子開(kāi)關(guān)的控制端與所述驅(qū)動(dòng)電路的輸出端連接，所述電子開(kāi)關(guān)的輸出端與所述測(cè)試模塊連接。
[0011]進(jìn)一步地，所述驅(qū)動(dòng)電路包括:第一電容、第二電容、第一電阻、第二電阻、第三電阻、第一 NPN三極管、第一 PMOS管、第一穩(wěn)壓管；
所述第一電阻的第一端為所述驅(qū)動(dòng)電路的輸入端，所述第一電阻的第二端與所述第一NPN三極管的基極以及所述第一電容的第一端連接，所述第一電容的第二端接地，所述第一NPN型三極管的集電極與所述第二電阻的第一端以及所述第一 PMOS管的柵極連接，所述第二電阻的第二端和所述第一 PMOS管的源極與所述電源連接，所述第一 PMOS管的漏極與所述第三電阻的第一端以及所述第二電容的第一端連接，所述第三電阻的第二端和所述第二電容的第二端與所述第一穩(wěn)壓管的陰極連接，所述第一穩(wěn)壓管的陽(yáng)極和所述第一 NPN型三極管的發(fā)射極共接于地，所述第一穩(wěn)壓管的陰極為所述驅(qū)動(dòng)電路的輸出端。
[0012]本發(fā)明的目的還在于提供一種天線檢測(cè)裝置，所述天線檢測(cè)裝置包括上述所述的天線檢測(cè)系統(tǒng)。
[0013]在本發(fā)明中，通過(guò)將測(cè)試模塊分別置于預(yù)設(shè)區(qū)域，在進(jìn)行天線測(cè)試時(shí)對(duì)所述預(yù)設(shè)區(qū)域的駐波比進(jìn)行測(cè)試；并通過(guò)檢測(cè)電路與所述電源以及所述測(cè)試模塊連接，在進(jìn)行天線測(cè)試或校準(zhǔn)所述天線檢測(cè)系統(tǒng)時(shí)控制所述測(cè)試模塊與所述電源進(jìn)行連接或者斷開(kāi)，這樣就不需要人工在不同區(qū)域進(jìn)行切換，實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化駐波比測(cè)試，節(jié)約人力物力，并提高測(cè)試效率。
[0014]
【附圖說(shuō)明】
[0015]圖1是本發(fā)明實(shí)施例提供的天線檢測(cè)系統(tǒng)的電路結(jié)構(gòu)圖。
[0016]
【具體實(shí)施方式】
[0017]為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實(shí)施例，對(duì)本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。
[0018]以下結(jié)合具體實(shí)施例對(duì)本發(fā)明的具體實(shí)現(xiàn)進(jìn)行詳細(xì)描述:
圖1示出了本發(fā)明實(shí)施例提供的天線檢測(cè)系統(tǒng)的模塊結(jié)構(gòu)，為了便于說(shuō)明，僅列出與本發(fā)明實(shí)施例相關(guān)的部分，詳述如下:
本發(fā)明實(shí)施例提供的天線檢測(cè)系統(tǒng)，與電源VCC連接，天線檢測(cè)系統(tǒng)包括:
測(cè)試模塊100，分別置于預(yù)設(shè)區(qū)域，用于在進(jìn)行天線測(cè)試時(shí)時(shí)對(duì)預(yù)設(shè)區(qū)域的駐波比進(jìn)行測(cè)試;
檢測(cè)電路200，與電源以及測(cè)試模塊連接，用于在進(jìn)行天線測(cè)試或校準(zhǔn)天線檢測(cè)系統(tǒng)時(shí)控制測(cè)試模塊與電源進(jìn)行連接或者斷開(kāi)。
[0019]在本實(shí)施例中，測(cè)試模塊100為駐波比可調(diào)失配負(fù)載。
[0020]作為本發(fā)明一優(yōu)選實(shí)施例，檢測(cè)電路200包括:第一控制單元201、第二控制單元202、開(kāi)關(guān)單元203以及驅(qū)動(dòng)電路204 ；
第一控制單元201的輸出端與驅(qū)動(dòng)電路204的輸入端連接，用于在進(jìn)行天線測(cè)試時(shí)根據(jù)預(yù)設(shè)程序輸出控制驅(qū)動(dòng)電路204工作的第一控制信號(hào)；
第二控制單元202的輸入端與電源VCC連接，輸出端與驅(qū)動(dòng)電路204的輸入端連接，用于在對(duì)天線檢測(cè)系統(tǒng)進(jìn)行校準(zhǔn)時(shí)控制驅(qū)動(dòng)電路204工作的第二控制信號(hào)；
驅(qū)動(dòng)電路204的輸入端與第一控制單元201輸出端以及第二控制單元202輸出端連接，輸出端與開(kāi)關(guān)單元203的控制端連接，電源端與電源VCC連接；
開(kāi)關(guān)單元203的電源端與電源VCC連接，輸出端分別與測(cè)試模塊100連接，用于根據(jù)第一控制信號(hào)或第二控制信號(hào)控制測(cè)試模