點陣結(jié)構(gòu)體測試機探針插架保護結(jié)構(gòu)的制作方法
【專利說明】點陣結(jié)構(gòu)體測試機探針插架保護結(jié)構(gòu)
[0001]
技術(shù)領(lǐng)域
[0002]本發(fā)明涉及一種煙花檢測工具，具體涉及點陣結(jié)構(gòu)體測試機探針插架保護結(jié)構(gòu)。
【背景技術(shù)】
[0003]點陣結(jié)構(gòu)體是實現(xiàn)圖紋煙花的關(guān)鍵零部件，決定了煙花的顯示能不能做到用戶需求的效果，也是決定圖紋煙花能不能小型化，整體化的關(guān)鍵部件，點陣結(jié)構(gòu)體的體積、點陣密集程度，成型效率，生產(chǎn)成本和后加工處理的步驟都嚴(yán)重制約了圖紋煙花的整體成本，安全性，可靠性和生產(chǎn)效率，點陣結(jié)構(gòu)體需要精密模具、精密成型、大量精密后處理加工工具，質(zhì)量檢測工具，整形工具、裝填工具和防誤、防爆炸措施等，圖紋煙花的核心部件需要大量的跨行業(yè)跨技術(shù)領(lǐng)域的高新技術(shù)支持和原創(chuàng)的勇于開拓，敢于實驗的精神，現(xiàn)有各行業(yè)缺少相應(yīng)的技術(shù)支持，特別是本行業(yè)煙花技術(shù)領(lǐng)域可供參考的資料慘不忍睹，處處需要自己去開拓。
[0004]煙花點陣結(jié)構(gòu)體生產(chǎn)使用的線束回路檢測設(shè)備進行點陣結(jié)構(gòu)體的導(dǎo)通質(zhì)量檢測，線束回路檢測設(shè)備上面有線束測試驗證用的探針，在正常測試過程中頻繁用到探針，在頻繁的插拔過程中，探針往往因插拔不小心,插入后被其他物品碰撞,產(chǎn)生損傷、變形、彎曲、斷裂等缺陷，或探針插入孔非通孔，底部容易殘留或吸附有碎渣，廢液等物質(zhì)，與探針頭部產(chǎn)生化學(xué)腐蝕或電化腐蝕，大幅縮短探針的壽命和靈敏度。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)存在的以上問題，提供點陣結(jié)構(gòu)體測試機探針插架保護結(jié)構(gòu)，本發(fā)明能夠全方位保護好點陣結(jié)構(gòu)體測試機脆弱的探針，包括防止碰、撞、擦、插等機械式損傷，防止探針線纜損傷，防止探針化學(xué)銹蝕，防止探針電化腐蝕，大幅維持探針的形狀和使用壽命。
[0006]為實現(xiàn)上述技術(shù)目的，達到上述技術(shù)效果，本發(fā)明通過以下技術(shù)方案實現(xiàn):
點陣結(jié)構(gòu)體測試機探針插架保護結(jié)構(gòu)，包括插架本體(I )，所述插架本體(I)包括插架插入槽(2)、本體安裝部(3)和線纜繞掛部(4)，所述插架插入槽(2)位于插架本體(I)中部，所述插架插入槽(2)包括上部的插架導(dǎo)向椎臺槽(5)、中部的探針頭部避讓槽(7)和下部的金屬套環(huán)(8)依次連接而成，點陣結(jié)構(gòu)體測試機的測試探針(12)就插入在插架插入槽(2)中，測試探針的線纜或引線能夠纏繞或披掛在線纜繞掛部(4)。
[0007]進一步的，所述本體安裝部(3)設(shè)置有連接螺絲孔柱(9)及加強筋組。
[0008]進一步的，所述插架本體(I)的上部兩側(cè)分別設(shè)置有U型開放窗(11)和閉合通孔窗(10)。
[0009]進一步的，所述插架導(dǎo)向椎臺槽(5)與探針頭部避讓槽(7)之間設(shè)置有探針托臺
(6),所述插架導(dǎo)向椎臺槽(5)表面的母線與旋轉(zhuǎn)軸的夾角為15-35°。
[0010]進一步的，所述探針頭部避讓槽(7)與測試探針(12)為間隙配合，間隙尺寸為0.25-2mm。
[0011]進一步的，所述金屬套環(huán)(8)表面鍍銀，鍍銀的厚度為12-25μπι。本發(fā)明的有益效果是:
能夠全方位保護好點陣結(jié)構(gòu)體測試機脆弱的探針，包括防止碰、撞、擦、插等機械式損傷，防止探針線纜損傷，防止探針化學(xué)銹蝕，防止探針電化腐蝕，大幅維持探針的形狀和使用壽命。
[0012]上述說明僅是本發(fā)明技術(shù)方案的概述，為了能夠更清楚了解本發(fā)明的技術(shù)手段，并可依照說明書的內(nèi)容予以實施，以下以本發(fā)明的較佳實施例并配合附圖詳細說明如后。本發(fā)明的【具體實施方式】由以下實施例及其附圖詳細給出。
【附圖說明】
[0013]此處所說明的附圖用來提供對本發(fā)明的進一步理解，構(gòu)成本申請的一部分，本發(fā)明的示意性實施例及其說明用于解釋本發(fā)明，并不構(gòu)成對本發(fā)明的不當(dāng)限定。在附圖中:
圖1是本發(fā)明的主視剖視示意圖；
圖2是本發(fā)明的側(cè)面不意圖；
圖3是本發(fā)明的頂視示意圖；
圖4是本發(fā)明的測試探針示意圖；
圖5是本發(fā)明測試探針與插架主體組裝后的主視剖視圖；
圖6是本發(fā)明測試探針與插架主體組裝后軸側(cè)觀察圖。
[0014]圖中標(biāo)號說明:1、插架本體,2、插架插入槽，3、本體安裝部，4、線纜繞掛部，5、插架導(dǎo)向椎臺槽，6、探針托臺，7、探針頭部避讓槽，8、金屬套環(huán)，9、連接螺絲孔柱，10、閉合通孔窗，11、U型開放窗，12、測試探針。
【具體實施方式】
[0015]下面將參考附圖并結(jié)合實施例，來詳細說明本發(fā)明。
[0016]參照圖1-圖6所示，點陣結(jié)構(gòu)體測試機探針插架保護結(jié)構(gòu)，包括插架本體1，所述插架本體I包括插架插入槽2、本體安裝部3和線纜繞掛部4，所述插架插入槽2位于插架本體I中部，所述插架插入槽2包括上部的插架導(dǎo)向椎臺槽5、中部的探針頭部避讓槽7和下部的金屬套環(huán)8依次連接而成，點陣結(jié)構(gòu)體測試機的測試探針12就插入在插架插入槽2中，測試探針的線纜或引線能夠纏繞或披掛在線纜繞掛部4。
[0017]進一步的，所述本體安裝部3設(shè)置有連接螺絲孔柱9及加強筋組。
[0018]進一步的，所述插架本體I的上部兩側(cè)分別設(shè)置有U型開放窗11和閉合通孔窗10。
[0019]進一步的，所述插架導(dǎo)向椎臺槽5與探針頭部避讓槽7之間設(shè)置有探針托臺6，所述插架導(dǎo)向椎臺槽5表面的母線與旋轉(zhuǎn)軸的夾角為15-35°。
[0020]進一步的，所述探針頭部避讓槽7與測試探針12為間隙配合，間隙尺寸為0.25-2mm。
[0021]進一步的，所述金屬套環(huán)8表面鍍銀，鍍銀的厚度為12-25 μ m。本實施例的工作原理如下:
將測試探針12插入插架本體I的插架插入槽2中，因插架導(dǎo)向椎臺槽5表面的母線與旋轉(zhuǎn)軸的夾角為15-35°，很容易直接插入到底部，受探針托臺6限制，測試探針12局部被固定，但其他部位懸空，由于探針頭部避讓槽7和金屬套環(huán)8均為通孔，不能容留殘液，且金屬套環(huán)8具有銀涂層，自身不容易銹蝕，且不吸附可損害測試探針12的物質(zhì)，測試探針12頭部受到了良好的保護，插好測試探針12后，再理順測試探針12后面的連接線纜，用U型開放窗11、閉合通孔窗10和線纜繞掛部4保護和固定連接線纜，防止連接線纜產(chǎn)生不必要的損壞。
[0022]以上所述僅為本發(fā)明的優(yōu)選實施例而已，并不用于限制本發(fā)明，對于本領(lǐng)域的技術(shù)人員來說，本發(fā)明可以有各種更改和變化。凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、等同替換、改進等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項】
1.點陣結(jié)構(gòu)體測試機探針插架保護結(jié)構(gòu)，其特征在于，包括插架本體(1)，所述插架本體(I)包括插架插入槽(2)、本體安裝部(3)和線纜繞掛部(4)，所述插架插入槽(2)位于插架本體(I)中部，所述插架插入槽(2)包括上部的插架導(dǎo)向椎臺槽(5)、中部的探針頭部避讓槽(7)和下部的金屬套環(huán)(8)依次連接而成，點陣結(jié)構(gòu)體測試機的測試探針(12)就插入在插架插入槽(2)中，測試探針的線纜或引線能夠纏繞或披掛在線纜繞掛部(4)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的點陣結(jié)構(gòu)體測試機探針插架保護結(jié)構(gòu)，其特征在于:所述本體安裝部(3)設(shè)置有連接螺絲孔柱(9)及加強筋組。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的點陣結(jié)構(gòu)體測試機探針插架保護結(jié)構(gòu)，其特征在于:所述插架本體(I)的上部兩側(cè)分別設(shè)置有U型開放窗(11)和閉合通孔窗(10 )。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的點陣結(jié)構(gòu)體測試機探針插架保護結(jié)構(gòu)，其特征在于:所述插架導(dǎo)向椎臺槽(5)與探針頭部避讓槽(7)之間設(shè)置有探針托臺(6)，所述插架導(dǎo)向椎臺槽(5)表面的母線與旋轉(zhuǎn)軸的夾角為15-35°。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的點陣結(jié)構(gòu)體測試機探針插架保護結(jié)構(gòu)，其特征在于:所述探針頭部避讓槽(7)與測試探針(12)為間隙配合，間隙尺寸為0.25-2mm。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的點陣結(jié)構(gòu)體測試機探針插架保護結(jié)構(gòu)，其特征在于:所述金屬套環(huán)(8)表面鍍銀，鍍銀的厚度為12-25 μ m。
【專利摘要】本發(fā)明公開了點陣結(jié)構(gòu)體測試機探針插架保護結(jié)構(gòu)，包括插架本體，所述插架本體包括插架插入槽、本體安裝部和線纜繞掛部，所述插架插入槽位于插架本體中部，所述插架插入槽包括上部的插架導(dǎo)向椎臺槽、中部的探針頭部避讓槽和下部的金屬套環(huán)依次連接而成，點陣結(jié)構(gòu)體測試機的測試探針就插入在插架插入槽中，測試探針的線纜或引線能夠纏繞或披掛在線纜繞掛部。本發(fā)明能夠全方位保護好點陣結(jié)構(gòu)體測試機脆弱的探針，包括防止碰、撞、擦、插等機械式損傷，防止探針線纜損傷，防止探針化學(xué)銹蝕，防止探針電化腐蝕，大幅維持探針的形狀和使用壽命。
【IPC分類】G01R1-02
【公開號】CN104597292
【申請?zhí)枴緾N201410852539
【發(fā)明人】陳巧云, 征建高, 征茂德
【申請人】蘇州征之魂專利技術(shù)服務(wù)有限公司
【公開日】2015年5月6日
【申請日】2014年12月31日