一種計量芯片抗干擾檢測及糾錯方法和裝置的制造方法
【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及計量儀表領域，特別是一種計量芯片抗干擾檢測及糾錯方法和裝置。
【背景技術】
[0002]計量是一款儀表的重要組成部分，如果計量芯片發(fā)生錯誤，儀表的計量功能就受到影響，可能直接導致用戶和供貨商之間的法律糾紛。而檢測計量芯片錯誤和糾錯是儀表必不可少的部分。通常，與計量芯片通訊的通訊接口在環(huán)境中容易受到各種環(huán)境干擾，導致從計量芯片讀取回來的校表參數(shù)效驗和寄存器的值是錯誤的，如果這個時候去復位初始化計量芯片就可能造成本來正常運行的計量芯片間斷工作，從而計量測試就不準確。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明的主要目的在于克服現(xiàn)有技術中的上述缺陷，提出一種能有效可靠的檢測計量芯片錯誤并進行糾錯處理的計量芯片抗干擾檢測及糾錯方法和裝置。
[0004]本發(fā)明采用如下技術方案:
[0005]一種計量芯片抗干擾檢測及糾錯方法，應用于內(nèi)設有校表參數(shù)校驗和寄存器的計量芯片，該計量芯片在校表完成時對該校表參數(shù)校驗和寄存器的值進行備份，其特征在于:包括如下步驟:
[0006]I)讀取校表參數(shù)校驗和寄存器的值，并與備份的值進行比較，若相等，則不作處理，若不相等，則進入步驟2);
[0007]2)再次讀取校表參數(shù)校驗和寄存器的值，與備份的值進行比較，若相等，則不作處理，若不相等，則進入步驟3);
[0008]3)將兩次讀取到的校表參數(shù)校驗和寄存器的值進行比較，若相等，則復位該計量芯片，若不相等，則不作處理。
[0009]優(yōu)選的，所述計量芯片為ATT7053B計量芯片。
[0010]一種計量芯片抗干擾檢測及糾錯裝置，其特征在于:包括
[0011]讀取裝置，用于讀取校表參數(shù)校驗和寄存器的值；
[0012]比較裝置，用于比較讀取到的校表參數(shù)校驗和寄存器的值與備份的值是否相等，并在不等時控制讀取裝置再次讀取并比較；
[0013]判斷處理裝置，用于在兩次讀取到的校表參數(shù)校驗和寄存器的值均與備份值不等時，判斷兩次值是否相等，并在相等時啟動復位裝置；
[0014]復位裝置，用于控制計量芯片復位。
[0015]由上述對本發(fā)明的描述可知，與現(xiàn)有技術相比，本發(fā)明具有如下有益效果:
[0016]本發(fā)明的方法和裝置，通過讀取校表參數(shù)校驗和寄存器的值，并與備份值進行比較，若兩次讀取和比較均不相等，且兩次讀取的值相等，說明不是受到環(huán)境因素干擾，則初始化計量芯片。本發(fā)明的方法和裝置能有效可靠地檢測計量芯片錯誤并進行糾錯處理，保證計量芯片正常工作。
【附圖說明】
[0017]圖1為本發(fā)明方法流程圖；
[0018]圖2為本發(fā)明裝置示意圖。
【具體實施方式】
[0019]以下通過【具體實施方式】對本發(fā)明作進一步的描述。
[0020]參照圖1，一種計量芯片抗干擾檢測及糾錯方法，應用于內(nèi)設有校表參數(shù)校驗和寄存器的計量芯片，例如ATT7053B計量芯片。該計量芯片內(nèi)部都有一個校表參數(shù)效驗和寄存器，如果該計量芯片因為某個原因?qū)е滦１韰?shù)發(fā)生變動，則這個寄存器值也跟著變化，那么一塊儀表在進行校表完成時就要將此校表參數(shù)效驗和寄存器的值進行備份方便儀表運行時進行實時監(jiān)測比對。本發(fā)明的方法包括如下步驟:
[0021]I)讀取校表參數(shù)校驗和寄存器的值為M1，并與備份的值N進行比較，若相等，則不作處理，若不相等，則進入步驟2);
[0022]2)再次讀取校表參數(shù)校驗和寄存器的值為M2，與備份的值N進行比較，若相等，則不作處理，若不相等，則進入步驟3);
[0023]3)將兩次讀取到的校表參數(shù)校驗和寄存器的值進行比較，若相等，說明校表參數(shù)發(fā)生變動，則復位初始化該計量芯片，若不相等，表示通訊口可能受到干擾(如電磁干擾、高低溫濕度干擾等)，則不作處理。
[0024]本發(fā)明基于計量芯片的校表參數(shù)發(fā)送變動時，校表參數(shù)校驗和寄存器的值也會跟著發(fā)生變化。
[0025]參照圖2，本發(fā)明還提出一種計量芯片抗干擾檢測及糾錯裝置，包括
[0026]讀取裝置，用于讀取校表參數(shù)校驗和寄存器的值。
[0027]比較裝置，與讀取裝置相連，用于比較讀取到的校表參數(shù)校驗和寄存器的值與備份的值是否相等，并在不相等時控制讀取裝置再次讀取并比較。
[0028]判斷處理裝置，與比較裝置相連，用于在兩次讀取到的校表參數(shù)校驗和寄存器的值均與備份值不等時，判斷兩次值是否相等，并在相等時啟動復位裝置。
[0029]復位裝置，與判斷處理裝置相連，用于控制計量芯片復位。
[0030]上述僅為本發(fā)明的【具體實施方式】，但本發(fā)明的設計構思并不局限于此，凡利用此構思對本發(fā)明進行非實質(zhì)性的改動，均應屬于侵犯本發(fā)明保護范圍的行為。
【主權項】
1.一種計量芯片抗干擾檢測及糾錯方法，應用于內(nèi)設有校表參數(shù)校驗和寄存器的計量芯片，該計量芯片在校表完成時對該校表參數(shù)校驗和寄存器的值進行備份，其特征在于:包括如下步驟: 1)讀取校表參數(shù)校驗和寄存器的值，并與備份的值進行比較，若相等，則不作處理，若不相等，則進入步驟2); 2)再次讀取校表參數(shù)校驗和寄存器的值，與備份的值進行比較，若相等，則不作處理，若不相等，則進入步驟3); 3)將兩次讀取到的校表參數(shù)校驗和寄存器的值進行比較，若相等，則復位該計量芯片，若不相等，則不作處理。
2.如權利要求1所述的一種計量芯片抗干擾檢測及糾錯方法，其特征在于:所述計量芯片為ATT7053B計量芯片。
3.一種計量芯片抗干擾檢測及糾錯裝置，其特征在于:包括 讀取裝置，用于讀取校表參數(shù)校驗和寄存器的值； 比較裝置，用于比較讀取到的校表參數(shù)校驗和寄存器的值與備份的值是否相等，并在不等時控制讀取裝置再次讀取并比較； 判斷處理裝置，用于在兩次讀取到的校表參數(shù)校驗和寄存器的值均與備份值不等時，判斷兩次值是否相等，并在相等時啟動復位裝置； 復位裝置，用于控制計量芯片復位。
【專利摘要】一種計量芯片抗干擾檢測及糾錯方法，應用于內(nèi)設有校表參數(shù)校驗和寄存器的計量芯片，包括如下步驟：1)讀取校表參數(shù)校驗和寄存器的值，并與備份的值進行比較，若相等，則不作處理，若不相等，則進入步驟2)；2)再次讀取校表參數(shù)校驗和寄存器的值，先與備份的值進行比較，若相等，則不作處理，若不相等，則進入步驟3)；3)將兩次讀取到的校表參數(shù)校驗和寄存器的值進行比較，若相等，則復位該計量芯片，若不相等，則不作處理。本發(fā)明的方法和裝置能有效可靠地檢測計量芯片錯誤并進行糾錯處理，保證計量芯片正常工作。
【IPC分類】G01R35-00
【公開號】CN104635190
【申請?zhí)枴緾N201410851721
【發(fā)明人】趙偉, 駱貴泉
【申請人】漳州科能電器有限公司
【公開日】2015年5月20日
【申請日】2014年12月31日