高溫高濕測試裝置和高溫高濕測試系統(tǒng)的制作方法
【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及顯示技術領域，特別涉及一種高溫高濕測試裝置和高溫高濕測試系統(tǒng)。
【背景技術】
[0002]為保證顯示面板能夠經(jīng)受住不同瑋度、不同地域、不同海拔等等不同的環(huán)境考驗，使得產(chǎn)品在不同使用環(huán)境中(嚴寒地區(qū)、低瑋度酷熱地區(qū)、沿海城市高濕度地區(qū)、汽車內(nèi)部高溫環(huán)境等)仍能保持其正常使用，在生產(chǎn)過程中會抽取一定數(shù)量的顯示面板，并對這些顯示面板上的結合區(qū)(又稱Bounding區(qū))進行高溫高濕(溫度100°C，濕度100% )測試，從而對產(chǎn)品在惡劣條件下耐受性的進行評估。
[0003]圖1為現(xiàn)有的高溫高濕測試裝置的結構示意圖，如圖1所示，該高溫高濕測試裝置包括:蒸汽發(fā)生部28以及位于蒸汽發(fā)生部28上方的層疊放置的若干個測試層29，位于最上方的測試層29上方設置有密封蓋，其中，每個測試層29的底部設置有通氣孔，蒸汽發(fā)生部28產(chǎn)生的高溫高濕氣體通過通氣孔以進入至各測試層29中。
[0004]現(xiàn)有的高溫高濕測試裝置在對顯示面板進行測試時，首先需要將整個顯示面板放入至測試層中，然后經(jīng)過一段時間后，將顯示面板拿出來，并根據(jù)顯示面板的顯示效果以對顯示面板的在惡劣條件下耐受性的進行評估。
[0005]然而，現(xiàn)有這種測試方法存在如下問題:由于顯示面板需要全部置于測試層中，從而導致顯示面板上的待測試部(例如-Bounding區(qū))和非測試部(例如:P0L貼附部、IC貝占附部、顯示區(qū))均處于測試環(huán)境中，即測試環(huán)境會同時對待測試部和非測試部同時產(chǎn)生影響。在對顯示面板進行顯示效果驗證過程中，當顯示面板的顯示出現(xiàn)異常時，則無法判斷是因待測試部的耐受性較差而導致的異常還是因非測試部在測試過程中被損壞而導致的異常，從而會對評估造成影響。此外，當非測試部在測試過程中被損壞時，由于這種損壞是不可修復的，從而使得顯示面板直接報廢。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]本發(fā)明提供一種高溫高濕測試裝置和高溫高濕測試系統(tǒng)，該高溫高濕測試裝置可單獨的對顯示面板中的待測試部進行高溫高濕測試，以避免測試環(huán)境對顯示面板中的非測試部造成損壞。
[0007]為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了一種高溫高濕測試裝置，包括:測試平臺，所述測試平臺包括:工作區(qū)和非工作區(qū)，所述工作區(qū)用于承載顯示面板上的待測試部，所述非工作區(qū)用于承載所述顯示面板上的非測試部，所述工作區(qū)的上方設置有密封蓋，所述密封蓋與所述測試平臺在所述工作區(qū)內(nèi)圍成一密封腔室，所述測試平臺在所述工作區(qū)內(nèi)形成有導氣通槽，所述導氣通槽用于向所述密封腔室輸送高溫高濕氣體。
[0008]可選地，所述密封蓋包括:蓋頂和所述蓋頂?shù)乃闹苓吘壪蛳聫澱坌纬傻膰冢錾w頂上形成有出氣通槽，所述出氣通槽用于將所述密封腔室內(nèi)高溫高濕氣體排出。
[0009]可選地，所述出氣通槽內(nèi)設置有可從所述出氣通槽的內(nèi)壁中伸出或縮回的擋板。
[0010]可選地，位于所述蓋頂四周的所述圍壁具體包括:第一圍壁、第二圍壁、第三圍壁和第四圍壁，所述第一圍壁與所述第三圍壁相對設置，所述第二圍壁與所述第四圍壁相對設置，所述第一圍壁位于所述工作區(qū)與所述非工作區(qū)的交界處；
[0011]所述第一圍壁的下方設置有磁性柔封條；
[0012]所述第三圍壁與所述測試平臺旋轉連接。
[0013]可選地，所述第二圍壁和所述第四圍壁的外側均設置有固定塊，所述固定塊的底面與所述測試平臺固定連接；
[0014]所述第一圍壁與所述固定塊通過搭扣可拆卸的連接在一起。
[0015]可選地，所述測試平臺的底面形成有圍繞所述導氣通槽第一凸緣結構；
[0016]所述蓋頂?shù)纳媳砻嫘纬捎袊@所述出氣通槽的第二凸緣結構；
[0017]所述第二凸緣結構的內(nèi)壁輪廓與所述第一凸緣結構的外壁輪廓相同；
[0018]當所述高溫高濕測試裝置層疊放置時，所述第一凸緣結構可卡合于所述第二凸緣結構內(nèi)。
[0019]可選地，在所述非工作區(qū)的周邊區(qū)域設置有第一缺口，所述第一缺口內(nèi)設置有第一裝配結構；
[0020]所述第一裝配結構包括:連接塊、第一底腳和第一支撐塊，所述連接塊與所述第一缺口的內(nèi)壁固定，所述連接塊的底部設置有第二缺口，所述第一底腳位于所述第二缺口內(nèi)且與所述第一缺口的內(nèi)壁旋轉連接，所述第一底腳上設置有第一卡合柱，所述第一底腳帶動所述第一卡合柱在豎直平面內(nèi)進行旋轉；
[0021]所述第一支撐塊的底面上設置有與所述第一卡合柱相匹配的第一卡合槽，所述第一支撐塊通過鉸鏈與所述連接塊的側壁連接，且當所述第一支撐塊通過所述鉸鏈旋轉至所述連接塊的上方時，所述第一卡合槽在豎直方向上的投影與處于豎直向下狀態(tài)的所述第一卡合柱在豎直方向上的投影重合。
[0022]可選地，所述連接塊和所述第一支撐塊的上表面的高度均低于所述非工作區(qū)的上表面的高度；
[0023]所述鉸鏈位于所述非工作區(qū)的上表面所處平面的下方。
[0024]可選地，所述第一支撐塊朝向所述第一缺口的內(nèi)壁的至少一個側壁上設置有第一凸部，所述第一缺口的內(nèi)壁上設置有與所述第一凸部相對應的第二凸部，所述第二凸部位于所述第一凸部的下方。
[0025]可選地，所述連接塊與所述測試平臺一體成型。
[0026]可選地，所述工作區(qū)的周邊區(qū)域的底部設置有第三缺口，所述第三缺口內(nèi)設置有第二底腳；
[0027]所述第二底腳與所述第三缺口的內(nèi)壁旋轉連接，所述第二底腳上設置有第二卡合柱，所述第二底腳帶動所述第二卡合柱在豎直平面內(nèi)進行旋轉；
[0028]所述測試平臺上對應所述第二底腳的位置設置有第二支撐塊，所述第二支撐塊的底面與所述測試平臺固定連接，所述第二支撐塊的上表面設置有與所述第二卡合柱相匹配的第二卡合槽，所述第二卡合槽在豎直方向上的投影與處于豎直向下狀態(tài)的所述第二卡合柱在豎直方向上的投影重合。
[0029]為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明還提供了一種高溫高濕測試系統(tǒng)，包括:氣體產(chǎn)生裝置和至少一個高溫高濕測試裝置，所述高溫高濕測試裝置采用上述的高溫高濕測試裝置；
[0030]所述氣體產(chǎn)生裝置用于產(chǎn)生所述高溫高濕氣體。
[0031]本發(fā)明具有以下有益效果:
[0032]本發(fā)明提供了一種高溫高濕測試裝置和高溫高濕測試系統(tǒng)，其中，該高溫高濕測試裝置包括:測試平臺，測試平臺包括:工作區(qū)和非工作區(qū)，工作區(qū)用于承載顯示面板上的待測試部，非工作區(qū)用于承載顯示面板上的非測試部，工作區(qū)的上方設置有密封蓋，密封蓋與測試平臺在工作區(qū)內(nèi)圍成一密封腔室，測試平臺在工作區(qū)內(nèi)形成有導氣通槽，導氣通槽用于向密封腔室輸送高溫高濕氣體。本發(fā)明的技術方案通過將測試平臺上劃分工作區(qū)和非工作區(qū)，并將顯示面板的待測試部置于工作區(qū)內(nèi)，將顯示面板的非測試部置于非工作區(qū)內(nèi)，且在進行測試時，僅對工作區(qū)內(nèi)的待測試部進行高溫高濕測試，從而避免了顯示面板的非測試部在測試過程中被損壞。
【附圖說明】
[0033]圖1為現(xiàn)有的高溫高濕測試裝置的結構示意圖；
[0034]圖2為本發(fā)明實施例一提供的一種高溫高濕測試裝置的結構示意圖；
[0035]圖3為圖2所示高溫高濕測試裝置對小尺寸的顯示面板進行高溫高濕測試時的示意圖；
[0036]圖4為圖2所示高溫高濕測試裝置對大尺寸的顯示面板進行高溫高濕測試時的示意圖；
[0037]圖5為圖4中A-A向的截面示意圖；
[0038]圖6為圖2中密封蓋的結構示意圖；
[0039]圖7為兩個高溫高濕測試裝置層疊放置時第一凸緣結構與第二凸緣結構卡合處的不意圖；
[0040]圖8為兩個圖2所示的高溫高濕測試裝置層疊放置時的側面示意圖；
[0041]圖9為第一裝配結構的處于初始狀態(tài)時的結構示意圖；
[0042]圖10為第一裝配結構處于待裝配狀態(tài)時的結構示意圖。
【具體實施方式】
[0043]為使本領域的技術人員更好地理解本發(fā)明的技術方案，下面