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      一種用于高溫高輻射環(huán)境放射性核素分析測量的探測器的制造方法

      文檔序號:8498326閱讀:392來源:國知局
      一種用于高溫高輻射環(huán)境放射性核素分析測量的探測器的制造方法
      【技術領域】
      [0001]本發(fā)明涉及輻射測量和核電子學領域,具體地說是一種用于高溫高輻射環(huán)境放射性核素分析測量的探測器,適用于核電站或核測井中的輻射信號處理,特別適用于局部高溫高輻射長時間在線放射性活度濃度測量。
      【背景技術】
      [0002]目前用于高溫環(huán)境放射性核素定量分析測量的探測器主要是NaI(Tl)閃爍體探測器。而高溫環(huán)境下放射性測量用的最多的是在石油測井方面,也有核電站蒸汽發(fā)生器放射性物質(zhì)泄漏測量,此類閃爍體探測器將前置放大器與探頭集成一體,同時外加隔熱材料處理,難以實現(xiàn)高溫高輻射環(huán)境長時間實時在線測量。國外少數(shù)國家對高溫環(huán)境放射性核素測量也進行了一定的研宄,他們采用無前置放大器處理,直接將測量探測器光電倍增管出來的信號遠距離的接入主放,避免高溫和高輻射環(huán)境對前放電路半導體元器件影響,實現(xiàn)高溫高輻射環(huán)境測量。這種方法由于信噪比很差,只可用于計數(shù)測量,對于能譜型放射性核素定量分析測量仍存在缺陷。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0003]本發(fā)明的目的就是為了克服上述現(xiàn)有技術中的不足之處,提供一種用于高溫高輻射環(huán)境放射性核素分析測量的探測器,成功實現(xiàn)高溫高輻射環(huán)境下弱脈沖信號遠距離采集,同時解決了高溫高輻射環(huán)境下長時間放射性核素定量分析測量難題。
      [0004]為實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明的技術解決方案如下:一種用于高溫高輻射環(huán)境放射性核素分析測量的探測器,包括用于測量被測射線的主測量探頭、用于測量被測射線周圍環(huán)境中的雜質(zhì)射線的補償探頭和前置放大器,所述主測量探頭和補償探頭與前置放大器作遠置處理,所述前置放大器采用兩路完全一樣的前置放大電路作差分處理,其中一路用于連接主測量探頭,另一路用于連接補償探頭。
      [0005]在上述技術方案中,所述主測量探頭和補償探頭結構一致,均由依次連接的碘化鈉閃爍體、玻璃光導、光電倍增管組成。
      [0006]在上述技術方案中,所述前置放大器和探頭間距離多30米。
      [0007]在上述技術方案中,所述前置放大器設于多5cm厚鉛屏蔽盒內(nèi),所述鉛屏蔽盒內(nèi)襯2_不銹鋼,所述前置放大器采用雙屏蔽層同軸電纜實現(xiàn)弱脈沖信號的遠距離傳輸。
      [0008]在上述技術方案中,所述前置放大電路由依次連接的電荷積分靈敏放大器、無源濾波電路和射級跟隨器組成。
      [0009]本發(fā)明為了解決高溫高輻射環(huán)境放射線核素定量分析測量的難題,采用了前置放大器與探頭遠置的方法處理局部高溫問題,在信號遠距離傳輸過程中采用雙層屏蔽電纜處理,同時采用差分方法來降低環(huán)境輻射對測量結果的干擾,實現(xiàn)局部高溫環(huán)境實時在線的放射性核素定量分析的測量。
      【附圖說明】
      [0010]圖1為本發(fā)明前置放大器差分電路示意圖。
      [0011]圖2為本發(fā)明鉛屏蔽盒內(nèi)結構示意圖。
      [0012]其中:①γ射線能量沉積探頭,②電荷積分靈敏放大器,③無源濾波電路,④射級跟隨器,⑤鉛屏蔽體,⑥信號線屏蔽層,⑦同軸屏蔽層,⑧屏蔽信號線,⑨同軸電纜,⑩不銹鋼。
      【具體實施方式】
      [0013]為使本發(fā)明的目的、技術方案和優(yōu)點更加清楚明白,以下結合具體實施例,并參照附圖,對本發(fā)明進一步詳細說明。
      [0014]如圖1、2所示,本實施例提出的一種用于高溫高輻射環(huán)境放射性核素分析測量的探測器,其探頭和前置放大器作遠置處理,前置放大器和探頭間距離多30米,以降低測量點局部高溫對前置放大器元器件的影響;為了保證探頭出來的弱脈沖信號在傳輸過程中不被干擾、削弱,本實施例采用雙層同軸電纜實現(xiàn)信號遠距離采集。
      [0015]由于待測對象環(huán)境輻射較強,為了降低環(huán)境輻射對測量結果影響,本發(fā)明實施例前置放大器采用了差分方法,其中一路前置放大電路用于采集主測量探頭脈沖信號,另一路前置放大電路與補償探頭相連用于扣除測量探頭周圍環(huán)境放射性對測量探頭引起的誤計數(shù),和用于扣除待測對象發(fā)出的射線與測量探頭周圍物質(zhì)相互作用引起的光電效應、反散射、康普頓散射等雜志射線對測量探頭誤計數(shù)。所述主測量探頭和補償探頭結構一致,均采用γ射線能量沉積探頭,由依次連接的碘化鈉閃爍體、玻璃光導、光電倍增管組成。
      [0016]由于高輻射環(huán)境易對前放電路半導體元器件造成輻照損傷,本發(fā)明實施例前置放大電路外加多5cm厚鉛屏蔽盒。為了提高低能段(30keV?500keV)放射性核素測量的準確性,對鉛屏蔽盒內(nèi)襯2_不銹鋼以屏蔽外界磁場對電荷靈敏放大器干擾。
      [0017]由于探頭與前置放大器之間距離多30米,探頭輸出信號不可避免受空間工頻電磁場和電纜對地分布電容影響,使得信號引入高頻離散噪聲,降低信噪比。為此,本發(fā)明實施例將前置放大電路經(jīng)過一級電荷積分放大后,采用RC低通濾波來提高信噪比。鑒于信號數(shù)據(jù)處理單元與前置放大器之間的距離較遠,同時在濾波器后緊跟射極跟隨器,驅(qū)動信號長距尚150m)傳輸。
      【主權項】
      1.一種用于高溫高輻射環(huán)境放射性核素分析測量的探測器,其特征在于:包括用于測量被測射線的主測量探頭、用于測量被測射線周圍環(huán)境中的雜質(zhì)射線的補償探頭和前置放大器,所述主測量探頭和補償探頭與前置放大器作遠置處理,所述前置放大器采用兩路完全一樣的前置放大電路作差分處理,其中一路用于連接主測量探頭,另一路用于連接補償探頭。
      2.根據(jù)權利要求1所述的用于高溫高輻射環(huán)境放射性核素分析測量的探測器,其特征在于:所述主測量探頭和補償探頭結構一致,均由依次連接的碘化鈉閃爍體、玻璃光導、光電倍增管組成。
      3.根據(jù)權利要求1所述的用于高溫高輻射環(huán)境放射性核素分析測量的探測器,其特征在于:所述遠置處理為前置放大器和探頭間距離多30米。
      4.根據(jù)權利要求1所述的用于高溫高輻射環(huán)境放射性核素分析測量的探測器,其特征在于:所述前置放大器設于多5cm厚鉛屏蔽盒內(nèi),所述鉛屏蔽盒內(nèi)襯2_不銹鋼,所述前置放大器采用雙屏蔽層同軸電纜實現(xiàn)弱脈沖信號的遠距離傳輸。
      5.根據(jù)權利要求1所述的用于高溫高輻射環(huán)境放射性核素分析測量的探測器,其特征在于:所述前置放大電路由依次連接的電荷積分靈敏放大器、無源濾波電路和射級跟隨器組成。
      【專利摘要】本發(fā)明涉及輻射測量和核電子學領域,提供一種用于高溫高輻射環(huán)境放射性核素分析測量的探測器,包括用于測量被測射線的主測量探頭、用于測量被測射線周圍環(huán)境中的雜質(zhì)射線的補償探頭和前置放大器,所述主測量探頭和補償探頭與前置放大器作遠置處理,所述前置放大器采用兩路完全一樣的前置放大電路作差分處理,其中一路用于連接主測量探頭,另一路用于連接補償探頭。本發(fā)明能夠成功實現(xiàn)高溫高輻射環(huán)境下弱脈沖信號遠距離采集,同時解決了高溫高輻射環(huán)境下長時間放射性核素定量分析測量難題。
      【IPC分類】G01T1-20
      【公開號】CN104820231
      【申請?zhí)枴緾N201510095805
      【發(fā)明人】徐衛(wèi)鋒, 羅鵬, 代傳波, 畢明德, 馬天驥, 李湦, 許滸
      【申請人】中國船舶重工集團公司第七一九研究所
      【公開日】2015年8月5日
      【申請日】2015年3月4日
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