天線測試裝置及方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及一種天線測試裝置及方法。
【背景技術(shù)】
[0002] 當(dāng)前天線的測試通過無源測試來判斷天線的好壞，具體為將天線與測試儀器網(wǎng)絡(luò) 分析儀（VNA)進(jìn)行物理連接，直接測出VSWR等相關(guān)參數(shù)。該測試方法需物理連接，較不方 便，另外，物理連接容易損壞天線。再者，當(dāng)前手持式設(shè)備的天線都在產(chǎn)品內(nèi)部，在產(chǎn)品閉合 前，無線產(chǎn)品的最終測試都是在天線連接下的輻射測試，如果天線異常需要檢查，就要拆開 產(chǎn)品進(jìn)行物理連接測試，造成成本增加。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003] 有鑒于此，提供一種成本較低且測試較方便的天線測試裝置。
[0004] 另，有必要提供一種利用該天線測試裝置測試天線性能的方法。
[0005] -種天線測試裝置，其包括一網(wǎng)絡(luò)分析儀及一耦合天線，該耦合天線通過一數(shù)據(jù) 線與所述網(wǎng)絡(luò)分析儀相連接，所述網(wǎng)絡(luò)分析儀產(chǎn)生一入射波，所述耦合天線在該入射波的 作用下與待測天線產(chǎn)生感應(yīng)作用，影響所述耦合天線的輻射阻抗，從而影響所述耦合天線 的反射波，該網(wǎng)絡(luò)分析儀根據(jù)入射波與所述耦合天線反饋的反射波獲得一駐波比。
[0006] 一種天線測試方法，該方法包括如下步驟：
[0007] 提供一種天線測試裝置，所述天線測試裝置包括一耦合天線及一網(wǎng)絡(luò)分析儀，其 中所述網(wǎng)絡(luò)分析儀通過一數(shù)據(jù)線與所述耦合天線連接；設(shè)置參考天線于距所述耦合天線一 預(yù)設(shè)距離處；控制所述網(wǎng)絡(luò)分析儀產(chǎn)生一入射波于所述耦合天線，使得所述耦合天線在該 入射波的作用下與參考天線發(fā)生感應(yīng)作用，并反饋一反射波于所述網(wǎng)絡(luò)分析儀中；根據(jù)該 入射波與反射波獲得一上限參考駐波比及一下限參考駐波比并顯示于所述網(wǎng)絡(luò)分析儀中； 取下參考天線，放置一待測天線；控制所述網(wǎng)絡(luò)分析儀產(chǎn)生所述入射波于所述耦合天線，使 得所述耦合天線在該入射波的作用下與待測天線發(fā)生感應(yīng)作用，并反饋一反射波于所述網(wǎng) 絡(luò)分析儀中；所述網(wǎng)絡(luò)分析儀根據(jù)所述入射波與所述反射波得到一駐波比；比較該駐波比 與一上限參考駐波比及一下限參考駐波比來判斷待測天線是否合格。
[0008] 相較于現(xiàn)有技術(shù)，該天線測試裝置利用耦合天線在入射波的作用下與待測天線發(fā) 生感應(yīng)作用，并反饋一反射波于該網(wǎng)絡(luò)分析儀中；網(wǎng)絡(luò)分析儀根據(jù)入射波與反射波得到一 駐波比，進(jìn)而判斷該待測天線的性能。該天線測試裝置無需將天線與測試儀器網(wǎng)絡(luò)分析儀 (VNA)進(jìn)行物理連接，大大減小了天線損壞的可能性，另外對于設(shè)置于產(chǎn)品內(nèi)的天線出現(xiàn)異 常需要異常，也不需要拆開產(chǎn)品，大大節(jié)省了成本。
【附圖說明】
[0009] 圖1是本發(fā)明天線測試裝置的實施方式示意圖。
[0010] 圖2是本發(fā)明天線測試方法實施方式流程圖。 toon] 主要元件符號說明
[0012]
【主權(quán)項】
1. 一種天線測試裝置，該天線測試裝置包括一網(wǎng)絡(luò)分析儀，其特征在于，所述天線測試 裝置還包括一耦合天線，該耦合天線與所述網(wǎng)絡(luò)分析儀通過一數(shù)據(jù)線連接；所述網(wǎng)絡(luò)分析 儀用于產(chǎn)生一入射波；所述耦合天線接收所述入射波并與待測天線發(fā)生感應(yīng)作用，并反饋 一反射波于所述網(wǎng)絡(luò)分析儀中；所述網(wǎng)絡(luò)分析儀根據(jù)所述入射波與所述反射波得到一駐波 t匕，若該駐波比在一上限參考駐波比及一下限參考駐波比的范圍內(nèi)，則該待測天線合格。
2. -種天線測試方法，應(yīng)用于一天線測試裝置中，該方法包括以下步驟： 提供一網(wǎng)絡(luò)分析儀及一耦合天線，其中該網(wǎng)絡(luò)分析儀通過一數(shù)據(jù)線與該耦合天線連 接； 設(shè)置待測天線于距該耦合天線一預(yù)設(shè)距離處； 控制該網(wǎng)絡(luò)分析儀產(chǎn)生一入射波于該耦合天線，使得該耦合天線在該入射波的作用下 與待測天線發(fā)生感應(yīng)作用，并反饋一反射波于該網(wǎng)絡(luò)分析儀中； 根據(jù)該入射波與反射波獲得一駐波比并顯示于所述網(wǎng)絡(luò)分析儀； 比較該駐波比與一上限參考駐波比與一下限參考駐波比； 若該駐波比在該上限參考駐波比及該下限參考駐波比的范圍內(nèi)，則該待測天線合格， 反之，不合格。
3. 如權(quán)利要求2所述的天線測試方法，其特征在于：所述數(shù)據(jù)線為RFcable。
4. 如權(quán)利要求2所述的天線測試方法，其特征在于：所述預(yù)設(shè)距離的范圍為小于或等 于 2cm。
5. 如權(quán)利要求2所述的天線測試方法，其特征在于：所述預(yù)設(shè)距離為lcm。
6. 如權(quán)利要求2所述的天線測試方法，其特征在于：該天線測試方法還包括獲取上限 參考駐波比及下限參考駐波比步驟，其中，該獲取上限參考駐波比及下限參考駐波比步驟 還包括以下步驟： 設(shè)置一參考天線于所述耦合天線一預(yù)設(shè)距離處； 控制該網(wǎng)絡(luò)分析儀產(chǎn)生一入射波于該耦合天線，使得該耦合天線在該入射波的作用下 與參考天線發(fā)生感應(yīng)作用，并反饋一反射波于該網(wǎng)絡(luò)分析儀中；及 根據(jù)該入射波與反射波獲得所述一上限參考駐波比及所述一下限參考駐波比并顯示 于所述網(wǎng)絡(luò)分析儀中。
7. 如權(quán)利要求2所述的天線測試方法，其特征在于：該網(wǎng)絡(luò)分析儀產(chǎn)生入射波頻率的 范圍為 700-2600MHZ。
【專利摘要】本發(fā)明提供一種天線的測試裝置，其包括一耦合天線及一網(wǎng)絡(luò)分析儀，其中該網(wǎng)絡(luò)分析儀通過一數(shù)據(jù)線與該耦合天線連接。該耦合天線用于在測試過程中，接收該網(wǎng)絡(luò)分析儀上產(chǎn)生的入射波，在該入射波的作用下該耦合天線與待測天線發(fā)生感應(yīng)作用，影響該耦合天線的輻射阻抗，從而影響該耦合天線的反射波。該網(wǎng)絡(luò)分析儀根據(jù)入射波與耦合天線反饋的反射波獲得一駐波比。本發(fā)明還揭露了一種利用該天線測試裝置測試天線性能的方法。本發(fā)明提供的天線的測試裝置及方法由于無需將天線與測試儀器網(wǎng)絡(luò)分析儀（VNA）進(jìn)行物理連接，從而大大減小了天線損壞的可能性，另外對于設(shè)置于產(chǎn)品內(nèi)的天線出現(xiàn)異常需要異常，也不需要拆開產(chǎn)品，大大節(jié)省了成本。
【IPC分類】G01R27-06, G01R31-00
【公開號】CN104833869
【申請?zhí)枴緾N201410049239
【發(fā)明人】錢憲
【申請人】富泰華工業(yè)（深圳）有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司
【公開日】2015年8月12日
【申請日】2014年2月12日
【公告號】US20150226777