加工物件基礎(chǔ)規(guī)格的檢測方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明與加工方法有關(guān)；特別是指一種加工物件基礎(chǔ)規(guī)格的檢測方法。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著加工技術(shù)的發(fā)展，物件多是置于治具或機臺上，再施以自動化流程以進行鉆孔或零件安裝等加工動作；對于像電路板一類通過酸洗、刻蝕等方法預(yù)先布設(shè)好電路線的物件，由于每個物件之間常見有尺寸或形狀的差異，若未能妥善校正物件的位置，便貿(mào)然進行加工，很可能會造成電路線無法導(dǎo)通，或零件接點未對齊等狀況，造成加工失敗，浪費成本。
[0003]為避免此些情況，業(yè)界已有多種物件校正方法，用意在于確保每個物件都具有同等的校正標準，以保障加工后的成品的功能都如預(yù)期。這些校正方法多是利用一調(diào)整裝置調(diào)整物件在治具或機臺上的位置，但偶爾會出現(xiàn)尺寸或形狀誤差過大的物件，也就是不符合加工需求所要求的基礎(chǔ)規(guī)格，像這樣的物件無論如何校正，都無法進行有效加工，故應(yīng)直接拋棄。只是，通常物件要實際經(jīng)過校正后，才能發(fā)現(xiàn)是否不符合基礎(chǔ)規(guī)格，使得生產(chǎn)線必須花費不必要的時間，嘗試校正這些根本無法利用的物件，徒然增加時間成本。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]有鑒于此，本發(fā)明的目的在于提供一種加工物件基礎(chǔ)規(guī)格的檢測方法，能快速判斷物件是否符合適于加工的基礎(chǔ)規(guī)格。
[0005]為了達成上述目的，本發(fā)明所提供的加工物件基礎(chǔ)規(guī)格的檢測方法應(yīng)用于呈板狀的一物件，用以判斷該物件是否符合一適于進行后續(xù)校正及加工的基礎(chǔ)規(guī)格，該物件預(yù)先置放于一初始位置，該物件定義有至少二參考點，該檢測方法包括使用一攝影器材，該攝影器材具有至少二視窗，該些視窗的投影范圍內(nèi)各涵蓋有一該參考點，且該些視窗中各定義有一校正點，各該視窗中的該參考點與該校正點互為對應(yīng)，其中各該參考點與其所對應(yīng)的該校正點在一投影平面上的距離定義為各該參考點的一偏差距離，該檢測方法包含下列步驟:利用一數(shù)值模擬技術(shù)，模擬該物件移動至一校正位置的情形，其中該校正位置的定義，是指當該物件位于該校正位置時，該些參考點的各該偏差距離的平方和為最?。槐容^該些偏差距離與一門限值，借此判斷該物件是否符合該基礎(chǔ)規(guī)格。
[0006]本發(fā)明的效果在于，不必實際進行校正，便能快速判斷物件是否符合適于加工的基礎(chǔ)規(guī)格。
【附圖說明】
[0007]圖1為本發(fā)明加工物件基礎(chǔ)規(guī)格的檢測方法的應(yīng)用環(huán)境示意圖；
[0008]圖2為圖1的應(yīng)用環(huán)境其中一個視窗的放大不意圖,揭露物件位于初始位置；
[0009]圖3為本發(fā)明加工物件基礎(chǔ)規(guī)格的檢測方法的流程圖；
[0010]圖4為圖2同一視窗的另一放大不意圖，揭露物件受模擬而位于校正位置。
[0011]【符號說明】
[0012]10 物件；
[0013]12參考點；
[0014]20 視窗；
[0015]22校正點；
[0016]24坐標系。
【具體實施方式】
[0017]為能更清楚地說明本發(fā)明，現(xiàn)舉優(yōu)選實施例并配合附圖詳細說明如下。本發(fā)明加工物件基礎(chǔ)規(guī)格的檢測方法適用于板狀的物件，用以判斷該物件是否符合一基礎(chǔ)規(guī)格，此處所述的該基礎(chǔ)規(guī)格，是指符合該基礎(chǔ)規(guī)格的物件能夠進行后續(xù)的校正及加工動作，且產(chǎn)出的加工成品具有預(yù)期的功效。該檢測方法包括使用一攝影器材，合先敘明。
[0018]請參閱圖1及圖2，本發(fā)明一優(yōu)選實施例的受校正物件為一物件10，該物件10上定義有四個參考點12，是由該物件10的各個端角的兩邊延伸交會而成；該攝影器材具有四個視窗20，該些視窗20的投影范圍內(nèi)各涵蓋有一該參考點12，且該些視窗20都定義有一校正點22，各該視窗20中的該參考點12與該校正點22互為對應(yīng)。
[0019]該些視窗20各定義有一坐標系24，本實施例中各該視窗20所定義的該校正點22即為該坐標系24的原點，但該校正點22的定義方式并不以此為限，在其他實施例中，該校正點22也可以位于不同于原點的位置；由于該校正點22與該參考點12都位于該坐標系24上，故該校正點22具有一第一坐標值(X1，Y1)，該參考點12也具有一第二坐標值(X2，Y2)。各該參考點12與對應(yīng)的一該校正點22在一投影平面上自然相隔有一距離，該距離定義為各該參考點12的一偏差距離；在本優(yōu)選實施例中，各該參考點12的該偏差距離可通過該校正點22的該第一坐標值(XI，Yl)及該參考點12的該第二坐標值(Χ2，Υ2)經(jīng)幾何數(shù)學(xué)計算得知。
[0020]需特別說明的是，該物件10的形狀以及該些參考點12的定義方式并不是本發(fā)明的限制所在，此處所見只為一種便于說明的示范而已；在另一優(yōu)選實施例中，該些參考點12可以通過其他方式來定義，甚至該物件10也能具有完全不同的形狀，此些相關(guān)并不影響本發(fā)明所提供的檢測方法的實施。另外，該些參考點12、該些校正點22與該攝影器材所具有的該些視窗20的數(shù)量也非本發(fā)明的限制，原則上只要該些參考點12、該些校正點22與該些視窗20的數(shù)量至少為二個以上，且互為對應(yīng)即可。
[0021]請參照圖3，本發(fā)明加工物件基礎(chǔ)規(guī)格的檢測方法包含下列步驟:首先利用一數(shù)值模擬技術(shù)，模擬該物件移動至一校正位置的情形，此處所述的該校正位置的定義，是指當該物件位于該校正位置時，該些參考點的各該偏差距離的平方和為最??；實際上，該數(shù)值模擬技術(shù)可通過計算器程序達成。圖4即示范在圖2所示的該視窗20內(nèi)，該物件10接受該數(shù)值模擬技術(shù)的作用，模擬自一初始位置(以實線表示)移動至該校正位置(以假想線表示)；需注意的是，圖4中所見該物件10受模擬而位于該校正位置的情形只是一種示范，當然在其他該些視窗20內(nèi)也有類似的模擬移動情形，但請容此不再贅述。
[0022]接著，再計算該物件10在該校正位置(即圖4中的假想線所表示)時，各該參考點12的該偏差距離，也就是圖4中可見的距離D ;通過比較該些參考點12的各該偏差距離(距離D)與一門限值，即可判斷該物件是否符合適于后續(xù)加工或校正的該基礎(chǔ)規(guī)格。在本優(yōu)選實施例中，若該些參考點12的該些偏差距離之和大于該門限植，則代表該物件10不是過大就是過小，無論如何校正，該物件10都無法順利進行后續(xù)的加工作業(yè)；換句話說，此種情況下的該物件10即不符合該基礎(chǔ)規(guī)格，實際上可立即拋棄不用。
[0023]在其他優(yōu)選實施例中，也可以在該物件10位于該校正位置時，基于是否有任一該參考點12的該偏差距離大于該門限值而決定該物件10符合該基礎(chǔ)規(guī)格與否；或者若有超過一特定數(shù)量(如二個以上)的該些參考點12的該偏差距離大于該門限值，則判斷該物件10不符合該基礎(chǔ)規(guī)格。在實際上，該門限值的大小以及所采用的判斷標準可視需求而調(diào)整，并不為本發(fā)明的限制所在。
[0024]值得一提的是，本實施例中該些視窗20內(nèi)各定義有該坐標系24，該坐標系24的作用是便于計算各該參考點12的該偏差距離(也就是各該參考點12與對應(yīng)的一該校正點22之間的距離)，其他實施例中也可以采用不同的計算方法，并不以此處示范為限。
[0025]借此，本發(fā)明加工物件基礎(chǔ)規(guī)格的檢測方法可以在實際對該物件10校正之前，快速判斷該物件10是否符合能夠接受后續(xù)校正及加工作業(yè)的該基礎(chǔ)規(guī)格。以上所述，僅為本發(fā)明優(yōu)選可行實施例而已，但凡應(yīng)用本發(fā)明說明書及權(quán)利要求所做的等同方法變化，理應(yīng)包含在本發(fā)明的專利保護范圍內(nèi)。
【主權(quán)項】
1.一種加工物件基礎(chǔ)規(guī)格的檢測方法，其特征在于，應(yīng)用于呈板狀的一物件，用以判斷該物件是否符合一適于進行后續(xù)校正及加工的基礎(chǔ)規(guī)格，該物件預(yù)先置放于一初始位置，該物件定義有至少二參考點，該檢測方法包括使用一攝影器材，該攝影器材具有至少二視窗，該些視窗的投影范圍內(nèi)各涵蓋有一該參考點，且該些視窗中各定義有一校正點，各該視窗中的該參考點與該校正點互為對應(yīng)，其中各該參考點與其所對應(yīng)的該校正點在一投影平面上的距離定義為各該參考點的一偏差距離，該檢測方法包含下列步驟: 利用一數(shù)值模擬技術(shù)，模擬該物件移動至一校正位置的情形，其中該校正位置的定義，是指當該物件位于該校正位置時，該些參考點的各該偏差距離的平方和為最?。? 比較該些偏差距離與一門限值，借此判斷該物件是否符合該基礎(chǔ)規(guī)格。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的加工物件基礎(chǔ)規(guī)格的檢測方法,其中,若一該偏差距離大于該門限值，則判斷該物件不符合該基礎(chǔ)規(guī)格。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的加工物件基礎(chǔ)規(guī)格的檢測方法，其中，若該些偏差距離的平方和大于該門限值，則判斷該物件不符合該基礎(chǔ)規(guī)格。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的加工物件基礎(chǔ)規(guī)格的檢測方法，其中，若有超過一特定數(shù)量的該些參考點的該偏差距離大于該門限值，則判斷該物件不符合該基礎(chǔ)規(guī)格。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的加工物件基礎(chǔ)規(guī)格的檢測方法，其中，該些視窗各定義有一坐標系，各該視窗的該校正點在該坐標系上具有一第一坐標值。6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的加工物件基礎(chǔ)規(guī)格的檢測方法，其中，該參考點在所對應(yīng)視窗內(nèi)的該坐標系上具有一第二坐標值；各該參考點的該偏差距離通過該第一坐標值與該第二坐標值而計算得到。
【專利摘要】本發(fā)明提供了一種加工物件基礎(chǔ)規(guī)格的檢測方法，適用于板狀的物件。該檢測方法使用一攝影器材，該物件上定義有至少二參考點，該攝影器材具有至少二視窗，該些視窗內(nèi)各定義有一校正點，且該些視窗的投影范圍內(nèi)各涵蓋有一該參考點，各該視窗中的該參考點與該校正點互為對應(yīng)；本發(fā)明加工物件基礎(chǔ)規(guī)格的檢測方法是使用一數(shù)值模擬技術(shù)，模擬該物件位于最佳的加工位置的情形，并通過該些參考點在該物件位于該最佳加工位置時與各自對應(yīng)的該校正點之間的距離，判斷該物件是否符合進行后續(xù)校正及加工的基礎(chǔ)規(guī)格。
【IPC分類】G01B11/14
【公開號】CN104897070
【申請?zhí)枴緾N201410080865
【發(fā)明人】馮兆平
【申請人】達觀科技有限公司
【公開日】2015年9月9日
【申請日】2014年3月7日