一種用于智能卡掉電保護(hù)的測試系統(tǒng)及其測試方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及智能卡技術(shù)領(lǐng)域，特別是用于對智能卡進(jìn)行掉電保護(hù)機(jī)制驗(yàn)證、測試的系統(tǒng)及其測試方法。
【背景技術(shù)】
[0002]如今，智能卡以其較短的開發(fā)周期、更靈活的應(yīng)用場景、更安全的通訊方式、非常完備的產(chǎn)業(yè)鏈，已經(jīng)慢慢被更多的人、更多的行業(yè)所認(rèn)可。智能卡已從最早的SM卡(Subscriber Identity Module)應(yīng)用擴(kuò)展到社保卡、銀行卡。隨之而來的是,要求智能卡在商用之前，要通過嚴(yán)格地、完備地驗(yàn)證、測試。其中掉電保護(hù)機(jī)制的驗(yàn)證、測試更是關(guān)鍵，尤其是對于金融相關(guān)應(yīng)用的智能卡來說。
[0003]目前，掉電保護(hù)測試裝置并沒有統(tǒng)一的標(biāo)準(zhǔn)，由智能卡開發(fā)者自行開發(fā)測試裝置并完成測試，操作的難易度和測試結(jié)果的精確度良莠不齊。
[0004]現(xiàn)有技術(shù)中，智能卡開發(fā)者自行開發(fā)的測試裝置通常需要針對不同的測試對象編寫不同的執(zhí)行代碼，并通過在執(zhí)行代碼中不斷調(diào)整相關(guān)參數(shù)來實(shí)現(xiàn)進(jìn)行不同目的、不同情境的測試。另外，對掉電保護(hù)機(jī)制的測試與驗(yàn)證，首先需要測試員對卡片的掉電保護(hù)機(jī)制有一定的了解，并需要熟練的掌握測試代碼的編寫語言和編寫環(huán)境，這使得實(shí)現(xiàn)針對某一卡片對象的掉電保護(hù)測試，變得更為復(fù)雜，對測試人員的技術(shù)提出了更高的要求，占用更多的代碼開發(fā)時(shí)間，給原本就很耗時(shí)的掉電保護(hù)測試增加了更多的時(shí)間開銷，在一定程度上降低了測試效率。同時(shí)，掉電保護(hù)測試需要對整個(gè)命令處理過程進(jìn)行遍歷式的掉電測試，以便識別出所有風(fēng)險(xiǎn)點(diǎn)，對于良莠不齊的掉電保護(hù)機(jī)制測試裝置來說，若掉電精度不夠、掉電時(shí)間不準(zhǔn)，那么測試結(jié)果也并不可靠，同時(shí)也就無法保證智能卡內(nèi)數(shù)據(jù)的安全性。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]針對上述現(xiàn)有技術(shù)中存在的不足，本發(fā)明的目的是提供一種用于智能卡掉電保護(hù)的測試系統(tǒng)及其測試方法。它能靈活、簡單、方便準(zhǔn)確地完成智能卡掉電保護(hù)機(jī)制的驗(yàn)證和測試。
[0006]為了達(dá)到上述發(fā)明目的，本發(fā)明的技術(shù)方案以如下方式實(shí)現(xiàn):
一種用于智能卡掉電保護(hù)的測試系統(tǒng)，它包括測試裝置、計(jì)算機(jī)以及安裝在計(jì)算機(jī)上的控制程序，所述測試裝置通過USB電纜與計(jì)算機(jī)相連接。其結(jié)構(gòu)特點(diǎn)是，所述測試裝置包括主控制芯片以及與主控制芯片分別連接的電壓控制單元、頻率控制單元、接觸式智能卡插槽、卡片插入檢測裝置和電源供給裝置。電壓控制單元和頻率控制單元的輸出端口分別與接觸式智能卡插槽的引腳相連接，卡片插入檢測裝置置于接觸式智能卡插槽內(nèi)。
[0007]在上述測試系統(tǒng)中，所述接觸式智能卡插槽上設(shè)有八個(gè)引腳。引腳一與電壓控制單元的電壓輸出端口連接，引腳三與頻率控制單元的頻率輸出端口連接，引腳二、引腳五和引腳七分別與主控制芯片的復(fù)位輸出端口、地端口和串行1端口相連接。
[0008]在上述測試系統(tǒng)中，所述控制程序支持識別USB CCID，控制程序下發(fā)APDU命令并支持導(dǎo)入APDU命令腳本，按腳本所寫邏輯執(zhí)行該腳本內(nèi)容和命令，控制程序中包括卡片復(fù)位指令、APDU處理期間的掉電時(shí)間配置指令和復(fù)位期間的掉電時(shí)間配置指令。
[0009]如上所述用于智能卡掉電保護(hù)的測試系統(tǒng)的測試方法，它使用包括測試裝置、計(jì)算機(jī)以及安裝在計(jì)算機(jī)上的控制程序。測試裝置包括主控制芯片以及與主控制芯片分別連接的電壓控制單元、頻率控制單元、接觸式智能卡插槽、卡片插入檢測裝置和電源供給裝置。其方法步驟為:
1)將電源供給裝置與外部電源連接；
2)將測試裝置與計(jì)算機(jī)連接，計(jì)算機(jī)將完成與主控制芯片的數(shù)據(jù)交互，使測試裝置被識別為一個(gè)USB CCID ；
3)將待測試的卡片插入接觸式智能卡插槽；
4)用卡片插入檢測裝置檢測是否有卡片插入，并將該信息通知主控制芯片；
5)如果有卡片插入，則由主控制芯片告知計(jì)算機(jī)該狀態(tài)變化情況，計(jì)算機(jī)將發(fā)送卡片操作命令序列，由主控制芯片接收，并轉(zhuǎn)換為IS0/IEC 7810規(guī)范定義的數(shù)據(jù)信號，發(fā)送給位于接觸式智能卡插槽內(nèi)的卡片，如果沒有則保持當(dāng)前狀態(tài)，繼續(xù)等待卡片插入檢測裝置的狀態(tài)變化；
6)啟動(dòng)計(jì)算機(jī)里的控制程序，導(dǎo)入用于控制、測試的APDU命令腳本文件；
7)為了實(shí)現(xiàn)對卡片內(nèi)操作系統(tǒng)的掉電保護(hù)機(jī)制的驗(yàn)證，可通過發(fā)送控制命令，操作測試裝置對卡片進(jìn)行以下兩種動(dòng)作期間執(zhí)行掉電操作:
8)在卡片進(jìn)行上電、復(fù)位、發(fā)送ATR過程中的任一時(shí)間點(diǎn)進(jìn)行掉電操作；
9)在某一條APDU命令執(zhí)行過程中的任一時(shí)間點(diǎn)進(jìn)行掉電操作；
10)收到控制命令，主控制芯片對卡片進(jìn)行相應(yīng)的掉電操作，當(dāng)設(shè)置的掉電時(shí)間小于該APDU命令的執(zhí)行時(shí)間，則主控制芯片將發(fā)送特殊狀態(tài)字給計(jì)算機(jī)，并顯示在控制程序的界面上，通知測試者本次掉電操作成功；當(dāng)設(shè)置的掉電時(shí)間大于該APDU命令的執(zhí)行時(shí)間，則主控制芯片將發(fā)送該APDU命令的真實(shí)執(zhí)行結(jié)果給計(jì)算機(jī)，并顯示在控制程序的界面上，通知測試者未執(zhí)行掉電操作，APDU命令已成功執(zhí)行完畢；
11)當(dāng)?shù)綦姴僮鞒晒?，?yīng)執(zhí)行卡片復(fù)位指令，控制主控制芯片對被測試卡片進(jìn)行上電、復(fù)位操作，恢復(fù)卡片的運(yùn)行狀態(tài)，通過執(zhí)行APDU命令，確認(rèn)掉電操作對卡片內(nèi)數(shù)據(jù)的影響，進(jìn)而驗(yàn)證卡片內(nèi)操作系統(tǒng)的掉電保護(hù)機(jī)制；
12)在控制、測試的APDU命令腳本中，可重復(fù)進(jìn)行步驟7)至步驟9)，每一輪通過控制命令對掉電操作的時(shí)間點(diǎn)進(jìn)行步進(jìn)設(shè)置，即可對APDU執(zhí)行過程中的所有時(shí)間點(diǎn)進(jìn)行遍歷性地掉電測試，完成卡片內(nèi)操作系統(tǒng)的掉電保護(hù)機(jī)制的驗(yàn)證測試工作。
[0010]本發(fā)明由于采用了上述結(jié)構(gòu)和方法，通過APDU命令實(shí)時(shí)控制測試裝置，不需要測試人員針對不同的測試對象重新編寫測試裝置的執(zhí)行代碼，大大地簡化了測試前期的準(zhǔn)備時(shí)間，并降低了對測試人員專業(yè)技術(shù)的要求，使得本測試系統(tǒng)的使用和控制更加簡單、易懂。本發(fā)明以靈活的腳本導(dǎo)入方式、簡單、易懂的操作步驟，微秒級的最小步進(jìn)時(shí)間，實(shí)現(xiàn)了掉電測試，測試裝置小巧便于移動(dòng)、攜帶，方便測試人員隨時(shí)、隨地的完成掉電測試任務(wù)。
[0011]下面結(jié)合附圖和【具體實(shí)施方式】對本發(fā)明作進(jìn)一步說明。
【附圖說明】
[0012]圖1是本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖；
圖2是本發(fā)明中測試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；
圖3是本發(fā)明測試裝置中智能卡插槽的引腳圖；
圖4是本發(fā)明系統(tǒng)的測試流程圖。
【具體實(shí)施方式】
[0013]參看圖1至圖3，本發(fā)明系統(tǒng)包括測試裝置、計(jì)算機(jī)以及安裝在計(jì)算機(jī)上的控制程序，測試裝置通過USB電纜4與計(jì)算機(jī)相連接。測試裝置包括主控制芯片I以及與主控制芯片I分別連接的電壓控制單元2、頻率控制單元3、接觸式智能卡插槽5、卡片插入檢測裝置6和電源供給裝置7。電壓控制單元2和頻率控制單元3的輸出端口分別與接觸式智能卡插槽5的引腳相連接,卡片插入檢測裝置6置于接觸式智能卡插槽5內(nèi)。接觸式智能卡插槽5上設(shè)有八個(gè)引腳，引腳一 Cl與電壓控制單元(2)的電壓輸出端口連接，引腳三C3與頻率控制單元3的頻率輸出端口連接，引腳二 C2、引腳五C5和引腳七C7分別與主控制芯片I的復(fù)位輸出端口、地端口和串行1端口相連接?？刂瞥绦蛑С肿R別USB CCID，控制程序下發(fā)APDU命令并支持導(dǎo)入APDU命令腳本，按腳本所寫邏輯執(zhí)行該腳本內(nèi)容和命令，控制程序中包括卡片復(fù)位指令、APDU處理期間的掉電時(shí)間配置指令和復(fù)位期間的掉電時(shí)間配置指令。
[0014]在開始測試前，應(yīng)將測試裝置與計(jì)算機(jī)、外部電源正確連接，并將待測試的卡片