鍵盤薄膜檢測(cè)設(shè)備的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)，具體地，涉及一種鍵盤薄膜檢測(cè)設(shè)備。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著工業(yè)的發(fā)展，電子行業(yè)目前仍然有著重要的地位，薄膜鍵盤由于其功能性與外觀，廣泛應(yīng)用于多個(gè)領(lǐng)域。薄膜鍵盤為平面多層組合而成的整體密封結(jié)構(gòu)，是將按鍵開關(guān)、面板、標(biāo)記、符號(hào)顯不及襯板密封在一起的集光、機(jī)、電一體化的一種新型電子元器件，是電子產(chǎn)品外觀結(jié)構(gòu)根本性的變革，它可取代常規(guī)分立元件的按鍵。
[0003]目前市面上的AOI (Automatic Optic Inspect1n，自動(dòng)光學(xué)檢測(cè))檢測(cè)，大多是針對(duì)PCB板和插件板，而對(duì)于鍵盤薄膜，仍然是采用傳統(tǒng)的人工檢測(cè)。傳統(tǒng)的光學(xué)檢測(cè)設(shè)備，是將被檢測(cè)件放置于支撐塊上，由于鍵盤薄膜非常軟，如有彎曲，則容易使圖像采集出現(xiàn)誤差，精度降低，所以適用性不好；而人工檢測(cè)的效率又太低。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中的缺陷，本發(fā)明的目的是提供一種鍵盤薄膜檢測(cè)設(shè)備。
[0005]根據(jù)本發(fā)明提供的鍵盤薄膜檢測(cè)設(shè)備，包括待檢測(cè)產(chǎn)品承載進(jìn)給裝置、光學(xué)檢測(cè)裝置、機(jī)架、Z軸裝置、X軸運(yùn)行裝置和Y軸運(yùn)行裝置；
[0006]其中，所述X軸運(yùn)行裝置在所述機(jī)架上，所述待檢測(cè)產(chǎn)品承載進(jìn)給裝置與X軸運(yùn)行裝置相連，所述X軸運(yùn)行裝置用于帶動(dòng)所述待檢測(cè)產(chǎn)品承載進(jìn)給裝置沿著X軸方向運(yùn)動(dòng)；
[0007]所述Y軸運(yùn)行裝置設(shè)置在所述機(jī)架上；所述Z軸裝置設(shè)置在所述Y軸運(yùn)行裝置上；所述光學(xué)檢測(cè)裝置設(shè)置在所述Z軸裝置上；
[0008]所述Y軸運(yùn)行裝置帶動(dòng)所述光學(xué)檢測(cè)裝置沿Y軸方向移動(dòng)；所述光學(xué)檢測(cè)裝置能夠通過所述Z軸裝置沿Z軸方向運(yùn)動(dòng)；
[0009]所述待檢測(cè)產(chǎn)品承載進(jìn)給裝置設(shè)置在所述光學(xué)檢測(cè)裝置的下側(cè)，所述光學(xué)檢測(cè)裝置的檢測(cè)端朝向所述待檢測(cè)產(chǎn)品承載進(jìn)給裝置的上表面。
[0010]優(yōu)選地，所述待檢測(cè)產(chǎn)品承載進(jìn)給裝置的數(shù)量為多個(gè)；
[0011]多個(gè)所述待檢測(cè)產(chǎn)品承載進(jìn)給裝置依次沿Y軸方向排列。
[0012]優(yōu)選地，相鄰的多個(gè)待檢測(cè)產(chǎn)品承載進(jìn)給裝置能夠合并構(gòu)成大尺寸待檢測(cè)產(chǎn)品承載進(jìn)給裝置，能夠進(jìn)行大尺寸的待檢測(cè)薄膜鍵盤的檢測(cè)。
[0013]優(yōu)選地，所述待檢測(cè)產(chǎn)品承載進(jìn)給裝置包括相鄰設(shè)置的第一檢測(cè)平臺(tái)和第二檢測(cè)平臺(tái)；
[0014]所述第一檢測(cè)平臺(tái)和所述第二檢測(cè)平臺(tái)均包括托盤、第一絲杠、第一絲杠螺母、X軸導(dǎo)軌和第一驅(qū)動(dòng)電機(jī)；
[0015]其中，所述托盤一方面連接所述第一絲杠螺母，另一方面連接所述導(dǎo)軌；所述第一絲杠螺母設(shè)置在所述第一絲杠上；
[0016]所述驅(qū)動(dòng)電機(jī)驅(qū)動(dòng)所述第一絲杠，進(jìn)而帶動(dòng)所述托盤沿所述X軸導(dǎo)軌滑動(dòng)。
[0017]優(yōu)選地，還包括梯形擋塊；所述待檢測(cè)產(chǎn)品承載進(jìn)給裝置還包括前夾具、后夾具、第一扭柄、第二扭柄、壓板、壓板軸、驅(qū)動(dòng)彈簧、第一光軸和第二光軸；
[0018]其中，所述前夾具設(shè)置在所述托盤的外端；所述壓板軸的一端連接所述第一扭柄的上端部，所述壓板軸的另一端連接所述第二扭柄的上端部；所述第一扭柄的下端部鉸接所述前夾具的一端，所述第二扭柄的下端鉸接所述前夾具的另一端，且所述第一扭柄和/或所述第二扭柄通過所述驅(qū)動(dòng)彈簧連接所述前夾具；所述壓板設(shè)置在所述壓板軸上；
[0019]所述梯形擋塊設(shè)置在所述待檢測(cè)產(chǎn)品承載進(jìn)給裝置的外端部側(cè)面，當(dāng)所述托盤運(yùn)動(dòng)至所述待檢測(cè)產(chǎn)品承載進(jìn)給裝置的外端時(shí)，即初始位置時(shí)，所述第一扭柄和/或所述第二扭柄在所述梯形擋塊的限位下向上轉(zhuǎn)動(dòng)，進(jìn)而帶動(dòng)所述壓板軸轉(zhuǎn)動(dòng)，所述壓板打開，所述驅(qū)動(dòng)彈簧呈拉伸狀態(tài)；
[0020]當(dāng)所述托盤運(yùn)動(dòng)向內(nèi)側(cè)運(yùn)動(dòng)，離開所述初始位置時(shí)，所述第一扭柄和/或所述第二扭柄在所述驅(qū)動(dòng)彈簧的驅(qū)動(dòng)向下轉(zhuǎn)動(dòng)，所述壓板壓住所述托盤上的待檢測(cè)薄膜鍵盤；
[0021]所述第一光軸和第二光軸分別設(shè)置在所述托盤的兩側(cè)，所述后夾具設(shè)置在所述第一光軸和第二光軸上且能夠沿所述第一光軸和所述第二光軸移動(dòng)。
[0022]優(yōu)選地，還包括多個(gè)電磁吸盤，所述電磁吸盤設(shè)置在所述托盤的下側(cè)。
[0023]優(yōu)選地，所述光學(xué)檢測(cè)裝置包括工業(yè)鏡頭和弧形LED光源；
[0024]所述Z軸裝置采用攝像機(jī)滑塊；所述弧形LED光源連接所述攝像機(jī)滑塊的下端面；所述工業(yè)鏡頭設(shè)置在所述攝像機(jī)滑塊上，能夠沿所述攝像機(jī)滑塊的Z軸方向滑動(dòng)。
[0025]優(yōu)選地，所述Y軸運(yùn)行裝置包括第二絲杠、第二絲杠螺母、Y軸導(dǎo)軌和第二驅(qū)動(dòng)電機(jī)；
[0026]其中，所述攝像機(jī)滑塊連接所述第二絲杠螺母，所述第二絲杠螺母帶動(dòng)所述攝像機(jī)滑塊沿所述Y軸導(dǎo)軌滑動(dòng)；所述第二絲杠螺母設(shè)置在所述第二絲杠上；
[0027]所述第二驅(qū)動(dòng)電機(jī)驅(qū)動(dòng)所述第二絲杠，進(jìn)而帶動(dòng)所述攝像機(jī)滑塊沿所述X軸導(dǎo)軌滑動(dòng)。
[0028]優(yōu)選地，所述光學(xué)檢測(cè)裝置采用非接觸式圖像采集裝置。
[0029]優(yōu)選地，當(dāng)?shù)诙z測(cè)平臺(tái)檢測(cè)時(shí)，第一檢測(cè)平臺(tái)上料或/和下料；當(dāng)?shù)谝粰z測(cè)平臺(tái)檢測(cè)時(shí)，第二平臺(tái)下料或/和上料。
[0030]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明具有如下的有益效果:
[0031]1、本發(fā)明中采用托盤承載待檢測(cè)鍵盤薄膜，且通過壓板的自動(dòng)旋轉(zhuǎn)壓住待檢測(cè)鍵盤薄膜，從而避免了由于鍵盤薄膜較軟容易彎曲而使得圖像采集出現(xiàn)偏差；
[0032]2、本發(fā)明中相鄰的多個(gè)待檢測(cè)產(chǎn)品承載進(jìn)給裝置構(gòu)成大尺寸待檢測(cè)產(chǎn)品承載進(jìn)給裝置，從而能夠?qū)Χ喾N尺寸的鍵盤薄膜有著良好的通用性；
[0033]3、本發(fā)明中光學(xué)檢測(cè)裝置采用非接觸式圖像采集裝置，比起接觸式，速度更快，而又可以保證檢測(cè)精度；
[0034]4、本發(fā)明中托盤的下側(cè)設(shè)置有電磁吸盤，從而能夠吸住鍵盤薄膜，可以使接觸更加牢靠，鍵盤薄膜更加緊貼托盤。
[0035]5、本發(fā)明結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，布局合理，易于推廣。
【附圖說明】
[0036]通過閱讀參照以下附圖對(duì)非限制性實(shí)施例所作的詳細(xì)描述，本發(fā)明的其它特征、目的和優(yōu)點(diǎn)將會(huì)變得更明顯:
[0037]圖1、圖2共同示出了本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0038]圖3為本發(fā)明中待檢測(cè)產(chǎn)品承載進(jìn)給裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0039]圖4為本發(fā)明的局部放大圖。
[0040]圖中:
[0041]1為機(jī)架；
[0042]2為待檢測(cè)產(chǎn)品承載進(jìn)給裝置；
[0043]3為Y軸運(yùn)行裝置；
[0044]4為X軸運(yùn)行裝置；
[0045]5為Z軸裝置；
[0046]6為光學(xué)檢測(cè)裝置；
[0047]7為梯形擋塊。
【具體實(shí)施方式】
[0048]下面結(jié)合具體實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)說明。以下實(shí)施例將有助于本領(lǐng)域的技術(shù)人員進(jìn)一步理解本發(fā)明，但不以任何形式限制本發(fā)明。應(yīng)當(dāng)指出的是，對(duì)本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本發(fā)明構(gòu)思的前提下，還可以做出若干變形和改進(jìn)。這些都屬于本發(fā)明的保護(hù)范圍。
[0049]在本實(shí)施例中，本發(fā)明提供的鍵盤薄膜檢測(cè)設(shè)備，包括待檢測(cè)產(chǎn)品承載進(jìn)給裝置2、光學(xué)檢測(cè)裝置6、機(jī)架1、Z軸裝置5、X軸運(yùn)行裝置4和Y軸運(yùn)行裝置3 ;
[0050]其中，所述X軸運(yùn)行裝置4在所述機(jī)架1上，所述待檢測(cè)產(chǎn)品承載進(jìn)給裝置2與X軸運(yùn)行裝置4相連，所述X軸運(yùn)行裝置4用于帶動(dòng)所述待檢測(cè)產(chǎn)品承載進(jìn)給裝置2沿著X軸方向運(yùn)動(dòng)；所述Y軸運(yùn)行裝置3設(shè)置在所述機(jī)架1上；所述Z軸裝置5設(shè)置在所述Y軸運(yùn)行裝置3上；所述光學(xué)檢測(cè)裝置6設(shè)置在所述Z軸裝置5上；所述Y軸運(yùn)行裝置3帶動(dòng)所述光學(xué)檢測(cè)裝置6沿Y軸方向移動(dòng)；所述光學(xué)檢測(cè)裝置6能夠通過所述Z軸裝置5沿Z軸方向運(yùn)動(dòng)；所述待檢測(cè)產(chǎn)品承載進(jìn)給裝置2設(shè)置在所述光學(xué)檢測(cè)裝置6的下側(cè)，所述光學(xué)檢測(cè)裝置6的檢測(cè)端朝向所述待檢測(cè)產(chǎn)品承載進(jìn)給裝置2的上表面。
[0051]所述待檢測(cè)產(chǎn)品承載進(jìn)給裝置2的數(shù)量為多個(gè)；多個(gè)所述待檢測(cè)產(chǎn)品承載進(jìn)給裝置2依次沿Y軸方向排列。相鄰的多個(gè)待檢測(cè)產(chǎn)品承載進(jìn)給裝置2能夠合并構(gòu)成大尺寸待