一種測(cè)試修調(diào)電路及一種集成電路的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及電路控制領(lǐng)域，尤其涉及一種測(cè)試修調(diào)電路及一種集成電路。
【背景技術(shù)】
[0002]高精度輸出的集成電路，通常需要在生產(chǎn)出來后進(jìn)行精確的修調(diào)。修調(diào)是根據(jù)測(cè)試到的參數(shù)選擇并固化集成電路設(shè)計(jì)時(shí)集成的多個(gè)選項(xiàng)之一。修調(diào)通常是在晶圓分割、封裝前進(jìn)行。在晶圓分割、封裝前進(jìn)行精確的測(cè)試和修調(diào)需要使用昂貴的機(jī)臺(tái)，并花費(fèi)較長時(shí)間進(jìn)行步進(jìn)測(cè)試和參數(shù)調(diào)整，成本較高。修調(diào)后的晶圓在封裝時(shí)，切割和封裝過程都會(huì)對(duì)集成電路的物理特性產(chǎn)生影響，可能導(dǎo)致修調(diào)好的參數(shù)產(chǎn)生漂移。
[0003]為保證每一顆集成電路都能達(dá)到較高的精度要求，集成電路封裝之后的測(cè)試與修調(diào)顯得尤為重要。為了方便集成電路參數(shù)測(cè)試，通常會(huì)將重要的線路節(jié)點(diǎn)封出管腳來進(jìn)行測(cè)試，或者通過集成電路內(nèi)部集成的測(cè)試模式設(shè)定電路，將集成電路設(shè)置成測(cè)試模式后，對(duì)部分參數(shù)進(jìn)行測(cè)試。無論是通過封出管腳測(cè)試還是進(jìn)入測(cè)試模式，都不能影響到集成電路的正常應(yīng)用。
[0004]在現(xiàn)有技術(shù)中，一種包括模式觸發(fā)電路和脈寬檢測(cè)電路的測(cè)試模式設(shè)定電路，如圖1所示，進(jìn)行測(cè)試模式設(shè)定時(shí)，在集成電路的輸出電壓端口施加模式觸發(fā)信號(hào)，該信號(hào)與基準(zhǔn)信號(hào)進(jìn)行比較以產(chǎn)生脈沖信號(hào)，脈寬檢測(cè)電路接收脈沖信號(hào)，并檢測(cè)脈沖信號(hào)的脈寬，輸出脈寬檢測(cè)信號(hào)，所述測(cè)試模式設(shè)定電路根據(jù)脈寬檢測(cè)信號(hào)進(jìn)入相應(yīng)的測(cè)試模式，該測(cè)試模式設(shè)定電路各信號(hào)工作時(shí)的波形如圖2所示。然而，脈寬檢測(cè)電路無疑增加了設(shè)計(jì)難度和線路面積;而且對(duì)脈寬分檔首先需要輸入信號(hào)產(chǎn)生不同的脈寬信號(hào)，再通過內(nèi)部檢測(cè)電路加以分檔，不僅影響效率也對(duì)脈寬檢測(cè)精度有較高的要求。
[0005]—種包括開關(guān)控制模塊、修調(diào)值載入模塊、熔絲熔斷控制模塊以及修調(diào)模塊的熔絲修調(diào)電路，能夠在晶圓封裝好后再進(jìn)行修調(diào)。然而在該電路中，修調(diào)值載入模塊需要延時(shí)輸入具有上升沿的TTL脈沖信號(hào)至CP端口，且延時(shí)時(shí)間會(huì)受到制造工藝偏差和封裝應(yīng)力等影響。
[0006]還有一種芯片參數(shù)修調(diào)電路，用于在芯片封裝后執(zhí)行參數(shù)修調(diào)。具體修調(diào)時(shí)，給每個(gè)修調(diào)單元發(fā)送一組修調(diào)信號(hào)，每個(gè)修調(diào)單元根據(jù)這一組修調(diào)信號(hào)永久性的輸出一組邏輯信號(hào)，該組邏輯信號(hào)實(shí)現(xiàn)對(duì)一個(gè)參數(shù)進(jìn)行修調(diào)控制。然而在該電路中，無法在觸發(fā)信號(hào)的一個(gè)時(shí)鐘序列內(nèi)同時(shí)完成集成電路的參數(shù)測(cè)試與修調(diào)，控制信號(hào)需要多個(gè)時(shí)鐘序列才能完成測(cè)試和修調(diào)。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0007]本發(fā)明的實(shí)施例提供了一種測(cè)試修調(diào)電路，用以實(shí)現(xiàn)在一個(gè)時(shí)鐘序列內(nèi)完成對(duì)集成電路的測(cè)試和修調(diào)。
[0008]本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例提供的測(cè)試修調(diào)電路，設(shè)置在集成電路內(nèi)部，包括:
[0009]模式選擇模塊，以及分別與所述模式選擇模塊電性連接的測(cè)試模塊和修調(diào)模塊，所述模式選擇模塊與所述集成電路的第一管腳連接，所述測(cè)試模塊與所述集成電路的第二管腳連接；
[0010]所述模式選擇模塊接收通過所述第一管腳輸入的觸發(fā)信號(hào)，根據(jù)所述觸發(fā)信號(hào)的電平值輸出第一模式選擇信號(hào)到所述測(cè)試模塊和/或輸出第二模式選擇信號(hào)到所述修調(diào)模塊；
[0011]所述測(cè)試模塊被所述第一模式選擇信號(hào)使能后對(duì)集成電路測(cè)試位進(jìn)行測(cè)試，并通過所述第二管腳輸出測(cè)試信息；
[0012]所述修調(diào)模塊被所述第二模式選擇信號(hào)使能后對(duì)集成電路修調(diào)位進(jìn)行修調(diào)。
[0013]優(yōu)選地，所述修調(diào)電路還包括:時(shí)鐘模塊、與所述時(shí)鐘模塊電性連接的選通模塊，所述選通模塊分別與所述測(cè)試模塊和所述修調(diào)模塊連接;所述時(shí)鐘模塊與所述第一管腳連接；
[0014]所述時(shí)鐘模塊接收通過所述第一管腳輸入的觸發(fā)信號(hào)，輸出對(duì)應(yīng)的時(shí)鐘信號(hào)，所述時(shí)鐘信號(hào)的相位與觸發(fā)信號(hào)一致；
[0015]所述選通模塊根據(jù)接收到的時(shí)鐘信號(hào)的脈沖以及脈沖數(shù)量對(duì)應(yīng)的集成電路的測(cè)試位，向所述測(cè)試模塊輸出對(duì)應(yīng)測(cè)試位的選通信號(hào)，和/或根據(jù)接收到的時(shí)鐘信號(hào)的脈沖以及脈沖數(shù)量對(duì)應(yīng)的集成電路的修調(diào)位，向所述修調(diào)模塊輸出對(duì)應(yīng)修調(diào)位的選通信號(hào);其中，時(shí)鐘信號(hào)的脈沖數(shù)量與集成電路測(cè)試位和/或修調(diào)位的對(duì)應(yīng)關(guān)系被預(yù)先配置在所述選通模塊中；
[0016]所述測(cè)試模塊根據(jù)接收到的選通信號(hào)，在被使能的情況下，對(duì)所述選通信號(hào)所對(duì)應(yīng)的集成電路的測(cè)試位進(jìn)行測(cè)試；
[0017]所述修調(diào)模塊根據(jù)接收到的選通信號(hào)，在被使能的情況下，對(duì)所述選通信號(hào)所對(duì)應(yīng)的集成電路的修調(diào)位進(jìn)行修調(diào)。
[0018]具體地，所述選通模塊具體用于:通過N路地址線將選通信號(hào)發(fā)送給所述測(cè)試模塊，通過M路地址線將選通信號(hào)發(fā)送給所述修調(diào)模塊，其中，在同一時(shí)刻，所述N路地址線和所述M路地址線中只有一條地址線上傳輸高電平信號(hào)，其余地址線上傳輸?shù)碗娖叫盘?hào)。
[0019]具體地，所述選通模塊包括:計(jì)數(shù)電路和譯碼電路；
[0020]所述計(jì)數(shù)電路，用于對(duì)接收到的時(shí)鐘信號(hào)的上升沿進(jìn)行計(jì)數(shù)，輸出當(dāng)前計(jì)數(shù)值對(duì)應(yīng)的二進(jìn)制序列給所述譯碼電路；
[0021]所述譯碼電路，用于將接收到的二進(jìn)制序列轉(zhuǎn)換為對(duì)應(yīng)的集成電路的測(cè)試位或修調(diào)位的選通信號(hào)并通過N路與測(cè)試模塊連接的地址線和M路與修調(diào)模塊連接的地址線輸出；其中，每個(gè)二進(jìn)制序列對(duì)應(yīng)一個(gè)集成電路的測(cè)試位或修調(diào)位，所述N路地址線和M路地址線輸出的信號(hào)構(gòu)成一個(gè)集成電路測(cè)試位或修調(diào)位的選通信號(hào)。
[0022]具體地，所述時(shí)鐘信號(hào)的相位和脈寬與接收到的觸發(fā)信號(hào)一致;一路地址線上的選通信號(hào)的相位和脈寬與對(duì)應(yīng)的時(shí)鐘信號(hào)的相位和脈寬一致。
[0023]具體地，所述修調(diào)模塊包括M個(gè)邏輯固化電路，每個(gè)邏輯固化電路用于對(duì)一個(gè)集成電路的修調(diào)位進(jìn)行修調(diào);每個(gè)邏輯固化電路通過一個(gè)開關(guān)與M路地址線中的一路地址線連接，當(dāng)一路地址線上傳輸有選通信號(hào)時(shí)，該地址線連接的開關(guān)閉合，該開關(guān)連接的邏輯固化電路對(duì)相應(yīng)的集成電路修調(diào)位進(jìn)行修調(diào)。
[0024]進(jìn)一步地，所述修調(diào)模塊，還包括電源選擇電路，用于在接收到所述第二模式選擇信號(hào)時(shí)選擇使用第一電源為邏輯固化電路供電，否則選擇使用第二電源為邏輯固化電路供電；所述第一電源為邏輯固化電路供電時(shí)，所述邏輯固化電路中的熔絲上的電流大于該熔絲的熔斷電流，所述邏輯固化電路對(duì)相應(yīng)的集成電路修調(diào)位進(jìn)行修調(diào);所述第二電源為邏輯固化電路供電時(shí)，所述邏輯固化電路中的熔絲上的電流小于熔絲的熔斷電流。
[0025]具體地，所述模式選擇模塊具體用于將所述觸發(fā)信號(hào)的電平值分別與第一基準(zhǔn)電平值和第二基準(zhǔn)電平值進(jìn)行比較;其中，所述第一基準(zhǔn)電平值和所述第二基準(zhǔn)電平值由所述集成電路的電源電平與不同的金屬氧化物半導(dǎo)體晶體管導(dǎo)通電壓閾值疊加產(chǎn)生，所述第二基準(zhǔn)電平值大于所述第一基準(zhǔn)電平值；
[0026]若所述觸發(fā)信號(hào)的電平值大于所述第一基準(zhǔn)電平值，則輸出第一模式選擇信號(hào)；若所述觸發(fā)信號(hào)的電平值大于所述第二基準(zhǔn)電平值，則輸出第二模式選擇信號(hào)。
[0027]具體地，所述第一模式選擇信號(hào)的相位和脈寬與觸發(fā)信號(hào)的相位和脈寬一致;所述第二模式選擇信號(hào)的相位和脈寬與觸發(fā)信號(hào)的相位和脈寬一致。
[0028]本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種集成電路，所述集成電路包括上測(cè)試修調(diào)電路，以及第一管腳和第二管腳。
[0029]本發(fā)明的上述實(shí)例中，根據(jù)第一管腳輸入的觸發(fā)信號(hào)的電平大小，輸出第一觸發(fā)信號(hào)或第二觸發(fā)信號(hào)控制測(cè)試修調(diào)電路對(duì)集成電路測(cè)試位或修調(diào)位進(jìn)行測(cè)試或者修調(diào)，因此，能夠通過改變觸發(fā)信號(hào)的電平大小，完成測(cè)試、修調(diào)的轉(zhuǎn)換，進(jìn)而使得測(cè)試修調(diào)電路能夠在一個(gè)時(shí)鐘序列內(nèi)完成對(duì)集成電路的測(cè)試和修調(diào)。
【附圖說明】
[0030]為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)要介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)性的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0031]圖1為現(xiàn)有技術(shù)中的一種測(cè)試模式設(shè)定電路的結(jié)構(gòu)框圖；
[0032]圖2為現(xiàn)有技術(shù)中測(cè)試模式設(shè)定電路的信號(hào)波形示意圖；
[0033]圖3為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種測(cè)試修調(diào)電路的原理框圖；
[0034]圖4為本發(fā)明實(shí)施例提供的另一種測(cè)試修調(diào)電路的原理框圖；
[0035]圖5為本發(fā)明實(shí)施例提供的信號(hào)波形示意圖；
[0036]圖6為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種模式選擇模塊原理示意圖；<