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      一種柱狀物檢測設(shè)備的制造方法

      文檔序號:9706769閱讀:417來源:國知局
      一種柱狀物檢測設(shè)備的制造方法
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本發(fā)明涉及檢測領(lǐng)域,特別是涉及一種柱狀物檢測設(shè)備。
      【背景技術(shù)】
      [0002]目前的柱狀物制作過程中,無法避免地出現(xiàn)一些表面質(zhì)量問題,如體積顏色不符合標準、邊沿部位不規(guī)則、表面平整度不符合標準、有異物、有黑點、有劃傷或者有凹凸不平的區(qū)域等各種問題,導(dǎo)致生產(chǎn)出來的柱狀物產(chǎn)品不符合安全標準,不能使用,為了避免這些不合格柱狀物流入市場,必須要對生產(chǎn)出來的柱狀物進行檢測,剔除那些不合格的產(chǎn)品。
      [0003]目前存在的柱狀物檢測設(shè)備,一般包括較多的成像裝置,對向柱狀物的各個表面,獲取各個表面的圖像,將圖像傳送的圖像處理設(shè)備,以實現(xiàn)對柱狀物的檢測,由于需要較多的成像設(shè)備,成本較高。
      [0004]因此,如何減少柱狀物檢測設(shè)備的成像設(shè)備的數(shù)量是本領(lǐng)域技術(shù)人員目前需要解決的技術(shù)問題。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0005]本發(fā)明的目的是提供一種柱狀物檢測設(shè)備,減少成像設(shè)備的數(shù)量,節(jié)約成本。
      [0006]為解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明提供一種柱狀物檢測設(shè)備,包括用于放置柱狀物的檢測臺和用于照亮柱狀物的照明光源,還包括能夠接收柱狀物多個表面圖像的成像裝置。
      [0007]優(yōu)選地,所述檢測臺的一側(cè)設(shè)置有用于反射或折射柱狀物一側(cè)端面圖像的第一光路轉(zhuǎn)向裝置,所述檢測臺的另一側(cè)設(shè)置有用于反射或折射柱狀物另一側(cè)端面圖像的第二光路轉(zhuǎn)向裝置,所述成像裝置設(shè)置于所述檢測臺上方并用于接收所述第一光路轉(zhuǎn)向裝置反射或折射的柱狀物一側(cè)端面圖像、所述第二光路轉(zhuǎn)向裝置反射或折射的柱狀物另一側(cè)端面圖像和柱狀物正面圖像。
      [0008]優(yōu)選地,兩個所述照明光源分別位于所述第一光路轉(zhuǎn)向裝置和所述第二光路轉(zhuǎn)向裝置的上方。
      [0009]優(yōu)選地,所述檢測臺下方設(shè)置有用于運輸柱狀物的傳送裝置。
      [0010]優(yōu)選地,所述成像裝置包括用于接收所述第一光路轉(zhuǎn)向裝置反射或折射的柱狀物一側(cè)端面圖像、所述第二光路轉(zhuǎn)向裝置反射或折射的柱狀物另一側(cè)端面圖像和柱狀物正面圖像三者中的兩個的第一成像裝置和第二成像裝置。
      [0011]優(yōu)選地,所述第一成像裝置和所述第二成像裝置正對所述檢測臺。
      [0012]優(yōu)選地,還包括用于反射或折射所述第一光路轉(zhuǎn)向裝置反射或折射的柱狀物一側(cè)端面圖像或所述第二光路轉(zhuǎn)向裝置反射或折射的柱狀物另一側(cè)端面圖像的第三光路轉(zhuǎn)向裝置,所述第一成像裝置正對所述檢測臺用于接收柱狀物正面圖像,所述第二成像裝置斜對所述檢測臺用于接收柱狀物兩側(cè)端面圖像。
      [0013]優(yōu)選地,還包括用于調(diào)整所述第一光路轉(zhuǎn)向裝置、所述第二光路轉(zhuǎn)向裝置和所述第三光路轉(zhuǎn)向裝置的角度和位置的視場調(diào)整裝置。
      [0014]優(yōu)選地,所述視場調(diào)整裝置包括光路轉(zhuǎn)向裝置支架,所述第一光路轉(zhuǎn)向裝置、所述第二光路轉(zhuǎn)向裝置和所述第三光路轉(zhuǎn)向裝置通過萬向軸與所述光路轉(zhuǎn)向裝置支架鉸接。
      [0015]優(yōu)選地,所述第一光路轉(zhuǎn)向裝置具體為第一反射鏡,所述第二光路轉(zhuǎn)向裝置具體為第二反射鏡,所述第三光路轉(zhuǎn)向裝置具體為第三反射鏡。
      [0016]本發(fā)明提供的柱狀物檢測設(shè)備,包括用于放置柱狀物的檢測臺和用于照亮柱狀物的照明光源,還包括能夠接收柱狀物多個表面圖像的成像裝置光路轉(zhuǎn)向裝置光路轉(zhuǎn)向裝置。光路轉(zhuǎn)向裝置光路轉(zhuǎn)向裝置光路轉(zhuǎn)向裝置如此只設(shè)置較少的成像裝置即可將柱狀物多個表面的圖像傳送至圖像處理設(shè)備,以實現(xiàn)對柱狀物的檢測。有效地減少了柱狀物檢測設(shè)備中成像裝置的數(shù)量,節(jié)約成本。
      【附圖說明】
      [0017]圖1為本發(fā)明所提供的柱狀物檢測設(shè)備的一種【具體實施方式】的結(jié)構(gòu)示意圖;
      [0018]圖2為本發(fā)明所提供的柱狀物檢測設(shè)備的一種【具體實施方式】的主視示意圖;
      [0019]圖3為本發(fā)明所提供的柱狀物檢測設(shè)備的另一種【具體實施方式】的結(jié)構(gòu)示意圖;
      [0020]圖4為本發(fā)明所提供的柱狀物檢測設(shè)備的再另一種【具體實施方式】的結(jié)構(gòu)示意圖。
      【具體實施方式】
      [0021]本發(fā)明的核心是提供一種柱狀物檢測設(shè)備,減少成像設(shè)備的數(shù)量,節(jié)約成本。
      [0022]為了使本技術(shù)領(lǐng)域的人員更好地理解本發(fā)明方案,下面結(jié)合附圖和【具體實施方式】對本發(fā)明作進一步的詳細說明。
      [0023]請參考圖1至圖4,圖1為本發(fā)明所提供的柱狀物檢測設(shè)備的一種【具體實施方式】的結(jié)構(gòu)示意圖;圖2為本發(fā)明所提供的柱狀物檢測設(shè)備的一種【具體實施方式】的主視示意圖;圖3為本發(fā)明所提供的柱狀物檢測設(shè)備的另一種【具體實施方式】的結(jié)構(gòu)示意圖;圖4為本發(fā)明所提供的柱狀物檢測設(shè)備的再另一種【具體實施方式】的結(jié)構(gòu)示意圖。
      [0024]本發(fā)明【具體實施方式】提供的柱狀物檢測設(shè)備,包括檢測臺2、照明光源3、第一光路轉(zhuǎn)向裝置4、第二光路轉(zhuǎn)向裝置5和成像裝置,成像裝置可以為相機,也可為其他類型的成像裝置,如攝像機,均在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)??梢灾辉O(shè)置一個成像裝置,為第一成像裝置6,設(shè)置于檢測臺2上方,第一光路轉(zhuǎn)向裝置4和第二光路轉(zhuǎn)向裝置5分別設(shè)置于檢測臺2兩側(cè)。柱狀物1放置于檢測臺2上,照明光源3照亮柱狀物1,第一光路轉(zhuǎn)向裝置4高度與柱狀物1平齊并對向柱狀物1的一側(cè)端面,且反射或折射一側(cè)端面圖像,第二光路轉(zhuǎn)向裝置4高度與柱狀物1平齊并對向柱狀物1的另一側(cè)端面,且反射或折射另一側(cè)端面圖像。位于檢測臺2上方的第一成像裝置6同時接收第一光路轉(zhuǎn)向裝置4反射或折射的柱狀物1 一側(cè)端面圖像、第二光路轉(zhuǎn)向裝置5反射或折射的柱狀物1另一側(cè)端面圖像和柱狀物1正面圖像。如此即獲得了柱狀物1多個表面的圖像,輸送到圖像處理設(shè)備以實現(xiàn)對柱狀物1的檢測。
      [0025]為了保證柱狀物1各個表面的清晰度,可以設(shè)置兩個照明光源3,分別位于第一光路轉(zhuǎn)向裝置4和第二光路轉(zhuǎn)向裝置5的上方,照向柱狀物1兩側(cè)端面。具體地,照明光源3可以為線光源,也可根據(jù)實際情況調(diào)整照明光源3的位置、數(shù)量和類型,均在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。
      [0026]通過設(shè)置光路轉(zhuǎn)向裝置,反射或折射柱狀物1兩側(cè)端面的圖像,設(shè)置于檢測臺2上方的成像裝置能夠接收第一光路轉(zhuǎn)向裝置4反射或折射的柱狀物1 一側(cè)端面圖像、第二光路轉(zhuǎn)向裝置5反射或折射的柱狀物1另一側(cè)端面圖像和柱狀物1正面圖像,如此只設(shè)置較少的成像裝置即可將柱狀物1多個表面的圖像傳送至圖像處理設(shè)備,以實現(xiàn)對柱狀物1的檢測。可以不使用對向柱狀物1兩側(cè)端面的成像設(shè)備,有效地減少了柱狀物檢測設(shè)備中成像裝置的數(shù)量,節(jié)約成本。同時,可以設(shè)置更多的光路轉(zhuǎn)向裝置,反射或折射柱狀物1更多的表面。
      [0027]在本發(fā)明【具體實施方式】提供的柱狀物檢測設(shè)備中,為了提高檢測效率,可以在檢測臺2下方設(shè)置用于運輸柱狀物1的傳送裝置,具體可以為傳送帶,也可以為其他類型的傳送裝置,均在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。
      [0028]也可以設(shè)
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