一種光學(xué)測試系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種光學(xué)測試系統(tǒng)，包括寬帶光源發(fā)生器、上準(zhǔn)直器、下準(zhǔn)直器、光譜儀以及測試系統(tǒng)，所述寬帶光源發(fā)生器與所述上準(zhǔn)直器通過第一光纖連接，所述下準(zhǔn)直器與所述光譜儀之間通過第二光纖連接，所述光譜儀還與所述測試系統(tǒng)電性連接，所述上準(zhǔn)直器和所述下準(zhǔn)直器之間設(shè)置有用于承載待測試件的載物臺(tái)。通過以上技術(shù)方案，寬帶光源發(fā)生器經(jīng)由光纖發(fā)出的發(fā)散光，發(fā)散光通過上準(zhǔn)直器后變成平行光，平行光照射于載物臺(tái)上的待檢測件上，再由下準(zhǔn)直器進(jìn)行聚焦，經(jīng)過聚焦后的光束進(jìn)入光譜儀中，光譜儀對(duì)光的每個(gè)波長、透光率等進(jìn)行分析，同時(shí)測試系統(tǒng)對(duì)光譜儀進(jìn)行控制，并對(duì)光進(jìn)行分析處理，對(duì)測試結(jié)果進(jìn)行顯示。
【專利說明】
一種光學(xué)測試系統(tǒng)
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本發(fā)明涉及一種光學(xué)測試系統(tǒng)，尤其涉及用于濾光片檢測的光學(xué)測試系統(tǒng)，屬于測試領(lǐng)域。
【背景技術(shù)】
[0002]光譜透過率是光學(xué)濾光片濾光特性的重要參數(shù)。如何精確地測定濾光片的光譜透過率成為亟待解決的問題，例如用于軍事、光通信等方面的濾光片，其對(duì)品質(zhì)的要求十分嚴(yán)苛，而目前市場上還沒有比較精確的用于濾光片檢測的光學(xué)測試系統(tǒng)。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明的目的在于一種光學(xué)測試系統(tǒng)，克服了現(xiàn)有技術(shù)的不足。
[0004]為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明的技術(shù)方案如下:
一種光學(xué)測試系統(tǒng)，包括寬帶光源發(fā)生器、上準(zhǔn)直器、下準(zhǔn)直器、光譜儀以及測試系統(tǒng)，所述寬帶光源發(fā)生器與所述上準(zhǔn)直器通過第一光纖連接，所述下準(zhǔn)直器與所述光譜儀之間通過第二光纖連接，所述光譜儀還與所述測試系統(tǒng)電性連接，所述上準(zhǔn)直器和所述下準(zhǔn)直器之間設(shè)置有用于承載待測試件的載物臺(tái)。
[0005]優(yōu)選的，所述上準(zhǔn)直器上至少設(shè)置有用于調(diào)整該上準(zhǔn)直器角度的第一旋鈕和第二旋鈕。
[0006]優(yōu)選的，所述下準(zhǔn)直器上至少設(shè)置用于調(diào)整該下準(zhǔn)確器相對(duì)于該上準(zhǔn)直器的位置的第三旋鈕和第四旋鈕。
[0007]優(yōu)選的，該光學(xué)測試系統(tǒng)還包括固定機(jī)構(gòu)，所述固定機(jī)構(gòu)包括底座、垂直固設(shè)于所述底座上的支架、平行于所述底座并與所述支架固定連接的第一連接板和第二連接板，所述下準(zhǔn)直器固設(shè)于所述底座上，所述上準(zhǔn)直器固設(shè)于所述第一連接板上，所述載物臺(tái)固設(shè)于所述第二連接板上。
[0008]通過以上技術(shù)方案，寬帶光源發(fā)生器經(jīng)由光纖發(fā)出的發(fā)散光，發(fā)散光通過上準(zhǔn)直器后變成平行光，平行光照射于載物臺(tái)上的待檢測件上，再由下準(zhǔn)直器進(jìn)行聚焦，經(jīng)過聚焦后的光束進(jìn)入光譜儀中，光譜儀對(duì)光的每個(gè)波長、透光率等進(jìn)行分析，同時(shí)測試系統(tǒng)對(duì)光譜儀進(jìn)行控制，并對(duì)光進(jìn)行分析處理，對(duì)測試結(jié)果進(jìn)行顯示。本發(fā)明能夠準(zhǔn)確地對(duì)濾光片進(jìn)行光學(xué)檢測，保證了濾光片的品質(zhì)。
【附圖說明】
[0009]為了更清楚地說明本發(fā)明結(jié)構(gòu)特征和技術(shù)要點(diǎn)，下面結(jié)合附圖和【具體實(shí)施方式】對(duì)本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)說明。
[0010]圖1為本發(fā)明實(shí)施例所公開的光學(xué)測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；
圖2為本發(fā)明實(shí)施例所公開的固定機(jī)構(gòu)的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0011]下面將結(jié)合本實(shí)施例中的附圖，對(duì)實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行具體、清楚、完整地描述。
[0012]參見圖1-2所示，一種光學(xué)測試系統(tǒng)，包括寬帶光源發(fā)生器11、上準(zhǔn)直器12、下準(zhǔn)直器13、光譜儀14以及測試系統(tǒng)15，寬帶光源發(fā)生器11與上準(zhǔn)直器12通過第一光纖16連接，下準(zhǔn)直器13與光譜儀14之間通過第二光纖17連接，光譜儀14還與測試系統(tǒng)15電性連接，上準(zhǔn)直器12和下準(zhǔn)直器13之間設(shè)置有用于承載待測試件K的載物臺(tái)18。
[0013]其中，上準(zhǔn)直器12上至少設(shè)置有用于調(diào)整該上準(zhǔn)直器12角度的第一旋鈕和第二旋鈕。下準(zhǔn)直器13上至少設(shè)置用于調(diào)整該下準(zhǔn)確器相對(duì)于該上準(zhǔn)直器12的位置的第三旋鈕和第四旋鈕。
[0014]該光學(xué)測試系統(tǒng)15還包括固定機(jī)構(gòu)19，固定機(jī)構(gòu)19包括底座191、垂直固設(shè)于底座191上的支架192、平行于底座191并與支架192固定連接的第一連接板193和第二連接板194，下準(zhǔn)直器13固設(shè)于底座191上，上準(zhǔn)直器12固設(shè)于第一連接板193上，載物臺(tái)18固設(shè)于第二連接板194上。
[0015]本發(fā)明的調(diào)試以及工作原理如下:
該光學(xué)測試系統(tǒng)15在工作前，需對(duì)其進(jìn)行調(diào)試工作，首先，將待測件放置在載物臺(tái)18上，通過第一旋鈕和第二旋鈕來調(diào)整上準(zhǔn)直器12的角度，進(jìn)而使得上準(zhǔn)直器12與載物臺(tái)18上的待測件在同一條直線上，通過第三旋鈕和第四旋鈕來調(diào)整下準(zhǔn)直器13相對(duì)于上準(zhǔn)直器12的位置，使得下準(zhǔn)直器13與上準(zhǔn)直器12在同一條直線上，進(jìn)而使得光能夠順利地由上準(zhǔn)直器12傳至下準(zhǔn)直器13。
[0016]該光學(xué)測試系統(tǒng)15在工作時(shí)，寬帶光源發(fā)生器11經(jīng)由光纖發(fā)出的發(fā)散光，發(fā)散光通過上準(zhǔn)直器12后變成平行光，平行光照射于載物臺(tái)18上的待檢測件上，再由下準(zhǔn)直器13進(jìn)行聚焦，經(jīng)過聚焦后的光束進(jìn)入光譜儀14中，光譜儀14對(duì)光的每個(gè)波長、透光率等進(jìn)行分析，同時(shí)測試系統(tǒng)15對(duì)光譜儀14進(jìn)行控制，并對(duì)光進(jìn)行分析處理，對(duì)測試結(jié)果進(jìn)行顯示。本發(fā)明能夠準(zhǔn)確地對(duì)濾光片進(jìn)行光學(xué)檢測，保證了濾光片的品質(zhì)。
[0017]上述【具體實(shí)施方式】，僅為說明本發(fā)明的技術(shù)構(gòu)思和結(jié)構(gòu)特征，目的在于讓熟悉此項(xiàng)技術(shù)的相關(guān)人士能夠據(jù)以實(shí)施，但以上所述內(nèi)容并不限制本發(fā)明的保護(hù)范圍，凡是依據(jù)本發(fā)明的精神實(shí)質(zhì)所作的任何等效變化或修飾，均應(yīng)落入本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種光學(xué)測試系統(tǒng)，其特征在于，包括寬帶光源發(fā)生器、上準(zhǔn)直器、下準(zhǔn)直器、光譜儀以及測試系統(tǒng)，所述寬帶光源發(fā)生器與所述上準(zhǔn)直器通過第一光纖連接，所述下準(zhǔn)直器與所述光譜儀之間通過第二光纖連接，所述光譜儀還與所述測試系統(tǒng)電性連接，所述上準(zhǔn)直器和所述下準(zhǔn)直器之間設(shè)置有用于承載待測試件的載物臺(tái)。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種光學(xué)測試系統(tǒng)，其特征在于，所述上準(zhǔn)直器上至少設(shè)置有用于調(diào)整該上準(zhǔn)直器角度的第一旋鈕和第二旋鈕。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種光學(xué)測試系統(tǒng)，其特征在于，所述下準(zhǔn)直器上至少設(shè)置用于調(diào)整該下準(zhǔn)確器相對(duì)于該上準(zhǔn)直器的位置的第三旋鈕和第四旋鈕。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種光學(xué)測試系統(tǒng)，其特征在于，該光學(xué)測試系統(tǒng)還包括固定機(jī)構(gòu)，所述固定機(jī)構(gòu)包括底座、垂直固設(shè)于所述底座上的支架、平行于所述底座并與所述支架固定連接的第一連接板和第二連接板，所述下準(zhǔn)直器固設(shè)于所述底座上，所述上準(zhǔn)直器固設(shè)于所述第一連接板上，所述載物臺(tái)固設(shè)于所述第二連接板上。
【文檔編號(hào)】G01M11/02GK106053028SQ201610599051
【公開日】2016年10月26日
【申請(qǐng)日】2016年7月27日 公開號(hào)201610599051.X, CN 106053028 A, CN 106053028A, CN 201610599051, CN-A-106053028, CN106053028 A, CN106053028A, CN201610599051, CN201610599051.X
【發(fā)明人】王長東
【申請(qǐng)人】蘇州奧科飛光電科技有限公司