層疊鐵芯的檢測方法和檢測設備的制造方法
【專利摘要】提供一種層疊鐵芯的檢測方法，該層疊鐵芯通過層疊具有預定形狀的多個鐵芯片而構成并且其中包括使得制冷劑能夠流通的冷卻流路，所述制冷劑通過形成在不同位置處的開口而供應和排出。該方法包括：將光敏傳感器的光投射部和光接收部分別布置在所述冷卻流路的開口，以及利用所述光接收檢測來自所述光投射部的光，從而檢測所述冷卻流路的貫通狀態(tài)。
【專利說明】
層疊鐵芯的檢測方法和檢測設備
技術領域
[0001]本發(fā)明涉及一種層疊鐵芯的檢測方法和檢測設備，所述層疊鐵芯由具有預定形狀的多個鐵芯片構成并且其中包括使得制冷劑能夠流通的冷卻流路。
【背景技術】
[0002]電動機或發(fā)電機的轉子具有在轉子旋轉期間由于增加的溫度而使永磁體退磁的問題，從而降低了電動機性能。
[0003]為處理該問題，使用諸如冷卻油這樣的制冷劑冷卻轉子。除了形成為在軸向上貫通的孔之外，在徑向上從軸孔延伸的貫通孔用作用于制冷劑的冷卻流路。這里，由于在縱向中心區(qū)域中累積的熱量，永磁體溫度容易升高。從而，通過以較高的優(yōu)先級冷卻永磁體的縱向中心區(qū)域，能夠提高冷卻效率(見，例如作為專利文獻I和2的JP-A-2014-176235和JP-A-2013-027100)。
[0004]專利文獻1: JP-A-2014-176235
[0005]專利文獻2:JP-A-2013-027100

【發(fā)明內容】

[0006]在制造轉子時，當由于異物卡在貫通孔中使得冷卻流路阻塞時，制冷劑不能充分地供應到轉子中，從而未能提供期望的冷卻效果。從而，在制造轉子后，必須確認冷卻流路的貫通狀態(tài)以確保產品質量。
[0007]然而，如上所述，當冷卻流路的貫通孔形成為在徑向上從軸孔延伸并且朝向永磁體的縱向中心區(qū)域行進時，視覺確認貫通狀態(tài)是困難的。而且，當冷卻流路是彎曲的而且并非是直線時，視覺確認貫通狀態(tài)也是不可能的。
[0008]鑒于上述情況做出本發(fā)明，并且本發(fā)明的非限定性目的是提供一種即使當不能視覺確定冷卻流路的貫通狀態(tài)時，也能夠有效地并且容易地檢測層疊鐵芯的方法和設備。
[0009]本發(fā)明的第一方面提供一種層疊鐵芯的檢測方法，該層疊鐵芯通過層疊具有預定形狀的多個鐵芯片而構成并且該層疊鐵芯中包括使得制冷劑能夠流通的冷卻流路，所述制冷劑通過形成在不同位置處的開口而供應和排出，所述方法包括:將光敏傳感器的光投射部和光接收部分別布置在所述冷卻流路的開口中；以及利用所述光接收部檢測來自所述光投射部的光，從而檢測所述冷卻流路的貫通狀態(tài)。
[0010]可以實施本方法，使得冷卻流路包括垂直于層疊鐵芯的層疊方向而延伸的第一流路和與第一流路連通并且在層疊鐵芯的層疊方向上延伸的第二流路，并且光投射部布置在第一流路的開口中，并且光接收部布置在第二流路的開口中。
[0011]可以實施該方法，使得層疊鐵芯包括至少一個其他冷卻流通路徑，以在層疊鐵芯的周向上形成多個冷卻流路，并且層疊鐵芯和光敏傳感器繞層疊鐵芯的軸心相對轉動，并且順次檢測多個冷卻流路的貫通狀態(tài)。
[0012]可以實施該方法，使得每個第一流路都被分支成具有多個分支路徑，該多個分支路徑與第二流路連通，并且至少與各個第一流路中所包括的多個分支路徑的數(shù)量相同的光投射部布置于在所述層疊鐵芯的周向上的不同位置處形成的所述第一流路的開口中，并且對于每個所述分支路徑調節(jié)來自所述光投射部的光的投射角度。
[0013]可以實施該方法，使得每個第一流路都被分支為具有多個分支路徑，該多個分支路徑分別包括所述第一流路的開口，并且至少與各個第一流路中所包括的多個分支路徑數(shù)量相同的光投射部布置于在所述層疊鐵芯的周向上的不同位置處形成的所述第一流路的不同分支路徑的開口中，并且對于每個所述分支路徑調節(jié)來自所述光投射部的光的投射角度。
[0014]可以實施該方法，使得利用所述光接收部所檢測到的光量判定所述冷卻流路的貫通狀態(tài)。
[0015]本發(fā)明的第二方面提供一種層疊鐵芯的檢測設備，該層疊鐵芯通過層疊具有預定形狀的多個鐵芯片構成并且該層疊鐵芯中包括使得制冷劑能夠流通的冷卻流路，所述制冷劑通過形成在不同位置處的開口而供應和排出，所述設備包括:光敏傳感器，該光敏傳感器包括分別布置在所述冷卻流路的開口中的光投射部和光接收部，其中所述設備利用所述光接收部檢測來自所述光投射部的光，從而檢測所述冷卻流路的貫通狀態(tài)。
[0016]可以實施本設備，使得冷卻流路包括垂直于層疊鐵芯的層疊方向而延伸的第一流路和與第一流路連通并且在層疊鐵芯的層疊方向上延伸的第二流路，并且光投射部布置在第一流路的開口中，并且光接收部布置在第二流路的開口中。
[0017]所述設備可以構造成使得所述第一流路包括多個分支路徑，布置至少與所述分支路徑數(shù)量相同的光投射部，并且對于每個所述分支路徑調節(jié)來自所述光投射部的光的投射角度。
[0018]所述設備可以構造成還包括回轉臺，該回轉臺使所述層疊鐵芯繞著所述層疊鐵芯的軸心旋轉。
[0019]所述設備可以構造成使得所述光投射部和所述光接收部的一者或兩者包括位置調節(jié)機構。
[0020]所述設備可以構造成使得所述光投射部和所述光接收部的一者或兩者包括角度調節(jié)機構。
[0021]在根據(jù)本發(fā)明的方面的層疊鐵芯檢測方法和設備中，光敏傳感器的光投射部和光接收部布置在形成于層疊鐵芯內的冷卻流路的開口中，并且利用光接收部檢測來自光投射部的光，從而檢測冷卻流路的貫通狀態(tài)。從而，即使當不能視覺確認冷卻流路的貫通狀態(tài)時，也能夠有效地并且容易地檢測貫通狀態(tài)。
[0022]并且，當層疊鐵芯繞其軸心旋轉時，無需準備與形成在層疊鐵芯的周向上的多個冷卻流路數(shù)量相同的光敏傳感器，能夠將多個冷卻流路順次移動到光敏傳感器(光投射部和光接收部)的布置位置。因此，能夠使用數(shù)量比冷卻流路少的光敏傳感器檢測冷卻流路的貫通狀態(tài)。這能夠簡化設施結構并且能夠降低設施成本。
【附圖說明】
[0023]在附圖中:
[0024]圖1A、IB分別是應用根據(jù)本發(fā)明的實施例的層疊鐵芯檢測方法的層疊鐵芯的側截面圖和平面圖；
[0025]圖2是層疊鐵芯檢測方法的說明圖；
[0026]圖3是根據(jù)本發(fā)明的另一實施例的層疊鐵芯檢測方法的說明圖；并且
[0027]圖4是根據(jù)修改例的層疊鐵芯檢測方法的說明圖。
【具體實施方式】
[0028]接著，參考附圖給出用于具體理解本發(fā)明的本發(fā)明的實施例的說明。
[0029]首先，參考圖1A、1B和2給出轉子10，說明應用根據(jù)本發(fā)明的實施例的層疊鐵芯檢測方法的轉子10。轉子10是層疊鐵芯的實例，并且還稱為轉子芯。
[0030]轉子10通過層疊多個環(huán)狀的(預定形狀的)鐵芯片11至13而構成。
[0031]各個鐵芯片11至13都具有環(huán)狀的一體結構。這里，鐵芯片可以具有能夠將多個弧狀的鐵芯片部連接成環(huán)狀的分割結構，或者具有能夠將多個弧狀鐵芯片部的周向部分在連接部連接，并且將連接部折疊成環(huán)狀的結構。
[0032]鐵芯片11至13均是通過沖裁由具有例如大約0.10至0.5mm的厚度的電磁鋼板或非晶體所制成的薄型部件而形成。此處，鐵芯片還可以通過沖裁單個的薄型部件而形成，或者是在多件(例如，兩件或三件以上)薄型部件層疊的狀態(tài)下沖裁該多件薄型部件而形成。
[0033]使用包括壓緊、樹脂(熱固性樹脂(例如，環(huán)氧樹脂)或熱塑性樹脂)、粘接劑和焊接中的一種或兩種以上的方法，能夠將在層疊方向上互相相鄰的鐵芯片11、11(對其他鐵芯片
12、13也類似)連接在一起。
[0034]在轉子10的中心，形成有軸孔14，并且在軸孔的周圍并以軸孔14為中心，形成有由在轉子10的層疊方向上形成的貫通孔所構成的用于永磁體(未示出)的多個磁體插孔15?？梢詢?yōu)選地使用上述的樹脂進行永磁體到磁體插孔15內的固定。
[0035]此處，軸孔14包括向內突出的鍵(凸起)(未示出)。
[0036]在轉子10內，用于從外部供應的制冷劑(例如，冷卻油)的流動的多個相同形狀的冷卻通道路徑16在轉子10的周向上以勻稱的間距形成。
[0037]每個冷卻流路16包括:徑向流路(第一流路的實例)17，其在轉子10的徑向(垂直于層疊方向的方向)上延伸；以及層疊方向流路(第二流路的實例)18，其在轉子10的層疊方向上延伸。
[0038]徑向流路17在轉子1的層疊方向中心部中放射狀地且以軸孔14作為其中心而形成。徑向流路17的一端側朝著軸孔14開口，從而提供與轉子10的外部連通的開口 19(冷卻流路16的制冷劑供應側開口)。
[0039]徑向流路17還包括多個(此處，兩個)從徑向中間位置在層疊方向上分支的分支路徑20、21。分支路徑20、21 (徑向流路17)的另一端側與層疊方向流路18連通。
[0040]層疊方向流路18以勻稱的間距形成在轉子10的周向上。具體地，為了冷卻轉子10，特別是為了提高永磁體的冷卻效果，層疊方向流路18形成在平面圖中以人字形布置的磁體插孔15之間(與永磁體相鄰)。
[0041]各個層疊方向流路18均形成為在層疊方向上貫通轉子10，同時其兩側開口，從而提供與轉子10的外部連通的開口22、23(冷卻流路16的制冷劑排出側開口)。
[0042]如上所述，徑向流路17的開口19和層疊方向流路18的開口 22、23形成在不同的位置處，并且，當轉子10在使用中時，通過開口 19和22、23進行制冷劑的供應和排出。
[0043]為形成冷卻流路16，可以將平面圖中形狀不同的鐵芯片11至13層疊。
[0044]具體地，徑向流路17由形成在鐵芯片12中的貫通孔24的一部分和形成在鐵芯片13中的凹部25構成，而層疊方向流路18由形成在鐵芯片11中的貫通孔26、鐵芯片12的貫通孔24的其余部分以及形成在鐵芯片13中的貫通孔27形成(見，例如專利文獻1、2)。
[0045]此處，冷卻流路不限于上述結構，而根據(jù)轉子的結構(例如，磁體插孔的形成位置和截面形狀)，其可以如下構造。
[0046]構成冷卻流路的徑向流路的開口可以不形成在轉子的軸孔側，而是還可以形成在其徑向外側，或者形成在轉子的層疊方向(軸向)兩側的任意一側上。在該情況下，徑向流路不形成在層疊方向中心部處，而是還可以形成在層疊方向的一側和/或另一側上。
[0047]并且，徑向流路還可以具有由單個貫通孔構成的結構，這是指不具有多個分支路徑的結構。
[0048]在徑向流路包括多個分支路徑的情況下，它們可以朝著軸孔分支，從而多個開口可以形成在軸孔側上(見后文將討論的圖3)。
[0049]此處，分支路徑可以不是在層疊方向上分支，而是還可以在平面上(在層疊方向的相同位置處)分支。
[0050]并且，分支路徑的數(shù)量還可以是三個以上。
[0051]而且，徑向流路和層疊方向流路還可以相對于層疊方向傾斜。
[0052]此外，一個冷卻流路還可以是由在層疊方向中心部分離的兩個層疊方向流路以及分別與該層疊方向流路連通的兩個徑向流路所構成(見后文將討論的圖4)。
[0053]接著，參考圖2給出根據(jù)本發(fā)明的實施例的層疊鐵芯檢測設備(后文中可以簡稱為檢測設備)30的說明。
[0054]檢測設備30包括基部31、豎立在基部31上的柱狀軸部32以及相對于軸部32可旋轉地安裝的筒狀回轉臺33?；剞D臺33用于在上面放置轉子10，并且，利用能夠插入到轉子10的軸孔14的下部內的定位凸起34使得回轉臺33的旋轉中心與轉子1的軸心互相重合。
[0055]從而，轉子10能夠相對于基部31繞其軸心旋轉。
[0056]檢測設備30包括光敏傳感器35。光敏傳感器35包括光投射部36以及用于檢測來自光投射部36的光的光接收部37。
[0057]此處，不特別限制光敏傳感器35的類型，只要其包括光投射部36和光接收部37。例如，能夠使用諸如光纖傳感器或激光傳感器這樣的已知傳感器。
[0058]光敏傳感器35包括與容納在各個冷卻流路16(徑向流路17)中的兩個分支路徑20、21數(shù)量相同(兩個)的光投射部36。從而，用于接收來自光投射部36的光的光接收部37的數(shù)量是兩個。
[0059]兩個光投射部36布置成關于轉子10的軸心而相對，并且安裝于在軸部32的上部上設置的固定部38上，使得它們能夠分別將光投射到在轉子10的周向的不同位置處形成的徑向流路17的開口 19中。
[0000]具體地，光投射部36相對于豎直方向傾斜地布置，使得兩個光投射部36中的一個能夠將光投射到層疊方向上側的分支路徑20中，并且另一個能夠將光投射到層疊方向下側的分支路徑21中，從而能夠對各個分支路徑20、21調節(jié)光投射角。
[0061]兩個光接收部37布置成關于轉子10的軸心對置，并且安裝在基部31上，使得它們能夠通過開口 22、23檢測來自光投射部36的光，該光投射部36布置在形成于轉子10的周向上的不同位置處的徑向流路17的開口 19中。
[0062]具體地，光接收部37分別布置成使得它們中的一個安置在層疊方向上側(層疊方向上的一側)的開口22中用以檢測來自一個光投射部36的光，并且另一個安置在層疊方向下側(層疊方向的另一側)的開口23中用以檢測來自另一光投射部36的光。
[0063]從而，在冷卻流路16中，能夠由一對光投射部36和光接收部37檢測到分支路徑20側上的貫通狀態(tài)，同時能夠由另一對光投射部36和光接收部37檢測到分支路徑21側上的貫通狀態(tài)。此處，在圖2中，虛線箭頭代表性地示出來自光投射部36的光的路徑(后文將討論的圖3、4中也如此)。
[0064]因此，當檢測整個冷卻流路16的貫通狀態(tài)時，使用回轉臺33旋轉轉子10。此處，當在檢測設備中預先準備了多個數(shù)量的光敏傳感器(多組光投射和接收部)時，能夠在較短時間內檢測整個冷卻流路的貫通狀態(tài)。
[0065]光投射部36和光接收部37的一者或兩者還能夠包括位置調節(jié)機構(例如，氣缸)和/或角度調節(jié)機構(例如，氣缸)。
[0066]在位置調節(jié)機構配備于光投射部36中的情況下，通過在轉子10的軸向上移動光投射部36，例如，能夠處理徑向流路的開口的高度位置的變化以及形成在不同高度位置處的徑向流路的開口的高度位置;并且通過在轉子10的徑向上移動光投射部36，例如，能夠防止與形成在軸孔中的鍵進行接觸。
[0067]并且，在角度調節(jié)機構(相對于轉子10前進和后退的機構)配備于光接收部37中的情況下，光接收部37可以前進到開口中，由此能夠提高光檢測準確性。
[0068]此外，角度調節(jié)機構還能夠配備于光投射部36中，并且，在該情況下，單個光投射部36能夠處理多個分支路徑。
[0069]能夠優(yōu)選地通過光接收部37所檢測到的光的量進行冷卻流路16的貫通狀態(tài)的檢測或判定。
[0070]例如，當冷卻流路是彎曲的(非直線)并且來自光投射部的所有光未傳輸?shù)焦饨邮詹繒r，可以優(yōu)選地在修正所接收到的光量的同時檢測貫通狀態(tài)。具體地，將光接收部的接收光量輸入到計算機中(或操作裝置)，并且當獲得了等于或多于預先設定值的接收光量時，可以優(yōu)選地將貫通狀態(tài)判定為良好(即冷卻流路16中未填充異物)。
[0071]這里，能夠使用例如過去的結果值等來設定所述設定值，或者還能夠根據(jù)在所有冷卻流路中獲得的接收光量(平均值)來設定。
[0072]接著，參考圖2給出根據(jù)本發(fā)明的實施例的層疊鐵芯檢測方法的說明。
[0073]首先，將轉子10放置在回轉臺33上。
[0074]該轉子10處于完成了諸如永磁體到磁體插孔15內的布置和固定這樣的所有制造步驟之后的狀態(tài)，即，在軸(未示出)插通軸孔14之前的基本完成狀態(tài)。
[0075]將轉子10旋轉，使得光投射部36能夠布置在冷卻流路16的徑向流路17的開口19的前方位置(對置位置)處。此處，對各個分支路徑20、21預先調節(jié)光投射部36的傾斜，使得一個光投射部36能夠經過層疊方向上側的分支路徑20投射光，并且另一個能夠經過層疊方向下側的分支路徑21投射光。然而，每次測量都可以進行角度調節(jié)。
[0076]在該情況下，還必須確認光接收部37布置在冷卻流路16的層疊方向流路18的開口
22、23 中。
[0077]在上述準備結束之后，開始從光投射部36的光投射，并且所投射的光被光接收部37接收，從而檢測冷卻流路16的貫通狀態(tài)。
[0078]通過繞轉子10的軸旋轉轉子10而在所有的冷卻流路16中做這種檢測。此處，能夠通過重復地進行如下操作而進行檢測，其中，在一個冷卻流路16的檢測結束后，將轉子10旋轉特定角度并且停止，并且檢測下一個冷卻流路16。然而，通過以低速旋轉轉子10，能夠接連地檢測各個冷卻流路16。
[0079]當冷卻流路16的貫通狀態(tài)良好時，從回轉臺33移除轉子10，并且進行到下一步驟，并且將軸插入到軸孔14中。
[0080]此處，當冷卻流路16的貫通狀態(tài)不良時，在從回轉臺33移除轉子10之后，例如通過氣壓移除冷卻流路16中的異物，并且重新進行上述檢測。
[0081]從而，即使當冷卻流路16的貫通狀態(tài)不能夠被視覺確認時，也能夠高效率并且容易地檢測。并且，即使當傳感器等由于冷卻流路16窄而不能插入冷卻流路16中時，也能夠檢測貫通狀態(tài)。
[0082]此處，光投射部36不總是需要安裝在固定部38上，并且在將轉子10放置在回轉臺33上之后，光投射部36可以從軸孔14上方插入到特定高度位置，或者可以在回轉臺的軸向上形成貫通孔，并且光投射部36可以從轉子10下方突出。
[0083]接著，參考圖3給出轉子(層疊鐵芯的實例)50的說明，根據(jù)本發(fā)明的另一實施例的層疊鐵芯檢測方法應用到該轉子50。轉子50僅在構成轉子50的冷卻流路51的結構上不同于轉子10。從而，相同的部分給以相同的標號，并且省略其具體說明。
[0084]轉子50由多個層疊的環(huán)狀(預定形狀)鐵芯片52至54構成，并且包括形成在其中心的軸孔55。
[0085]在轉子50內，形成多個相同形狀的冷卻流路51，其以勻稱的間隔布置在轉子50的周向上，并且供應自外部的制冷劑能夠流過該冷卻流路51。各個冷卻流路51均包括:徑向流路(第一流路的實例)56，其在轉子50的徑向上延伸；以及層疊方向流路(第二流路的實例)57，其與徑向流路56連通并且在轉子50的層疊方向上延伸。
[0086]徑向流路56形成在轉子50的層疊方向中心部中并且以軸孔55作為中心放射狀地延伸。
[0087]徑向流路56還包括多個(此處，兩個)從徑向中間位置在層疊方向上分支的分支路徑58、59。分支路徑58、59(徑向流路56)的一端側朝著軸孔55開口，從而提供與轉子50的外部連通的開口 60、61 (冷卻流路51的制冷劑供應側開口)(兩個分支路徑58、59在朝著徑向外部的途中結合在一起)。
[0088]層疊方向流路57(類似于層疊方向流路18)以勻稱的間隔形成在轉子50的周向上。每個層疊方向流路57均形成為在層疊方向上貫通轉子50，同時其兩側開口，從而提供與轉子50的外部連通的開口22、23(冷卻流路51的制冷劑排出側開口)。
[0089]如上所述，徑向流路56的開口 60、61布置在與層疊方向流路57的開口 22、23不同的位置處。當使用轉子50時，通過開口 60、61、22、23進行制冷劑的供給和排出。
[0090]冷卻流路51通過層疊平面圖上形狀不同的鐵芯片52至54而形成。
[0091]具體地，徑向流路56由形成在鐵芯片53中的凹部62以及形成在鐵芯片54中的貫通孔63的一部分構成，而層疊方向流路57由形成在鐵芯片52中的貫通孔64和鐵芯片54的貫通孔63的其余部分構成。
[0092]接著，參考圖3給出根據(jù)本發(fā)明的實施例的層疊鐵芯檢測設備(后文中也簡稱為檢測設備)70的說明。由于設備70的結構大致與檢測設備30的結構類似，所以相同的部分給以相同的標號并且省略其具體說明。
[0093]檢測設備70包括光敏傳感器35，其具有光投射部36和光接收部37。
[0094]該光敏傳感器35包括數(shù)量上與一個冷卻流路51的兩個分支路徑58、59相對應的兩個光投射部36。從而，用于接收來自光投射部36的光的光接收部37的數(shù)量是兩個。
[0095]類似于轉子10，兩個光投射部36關于轉子50的軸心對置地布置，并且安裝在固定部38上，使得它們能夠通過形成在轉子50的周向上的不同位置的徑向流路56的不同分支58、59的開口 60、61而投射光。
[0096]具體地，光投射部36相對于豎直方向傾斜，從而對每個分支路徑58、59調節(jié)光投射角度，使得兩個光投射部36中的一個能夠將光通過層疊方向上側的分支路徑58投射到層疊方向流路57中，并且另一個光投射部能夠通過層疊方向下側的分支路徑59將光投射到層疊方向流路57中。
[0097]類似于轉子10，兩個光接收部37也關于轉子50的軸心對置地布置，并且分別安裝和固定到基部31，使得它們能夠通過開口 22、23檢測來自光投射部36的光，該光投射部36分別布置于在轉子50的周向上的不同位置處形成的徑向流路56的不同分支路徑58、59的開口60、61 中。
[0098]具體地，一個光接收部37布置在層疊方向下側的開口23中使得其能夠檢測來自一個光投射部36的光，而另一個光接收部布置在層疊方向上側的開口 22中使得其能夠檢測來自另一個光投射部36的光。
[0099]從而，在冷卻流路51中，能夠利用一對光投射部36和光接收部37進行分支路徑58側的流路的貫通狀態(tài)的檢測，而能夠通過另一對光投射部36和光接收部37進行分支路徑59側的流路的貫通狀態(tài)的檢測。
[0100]因此，當檢查所有冷卻流路51的貫通狀態(tài)時，使用回轉臺33旋轉轉子50。
[0101]此處，還能夠預先準備要設置在檢測設備中的多個光敏傳感器。在該情況下，當以特定角度間隔(例如90°、180°)且以轉子的軸心作為中心來布置多組光敏傳感器以將轉子旋轉范圍設定在窄的范圍內時，能夠在較短時間內檢測所有冷卻流路的貫通狀態(tài)。
[0102]并且，當將設置在檢測設備中的光敏傳感器的數(shù)量設定為[(冷卻流路的數(shù)量)X(分支路徑的數(shù)量)]時，能夠一次檢測貫通狀態(tài)而不旋轉轉子50。在該情況下，能夠從檢測設備70移除回轉臺33。
[0103]接著，參考圖3給出根據(jù)本發(fā)明的另一實施例的層疊鐵芯檢測方法的說明。由于該檢測方法大致類似于上述檢測方法，所以下面簡要給出說明。
[0104]首先，將轉子50放置在回轉臺33上。
[0105]并且，轉子50旋轉，使得光投射部36能夠布置在冷卻流路51的徑向流路56的開口60、61的前方位置(對置位置)處，并且如有需要，調節(jié)光投射部36的傾斜。在該情況下，還必須確認光接收部37布置在冷卻流路51的層疊方向流路57的開口 22、23中。
[0106]在上述準備結束后，開始從光投射部36的光投射，并且投射的光被光接收部37接收，從而檢測冷卻流路51的貫通狀態(tài)。
[0107]與轉子10類似，通過使轉子50繞著其軸心旋轉一次而在所有冷卻流路51中進行檢測。
[0108]此外，參考圖4給出應用根據(jù)修改例的層疊鐵芯檢測方法的轉子(層疊鐵芯的實例)80的說明。由于轉子80僅在冷卻流路81的結構上與轉子50不同，所以相同的部分給以相同的標號，并且省略其具體描述。
[0109]轉子80通過層疊多個的環(huán)狀(預定形狀)鐵芯片52至54、82構成，并且包括形成在其中心的軸孔83。
[0110]在轉子80中，多個形狀相同的冷卻流路81在轉子80的周向上以勻稱間隔形成，從外部供應的制冷劑能夠流過該冷卻流路。冷卻流路81包括在轉子80的徑向上延伸的徑向流路(第一流路的實例)84、85以及分別與徑向流路84、85連通并且在轉子80的層疊方向上延伸的層疊方向流路(第二流路的實例)86、87。
[0111]徑向流路84、85形成在轉子80的層疊方向中心部中，并且以軸孔83為中心放射狀延伸，同時該徑向流路84、85在層疊方向上在其間具有間隙。
[0112]徑向流路84、85的一端側朝著軸孔83開口，從而提供與轉子80的外部連通的開口60、61。
[0113]層疊方向流路86、87以勻稱的間隔形成在轉子80的周向上，同時它們在層疊方向中;1_1、部中分尚。
[0114]層疊方向上側的流路86的下端與徑向流路84的另一端連通，并且該層疊方向上側的流路86的上端開口，從而提供與轉子80的外部連通的開口22。并且，層疊方向下側的流路87的上端與徑向流路85的另一端連通，并且其下端開口，從而提供與轉子80的外部連通的開口 23。
[0115]冷卻流路81通過層疊平面圖上形狀不同的鐵芯片52至54、82而形成。
[0116]具體地，徑向流路84、85由形成在鐵芯片53中的凹部62以及形成在鐵芯片54中的貫通孔63的一部分構成，而層疊方向流路86、87由形成在鐵芯片52中的貫通孔64和鐵芯片54的所述貫通孔63的其余部分構成。
[0117]接著，參考圖4給出根據(jù)修改例的層疊鐵芯檢測設備(后文中還簡稱為檢測設備)90和檢測方法的說明。由于其與檢測設備70的結構和檢測方法相似，所以相同的部分給以相同的標號并且省略其具體描述。
[0118]檢測設備90包括光敏傳感器35，其具有光投射部36和光接收部37。光敏傳感器35包括形成為數(shù)量與在一個冷卻路通路徑81中所包括的徑向流路84、85和層疊方向流路86、87—致的兩個光投射部36。從而，用于接收來自光投射部36的光接收部37的數(shù)量是兩個。
[0119]與轉子50的情況類似，兩個光投射部36關于轉子80的軸心對置地布置，并且安裝在提升桿91上，使得它們分別能夠將光投射到在轉子80的周向上的不同位置處形成的徑向流路84、85的開口60、61中。從而，檢測設備90不包括固定部38。
[0120]具體地，一個光投射部36能夠通過層疊方向上側的徑向流路84而將光投射到層疊方向流路86中，而另一光投射部36能夠通過層疊方向下側的徑向流路85將光投射到層疊方向流路87中。
[0121]類似于轉子50的情況，兩個光接收部37也關于轉子80的軸心對置地布置，并且固定地安裝到基部31，使得它們能夠通過開口 22、23檢測來自光投射部36的光，該光投射部36安置于在轉子80的周向上的不同位置處形成的徑向流路84、85的不同開口 60、61中。
[0122]具體地，一個光接收部37布置在層疊方向上側的開口22中用以檢測來自一個光投射部36的光，而另一個布置在層疊方向下側的開口 23中用以檢測來自另一光投射部36的光。
[0123]從而，在冷卻流路81中，能夠利用一對光投射部36和光接收部37進行徑向流路84側的流路的貫通狀態(tài)的檢測，而能夠通過另一對光投射部36和光接收部37進行徑向流路85側的流路的貫通狀態(tài)的檢測。
[0124]因此，當檢查所有冷卻流路81的貫通狀態(tài)時，使用回轉臺33旋轉轉子80。
[0125]此處，在將轉子80放置在回轉臺33上之后，可以通過將提升桿91從軸孔83上方插入到特定高度位置而布置光投射部36。
[0126]雖然上文已經通過參考實施例描述了本發(fā)明，但本發(fā)明不完全限于上述實施例，而是包括能夠包括在附加的專利權利要求的范圍內的其它實施例和修改例。例如，上述實施例和修改例能夠部分地或全部地組合在一起以構成根據(jù)本發(fā)明的層疊鐵芯的檢測方法和檢測設備。這樣的方法和設備在本發(fā)明的權利范圍內。
[0127]并且，在以上實施例中，已經給出將本發(fā)明的層疊鐵芯檢測方法和設備應用于作為轉子層疊鐵芯的轉子的實例。然而，例如，為了減小來自轉子的熱量的影響，本發(fā)明還能夠應用于作為定子層疊鐵芯的定子(定子芯)。
[0128]并且，在以上實施例中，已經給出如下情況的說明:其中，通過相對于固定的光敏傳感器旋轉轉子，順次檢測各個冷卻流路的貫通狀態(tài)。然而，還能夠相對于固定的轉子旋轉光敏傳感器。
【主權項】
1.一種層疊鐵芯的檢測方法，該層疊鐵芯通過層疊具有預定形狀的多個鐵芯片而構成并且該層疊鐵芯中包括使得制冷劑能夠流通的冷卻流路，所述制冷劑通過形成在不同位置處的開口而供應和排出，所述方法包括: 將光敏傳感器的光投射部和光接收部分別布置在所述冷卻流路的開口中；以及 利用所述光接收部檢測來自所述光投射部的光，從而檢測所述冷卻流路的貫通狀態(tài)。2.根據(jù)權利要求1所述的方法，其中，所述冷卻流路包括:垂直于所述層疊鐵芯的層疊方向延伸的第一流路；以及與所述第一流路連通并且在所述層疊鐵芯的所述層疊方向上延伸的第二流路，并且 所述光投射部布置在所述第一流路的開口中，并且所述光接收部布置在所述第二流路的開口中。3.根據(jù)權利要求2所述的方法，其中，所述層疊鐵芯包括至少一個其它冷卻流路，以在所述層疊鐵芯的周向上形成多個冷卻流路，并且 所述層疊鐵芯和所述光敏傳感器繞著所述層疊鐵芯的軸心相對旋轉，并且順次檢測多個冷卻流路的貫通狀態(tài)。4.根據(jù)權利要求3所述的方法，其中，每個第一流路都被分支成具有多個分支路徑，該多個分支路徑與第二流路連通，并且 至少與各個第一流路中所包括的多個分支路徑的數(shù)量相同的光投射部布置于在所述層疊鐵芯的周向上的不同位置處形成的所述第一流路的開口中，并且對于每個所述分支路徑調節(jié)來自所述光投射部的光的投射角度。5.根據(jù)權利要求3所述的方法，其中，每個第一流路都被分支為具有多個分支路徑，該多個分支路徑分別包括所述第一流路的開口，并且 至少與各個第一流路中所包括的多個分支路徑數(shù)量相同的光投射部布置于在所述層疊鐵芯的周向上的不同位置處形成的所述第一流路的不同分支路徑的開口中，并且對于每個所述分支路徑調節(jié)來自所述光投射部的光的投射角度。6.根據(jù)權利要求1至5的任意一項所述的方法，其中，利用所述光接收部所檢測到的光量判定所述冷卻流路的貫通狀態(tài)。7.—種層疊鐵芯的檢測設備，該層疊鐵芯通過層疊具有預定形狀的多個鐵芯片構成并且該層疊鐵芯中包括使得制冷劑能夠流通的冷卻流路，所述制冷劑通過形成在不同位置處的開口而供應和排出，所述設備包括: 光敏傳感器，該光敏傳感器包括分別布置在所述冷卻流路的開口中的光投射部和光接收部，其中 所述設備利用所述光接收部檢測來自所述光投射部的光，從而檢測所述冷卻流路的貫通狀態(tài)。8.根據(jù)權利要求7所述的設備，其中，所述冷卻流路包括:垂直于所述層疊鐵芯的層疊方向延伸的第一流路；以及與所述第一流路連通并且在所述層疊鐵芯的所述層疊方向上延伸的第二流路，并且 所述光投射部布置在所述第一流路的開口中，并且所述光接收部布置在所述第二流路的開口中。9.根據(jù)權利要求8所述的設備，其中，所述第一流路包括多個分支路徑，布置至少與所述分支路徑數(shù)量相同的光投射部，并且對于每個所述分支路徑調節(jié)來自所述光投射部的光的投射角度。10.根據(jù)權利要求7至9的任意一項所述的設備，還包括回轉臺，該回轉臺使所述層疊鐵芯繞著所述層疊鐵芯的軸心旋轉。11.根據(jù)權利要求7至9的任意一項所述的設備，其中，所述光投射部和所述光接收部的一者或兩者包括位置調節(jié)機構。12.根據(jù)權利要求7至9的任意一項所述的設備，其中，所述光投射部和所述光接收部的一者或兩者包括角度調節(jié)機構。
【文檔編號】G01V8/10GK106054272SQ201610221738
【公開日】2016年10月26日
【申請日】2016年4月11日 公開號201610221738.X, CN 106054272 A, CN 106054272A, CN 201610221738, CN-A-106054272, CN106054272 A, CN106054272A, CN201610221738, CN201610221738.X
【發(fā)明人】渋田規(guī), 松本雅志, 水谷龍彥, 山岸義忠
【申請人】株式會社三井高科技, 豐田自動車株式會社