阻尼塊的針入度試驗器及其試樣皿的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型涉及針入度測試儀器技術(shù)領(lǐng)域，更具體地說，涉及一種阻尼塊的針入度試驗器及其試樣皿。
【背景技術(shù)】
[0002]阻尼塊的針入度是指標準針在一定的載荷、時間及溫度的條件下，以垂直穿入試樣皿中阻尼塊的深度，其單位為l/10mm。其中，標準針和針連桿的總重量為(50±0.05)g，針入時間為5S。針入度可以反應(yīng)阻尼塊的硬度，標準針進入阻尼塊的深度越大則阻尼塊的針入度越大，阻尼塊越軟。
[0003]現(xiàn)有技術(shù)中，一般使用針入度試驗器對阻尼塊的針入度進行測試，針入度試驗器包括標準針、用于盛裝阻尼塊的試樣皿以及驅(qū)動試樣皿轉(zhuǎn)動的驅(qū)動組件等。如圖1所示，其中試樣皿為圓柱型的平底皿，即試樣皿的頂部開口，底壁為平底，側(cè)壁為圓柱狀。進行阻尼塊的針入度試驗時，將阻尼塊置于試樣皿中再進行針入度的測試，然而將阻尼塊置于試樣皿中時，容易在試樣皿中存在封閉空間，產(chǎn)生空間間隙，導致阻尼塊與試樣皿底部的邊緣處或者側(cè)壁之間有間隙或者阻尼塊自身內(nèi)部存在間隙，從而導致阻尼塊在試樣皿中分布不均勻，進而影響阻尼塊的針入度的測試結(jié)果。
[0004]綜上所述，如何有效地解決阻尼塊在試樣皿中分布不均勻的問題，是目前本領(lǐng)域技術(shù)人員急需解決的問題。
【實用新型內(nèi)容】
[0005]有鑒于此，本實用新型的第一個目的在于提供一種針入度試驗器的試樣皿，該試樣皿的結(jié)構(gòu)設(shè)計可以有效地解決阻尼塊在試樣皿中分布不均勻的問題，本實用新型的第二個目的是提供一種包括上述試樣皿的針入度試驗器。
[0006]為了達到上述第一個目的，本實用新型提供如下技術(shù)方案:
[0007]一種針入度試驗器的試樣皿，包括側(cè)壁和底壁，所述側(cè)壁和底壁圍成能夠容納試樣的容納槽，所述側(cè)壁上開設(shè)有通孔，該試樣皿中的試樣能夠經(jīng)所述通孔排出。
[0008]優(yōu)選地，上述針入度試驗器的試樣皿中，所述通孔的數(shù)量為多個且多個所述通孔均勻的分布在所述側(cè)壁上。
[0009]優(yōu)選地，上述針入度試驗器的試樣皿中，該試樣皿為圓柱型平底皿，其側(cè)壁為圓柱狀且底壁為平板狀。
[0010]優(yōu)選地，上述針入度試驗器的試樣皿中，所述通孔的數(shù)量為多個，且多個所述通孔沿著該試樣皿的周向均勾分布。
[0011]優(yōu)選地，上述針入度試驗器的試樣皿中，所述通孔的數(shù)量為多個，多個所述通孔分為多列分布，每列中的多個所述通孔沿著該試樣皿的軸向排布。
[0012]優(yōu)選地，上述針入度試驗器的試樣皿中，多列所述通孔沿著該試樣皿的周向均勻分布O
[0013]優(yōu)選地，上述針入度試驗器的試樣皿中，相鄰的兩列通孔的軸線之間的夾角為
45。。
[0014]優(yōu)選地，上述針入度試驗器的試樣皿中，所述通孔的孔徑為2.5-3.5mm。
[0015]優(yōu)選地，上述針入度試驗器的試樣皿中，所述通孔的孔徑為3mm。
[0016]一種針入度試驗器，包括試樣皿，所述試樣皿為如上述中任一項所述的試樣皿。
[0017]本實用新型提供的針入度試驗器的試樣皿包括側(cè)壁和底壁，側(cè)壁和底壁圍成能夠容納試樣的容納槽，即側(cè)壁和底壁共同形成頂部開口的試樣皿，其重點在于，試樣皿的側(cè)壁上開設(shè)有通孔，該試樣皿中的試樣能夠經(jīng)通孔排出，即試樣皿中的試樣受到擠壓后可以從通孔中排至試樣皿外部。即若將阻尼塊置于試樣皿中，若用力擠壓阻尼塊，阻尼塊的局部可以經(jīng)通孔排至試樣皿外部。
[0018]應(yīng)用本實用新型提供的試樣皿測試阻尼塊的針入度時，首先將設(shè)定體積的阻尼塊置于試樣皿的容納槽中，并且阻尼塊的體積應(yīng)該大于試樣皿的容積，然后對試樣皿中的阻尼塊施加一定壓力，使得阻尼塊與試樣皿的口端平齊，具體地可以將帶有離型紙的鋼板置于試樣皿口端，然后對鋼板施加壓力最終使鋼板與試樣皿的口端接觸，其中離型紙可以防止鋼板與阻尼塊粘連在一起，鋼板擠壓試樣皿中阻尼塊的過程中，能夠使得阻尼塊充滿試樣皿且與試樣皿的內(nèi)壁緊密接觸，同時可以將阻尼塊中的空間間隙排出，多余體積的阻尼塊可以從側(cè)壁的通孔中排出，如此使得阻尼塊在試樣皿中的分布更加均勻。如此進行阻尼塊的針入度測試時，不會因為針入位置不同而影響測試結(jié)果，避免了阻尼塊分布不均勻影響針入度的測試結(jié)果等情況。當鋼板與試樣皿的口端接觸后可以取下鋼板，將試樣皿中的阻尼塊靜止設(shè)定時間后，再進行針入度的試驗，即將試樣皿置于23°C ±2°C環(huán)境中靜置2h，然后將標準針進入阻尼塊中進行測試。其中，設(shè)定時間可以為2min。
[0019]為了達到上述第二個目的，本實用新型還提供了一種針入度試驗器，該針入度試驗器包括上述任一種試樣皿。由于上述的試樣皿具有上述技術(shù)效果，具有該試樣皿的針入度試驗器也應(yīng)具有相應(yīng)的技術(shù)效果。
【附圖說明】
[0020]為了更清楚地說明本實用新型實施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本實用新型的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0021]圖1為現(xiàn)有技術(shù)中的針入度試驗器的試樣皿的剖視圖；
[0022]圖2為本實用新型實施例提供的針入度試驗器的試樣皿的剖視圖；
[0023]圖3為本實用新型實施例提供的針入度試驗器的試樣皿的俯視圖。
[0024]附圖中標記如下:
[0025]1-側(cè)壁、2-底壁、3-通孔。
【具體實施方式】
[0026]本實用新型的第一個目的在于提供一種針入度試驗器的試樣皿，該試樣皿的結(jié)構(gòu)設(shè)計可以有效地解決阻尼塊在試樣皿中分布不均勻的問題，本實用新型的第二個目的是提供一種包括上述試樣皿的針入度試驗器。
[0027]下面將結(jié)合本實用新型實施例中的附圖，對本實用新型實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本實用新型一部分實施例，而不是全部的實施例?；诒緦嵱眯滦椭械膶嵤├绢I(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本實用新型保護的范圍。
[0028]請參閱圖2-圖3，本實用新型實施例提供的針入度試驗器的試樣皿包括側(cè)壁I和底壁2，側(cè)壁I和底壁2圍成能夠容納試樣的容納槽，即側(cè)壁I和底壁2共同形成頂部開口的試樣皿，其重點在于，試樣皿的側(cè)壁I上開設(shè)