鼠標芯片的ft測試裝置的制造方法
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及一種芯片測試裝置，尤其是一種鼠標芯片的測試裝置。
【背景技術】
[0002]FT (Final Test)是集成電路投入市場前的重要環(huán)節(jié)，測試結果的真實性、可靠性將直接影響到產(chǎn)品質量和公司聲譽。相對于CP (Chip Probing)測試，F(xiàn)T測試更加全面，可以對封裝后的芯片進行OS測試和功能項測試。OS(Open-Short)測試用來測試鼠標芯片的功能管腳對電源管腳和地管腳的保護二極管是否存在開路(Open)或短路(Short)缺陷。
[0003]如圖1所示，鼠標芯片的功能管腳(電源管腳和地管腳以外的其它管腳)對鼠標芯片的電源管腳和地管腳分別接有保護二極管Dl和D2 ;測試這兩保護二極管的導通電壓可判斷這兩個二極管是否擊穿或合金線異常。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本實用新型提供一種鼠標芯片的FT測試裝置，通過光電耦合器的導通和截止可以模擬鼠標上機械按鍵的按下和松開，還可以測試鼠標芯片功能管腳對電源管腳和地管腳的保護二極管是否存在開路或短路缺陷。本實用新型采用的技術方案是:
[0005]一種鼠標芯片的FT測試裝置，包括:
[0006]微處理器Ul、光電耦合器U2、繼電器KAl和KA2、NPN三極管Ql和Q2 ;
[0007]微處理器Ul的1l端口通過電阻Rl接光電親合器U2的輸入端陽極，光電親合器U2的輸入端陰極接地；光電耦合器U2的輸出端集電極接鼠標芯片U3的按鍵端口，輸出端發(fā)射極接地；
[0008]微處理器Ul的102端口通過電阻R2接三極管Ql的基極，三極管Ql的發(fā)射極接地，集電極接繼電器KAl線圈的一端，繼電器KAl線圈的另一端接供電電壓；繼電器KAl的常閉觸點懸空，公共端用于連接鼠標芯片U3的一個需要測試的功能管腳；繼電器KAl的常開觸點接微處理器Ul的電壓采樣端口，并通過限流電阻R4接供電電壓；鼠標芯片U3的地管腳接地；
[0009]微處理器Ul的103端口通過電阻R3接三極管Q2的基極，三極管Q2的發(fā)射極接地，集電極接繼電器KA2線圈的一端，繼電器KA2線圈的另一端接供電電壓；繼電器KA2的常閉觸點接供電電壓，常開觸點接地；繼電器KA2的公共端接鼠標芯片U3的電源管腳。
[0010]限流電阻R4的取值為47k歐姆。
[0011]一種鼠標芯片的FT測試裝置，包括:
[0012]微處理器U201、繼電器KA201、NPN三極管Q201 ；
[0013]微處理器U201的102端口通過電阻R202接三極管Q201的基極，三極管Q201的發(fā)射極接地，集電極接繼電器KA201線圈的一端，繼電器KA201線圈的另一端接供電電壓；繼電器KA201的常閉觸點懸空，常開觸點接地，公共端用于連接鼠標芯片U3的一個需要測試的功能管腳；鼠標芯片U3的地管腳通過限流電阻R204接供電電壓，鼠標芯片U3的地管腳連接微處理器U201的電壓采樣端口。
[0014]限流電阻R204的取值為47k歐姆。
[0015]本實用新型的優(yōu)點在于:電路簡單可靠，測試功能完備，可以測試鼠標芯片功能管腳對電源管腳和地管腳的保護二極管是否存在開路或短路缺陷，與專用的OS測試儀器相比，具有實用性好，性價比高等優(yōu)點。
【附圖說明】
[0016]圖1為本實用新型的鼠標芯片的功能管腳所接保護二極管示意圖。
[0017]圖2為本實用新型的實施例一電原理圖。
[0018]圖3為本實用新型的實施例二電原理圖。
【具體實施方式】
[0019]下面結合具體附圖和實施例對本實用新型作進一步說明。
[0020]實施例一，本實用新型提供的鼠標芯片的FT測試裝置，如圖2所示，包括:
[0021]微處理器Ul、光電耦合器U2、繼電器KAl和KA2、NPN三極管Ql和Q2 ;
[0022]微處理器Ul的1l端口通過電阻Rl接光電親合器U2的輸入端陽極，光電親合器U2的輸入端陰極接地；光電耦合器U2的輸出端集電極接鼠標芯片U3的按鍵端口(即圖中的KEY端口)，輸出端發(fā)射極接地；
[0023]微處理器Ul的102端口通過電阻R2接三極管Ql的基極，三極管Ql的發(fā)射極接地，集電極接繼電器KAl線圈的一端，繼電器KAl線圈的另一端接供電電壓(比如+5v);繼電器KAl的常閉觸點懸空，公共端用于連接鼠標芯片U3的一個需要測試的功能管腳，本例中是連接了 U3的LED管腳；繼電器KAl的常開觸點接微處理器Ul的電壓采樣端口(圖中的AD端口)，并通過限流電阻R4接供電電壓；鼠標芯片U3的地管腳接地；
[0024]微處理器Ul的103端口通過電阻R3接三極管Q2的基極，三極管Q2的發(fā)射極接地，集電極接繼電器KA2線圈的一端，繼電器KA2線圈的另一端接供電電壓(比如+5v);繼電器KA2的常閉觸點接供電電壓，常開觸點接地；繼電器KA2的公共端接鼠標芯片U3的電源管腳(圖中的U3中的Vcc管腳)。
[0025]本實施例的工作原理是:
[0026]當微處理器Ul的1l端口輸出高電平信號時，光電耦合器U2導通，當1l端口輸出低電平信號時，光電耦合器U2截止，通過光電耦合器U2的導通和截止模擬鼠標上機械按鍵的按下和松開。
[0027]當微處理器Ul的103端口輸出低電平信號時，三極管Q2截止，繼電器KA2線圈失電，KA2的常閉觸點閉合，鼠標芯片U3的電源管腳得到供電電壓而正常工作。當微處理器UI的103端口輸出高電平信號時，三極管Q2導通，繼電器KA2的常閉觸點斷開，而常開觸點閉合，因此鼠標芯片U3的電源管腳接地。
[0028]此時，當微處理器Ul的102端口輸出高電平信號，則繼電器KAl線圈得電，繼電器KAl的常開觸點閉合，使得鼠標芯片U3的LED管腳通過電阻R4接供電電壓。電流流向為:供電電壓->R4->U3的LED管腳->U3內(nèi)的保護二極管D1_>U3的電源管腳(此時接地了)。限流電阻R4可選擇47K歐姆，電流為5V/47K=106uA。微處理器Ul采樣的電壓值在0.5v?0.7v之間(也就是二極管Dl導通時兩端的電壓)。而如果保護二極管Dl開路或者短路，則采樣的電壓值就不是0.5v?0.7v之間。由此可測試保護二極管Dl的狀況。
[0029]實施例二，本實用新型提供的鼠標芯片的FT測試裝置，如圖3所示，包括:
[0030]微處理器U201、繼電器KA201、NPN三極管Q201 ；
[0031]微處理器U201的102端口通過電阻R202接三極管Q201的基極，三極管Q201的發(fā)射極接地，集電極接繼電器KA201線圈的一端，繼電器KA201線圈的另一端接供電電壓(比如+5v);繼電器KA201的常閉觸點懸空，常開觸點接地，公共端用于連接鼠標芯片U3的一個需要測試的功能管腳，本例中是連接了 U3的LED管腳；鼠標芯片U3的地管腳通過限流電阻R204接供電電壓(比如+5v)，鼠標芯片U3的地管腳連接微處理器U201的電壓采樣端口(圖中的AD端口)。鼠標芯片U3的電源管腳可懸空。限流電阻R204可選擇47K歐姆。
[0032]本實施例的工作原理是:當微處理器U201輸出高電平信號時，三極管Q201導通，繼電器KA201線圈得電，繼電器KA201的常開觸點閉合，使得鼠標芯片U3的LED管腳接地，電流流向為:供電電壓壓->R204->U3的地管腳_>U3內(nèi)的保護二極管D2->U3的LED管腳->地。
[0033]限流電阻R204可選擇47K歐姆，電流為5V/47K=106uA。微處理器U201采樣的電壓值在0.5v?0.7v之間(也就是二極管D2導通時兩端的電壓)。而如果保護二極管D2開路或者短路，則采樣的電壓值就不是0.5v?0.7v之間。由此可測試保護二極管D2的狀況。
[0034]本實用新型的兩個電路，可測試鼠標芯片的所有功能管腳，與專用的OS測試儀器相比，具有實用性好，性價比高等優(yōu)點。
【主權項】
1.一種鼠標芯片的FT測試裝置，其特征在于，包括: 微處理器Ul、光電耦合器U2、繼電器KAl和KA2、NPN三極管Ql和Q2 ; 微處理器Ul的1l端口通過電阻Rl接光電耦合器U2的輸入端陽極，光電耦合器U2的輸入端陰極接地；光電耦合器U2的輸出端集電極接鼠標芯片U3的按鍵端口，輸出端發(fā)射極接地； 微處理器Ul的102端口通過電阻R2接三極管Ql的基極，三極管Ql的發(fā)射極接地，集電極接繼電器KAl線圈的一端，繼電器KAl線圈的另一端接供電電壓；繼電器KAl的常閉觸點懸空，公共端用于連接鼠標芯片U3的一個需要測試的功能管腳；繼電器KAl的常開觸點接微處理器Ul的電壓采樣端口，并通過限流電阻R4接供電電壓；鼠標芯片U3的地管腳接地； 微處理器Ul的103端口通過電阻R3接三極管Q2的基極，三極管Q2的發(fā)射極接地，集電極接繼電器KA2線圈的一端，繼電器KA2線圈的另一端接供電電壓；繼電器KA2的常閉觸點接供電電壓，常開觸點接地；繼電器KA2的公共端接鼠標芯片U3的電源管腳。
2.如權利要求1所述的鼠標芯片的FT測試裝置，其特征在于:限流電阻R4的取值為47k歐姆。
3.—種鼠標芯片的FT測試裝置，其特征在于，包括: 微處理器U201、繼電器KA201、NPN三極管Q201 ； 微處理器U201的102端口通過電阻R202接三極管Q201的基極，三極管Q201的發(fā)射極接地，集電極接繼電器KA201線圈的一端，繼電器KA201線圈的另一端接供電電壓；繼電器KA201的常閉觸點懸空，常開觸點接地，公共端用于連接鼠標芯片U3的一個需要測試的功能管腳；鼠標芯片U3的地管腳通過限流電阻R204接供電電壓，鼠標芯片U3的地管腳連接微處理器U201的電壓采樣端口。
4.如權利要求3所述的鼠標芯片的FT測試裝置，其特征在于:限流電阻R204的取值為47k歐姆。
【專利摘要】本實用新型提供一種鼠標芯片的FT測試裝置，包括：微處理器U1的IO1端口通過電阻R1接光電耦合器U2的輸入端陽極，光電耦合器U2的輸入端陰極接地；電耦合器U2的輸出端集電極接鼠標芯片U3的按鍵端口，輸出端發(fā)射極接地；微處理器U1的IO2端口通過電阻R2接三極管Q1的基極，三極管Q1的發(fā)射極接地，集電極接繼電器KA1線圈的一端，繼電器KA1線圈的另一端接供電電壓；繼電器KA1的常閉觸點懸空，公共端用于連接鼠標芯片U3的一個需要測試的功能管腳；繼電器KA1的常開觸點接微處理器U1的電壓采樣端口，并通過限流電阻R4接供電電壓；鼠標芯片U3的地管腳接地；具有實用性好，性價比高等優(yōu)點。
【IPC分類】G01R31-28, G01R31-02
【公開號】CN204595161
【申請?zhí)枴緾N201520292597
【發(fā)明人】姬起群, 譚一成
【申請人】江蘇鉅芯集成電路技術有限公司
【公開日】2015年8月26日
【申請日】2015年5月7日